• 被代替
  • 已被新標準代替,建議下載現行標準GB/T 5594.3-2015
  • 1985-11-27 頒布
  • 1986-12-01 實施
?正版授權
GB/T 5594.3-1985電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數測試方法_第1頁
GB/T 5594.3-1985電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數測試方法_第2頁
GB/T 5594.3-1985電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數測試方法_第3頁
免費預覽已結束,剩余1頁可下載查看

下載本文檔

文檔簡介

UDC621.315.612:621.382/.387:620.1中華人民共和國國家標準GB5594.3-85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數測試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientoflinearexpansion1985-11-27發(fā)布1986-12-01實施:標淮國同家批準

中華人民共和國國家標準電子元器件結構陶瓷材料性性能測試方法平均線膨脹系數測試方法GB5594.3-85中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼:100045電話:63787337、637874471986年7月第一版2005年12月電子版制作書號:1550661-24319版權專有(權必究舉報電話:(010)68533533

中華人民共和國國家標準電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數測試方法1.387:620.1GB5594.3-85TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientorlinearexpansicn本標準適用于測量室濕至800℃各個階設中電子元器件結構陶瓷的平均線膨脹系數1定義在指定溫度范圍內,陶瓷在單位溫度下相對伸長量的中均值四平均線膨脹系數。式中:平均線膨脹系數,C!室溫至所測溫度的伸長量,mr;室溫至所測溫度的溫度差,(;試樣在室溫下的長度,mm.2測試設備2.1線膨脹系數測試儀,具有±0.15×10°/C的精確度。2.22通用熱電偶,具有±1C的精確度,熱端應放在試樣中部,冷端應放在保溫瓶中.武樣制備3.11根據膨脹儀的類形、確定兩種試樣尺寸,見GB5593一85《電子元器件結構陶瓷材料》。3.22試梓不應有影響測試結果的缺障,如裂紋、境曲和氣孔等。4測試方法4.1用精度為0.05mm的卡尺酒量試樣長度L4.22試樣裝人(英套管中,應保持直和穩(wěn)定,并和石英傳遞桿接觸良好、4.3接通電源、加熱并烏勾升溫。百徑3.5±0.1mm的試樣升溫速度不大子5C/min,m7±1mm的試樣升溫謀度不大)3(/min。4記錄各點溫度和伸長值L,直至瓣試到所需溫度為止。4.55測量結果按下列公

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用,未經授權,嚴禁復制、發(fā)行、匯編、翻譯或網絡傳播等,侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。?,因數字商品的特殊性,一經售出,不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質量問題。

評論

0/150

提交評論