- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2012-11-05 頒布
- 2013-02-15 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介
ICS3108001
L40..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T49374—2012/IEC60749-42002
.:
半導(dǎo)體器件
機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
第4部分強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)HAST
:()
Semiconductordevices—
Mechanicalandclimatictestmethods—
Part4DamheatsteadstatehihlacceleratedstresstestHAST
:p,y,gy()
(IEC60749-4:2002,IDT)
2012-11-05發(fā)布2013-02-15實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
中華人民共和國(guó)
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
半導(dǎo)體器件
機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
第4部分強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)HAST
:()
GB/T4937.4—2012/IEC60749-4:2002
*
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行
北京市朝陽(yáng)區(qū)和平里西街甲號(hào)
2(100013)
北京市西城區(qū)三里河北街號(hào)
16(100045)
網(wǎng)址
:
服務(wù)熱線
/p>
年月第一版
20132
*
書號(hào)
:155066·1-46248
版權(quán)專有侵權(quán)必究
GB/T49374—2012/IEC60749-42002
.:
前言
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法由以下部分組成
GB/T4937《》:
第部分總則
———1:;
第部分低氣壓
———2:;
第部分外部目檢
———3:;
第部分強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
———4:(HAST);
第部分穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命試驗(yàn)
———5:;
第部分高溫貯存
———6:;
第部分內(nèi)部水汽含量測(cè)試和其他殘余氣體分析
———7:;
第部分密封
———8:;
第部分標(biāo)志耐久性
———9:;
第部分機(jī)械沖擊
———10:;
第部分快速溫度變化雙液槽法
———11:;
第部分變頻振動(dòng)
———12:;
第部分鹽氣
———13:;
第部分引線牢固性引線強(qiáng)度
———14:();
第部分通孔安裝器件的耐焊接熱
———15:;
第部分粒子碰撞噪聲檢測(cè)
———16:(PIND);
第部分中子輻射
———17:;
第部分電離輻射總劑量
———18:();
第部分芯片剪切強(qiáng)度
———19:;
第部分塑封表面安裝器件的耐濕和耐焊接熱
———20:;
第部分可焊性
———21:;
第部分鍵合強(qiáng)度
———22:;
第部分高溫工作壽命
———23:;
第部分加速耐濕無(wú)偏置強(qiáng)加速應(yīng)力試驗(yàn)
———24:;
第部分溫度循環(huán)
———25:;
第部分靜電放電敏感度試驗(yàn)人體模式
———26:(ESD)(HBM);
第部分靜電放電敏感度試驗(yàn)機(jī)械模式
———27:(ESD)(MM);
第部分靜電放電敏感度試驗(yàn)器件帶電模式考慮中
———28:(ESD)(CDM)();
第部分門鎖試驗(yàn)
———29:;
第部分非密封表面安裝器件在可靠性試驗(yàn)前的預(yù)處理
———30:;
第部分塑封器件的易燃性內(nèi)部引起的
———31:();
第部分塑封器件的易燃性外部引起的
———32:();
第部分加速耐濕無(wú)偏置高壓蒸煮
———33:;
第部分功率循環(huán)
———34:;
第部分塑封電子元器件的聲學(xué)掃描
———35:;
第部分恒定加速度
———36:;
第部分手持電子產(chǎn)品用元器件桌面跌落試驗(yàn)方法
———37:;
Ⅰ
GB/T49374—2012/IEC60749-42002
.:
第部分半導(dǎo)體器件的軟錯(cuò)誤試驗(yàn)方法
———38:;
第部分半導(dǎo)體元器件原材料的潮氣擴(kuò)散率和水溶解率測(cè)量
———39:。
本部分是的第部分
GB/T49374。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分使用翻譯法等同采用半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第部分強(qiáng)
IEC60749-4:2002《4:
加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
(HAST)》。
為便于使用本部分做了下列編輯性修改和勘誤
,:
用小數(shù)點(diǎn)代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)
a)“.”“,”;
刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言
b);
將第章中見改為見
c)8e)“3.1”“4.2”。
本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC78)。
本部分起草單位中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所
:。
本部分主要起草人李麗霞陳海蓉崔波
:、、。
Ⅱ
GB/T49374—2012/IEC60749-42002
.:
半導(dǎo)體器件
機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
第4部分強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)HAST
:()
1范圍
的本部分規(guī)定了強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)方法用于評(píng)價(jià)非氣密封裝半導(dǎo)體器件
GB/T4937(HAST),
在潮濕的環(huán)境下的可靠性
。
2強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)HAST—一般說(shuō)明
()
強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)通過(guò)施加嚴(yán)酷的溫度濕度和偏置條件來(lái)加速潮氣穿透外部保護(hù)材料灌封或
、(
密封或外部保護(hù)材料和金屬導(dǎo)體的交接面此試驗(yàn)應(yīng)力產(chǎn)生的失效機(jī)理通常與穩(wěn)態(tài)溫濕度偏
)?!?5/85”
置壽命試驗(yàn)見相同試驗(yàn)方法可以從穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)或本試驗(yàn)方法中選
(IEC60749-5)。85℃/85%RH
擇在執(zhí)行兩種試驗(yàn)方法時(shí)穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)的結(jié)果優(yōu)先于強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
。,85℃/85%RH
(HAST)。
本試驗(yàn)方法應(yīng)被視為破壞性試驗(yàn)
。
3試驗(yàn)設(shè)備
試驗(yàn)需要一臺(tái)能連續(xù)保持規(guī)定的溫度和相對(duì)濕度的壓力容器同時(shí)提供電連接試驗(yàn)時(shí)給器件施加
,,
規(guī)定的偏置條件
。
31受控條件
.
在上升到規(guī)定的試驗(yàn)環(huán)境和從規(guī)定的試驗(yàn)環(huán)境下降過(guò)程中壓力容器應(yīng)能夠提供受控的壓力溫度
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