材料研究方法智慧樹知到答案章節(jié)測試2023年西安工業(yè)大學(xué)

第一章測試由于透鏡的中心區(qū)域和邊緣區(qū)域?qū)獾恼凵淠芰Σ环项A(yù)定規(guī)律而造成的圖像模糊現(xiàn)象稱為（

）

A:球差

B:像散

C:像差

D:色差

答案:A光學(xué)透鏡的像差主要有（

）

A:色差

B:像散

C:像場彎曲

D:球差

答案:ACD光學(xué)顯微鏡具有（

）放大功能。

A:

二級

B:

三級

C:

一級

答案:A

光學(xué)透鏡要能區(qū)分開兩個成像物點，則此兩物點形成的埃利斑之間的最小距離應(yīng)

A:

等于埃利斑半徑

B:

大于埃利斑半徑

C:

小于埃利斑半徑

答案:B光學(xué)顯微鏡的極限分辨能力為（

）

A:400μm

B:200nm

C:400nm

D:200μm

答案:B光學(xué)透鏡成像的基礎(chǔ)是光可以（）

A:散射

B:折射

C:反射

D:衍射

答案:B光學(xué)透鏡的像差主要有（）

A:色差

B:像場彎曲

C:像散

D:球差

答案:ABD由于照明光源波長不統(tǒng)一形成的圖像模糊稱為（）

A:色差

B:像散

C:球差

D:像差

答案:A成像物體上能分辨出來的兩物點間的最小距離稱為（）

A:景深

B:分辨率

C:有效放大倍數(shù)

答案:B要提高顯微鏡的分辨率，關(guān)鍵是要（）

A:減小光源波長

B:增大光源波長

C:穩(wěn)定光源波長

答案:A干鏡的有效放大倍數(shù)一般為（

）倍

A:1000~1800

B:200~400

C:500~1000

答案:C為獲得大景深，可以考慮（）

A:減小數(shù)值孔徑

B:鏡頭靠近樣品

C:降低放大倍數(shù)

答案:AC金相砂紙后標(biāo)號越大，說明砂紙上的磨削顆粒越（）

A:小

B:無關(guān)

C:大

答案:A拋光平面樣品時，可以選擇（）

A:機械拋光

B:化學(xué)拋光

C:復(fù)合拋光

D:電解拋光

答案:ABCD砂紙背面的防水標(biāo)志是（）

A:WATERPROOF

B:ABRASIVEPAPER

C:SILICONCARBIDE

D:ELECTROCOATED

答案:A透鏡的像差是由于本身幾何光學(xué)條件的限制造成的，和光源波長無關(guān)（）

A:對

B:錯

答案:B逆光拍照時，明暗對比強烈的地方出現(xiàn)的彩色邊緣就是色差（

）

A:錯

B:對

答案:B最小散焦斑是點光源成像質(zhì)量最好的情況（）

A:對

B:錯

答案:A襯度是指圖像上相鄰部分間的黑白對比度或顏色差（）

A:對

B:錯

答案:A油鏡的最大數(shù)值孔徑小于干鏡的最大數(shù)值孔徑（）

A:對

B:錯

答案:B明場照明時光線損失很少（）

A:錯

B:對

答案:A只要聚焦準(zhǔn)確，點光源的像可以是一個清晰的亮點（）

A:錯

B:對

答案:A從衍射效應(yīng)來看，透鏡分辨的最小距離和數(shù)值孔徑成反比（）

A:錯

B:對

答案:B有效放大倍數(shù)和人眼的分辨能力無關(guān)（）

A:對

B:錯

答案:B只要是導(dǎo)電材料，都可以用電火花線切割切取樣品（）

A:對

B:錯

答案:B第二章測試

發(fā)現(xiàn)X射線的是

A:

布拉格

B:

勞厄

C:

愛瓦爾德

D:

倫琴

答案:D

進行第一次晶體衍射實驗的是

A:

愛瓦爾德

B:

倫琴

C:

勞厄

D:

布拉格

答案:CX射線衍射時，首先出現(xiàn)的衍射峰必定是（

）的晶面。

A:

低指數(shù)

B:

間距小

C:

高指數(shù)

答案:A

對衍射強度影響最大的是

A:洛倫磁因素

B:

多重性因素

C:

結(jié)構(gòu)因數(shù)

答案:C

能影響短波限位置的因素是

A:

陽極靶材原子序數(shù)

B:

管電壓

C:

管電流

答案:BX射線是物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)的（）

A:錯

B:對

答案:BX射線管的效率極低，一般僅有百分之幾（）

A:對

B:錯

答案:A物質(zhì)的線吸收系數(shù)是一個常量，反映物質(zhì)本身對X射線吸收特性（）

A:對

B:錯

答案:B試樣的原子序數(shù)越大，對X射線的吸收越少（）

A:對

B:錯

答案:B采用短波X射線照射時，能參與反射的晶面將會減少（）

A:對

B:錯

答案:B波長越大，愛瓦爾德球的半徑越小（）

A:對

B:錯

答案:A倒易球?qū)嶋H上就是很多和球心等距離的倒易點構(gòu)成的假象球面（）

A:錯

B:對

答案:B面心立方晶體能衍射的晶面依次是（110）、（200）、（211）（）

A:錯

B:對

答案:A特征譜的波長取決于X射線管的管電壓（）

A:錯

B:對

答案:AX射線和可見光一樣都是電磁波（）

A:錯

B:對

答案:BX射線衍射應(yīng)用的是相干散射（）

A:錯

B:對

答案:BX射線在晶面上的反射和可見光在鏡子上的反射從本質(zhì)上來講是一樣的（）

A:對

B:錯

答案:B德拜相測算時，選用越高角度的線條誤差越大（）

A:對

B:錯

答案:B簡單立方點陣不消光的面指數(shù)平方和之比是1：2：3：4：5：6：7：8：9…（）

A:錯

B:對

答案:A采用步進掃描可較快的獲得一幅完整而連續(xù)的衍射圖（）

A:對

B:錯

答案:BX射線物相分析可以用來分析同素異構(gòu)體（）

A:對

B:錯

答案:A進行第一次晶體衍射實驗的是（）

A:布拉格

B:勞厄

C:愛瓦爾德

D:倫琴

答案:BX射線光量子的能量（

）

A:比可見光高

B:比可見光低

C:比無線電波低

答案:AX射線與物質(zhì)相遇時，可以（）

A:使熒光物質(zhì)發(fā)光

B:使氣體電離

C:穿透物質(zhì)

答案:ABC人們常使用鉛來隔離X射線，是應(yīng)為鉛（）

A:不透明

B:價格便宜

C:原子序數(shù)大

D:比重大

答案:BCX射線衍射時，首先出現(xiàn)的衍射峰必定是（

）的晶面

A:高指數(shù)

B:低指數(shù)

C:間距小

答案:B倒易基矢和同名正基矢點乘結(jié)果為（）

A:-1

B:1

C:0

答案:B有一倒易矢量g=2a+b*，與它對應(yīng)的正空間晶面是（）

A:211

B:221

C:220

D:210

答案:D在XRD上檢測無擇優(yōu)取向的體心立方多晶粉末樣品，前三個衍射峰是（）

A:110/200/211

B:100/110/111

C:111/200/220

答案:A在XRD上檢測無擇優(yōu)取向的面心立方多晶粉末樣品，第二個出現(xiàn)的衍射峰是（）

A:110

B:111

C:220

D:200

答案:D對純Ag進行多晶體衍射實驗時，不可能發(fā)生衍射的晶面是（）

A:331

B:110

C:200

D:111

答案:B110面的多重性因素是（）

A:4

B:6

C:12

D:8

答案:CX射線衍射儀與照相法的不同在于（）

A:采用線焦斑

B:發(fā)散光束

C:平板試樣

D:電離計數(shù)器記錄

答案:ABCD最常用的X射線衍射方法是（）

A:勞厄法

B:德拜法

C:粉末多晶法

D:周轉(zhuǎn)晶體法

答案:C1912年的首次晶體衍射實驗證明（）

A:空間點陣的假說是正確的

B:原子的排列是周期性重復(fù)的

C:X射線是電磁波

D:原子是真實存在的

答案:ABCDX射線衍射儀用的是一束（

）的X射線

A:收斂

B:發(fā)散

C:平行

答案:B第三章測試電子束是物質(zhì)波，不是電磁波（

）

A:對

B:錯

答案:A電磁透鏡的焦距和放大倍數(shù)是可變的（

）

A:錯

B:對

答案:B透鏡物平面允許的軸向偏差稱為焦長（）

A:錯

B:對

答案:A普通透射電鏡的電子槍主要是熱陰極和場發(fā)射兩類（）

A:錯

B:對

答案:B電鏡中物鏡的分辨率取決于極靴的形狀和加工精度（）

A:對

B:錯

答案:A在透射電鏡的操作過程中，把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作（）

A:對

B:錯

答案:A在透射電鏡的操作過程中，把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作（）

A:對

B:錯

答案:A薄膜樣品在最終減薄時，最好使用減薄速度較快的離子減薄（）

A:錯

B:對

答案:A要獲得單晶衍射花樣，首先要有單晶樣品（）

A:錯

B:對

答案:A晶帶軸垂直于零層倒易面上的任何一個矢量（）

A:錯

B:對

答案:B電子衍射花樣的標(biāo)定結(jié)果不是唯一的（）

A:錯

B:對

答案:B電子波的波長取決于（）

A:電子運動速度

B:加速電壓

C:電子的質(zhì)量

答案:ABC透射電子顯微鏡中用磁場來使電子波聚焦成像的裝置是（）

A:極靴

B:電磁透鏡

C:聚光鏡

D:電磁線圈

答案:B像散是指（

）引起的圖像模糊不清的現(xiàn)象

A:透鏡磁場對遠(yuǎn)軸光線和近軸光線的折射能力不符合預(yù)期

B:由入射電子能量不同

C:由透鏡磁場的非旋轉(zhuǎn)對稱

答案:C透射電鏡對照明光源的要求是（）

A:平行度好

B:孔徑角小

C:束流穩(wěn)定

D:亮度高

E:可傾斜

答案:ABCDE透射電鏡的成像系統(tǒng)主要包括（）

A:投影鏡

B:中間鏡

C:物鏡

D:聚光鏡

答案:ABC在透射電鏡衍射操作時，要求中間鏡的物平面和（

）重合

A:物鏡像平面

B:物鏡物平面

C:物鏡平面

D:物鏡背焦面

答案:D單晶體電子衍射花樣是（）

A:同心圓環(huán)

B:不規(guī)則的點陣

C:暈環(huán)

D:規(guī)則排列的點陣

答案:D薄膜樣品一般預(yù)先減薄至（）

A:幾百微米

B:幾百納米

C:10-1毫米

D:幾十微米

答案:D屬于[101]晶帶的晶面是（）

A:

B:

C:

D:

答案:ABCD桿狀晶體反映到倒易空間是（）

A:尺寸很小的倒易點

B:一定尺寸的倒易圓盤

C:尺寸很大的倒易球

D:一定長度的倒易桿

答案:B第四章測試

可用于表層成分的信號是

A:

二次電子

B:

背散射電子

C:

吸收電子

D:

透射電子

答案:B

二次電子像襯度最亮的區(qū)域是

A:

法線和電子束成30o的表面

B:法線和電子束成60o的表面

C:

和電子束垂直的表面

D:

法線和電子束成45o的表面

答案:B

僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號是

A:

二次電子

B:

背散射電子

C:

俄歇電子

D:

特征X射線

答案:A

掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是

A:

能譜儀

B:

波譜儀

C:

電子探針

D:

特征電子能量損失譜

答案:A目前顯微斷口的分析工作大都是用（

）來完成的。

A:

表面形貌襯度

B:

原子序數(shù)襯度

C:

原子質(zhì)量襯度

D:

衍射襯度

答案:A掃描電鏡中的透鏡有些是聚光鏡，有些是成像物鏡（）

A:對

B:錯

答案:B掃描電鏡不用電磁透鏡放大成像，也不用電子束成像，而是利用電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理信號來調(diào)制成像（）

A:錯

B:對

答案:B二次電子能量較低，背散射電子能量很高（）

A:錯

B:對

答案:B掃描電鏡與透射電鏡的電子槍相似，只是加速電壓一般會更高（）

A:錯

B:對

答案:A掃描電鏡具有大的景深，所以它可以用來進行斷口形貌的觀察（）

A:對

B:錯

答案:A被樣品原子核反彈回來的入射電子叫非彈性背散射電子（）

A:對

B:錯

答案:B入射電子束的能量很高，甚至可以激發(fā)出樣品的特征X射線（）

A:錯

B:對

答案:B背散射電子像的分辨率沒有二次電子像的分辨率高（）

A:錯

B:對

答案:B波普儀和能譜儀進行成分分析時，全都是以樣品的特征X射線為基礎(chǔ)（）

A:對

B:錯

答案:A掃描電鏡的加速電壓越高，電子束在材料中的作用體積越小（）

A:錯

B:對

答案:A在掃描電鏡中能被電子束激發(fā)出來