標準解讀

《JJF 1306-2011 X射線熒光鍍層測厚儀校準規(guī)范》是中國國家計量技術(shù)規(guī)范之一,主要針對X射線熒光鍍層測厚儀的校準方法、校準條件及校準結(jié)果處理等方面進行了詳細規(guī)定。該標準適用于采用X射線熒光原理進行測量的各種類型的鍍層厚度測量儀器。

根據(jù)此規(guī)范,首先明確了校準過程中需要使用的標準物質(zhì)應當是經(jīng)過認證的標準樣品,這些樣品需覆蓋被測材料范圍,并且其證書應包含不確定度信息。此外,對于不同材質(zhì)和厚度范圍的鍍層,推薦使用相應的標準樣品來進行校準。

在校準環(huán)境方面,要求溫度保持在(20±5)℃范圍內(nèi),相對濕度不超過85%,并且避免強磁場干擾以及震動影響。同時指出,在開始正式校準前,儀器應先預熱至穩(wěn)定狀態(tài)。

關(guān)于校準項目,主要包括但不限于:零點漂移、重復性誤差、示值誤差等關(guān)鍵性能指標。其中,特別強調(diào)了對于多層鍍層結(jié)構(gòu)的測試時,要注意各層之間相互作用可能對結(jié)果造成的影響。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2011-09-14 頒布
  • 2011-12-14 實施
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JJF 1306-2011X射線熒光鍍層測厚儀校準規(guī)范_第1頁
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術(shù)規(guī)范

JJF1306—2011

X射線熒光鍍層測厚儀校準規(guī)范

CalibrationSpecificationfor

X-RayFluorescenceCoatingThicknessInstruments

2011-09-14發(fā)布2011-12-14實施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

JJF1306—2011

射線熒光鍍層測厚儀校準規(guī)范??

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X??

CalibrationSecificationfor?JJF1306—2011?

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p?

??

??

X-RayFluorescenceCoatingThicknessInstruments

本規(guī)范經(jīng)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局于年月日批準并自

2011914,

年月日起施行

20111214。

歸口單位全國幾何量長度計量技術(shù)委員會

:

起草單位中國計量科學研究院

:

深圳市計量質(zhì)量檢測研究院

江蘇天瑞儀器股份有限公司

本規(guī)范委托全國幾何量長度計量技術(shù)委員會負責解釋

JJF1306—2011

本規(guī)范主要起草人

:

朱小平中國計量科學研究院

()

王強兵深圳市計量質(zhì)量檢測研究院

()

李玉花江蘇天瑞儀器股份有限公司

()

參加起草人

:

杜華中國計量科學研究院

()

王蔚晨中國計量科學研究院

()

JJF1306—2011

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計量特性………………

4(1)

厚度測量重復性……………………

4.1(1)

示值穩(wěn)定性…………

4.2(1)

厚度測量示值誤差…………………

4.3(1)

校準條件………………

5(2)

環(huán)境條件……………

5.1(2)

校準所用標準器及配套設(shè)備………

5.2(2)

校準項目和校準方法…………………

6(2)

校準前準備…………

6.1(2)

厚度測量重復性……………………

6.2(2)

示值穩(wěn)定性…………

6.3(2)

厚度測量示值誤差…………………

6.4(3)

校準結(jié)果表達…………

7(3)

復校時間間隔…………

8(3)

附錄測量結(jié)果不確定度評定示例……………

A()(4)

附錄厚度標準塊的技術(shù)要求………

B(7)

附錄常見典型鍍層材料的厚度范圍………………

C(9)

JJF1306—2011

X射線熒光鍍層測厚儀校準規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于射線熒光鍍層測厚儀的校準

X。

2引用文獻

本規(guī)范引用下列文獻

:

通用計量術(shù)語及定義

JJF1001—1998

測量不確定度評定與表示

JJF1059—1999

測量儀器特性評定

JJF1094—2002

金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量射線光譜方法

GB/T16921—2005X

使用本規(guī)范時應注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本

,。

3概述

射線熒光鍍層測厚儀是一種基于能量色散方法的非破壞性定量分析儀器具有分

X,

析測量多種金屬材料成份和多種鍍層厚度的功能廣泛應用于電子半導體首飾材

,、、、

料分析等行業(yè)射線熒光鍍層測厚儀測量鍍層厚度的原理射線管產(chǎn)生的初級

。X:XX

射線照射在被分析的樣品上樣品受激發(fā)而輻射出二次射線被探測器接收此二次

,X,

輻射具有該樣品材料的波長和能量特征鍍層厚度和二次輻射強度有一定的關(guān)系經(jīng)多

,,

道分析器及計算機進行能譜分析處理后計算被測樣品的鍍層厚度

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