• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2006-12-08 頒布
  • 2007-03-08 實(shí)施
?正版授權(quán)
JJF 1160-2006中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范_第1頁
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文檔簡介

中華人民共和國國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1160—2006

中小規(guī)模數(shù)字集成電路

測試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationofSmall&Medium

ScaleDigitalIntegratedCircuitTestingSystem

2006-12-08發(fā)布2007-03-08實(shí)施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJF1160—2006

中小規(guī)模數(shù)字集成電路

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測試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范??

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CalibrationSpecificationofSmall&Medium??

ScaleDigitalIntegratedCircuitTestingSystem

本規(guī)范經(jīng)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局年月日批準(zhǔn)并自

2006128,

年月日起實(shí)施

200738。

歸口單位:全國無線電計(jì)量技術(shù)委員會

起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

本規(guī)范由全國無線電計(jì)量技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋

JJF1160—2006

本規(guī)范主要起草人:

陳大為信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

吳京燕信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

參加起草人:

周旭信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

王酣信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

JJF1160—2006

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻(xiàn)………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計(jì)量特性………………

4(1)

器件電源……………

4.1(1)

精密測量單元………………………

4.2(1)

驅(qū)動單元……………

4.3(2)

比較單元……………

4.4(2)

校準(zhǔn)條件………………

5(2)

環(huán)境條件……………

5.1(2)

測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備………………

5.2(2)

校準(zhǔn)項(xiàng)目及校準(zhǔn)方法…………………

6(2)

設(shè)備工作正常性和器件邏輯測試功能性檢查……

6.1(2)

器件電源設(shè)置電壓參數(shù)校準(zhǔn)……………

6.2(DPS)(2)

器件電源電流測量參數(shù)校準(zhǔn)……………

6.3(DPS)(3)

精密測量單元加電壓測電流參數(shù)校準(zhǔn)………………

6.4(PMU)(4)

精密測量單元加電流測電壓參數(shù)校準(zhǔn)………………

6.5(PMU)(5)

驅(qū)動單元電壓設(shè)置參數(shù)校準(zhǔn)………

6.6(6)

比較單元電壓測量參數(shù)校準(zhǔn)………

6.7(6)

校準(zhǔn)結(jié)果的表述………………………

7(7)

復(fù)校時(shí)間間隔…………

8(7)

附錄中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備校準(zhǔn)證書內(nèi)頁格式………

A(8)

JJF1160—2006

中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于測試時(shí)鐘頻率小于沒有時(shí)間測量單元的中小規(guī)模數(shù)字集成

10MHz、

電路測試設(shè)備校準(zhǔn)

2引用文獻(xiàn)

測量不確定度評定與表示

JJF1059—1999《》

注:使用本規(guī)范時(shí),應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本。

3概述

中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備測試對象是中小規(guī)模數(shù)字集成電路器件具有簡單

邏輯功能檢查和一般直流參數(shù)測試能力設(shè)備結(jié)構(gòu)相對大規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備而

。

言比較簡單不具備時(shí)間參數(shù)測量能力

,。

其主要結(jié)構(gòu)由器件電源精密測量單元驅(qū)動比較單元及控制單元組成其結(jié)構(gòu)

、、/。

示意圖如圖

1。

圖中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖

1

本規(guī)范通過分項(xiàng)參數(shù)校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)樣片比對檢查對中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備進(jìn)

行校準(zhǔn)以保證其量值溯源

,。

4計(jì)量特性

溫馨提示

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