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探針使用次數(shù)實驗報告衡陽2009.4.29背景測試過程中測試架構會造成電池片F(xiàn)F值得損耗，進而影響測試效率。這種損耗包括：探針數(shù)量、探針磨損、探針是否完全與主柵接觸、架構材料的硬度以及探針、針筒和連接線的焊接情況。其中影響最大的是探針磨損，探針在使用一定數(shù)量后針尖的損傷以及針頭內(nèi)夾雜漿料顆粒都會使接觸電阻變大。問題測試探針最高使用次數(shù)是多少？實驗設計選取一臺測試機（L7）從剛更換探針開始跟蹤，檢驗探針的使用壽命；檢驗手段采用衰減完全的電池片若干片，以每測試1~2W次后手動測試這些電池片的FF情況；以每天IPQC抽測十片數(shù)據(jù)作為參考項。實驗數(shù)據(jù)1.二級標片測試結果異常點備注：第10天測試時，累計測試數(shù)量不到18萬23日白班探針磨損的FQC抽測數(shù)據(jù)為說明該FF差異是由于探針損耗引起，對比更換探針前后的FQC10片數(shù)據(jù)。23日白班之前的FQC10片抽測數(shù)據(jù)23日晚班更換探針后FQC10片抽測數(shù)據(jù)根據(jù)前后的對比可以看出，F(xiàn)F的穩(wěn)定性受到探針磨損的影響較大。數(shù)據(jù)分析從實驗數(shù)據(jù)來看，探針出現(xiàn)磨損時表現(xiàn)出來的現(xiàn)象是自動測試時會出現(xiàn)一定比例的串聯(lián)較大，F(xiàn)F較低的測試結果。手動校準標片時不容易查出此異常。通過FQC的10片抽測數(shù)據(jù)可以看出出現(xiàn)異常。結論Berger測試機的探針使用不到18W次的情況下已經(jīng)磨損，表現(xiàn)狀況是自動測試時部分電池片測試數(shù)據(jù)Rs較大，F(xiàn)F較低，需更換新探針；因自動測試和手動測試兩個過程有差異，標片校準過程不容易看出該異常，需要通過FQC的十片

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