GB/T 9424-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第五篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范

IC531.200L56中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T9424-1998idtIEC748-2-5:1992QC790131半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第五篇CMOS數(shù)字集成電路40008和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionfive—-BlankdetailspecificationforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.seriesA00OBand40OOUB1998-11-17發(fā)布1999-06-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第五篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范GB/T9424-1998中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：100445htp://電話：63787337、637874471999年5月第一版20%4年12月電子版制作書號：155066·1-15762版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（010）68533533

GB/T9424-1998本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會(IEC)標(biāo)準(zhǔn)IEC748-2-5：1992《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分?jǐn)?shù)字集成電路第五篇一CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范》。本標(biāo)準(zhǔn)代替1988年發(fā)布的GB9424《CMOS數(shù)字集成電路4000系列電路空白詳細(xì)規(guī)范》。本標(biāo)準(zhǔn)與《CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范》一起，可作為編制CMOS數(shù)字集成電路4000系列電路詳細(xì)規(guī)范的依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)引用的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4937一1995和GB/T17572—1998分別等同采用IC749:1984及修改單1（1991)、修改單2（1993)和IEC748-2-4:1992.本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所、西安微電子技術(shù)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳裕爆、陳學(xué)禮

GB/T9424-1998IEC前言1）IEC（國際電工委員會）在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些問題特別關(guān)切的國家委員會參加的技術(shù)委員會制定的.對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議，以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國際上使用，并在此意義上為各國家委員會所認(rèn)可3）為了促進(jìn)國際上的統(tǒng)一,IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標(biāo)準(zhǔn)的文本作為其國家標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)之間的差異，應(yīng)盡可能在國家標(biāo)準(zhǔn)中指明。本標(biāo)準(zhǔn)是由SC47A(集成電路)和IECTC47(半導(dǎo)體器件)制定的。本標(biāo)準(zhǔn)系CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù)：六個月法表決報告一個月程序表決報告47A(CO)17547C0)19547A(CO)21047A(CO）24247（C0)1051本標(biāo)準(zhǔn)表決批準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報告中查閱、本標(biāo)準(zhǔn)封面的QC編號是IEC電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ）規(guī)范號。本標(biāo)準(zhǔn)引用下列IEC標(biāo)準(zhǔn)：68-2-17:1978環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)試驗(yàn)Q密封617-12:1991圖示符號第12部分二進(jìn)制邏輯單元747-10:1991半導(dǎo)體器件分立器件：第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范748-2-4：1991！半導(dǎo)體器件集成電路第2部分?jǐn)?shù)字集成電路第四篇一CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范748-11:1990半導(dǎo)體器件集成電路第11部分半導(dǎo)體集成電路(不包括混合電路)分規(guī)范749:1984半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法修改單1(1991）QC001002:1986IEC電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ)程序規(guī)則

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路GB/T9424第五篇CMOS數(shù)字集成電路-1998idtIEC748-2-5:1992QC7901314000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范代替GB/T9424-一—1988SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionfive-BlankdetailspecificationforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.series4000Band4000UB引言IEC電子元器件質(zhì)量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權(quán)下工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子元器件無需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一,并應(yīng)與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用747-10/QC700000半導(dǎo)體器件：第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范要求的資料本頁及下面方括號內(nèi)的數(shù)字與下列各項(xiàng)要求的資料相對應(yīng),這些資料應(yīng)填入相應(yīng)欄中詳細(xì)規(guī)范的識別「1授權(quán)發(fā)布詳細(xì)規(guī)范的國家標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)名稱.L2]詳細(xì)規(guī)范的IECQ編號。L3」總規(guī)范、分規(guī)范的編號及版本號。L4詳細(xì)規(guī)范的國家編號、發(fā)布日期及國家標(biāo)準(zhǔn)體系要求的任何資料，器件的識別L5主要功能和型號。L6」典型結(jié)構(gòu)(材料、主要工藝)和封裝資料。如果器件具有若干種派生產(chǎn)品，則應(yīng)指出其差異，例如，在對照表中列出特性差異.如果器件屬靜電敏感型，在詳細(xì)規(guī)范中應(yīng)附加預(yù)防說明。【7外形圖、引出端識別、標(biāo)志和/或與外形有關(guān)的參考文件.L8]按總規(guī)范2.6的