GB/T 28892-2012表面化學(xué)分析X射線光電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述

ICS7104040

G04..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

表面化學(xué)分析X射線光電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

Surfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—Descriptionof

selectedinstrumentalperformanceparameters

(ISO15470:2004,IDT)

2012-11-05發(fā)布2013-06-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用表面化學(xué)分析射線光電子能譜選擇儀器性能

ISO15470:2004《X

參數(shù)的表述

》。

為了方便使用本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改

,:

用本標(biāo)準(zhǔn)代替本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

———“”“”。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位廈門愛(ài)勞德光電有限公司廈門大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)起草人王水菊時(shí)海燕孫海珍吳正龍劉芬沈電洪

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

引言

世界上有多家廠商生產(chǎn)射線光電子能譜儀盡管每臺(tái)儀器的分析方法的基本原理是相同

X。XPS

的但儀器的具體設(shè)計(jì)和性能說(shuō)明的方式各不相同因此通常很難比較不同廠商生產(chǎn)的儀器性能本

,。,。

標(biāo)準(zhǔn)提供了一個(gè)基本項(xiàng)目單以使所有射線光電子能譜儀能以共同的方式來(lái)表述

,X。

Ⅱ

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

表面化學(xué)分析X射線光電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了如何描述射線光電子能譜儀的特定性能

X。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學(xué)分析詞匯

GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)

3術(shù)語(yǔ)和定義

中界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T22461—2008。

4符號(hào)和縮略語(yǔ)

本底以上最大峰強(qiáng)一半處的全寬度

FWHM

射線光電子能譜

XPSX

5儀器性能參數(shù)的表述

51分析方法

.

應(yīng)簡(jiǎn)要敘述用于從樣品獲得信息的方法并說(shuō)明在所涉及系統(tǒng)中可用的其他分析技術(shù)可選項(xiàng)

,()。

52樣品

.

應(yīng)詳述該儀器可分析樣品的大小和形狀如果某些特殊的分析模式例如變角測(cè)量絕緣體測(cè)量

。(、

等對(duì)樣品的大小或形狀有限制則應(yīng)另加說(shuō)明

),。

53系統(tǒng)構(gòu)成

.

應(yīng)描述系統(tǒng)的重要分析部件的幾何結(jié)構(gòu)及其公差

。

例角度公差常為

:±1°。

54X射線源

.

541陽(yáng)極類型

..