GB/T 5832.4-2020氣體分析微量水分的測定第4部分：石英晶體振蕩法

ICS7110020

G86..

中華人民共和國國家標準

GB/T58324—2020

.

氣體分析微量水分的測定

第4部分石英晶體振蕩法

:

Gasanalysis—Determinationofmoisture—

Part4Themethodofuartzcrstaloscillation

:qy

2020-11-19發(fā)布2021-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T58324—2020

.

前言

氣體分析微量水分的測定分為多個部分目前暫分為部分

GB/T5832《》,4:

第部分電解法

———1:;

第部分露點法

———2:;

第部分光腔衰蕩光譜法

———3:;

第部分石英晶體振蕩法

———4:。

本部分為的第部分

GB/T58324。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分由中國石油和化學工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本部分由全國氣體標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC206)。

本部分起草單位福州市產(chǎn)品質(zhì)量檢驗所中國測試技術(shù)研究院化學研究所云南省計量測試技術(shù)

:、、

研究院西南化工研究設(shè)計院有限公司中國環(huán)境監(jiān)測總站中國石油天然氣股份有限公司西南油氣田

、、、

分公司天然氣研究院中國石油化工股份有限公司天然氣分公司計量研究中心重慶市生態(tài)環(huán)境監(jiān)測中

、、

心重慶市計量質(zhì)量檢測研究院湖南省計量檢測研究院密析爾儀表上海有限公司西安鼎研科技股

、、、()、

份有限公司

。

本部分主要起草人李黎榕潘義張紹旺周鵬云楊婧周理陳雅麗王維康張雯阮俊滕曼

:、、、、、、、、、、、

蔡黎裴全斌渠巍張雯徐陽朱翔任昀陳軍石兆奇任磊熊華競

、、、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T58324—2020

.

氣體分析微量水分的測定

第4部分石英晶體振蕩法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了采用石英晶體振蕩法測定氣體中微量水分的方法原理儀器要求測

GB/T5832、、

定步驟結(jié)果處理和試驗報告

、。

本部分適用于氫氧氮氦氖氬氪氙六氟化硫一氧化碳氧化亞氮空氣等氣體及其混合氣

、、、、、、、、、、、

體中微量水分的測定不適用于對石英晶體有腐蝕的氣體以及能與水分發(fā)生反應的氣體測定范圍

,。:

-6體積分數(shù)-6體積分數(shù)

0.1×10()~2000×10()。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

工業(yè)用化學產(chǎn)品采樣安全通則

GB/T3723

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

石英晶體微天平quartzcrystalmicrobalanceQCM

;

利用石英晶體的壓電特性制成的諧振式質(zhì)量傳感器當傳感器加有電壓時會產(chǎn)生一個頻率非常穩(wěn)

,,

定的振動

。

32

.

代表性樣品representativesample

一種與被采氣體有相同組成且被認為是完全均勻的樣品

。

4方法原理

石英晶體微天平在氣相中使用的基本原理和依據(jù)是方程當外部附著物均勻分

(QCM)Sauerbrey,

布在石英晶體表面且吸附物質(zhì)的質(zhì)量遠小于石英晶體的質(zhì)量時質(zhì)量與頻率之間的變化成正比關(guān)系

,,。

測定氣體中微量水分時石英晶體的表面涂覆有吸濕性的涂層當樣品氣通入置有的測量腔室

,,QCM

時石英晶體表面的涂層吸濕石英晶體表面的質(zhì)量改變使石英晶體的固有振蕩頻率發(fā)生改變且振蕩

,,,

頻率隨涂層吸收水含量的變化而成比例地改變

。

方程見式

Sauerbrey(1):

f=-cm