標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 3352-1994 人造石英晶體》與《GB 3352-1982》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了修訂和更新,主要變化包括:
首先,標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)從GB變更為GB/T,表明該標(biāo)準(zhǔn)由強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),這一變化反映了標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)上的轉(zhuǎn)換,意味著企業(yè)在遵循此標(biāo)準(zhǔn)時(shí)有了更大的靈活性。
其次,對(duì)術(shù)語(yǔ)定義部分進(jìn)行了補(bǔ)充和完善。新版本中增加了對(duì)一些關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)的詳細(xì)解釋,并對(duì)已有定義進(jìn)行了更加準(zhǔn)確的描述,以減少因理解差異而產(chǎn)生的歧義。
再者,《GB/T 3352-1994》還針對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量要求做出了調(diào)整,具體表現(xiàn)在提高了某些技術(shù)指標(biāo)的要求,比如頻率穩(wěn)定度、老化率等參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)值有所提升,這有助于推動(dòng)行業(yè)技術(shù)水平的進(jìn)步和發(fā)展。
此外,測(cè)試方法也得到了改進(jìn)。新版標(biāo)準(zhǔn)引入了更先進(jìn)、更精確的檢測(cè)手段和技術(shù),確保了測(cè)試結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性。同時(shí),對(duì)于樣品制備、環(huán)境條件控制等方面的規(guī)定也變得更加嚴(yán)格細(xì)致。
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文檔簡(jiǎn)介
Dng621.315.6133L90中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3352-94人造石英晶體Syntheticguartzcrystal1994-12-31發(fā)布1995-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3352-94造石英代替GB3352-82Syntheticguartzcrystal本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC758(1993)人造石英品體》主題內(nèi)客與適用范圍1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了人造石英晶體的術(shù)語(yǔ)和定義,技術(shù)要求,檢驗(yàn)方法,檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、心1.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于供制作頻率控制和選擇用壓電元件的人造石英品體。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB2828逐批檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)SJ/Z9152.1頻率控制與選擇用石英晶體元件中第一部分:標(biāo)準(zhǔn)值和試驗(yàn)條件3術(shù)語(yǔ)和定義3.1水熱法晶體生長(zhǎng)hydrothermalcrystalgrowth人造石英晶體的生長(zhǎng)是在裝有堿性溶液的高壓條中在高溫(330℃~400℃)和壓力(80MPa~200MPa)下進(jìn)行的.高壓經(jīng)分為兩個(gè)區(qū)域:在較高溫度的溶解區(qū)裝有原料石英碎塊,較低溫度的生長(zhǎng)區(qū)裝有切好的籽晶。3.2人造石英晶體syntheticquartzcrystal用水熱法生長(zhǎng)的石英晶體,既可以是左旋的晶體,也可以是右旋的晶體。3.3籽晶seed用作晶體生長(zhǎng)的晶核,其截面為矩形的晶片或晶條。3.4生長(zhǎng)區(qū)城growthzones沿不同結(jié)晶方向生長(zhǎng)的人造石英晶體的區(qū)域,見圖1。3.5S人造石英品體取向orientationofasyntheticquartzcrystal按第3.6條所規(guī)定直角坐標(biāo)的籽品的取向。3.6石英晶體的直角坐標(biāo)系和品面definitionoftheorthnalaxialsystemofaquartzerystal石英晶體的直角坐標(biāo)系和品面見圖2所示。注:Z切籽品可以取向在與丫軸的夾角小于20°,在此情況下,坐標(biāo)體系為X,Y,乙"。3.7尺寸dimensions生長(zhǎng)在與Y軸夾角小于20°的乙切籽品上的品體尺寸。3.7.1總的尺寸grossdimensions沿X,Y或”及乙軸測(cè)量的最大品體尺寸
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