地質(zhì)工作方法

--讓每個(gè)人公平地提升自我11地質(zhì)測量、地質(zhì)草測和地質(zhì)簡測的根本概念地質(zhì)測量一般所說的地質(zhì)測量是指“正規(guī)的”或“正式的”地質(zhì)測量，是一種在填圖單位、上式的”地質(zhì)測量用于已有較明晰資源前景的普查區(qū)和詳查、勘探礦區(qū)。地質(zhì)簡測地質(zhì)簡測是對測區(qū)內(nèi)不同地質(zhì)體、地質(zhì)界限測量要求有所區(qū)分的地質(zhì)測量。對被認(rèn)為GPS或半儀器法定位。地質(zhì)簡測用于預(yù)查和普查階段地質(zhì)草測地質(zhì)草測在填圖單位和上圖地質(zhì)體的尺度要求上與“正式的”地質(zhì)測量一樣，但在地形底圖、觀看密度和/或一般地質(zhì)點(diǎn)定位精度上可適當(dāng)放寬的地質(zhì)測量。地質(zhì)草測用于資源前景尚不明晰的預(yù)查區(qū)和普查區(qū)。地質(zhì)草測時(shí)可以：地質(zhì)觀測點(diǎn)的密度在正規(guī)地質(zhì)測量所要求標(biāo)準(zhǔn)的倍間。大于1：1GPS或半儀器〔地質(zhì)羅盤、測繩等〕法定位，但礦體邊界等重要地質(zhì)界限除外。地質(zhì)測量所使用的地形底圖是比地質(zhì)測量比例尺小1倍左右的地形圖放大后經(jīng)計(jì)算機(jī)數(shù)字化處理制作的同地質(zhì)測量比例尺的地形圖地質(zhì)測量的比例尺屬于區(qū)域地質(zhì)調(diào)查的地質(zhì)測量目前使用的比例尺主要是1：51：251：201：501：100在礦產(chǎn)地質(zhì)勘查中，地質(zhì)測量的比例尺選擇要考慮勘查階段、爭論程度、工作區(qū)大小、礦床規(guī)模等眾多因素，一般：預(yù)查階段5500；普查階段2023；1：11：20231：5000-1：500。地質(zhì)測量方法穿越〔地質(zhì)界限〕法。追索〔地質(zhì)界限〕法。全面法，即〕兩法結(jié)合使用。地質(zhì)測量方法依據(jù)測量比例尺、地質(zhì)界限分布特征、地形條件等因素選擇。地質(zhì)測量的技術(shù)要求填圖單元質(zhì)填圖單元。填圖單元包括：地層單元或巖性。不同期、次的巖漿巖種類、巖漿巖相。地質(zhì)構(gòu)造形跡，包括褶皺軸跡、斷層、裂開帶、韌性剪切帶等。蝕變帶、礦化帶、礦體等。上圖的地質(zhì)體最小尺度〕一般要求如表1-1。 表1-1必需上圖的最小地質(zhì)體尺度(m)比例尺尺度要素1:10000比例尺尺度要素1:100001:50001:20231:1000—般巖體寬201042蝕變體寬10521礦體寬51構(gòu)造行跡長100502010到達(dá)表2-1中所列舉的最小尺度，也要放大表示。并在地質(zhì)點(diǎn)的描述中說明。地質(zhì)觀看線和觀看點(diǎn)密度地質(zhì)觀看線和觀看點(diǎn)密度要求見表1-2比例尺觀看路線密度〔比例尺觀看路線密度〔km/km2〕地質(zhì)界限上的面密度(點(diǎn)/km2)簡潔區(qū)中常區(qū)簡單區(qū)點(diǎn)距〔m)簡潔區(qū)中常區(qū)簡單區(qū)1:50000221:2500045669141:100001012．515100-2005060801:500020253050-1001001201501:202320-505006007001:100010-20130015001700〕地質(zhì)觀看線路線和地質(zhì)觀看點(diǎn)的分布應(yīng)大致均勻，但輕重有別：一是界限點(diǎn)適當(dāng)多于非界限點(diǎn)；二是重要界限點(diǎn)應(yīng)適當(dāng)多于一般界限點(diǎn)；三是地質(zhì)上變化較大地段適當(dāng)加密；四是巖石出露地段多于疏松殘、坡、沖積物分布地段。〕在地質(zhì)界限轉(zhuǎn)向處必需有地質(zhì)點(diǎn)。地質(zhì)觀看點(diǎn)定位要求和點(diǎn)位充許差〕可用半儀器法 (手持GPS，羅盤、測繩等 )定位的狀況比例尺小于或等于1：10000的正式地質(zhì)測量〔大型沉積礦床除外〕 。比例尺大于110000的地質(zhì)草測的一般觀看點(diǎn)。探礦工程中的采樣點(diǎn)以工程測量掌握點(diǎn)為基準(zhǔn)，依據(jù)工程編錄資料用半儀器法定位。不在工程中的非根本分析樣品位置，可用半儀器法定位?！稠氂脙x器法(經(jīng)緯儀、全站儀等 )定位的狀況大型沉積礦床的110000正式地質(zhì)測量。除大型沉積礦床之外的其它礦床比例尺大于 1：10000的正式地質(zhì)測量。各種比例尺的各種地質(zhì)測量〔正式測量、地質(zhì)草測、地質(zhì)簡測〕的工程點(diǎn)和礦體邊界點(diǎn)等重要地質(zhì)界限點(diǎn)?！车刭|(zhì)觀看點(diǎn)點(diǎn)位充許誤差 (表1-3)實(shí)測地質(zhì)剖面〕在開展地質(zhì)測量之前應(yīng)做至少一條實(shí)測地質(zhì)剖面。實(shí)測地質(zhì)剖面是地質(zhì)填圖的根底。通過本項(xiàng)工作大致了解測區(qū)地層、巖漿巖、構(gòu)造、變質(zhì)作用和礦化的特征；確定地質(zhì)填圖單位；通過一套巖礦標(biāo)本的系統(tǒng)鑒定和測試統(tǒng)一巖性定名。比例尺地質(zhì)觀看點(diǎn)點(diǎn)位充許最大誤差(m)地質(zhì)體1:100001:10000草圖 1:5000 1:20231:2023草圖 1:1000—般地質(zhì)體10-2020-30 5-10 2-44-6 1-2礦體5-1010-20 1-22-4〕實(shí)測地質(zhì)剖面應(yīng)有充分的代表性，能根本反映測區(qū)內(nèi)的地層、巖石、構(gòu)造類型和它們之間的穿插關(guān)系。剖面應(yīng)：垂直或大致垂直測區(qū)地層、主構(gòu)造行跡走向；橫穿測區(qū)內(nèi)全部地層單元、主要構(gòu)造行跡和主要侵入巖體。一條不夠，可作兩條或多條；直線不行，可以折線。〕實(shí)測地質(zhì)剖面用半儀器法測制。比例尺不小于地質(zhì)測量比例尺，圖上寬1mm及以上的地質(zhì)體必需上圖，具特別意義的地質(zhì)體須放大表示。測制剖面時(shí)要填寫實(shí)測地質(zhì)剖面記錄表〔表 3-5，做好地質(zhì)點(diǎn)描述，采巖礦鑒定標(biāo)本/分析樣品并做好采樣登記?！忱L制實(shí)測地質(zhì)剖面圖并附簡短文字說明,包括實(shí)測地質(zhì)剖面工作概況及地質(zhì)概況。對地形底圖的要求須是正式出版的或經(jīng)隊(duì)級以上單位驗(yàn)收合格 的。正規(guī)測量的地形底圖的比例尺一般應(yīng)與地質(zhì)測量比例尺一樣?！呈褂梅糯蟮男∮诘刭|(zhì)測量比例尺的地形圖進(jìn)展地質(zhì)草測時(shí)，須經(jīng)業(yè)主批準(zhǔn)并在設(shè)計(jì)書〔合同書〕中寫明?！硨τ跁r(shí)間長遠(yuǎn)的以往地形圖，應(yīng)依據(jù)地形變化狀況確定是直接使用、修測后使用或放棄不用。操作要求應(yīng)用紅油漆在巖石上實(shí)地標(biāo)注地質(zhì)觀看點(diǎn)點(diǎn)位和編號。地質(zhì)測量工作不僅僅是勾畫地質(zhì)界限，更重要的是根底地質(zhì)爭論和找礦 。通過地質(zhì)測量應(yīng)不同程度地查明：測區(qū)地層、構(gòu)造、巖漿巖、變質(zhì)作用特征；成礦地質(zhì)條件和控礦因素；礦體、礦化帶的分布規(guī)律和找礦標(biāo)志。要特別留意多量取地質(zhì)面的產(chǎn)狀；特別留意爭論不同地質(zhì)體接觸關(guān)系、接觸面的地質(zhì)特征、接觸面四周巖石礦物組成和構(gòu)造的變化。實(shí)地勾繪地質(zhì)界限，留意地質(zhì)界限平面形態(tài)的“V”字形規(guī)章〔V字形法則：巖層VV界限與地形等高線的VV字形彎曲程度大----一樣一樣；巖層傾向與地形坡向一樣，巖層傾角比坡角大，巖層界限與地形等高線的V字形彎曲方向相反一樣相反。做好觀看點(diǎn)的記錄和地質(zhì)描述，力求全面細(xì)致。地質(zhì)測量工作報(bào)告和地質(zhì)圖地質(zhì)測量報(bào)告地質(zhì)測量工作完成后應(yīng)準(zhǔn)時(shí)編寫地質(zhì)測量報(bào)告 ，地質(zhì)測量報(bào)告的內(nèi)容包括：〕概況：任務(wù)來源，填圖時(shí)間，參與人員，完成工作量〔測量面積，觀看點(diǎn)數(shù)量，采集標(biāo)本/樣品數(shù)量、聲象資料等〕。〕填圖方法及質(zhì)量：填圖方法；按中各條逐項(xiàng)說明相關(guān)數(shù)據(jù)；質(zhì)量評述和存在問題?！硿y區(qū)地質(zhì)特征：測區(qū)地質(zhì)，礦床地質(zhì)及地質(zhì)生疏?！?。〕附表〔裝訂在正文后面：樣品、標(biāo)本采集登記表，巖礦鑒定、樣品分析登記表等?！掣綀D：實(shí)際材料圖，〔地形〕地質(zhì)圖，實(shí)測地質(zhì)剖面圖?！驳匦巍车刭|(zhì)圖的圖面地質(zhì)內(nèi)容〕圖名，比例尺，圖廓，坐標(biāo)線 (畫方格網(wǎng))，圖例，責(zé)任表?！掣鞣N地質(zhì)界限，構(gòu)造跡線，產(chǎn)狀符號?！硨?shí)測剖面線，勘查線，勘查線端點(diǎn)，探礦工程〔包括剝土、樣坎、以往工程和古硐〕，采樣點(diǎn)及樣品號?！尘C合柱狀圖，典型剖面圖 (實(shí)測剖面圖)。地質(zhì)圖中出露地表的和被工程揭露的可確認(rèn)地質(zhì)界限畫實(shí)線，推斷地質(zhì)界限畫虛線。大面積掩蓋，僅有零星露頭的測區(qū)在必要時(shí)繪制露頭分布圖。涉及特別狀況或礦種的，繪制地貌圖、第四紀(jì)地質(zhì)圖以補(bǔ)充或取代地質(zhì)圖。各種圖上的地質(zhì)界限應(yīng)隨地質(zhì)勘查工作的深入、生疏的提高和參考其它地質(zhì)、物化遙資料隨時(shí)推想和修正，直至本區(qū)勘查工作完畢。實(shí)測地質(zhì)剖面圖圖面內(nèi)容〕圖名，比例尺，圖例，圖簽?！称拭鎴D：地形線，坐標(biāo)線，標(biāo)高線,起點(diǎn)/轉(zhuǎn)向點(diǎn)〔小圓圈加編號〕，起點(diǎn)坐標(biāo)，起點(diǎn)/轉(zhuǎn)向點(diǎn)方位〔標(biāo)在起點(diǎn)/轉(zhuǎn)向點(diǎn)上方〕，觀測點(diǎn)及其編號，地質(zhì)內(nèi)容〔地形線下畫1cm寬的巖性花紋〕，產(chǎn)狀，標(biāo)本/樣品采集點(diǎn)及其編號。〕測量路線平面圖：放在剖面圖左下角適當(dāng)部位，包括 N向示意箭頭、導(dǎo)線點(diǎn)及其編號、導(dǎo)線、地質(zhì)界限、產(chǎn)狀符號、地質(zhì)體代號?！车匦我販y量結(jié)果表〔表 1-4。表1-4 地形要素記錄表導(dǎo)線導(dǎo)線1—22—3……方位〔°〕 斜距〔m〕坡角〔°〕 平距〔m〕高差〔m〕備 注實(shí)際材料圖面內(nèi)容實(shí)際材料圖以礦區(qū)(地形)地質(zhì)圖為底圖主要內(nèi)容有：〕〕〕地質(zhì)觀測路線、地質(zhì)觀看點(diǎn)及其編號 。古硐、古采場、古采礦廢石堆、煉渣?！晨辈榫€、探礦工程?！掣黝悩悠凡蓸游恢??！澄锘矫娣e性測量范圍，物化探測量剖面線，地球物理參數(shù)測量點(diǎn)或參數(shù)標(biāo)本采集點(diǎn)。2．6勘查線剖面測量測量要求〕一律用儀器法測量，到達(dá)對相應(yīng)比例尺剖面測量所要求的精度。〕凡在剖面圖上寬1mm的地質(zhì)體，必需表示；對有特別意義的地質(zhì)體〔如標(biāo)志層、化石層、蝕變體，礦化體、礦體、火山沉積夾層等〕要放大表示在圖上?！匙龊脺y量和地質(zhì)記錄?？辈榫€剖面圖的內(nèi)容〕圖名，比例尺，圖廓，坐標(biāo)線，標(biāo)高線〔整數(shù)標(biāo)高線和以虛線表示的勘查中段線〕、圖例，圖簽。〕地形線，地質(zhì)界限，地質(zhì)構(gòu)造跡線，地形線下和鉆孔左側(cè)畫 1cm寬的巖性花紋。〕剖控點(diǎn)〔以小圓圈表示〕，剖面方位〔在剖面圖兩端直接寫方位角〕 ，起點(diǎn)坐標(biāo)〔一般放在剖面圖左端起點(diǎn)上方〕 ，產(chǎn)狀標(biāo)示〔用“256°∠65°”形式〕?！程降V工程及其編號〔包括剝土、樣坎、以往工程和古硐〕 。不在剖面線上的探礦工程及其揭露的地質(zhì)界限，當(dāng)幾何投影到剖面上時(shí)由于地形和地質(zhì)體產(chǎn)狀的影響常引起地質(zhì)界限的扭曲或錯(cuò)位，地質(zhì)界限應(yīng)盡量承受產(chǎn)狀投影法。幾何投影的探礦工程用虛線表示。當(dāng)有一半以上的探礦工程偏離勘查線時(shí)，在不影響資源 /儲量類型布局的狀況下，可平行移動勘查線的位置以使探礦工程盡量多地落在勘查線上，此時(shí)勘查剖面圖應(yīng)重測制?！掣痉治鰳蛹熬幪?。標(biāo)注編號的樣品包括 ：起始樣、終止樣、樣號不連續(xù)處的樣，樣號為10的整數(shù)倍的其它樣?！称渌愋蜆悠泛途幪??！承∑矫鎴D：在剖面圖的下方，畫一與剖面圖等長、寬 4cm的平面圖，其內(nèi)容有圖廓、坐標(biāo)線、勘查線〔居中〕