標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 40007-2021 納米技術(shù) 納米材料電阻率的接觸式測(cè)量方法 通則》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在為納米材料電阻率的接觸式測(cè)量提供指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種形態(tài)(如粉末、薄膜等)的納米材料,并規(guī)定了進(jìn)行此類(lèi)測(cè)量時(shí)應(yīng)遵循的基本原則和技術(shù)要求。
標(biāo)準(zhǔn)首先明確了術(shù)語(yǔ)和定義部分,對(duì)關(guān)鍵概念進(jìn)行了界定,包括但不限于“納米材料”、“電阻率”、“接觸式測(cè)量”等,以確保在后續(xù)討論中各方能夠基于共同理解的基礎(chǔ)之上展開(kāi)工作。
接著,在設(shè)備與儀器章節(jié)里,列出了執(zhí)行測(cè)量所需的主要設(shè)備及其性能要求。這些設(shè)備通常包括但不限于精密電阻測(cè)量?jī)x、四探針測(cè)試系統(tǒng)等,強(qiáng)調(diào)了對(duì)于設(shè)備精度及穩(wěn)定性的高要求,以保證實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。
關(guān)于樣品制備方面,標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了不同類(lèi)型納米材料樣本準(zhǔn)備的具體步驟以及注意事項(xiàng)。例如,對(duì)于粉末狀納米材料,可能需要將其壓制成具有一定形狀和尺寸的試樣;而對(duì)于薄膜類(lèi)材料,則需關(guān)注其沉積條件以獲得均勻且無(wú)缺陷的表面。
此外,《GB/T 40007-2021》還特別指出,在進(jìn)行接觸式電阻率測(cè)量前,必須對(duì)樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)念A(yù)處理,比如清洗去除表面污染物或通過(guò)熱處理消除內(nèi)部應(yīng)力等,從而避免外界因素干擾最終結(jié)果。
在測(cè)量過(guò)程部分,文件提供了詳細(xì)的程序指南,涵蓋了從選擇合適的電極配置到記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)等一系列操作流程。值得注意的是,針對(duì)不同類(lèi)型的納米材料,推薦使用相適應(yīng)的電極布置方式來(lái)提高測(cè)量準(zhǔn)確性。同時(shí),也強(qiáng)調(diào)了重復(fù)性測(cè)試的重要性,建議多次獨(dú)立測(cè)量并計(jì)算平均值作為最終報(bào)告的結(jié)果。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2021-05-21 頒布
- 2021-12-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS1722020
H21..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T40007—2021
納米技術(shù)納米材料電阻率的
接觸式測(cè)量方法通則
Nanotechnology—Contactingmethodsformeasuringthe
resistivityofnanomaterials—Generalrules
2021-05-21發(fā)布2021-12-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T40007—2021
目次
前言
…………………………Ⅰ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
3………………1
原理
4………………………2
靜態(tài)四探針?lè)ǚ?/p>
4.1(A)………………2
動(dòng)態(tài)四探針?lè)ǚ?/p>
4.2(B)………………2
動(dòng)態(tài)四線兩電極法法
4.3(C)…………3
儀器設(shè)備
5…………………4
通用設(shè)備
5.1……………4
專(zhuān)用設(shè)備
5.2……………4
測(cè)量條件
6…………………6
試樣制備
7…………………6
薄膜
7.1…………………6
漿料
7.2…………………6
粉體
7.3…………………6
膜片尺寸測(cè)定
7.4………………………6
試樣測(cè)量
8…………………6
方法選擇
8.1……………6
法
8.2A…………………7
法
8.3B…………………7
法
8.4C…………………8
影響因素
9…………………9
含水量對(duì)電導(dǎo)率測(cè)定方法的影響
9.1…………………9
施加壓強(qiáng)對(duì)電導(dǎo)率測(cè)定方法的影響
9.2………………9
濕度對(duì)電導(dǎo)率測(cè)定方法的影響
9.3……………………9
測(cè)量報(bào)告
10…………………9
附錄資料性附錄法測(cè)量示例
A()A……………………10
附錄資料性附錄法測(cè)量示例
B()B……………………13
附錄資料性附錄法測(cè)量示例
C()C……………………16
參考文獻(xiàn)
……………………19
GB/T40007—2021
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)科學(xué)院提出
。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)納米材料分技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC279/SC1)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)科學(xué)院山西煤炭化學(xué)研究所冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院江蘇省特種設(shè)備安
:、、
全監(jiān)督檢驗(yàn)研究院國(guó)家石墨烯產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心江蘇中國(guó)科學(xué)院物理研究所國(guó)家納米科學(xué)
[()]、、
中心中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院蘇州晶格電子有限公司廈門(mén)大學(xué)寧波大學(xué)山西美錦能源股份有限公司
、、、、、、
寧德時(shí)代新能源科技股份有限公司嘉庚創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室
、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人陳成猛李曉明黃顯虹欒燕葛廣路孔慶強(qiáng)任玲玲劉崢丁海龍阮殿波
:、、、、、、、、、、
孫國(guó)華蘇方遠(yuǎn)朱慶華周涵韜魏奕民王勤生曹凌云杜兆麗李倩
、、、、、、、、。
Ⅰ
GB/T40007—2021
納米技術(shù)納米材料電阻率的
接觸式測(cè)量方法通則
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米材料電阻率的接觸式測(cè)量方法包括測(cè)量原理儀器設(shè)備測(cè)量條件測(cè)量步驟
,、、、、
影響因素等
。
本標(biāo)準(zhǔn)中靜態(tài)四探針?lè)ǚㄟm用于納米薄膜納米漿料和納米粉體的電阻率測(cè)量動(dòng)態(tài)四探針
(A)、;
法法動(dòng)態(tài)四線兩電極法法適用于納米粉體電阻率的測(cè)量
(B)、(C)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
納米科技納米物體的術(shù)語(yǔ)和定義納米顆粒納米纖維和納米片
GB/T32269、
3術(shù)語(yǔ)和定義
界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
GB/T32269。
31
.
納米材料nanomaterial
任一外部維度內(nèi)部或表面結(jié)構(gòu)處于納米尺度的材料
、。
定義
[GB/T30544.1—2014,2.4]
32
.
電阻率resistivity
ρ
材料內(nèi)部的電流電場(chǎng)強(qiáng)度和穩(wěn)態(tài)電流密度之比即單位體積內(nèi)的體積電阻
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