標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5594.3-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 第3部分：平均線膨脹系數(shù)測試方法》與《GB/T 5594.3-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 平均線膨脹系數(shù)測試方法》相比，在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和改進(jìn)。這些變化主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

  1. 術(shù)語定義的明確化：新版本對(duì)一些專業(yè)術(shù)語給出了更加準(zhǔn)確的定義，比如對(duì)于“平均線膨脹系數(shù)”的解釋更加詳盡，有助于減少理解上的歧義。

  2. 測試條件的具體化：2015版標(biāo)準(zhǔn)中明確了更為詳細(xì)的實(shí)驗(yàn)條件要求，包括溫度范圍、加熱速率等參數(shù)設(shè)定，以確保不同實(shí)驗(yàn)室間獲得的結(jié)果具有更好的可比性和重復(fù)性。

  3. 樣品制備及處理要求的細(xì)化：針對(duì)樣品的選擇、準(zhǔn)備以及處理過程提出了更具體的要求，如尺寸規(guī)格、表面狀態(tài)等方面的規(guī)定，保證了測試結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。

  4. 測量方法和技術(shù)手段的進(jìn)步：隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，新的測量技術(shù)和設(shè)備被引入到標(biāo)準(zhǔn)之中，使得測試過程更加高效精準(zhǔn)。例如，推薦使用更高精度的熱機(jī)械分析儀進(jìn)行測定，并給出了相應(yīng)的操作指南。

  5. 數(shù)據(jù)處理方式的優(yōu)化：在如何處理實(shí)驗(yàn)所得數(shù)據(jù)方面也做了相應(yīng)調(diào)整，提供了更加科學(xué)合理的計(jì)算公式和步驟說明，以便于研究人員能夠準(zhǔn)確地從原始數(shù)據(jù)中提取出有用信息。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2015-05-15 頒布
  • 2016-01-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 5594.3-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第3部分：平均線膨脹系數(shù)測試方法_第1頁
GB/T 5594.3-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第3部分：平均線膨脹系數(shù)測試方法_第2頁
GB/T 5594.3-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第3部分：平均線膨脹系數(shù)測試方法_第3頁
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GB/T 5594.3-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第3部分：平均線膨脹系數(shù)測試方法-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS31-030

L90

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T55943—2015

代替.

GB/T5594.3—1985

電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料

性能測試方法

第3部分平均線膨脹系數(shù)測試方法

:

Testmethodsforpropertiesofstructureceramic

usedinelectroniccomponentsanddevice—

Part3Testmethodformeancoefficientoflinearexansion

:p

2015-05-15發(fā)布2016-01-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T55943—2015

.

前言

電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法的結(jié)構(gòu)如下

GB/T5594《》:

氣密性測試方法

———(GB/T5594.1);

楊氏彈性模量泊松比測試方法

———(GB/T5594.2);

第部分平均線膨脹系數(shù)測試方法

———3:(GB/T5594.3);

第部分介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測試方法

———4:(GB/T5594.4);

體積電阻率測試方法

———(GB/T5594.5);

第部分化學(xué)穩(wěn)定性測試方法

———6:(GB/T5594.6);

第部分透液性測定方法

———7:(GB/T5594.7);

第部分顯微結(jié)構(gòu)測定方法

———8:(GB/T5594.8);

電擊穿強(qiáng)度測試方法

———(GB/T5594.9)。

本部分為的第部分

GB/T55943。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數(shù)測試

GB/T5594.3—1985《

方法

》。

本部分與相比主要有下列變化

GB/T5594.3—1985,:

標(biāo)準(zhǔn)名稱改為電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第部分平均線膨脹系數(shù)測試方

———:“3:

法

”;

測試樣品改為?

———4.13.5×50mm;

套管和傳遞桿的材料從石英玻璃變化為石英玻璃或高溫氧化鋁陶瓷

———4.2;

測量范圍從室溫至變化為室溫至

———4.4800℃1200℃;

線膨脹系數(shù)單位改為-1

———4.5K。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

,。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院歸口

。

本部分起草單位中國電子科技集團(tuán)公司第十二研究所河南濟(jì)源兄弟材料有限公司浙江溫嶺特

:、、

種陶瓷廠

。

本部分主要起草人高隴橋黃國立胡菊飛

:、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T5594.3—1985。

Ⅰ

GB/T55943—2015

.

電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料

性能測試方法

第3部分平均線膨脹系數(shù)測試方法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了陶瓷材料平均線膨脹系數(shù)測試的樣品測試設(shè)備測試方法及報(bào)告

GB/T5594、、

格式

。

本部分適用于電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料的平均線膨脹系數(shù)的測試

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料

GB/T5593—2015

電子陶瓷名詞術(shù)語

GB/T9530—1988

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T9530—1988。

31

.

線膨脹系數(shù)coefficientoflinearexpansion

在一定溫度范圍內(nèi)溫度變化試樣線性尺寸的相對(duì)變化值常用式表示

,1K。(1):

lt-l

α=0

lt-t…………(1)

0(0)

式中

:

α線膨脹系數(shù)

———;

l最初溫度t時(shí)試樣的長度單位為毫米

0———0,(mm);

lt加熱溫度至t時(shí)試樣的長度單位為毫米

———,(mm)。

4測試方法

41樣品應(yīng)符合中表的要求并用精確度為的卡尺測量試樣長度L

.GB/T5593—201520.02mm0。

42試樣裝入石英玻璃或高溫陶瓷套管中應(yīng)保持平直和穩(wěn)定并和石英玻璃或高溫陶

.Al2O3,,Al2O3

瓷傳遞桿接觸良好用倍放大鏡觀察不應(yīng)有可見裂紋和氣孔

。10,。

43接通電源加熱并均勻升溫試樣升溫速度不大于

.,。

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