標準解讀

《GB/T 7220-2004 產品幾何量技術規(guī)范(GPS) 表面結構 輪廓法 表面粗糙度 術語 參數(shù)測量》相較于《GB/T 7220-1987》，在內容上進行了多方面的更新與調整。新標準更加注重與國際接軌，采用了ISO相關標準的最新成果，以確保其適用性和先進性。具體變化包括但不限于以下幾個方面：

  1. 術語定義更為精確：新版標準對表面粗糙度相關的術語和定義進行了重新審視與修訂，使之更加準確地反映了當前的技術水平和發(fā)展趨勢。

  2. 參數(shù)種類增加：根據(jù)實際應用需求及國際發(fā)展趨勢，《GB/T 7220-2004》增加了新的表面粗糙度參數(shù)，這些新增加的參數(shù)能夠更好地描述不同類型的表面特性，從而滿足更廣泛的應用場景。

  3. 測量方法改進：針對表面粗糙度的測量方法，《GB/T 7220-2004》引入了更多現(xiàn)代化技術和手段，提高了測量精度與效率。同時，對于某些特定條件下的特殊要求也給出了具體的指導原則。

  4. 數(shù)據(jù)處理方式更新：隨著信息技術的發(fā)展，《GB/T 7220-2004》還特別強調了數(shù)字信號處理技術在表面粗糙度數(shù)據(jù)分析中的應用，為用戶提供了一套完整的從數(shù)據(jù)采集到結果輸出的操作流程。

  5. 附錄資料豐富化：為了幫助讀者更好地理解和使用本標準，《GB/T 7220-2004》提供了更為詳盡的背景信息、案例分析以及與其他相關標準之間的聯(lián)系說明等內容，增強了其實用價值。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2004-11-11 頒布
  • 2005-07-01 實施
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GB/T 7220-2004產品幾何量技術規(guī)范(GPS)表面結構輪廓法表面粗糙度術語參數(shù)測量-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS17.040.20J04中華人民共和國國家標準GB/T7220—2004代替GB/T7220—1987產品幾何量技術規(guī)范(GPS)表面結構輪廊法表面粗糙度術語參數(shù)測量GeometricalProductSpecifications(GPS)—Surfacetexture-Profilemethod-Surfaceroughness-Terminology一Measurementofsurfaceroughnessparameters2004-11-11發(fā)布2005-07-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T7220—2004前本標準是對（B/T7220—1987《表面粗糙度術語參數(shù)測量》的修訂。修訂后的標準在技術內容上與1987年標準和現(xiàn)行的產品幾何量技術規(guī)范(GPS)新標準體系基本一致·滿足了國內各有關行業(yè)的需求。本標準與GB/T7220—1987相比主要變化如下：根據(jù)GB/T3505-2000.對GB/T7220—1987標準的術語定義進行了協(xié)調在標準編寫格式上按新的GB/T1.1的規(guī)定作了相應的修改。修改后的版本·作為GB/T6062—2002的補充。所涉及到的相同定義·均應以GB/T6062為準。本標準由全國產品尺寸和幾何技術規(guī)范標準化技術委員會提出并歸口。本標準起草單位：機械科學研究院、時代集團公司、中國計量科學研究院、北京市計量科學研究所哈爾濱量具刃具廠本標準主要起草人：王欣玲、王忠濱、高思田、吳迅、郎巖梅本標準于1987年1月首次發(fā)布。

GB/T7220—2004產品幾何量技術規(guī)范(GPS)表面結構輪廊法表面粗糙度：術語參數(shù)測量范圍本標準規(guī)定了有關表面結構(粗糙度、表面波紋度和原始輪廊)參數(shù)測量的術語及定義本標準適用于輪席法評定表面結構參數(shù)測量的術語定義。范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內容)或修訂版均不適用于本標準.然而·鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。表面結構GB/T3505-2000產品幾何技術規(guī)范輪廊法表面結構的術語、定義及參數(shù)（eqvISO4287:1997)2產品幾何技術規(guī)范(GPS）表面結構輪廊法GB/T6062-2002接觸(觸針)式儀器的標稱特性(eqvISO3274:1996)3術語和定義由GB/T3505和GB/T6062確立的以及下列的術語和定義適用于本標準。輪廊轉換profiletransformatior在測量過程的任一階段(如：觸針滑移、濾波、記錄等)預期地或非預期地導致輪席表現(xiàn)形式產生變換的過程。3.2轉換輪廊transrormedprorile由轉換結果所產生的輪廊。3.3預期輪魔轉換intentionalDrofiletransformation按規(guī)定的要求(對給定某一測量的具體要求)測量時,應進行的輪廊轉換，例如：將表面輪廊轉換成電信號，以便能使用電測儀器;測量時用濾波器按波長分離出與粗糙度、波紋度和原始輪廊對應的輪廊成分。3.4非預期輪廊轉換由于測量儀器或其個別部分不完善,所產生的輪廊轉換(通常視為輪廊信息失真）例如：當具有一定針尖半徑的觸針滑過輪廊進行測量時.所產生的輪廊信息失真。3.5軌跡輪摩tr

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