GB/T 39844-2021可靠性增長統(tǒng)計試驗和評估方法

ICS03120010312030

;

L05....

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T39844—2021/IEC611642004

:

可靠性增長統(tǒng)計試驗和評估方法

Reliabilitygrowth—Statisticaltestandestimationmethods

(IEC61164:2004,IDT)

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T39844—2021/IEC611642004

:

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

符號

4………………………2

設(shè)計和試驗中的可靠性增長模型

5………………………5

在設(shè)計階段用于系統(tǒng)產(chǎn)品的可靠性增長模型

6/…………6

產(chǎn)品設(shè)計階段可靠性增長計劃的修正冪律模型

6.1…………………6

設(shè)計階段規(guī)劃可靠性增長的修正貝葉斯模型

6.2IBM-Rosner……8

產(chǎn)品可靠性增長試驗中的可靠性增長計劃與跟蹤

7……………………9

連續(xù)可靠性增長模型

7.1………………9

離散可靠性增長模型

7.2………………11

用冪律模型計劃可靠性增長試驗程序

8…………………12

連續(xù)冪律模型的統(tǒng)計檢驗和估計過程

9…………………13

概述

9.1…………………13

增長檢驗和參數(shù)估計

9.2………………13

擬合優(yōu)度檢驗

9.3………………………15

形狀參數(shù)的置信區(qū)間

9.4………………16

當(dāng)前的置信區(qū)間

9.5MTBF…………18

預(yù)測方法

9.6……………19

附錄資料性附錄在產(chǎn)品開發(fā)的設(shè)計和試驗環(huán)節(jié)的計劃和分析模型的例子

A()……22

附錄資料性附錄冪律可靠性增長模型背景信息

B()———……………32

參考文獻(xiàn)

……………………35

GB/T39844—2021/IEC611642004

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用可靠性增長統(tǒng)計試驗和評估方法

IEC61164:2004《》。

與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下

:

設(shè)備可靠性試驗可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法指數(shù)分

———GB/T5080.4—1985(

布

)(neqIEC60605-4:1978)

設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗

———GB/T5080.6—1996(idtIEC60605-6:

1989)

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC24)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所北京航空工程技術(shù)研究中心

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人李鍇丁小健潘廣澤胡湘洪梅文華黃創(chuàng)綿陳靜張洪彬佘陽李小兵

:、、、、、、、、、、

朱嘉偉沈崢嶸唐慶云

、、。

Ⅰ

GB/T39844—2021/IEC611642004

:

引言

本標(biāo)準(zhǔn)描述了冪律可靠性增長模型以及相應(yīng)推演模型并且給出了它們應(yīng)用方法的詳細(xì)步驟在

,。

現(xiàn)有的若干可靠性增長模型中冪律模型應(yīng)用得最廣泛中的第章第章和

,。GB/T15174—20174、6

第章中給出了一些數(shù)值的計算過程

7。

模型需要兩種形式的輸入第一類輸入用于在設(shè)計階段通過分析和設(shè)計改進(jìn)來進(jìn)行可靠性增長規(guī)

,

劃即輸入設(shè)計階段持續(xù)時間初始可靠度可靠度目標(biāo)計劃的設(shè)計改進(jìn)和期望達(dá)到的可靠性水平第

,、、、。

二類輸入用于工程研制階段的可靠性增長失效是一個系統(tǒng)的各次關(guān)聯(lián)失效發(fā)生時或觀測時的累積試

,

驗時間另外如果試驗截止時間不是最后一次失效的時間還包括試驗截止時間為了使產(chǎn)品的早期失

,。

效率穩(wěn)定假定在所有的預(yù)試驗例如環(huán)境應(yīng)力篩選之后才開始收集用作模型輸入的數(shù)據(jù)

,。

在試驗條件相近時用以前的試驗結(jié)果估計的參數(shù)可以用來預(yù)計或規(guī)劃將來的可靠性增長

,。

一些計算過程會要求計算機(jī)編程但是并不復(fù)雜本標(biāo)準(zhǔn)中的算法通過計算機(jī)編程可以很容易

,,

實現(xiàn)

。

Ⅱ

GB/T39844—2021/IEC611642004

:

可靠性增長統(tǒng)計試驗和評估方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)基于可靠性改進(jìn)工作中的失效數(shù)據(jù)給出了可靠性增長評估的模型和數(shù)值方法這些模型

,。

和數(shù)值方法涉及增長評估產(chǎn)品可靠度置信區(qū)間和產(chǎn)品擬合優(yōu)度檢驗

、、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工術(shù)語可信性與服務(wù)質(zhì)量

GB/T2900.13—2008[IEC60050(191):1990,IDT]

可靠性試驗第部分試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理

GB/T5080.1—20121:(IEC60300-3-5:2001,

IDT)

可靠性增長大綱

GB/T15174—2017(IEC61014:2003,IDT)

設(shè)備可靠性試驗第部分指數(shù)分布下可靠性試驗的點估計和區(qū)間估計方法

IEC60605-44:

(Equipmentreliabilitytesting—Part4:Statisticalproceduresforexponentialdistribution—Pointesti-

mates,confidenceintervals,predictionintervalsandtoleranceintervals)

設(shè)備可靠性試驗第部分設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗

IEC60605-66:

(Equipmentreliabilitytesting—Part6:Testsforthevalidityoftheconstantfailurerateorconstant

failureintensityassumptions)

3術(shù)語和定義

和界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T2900.13—2008GB/T15174—2017