標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 4937.1-2006 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗方法 第1部分:總則》相較于《GB/T 4937-1995》,主要變化體現(xiàn)在以下幾個方面:
首先,在結(jié)構(gòu)上進(jìn)行了調(diào)整。新版標(biāo)準(zhǔn)將原標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容按照系列標(biāo)準(zhǔn)的形式重新組織,使得整個體系更加清晰、邏輯性更強(qiáng)。具體來說,《GB/T 4937-1995》是一個綜合性的標(biāo)準(zhǔn)文件,而新版本則被拆分為多個部分,其中第1部分專門針對“總則”進(jìn)行規(guī)定,后續(xù)還有其他分部分針對不同類型或特定條件下的測試方法。
其次,在術(shù)語定義方面有所更新。為了更好地與國際接軌,并反映當(dāng)前技術(shù)發(fā)展水平,《GB/T 4937.1-2006》對一些關(guān)鍵術(shù)語進(jìn)行了修訂或新增加了部分術(shù)語,以確保表述準(zhǔn)確無誤且易于理解。
再者,對于試驗方法的要求也更加明確細(xì)化。例如,在描述如何執(zhí)行某些特定類型的環(huán)境或機(jī)械應(yīng)力測試時,新標(biāo)準(zhǔn)提供了更為詳盡的操作指南以及必要的參數(shù)設(shè)置建議,有助于提高測試結(jié)果的一致性和可比性。
此外,還增加了關(guān)于安全注意事項的內(nèi)容。隨著人們對生產(chǎn)過程中安全問題重視程度的不斷提高,《GB/T 4937.1-2006》特別強(qiáng)調(diào)了在實施各項試驗前應(yīng)采取適當(dāng)?shù)陌踩胧?,保障操作人員的人身安全及設(shè)備完好無損。
最后,值得注意的是,新版標(biāo)準(zhǔn)參考并引用了更多最新的國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)文獻(xiàn),這不僅體現(xiàn)了其與時俱進(jìn)的特點,也為使用者提供了更廣泛的信息資源支持。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2006-08-23 頒布
- 2007-02-01 實施
文檔簡介
ICS31.080.1L40中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4937.1-2006/IEC60749-1:2002部分代替GB/T4937-1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第1部分:總則Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:General(IEC60749-1:2002,IDT)2006-08-23發(fā)布2007-02-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T4937.1-2006/IEC60749-1:2002本部分是GB/T4937《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法》的第1部分。下面列出了本標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)計結(jié)構(gòu):-第1部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第1部分:總則》(IEC60749-1)第第2部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第2部分:低氣壓》IEC60749-2)第3部分(半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第3部分:外部目檢》(IEC60749-3)第4部分《半導(dǎo)體器件機(jī)機(jī)械和氣候試驗方法第4部分:強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)》(IEC60749-4)第5部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第5部分:穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命試驗》(IEC60749-5)第6部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第6部分:高溫存》IEC60749-6)第7部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第7部分:內(nèi)部水汽含量測試和其他殘余氣體分析》IEC60749-7)第8部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第8部分:密封》(IEC60749-8)第9部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第9部分:標(biāo)志耐久性》(IEC60749-9)第10部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第10部分:機(jī)械沖擊》(IEC60749-10)第11部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第11部分:快速溫度變化一雙液槽法》(IEC60749-11)第12部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第12部分:變頻振動》IEC60749-12)第13部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第13部分:鹽氣》(IEC60749-13)第14部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第14部分:引線牢固性(引線強(qiáng)度)》(IEC60749-14)機(jī)械和氣候試驗方法第15部分《半導(dǎo)體器件第第15部分:通孔安裝器件的耐焊接熱》(IEC60749-15)第19部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第19部分:芯片剪切強(qiáng)度》(IEC60749-19)第20部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第20部分:塑封表面安裝器件的耐濕和耐焊接熱》(IEC60749-20)第21部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第21部分:可焊性》IEC60749-21)第第22部分《半導(dǎo)體器件械和氣候試驗方法第22部分:鍵合強(qiáng)度》IEC60749-22)第25部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法:第25部分;快速溫度變化(空氣一空氣)》(IEC60749-25)-第31部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第31部分:塑封器件的易燃性(內(nèi)部引起的)》(IEC60749-31)第32部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)》IEC60749-32)-第36部分《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第36部分:恒定加速度》IEC60749-36)GB/T4937的第1部分等同采用IEC60749-1:2002《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法:第1部總則》英文版)。
GB/T4937.1一2006/IEC60749-1:2002為便于使用,本部分做了下列編輯性修改:“)刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言;b)刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的引言,本部分代替GB/T4937—1995《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法》第I篇總則。本部分與GB/T4937—1995第I篇總則的主要差異為:本部分刪除了GB/T4937—1995第I篇總則第5章外觀檢查和尺寸檢驗。本部分的附錄A為資料性附錄本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出本部分由全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本部分起草單位:中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所。本部分主要起草人:陳海蓉、崔波。本部分第一次修訂。
GB/T4937.1-2006/IEC60749-1:2002半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第1部分:總則1范圍本部分適用于半導(dǎo)體器件(分立器件和集成電路)并為GB/T4937系列的其他部分建立通用準(zhǔn)則當(dāng)本部分與相應(yīng)的詳細(xì)規(guī)范有矛盾時,以詳細(xì)規(guī)范為準(zhǔn)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T4937的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本都分IEC60050(所有部分))國際電工技術(shù)詞匯(IEV)IEC60747(所有部分)半導(dǎo)體器件分立器件IEC60748(所有部分)半導(dǎo)體器件集成電路3術(shù)語和定義、文字符號IEC60747和IEC60748中使用的術(shù)語和定義、符號適用于本部分。通用的術(shù)語可參見IEC60050(IEV)系列。標(biāo)準(zhǔn)大氣條件4.1除另有規(guī)定外.所有的試驗和恢復(fù)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行:溫度:15C~35C;相對濕度:45%~75%,適用時:氣壓:86kPa~106kPa。4.2所有的電測試,以及測試前的恢復(fù),應(yīng)在大氣條件下進(jìn)行:溫度:25C±5C;相對濕度:45%~75%,適用時;氣壓:86kPa~106kPa。4.3在測試之前,應(yīng)使樣品放置達(dá)到溫度平衡。測試期間的環(huán)境溫度應(yīng)在試驗報告中說明。4.4測試期間,樣品不應(yīng)受到氣流、光照或其他可能引起誤差的影響。電測試5.1特性
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