集成電路測(cè)試樣題(8810S)

集成電路測(cè)試樣題考生姓名：準(zhǔn)考證號(hào)：測(cè)試任務(wù)說明：1、待測(cè)試芯片的型號(hào)為********，相關(guān)參數(shù)請(qǐng)翻閱測(cè)試機(jī)C盤下發(fā)的“U盤下發(fā)資料”中對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)手冊(cè)電子文檔。2、考生應(yīng)仔細(xì)閱讀試題，完成試卷中相關(guān)問題的作答，按照測(cè)試要求搭建測(cè)試用DUT板，編寫芯片測(cè)試程序，完成指定參數(shù)的測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果記錄在對(duì)應(yīng)的表格中。一、數(shù)據(jù)手冊(cè)閱讀（本題共20分）1.閱讀并充分理解芯片數(shù)據(jù)手冊(cè)是完成芯片測(cè)試的必要條件，請(qǐng)仔細(xì)閱讀芯片數(shù)據(jù)手冊(cè)并根據(jù)芯片管腳圖將表1補(bǔ)充完整。（每空1分，共8分）表1芯片管腳名稱對(duì)照表管腳名稱管腳名稱3610142.仔細(xì)閱讀芯片數(shù)據(jù)手冊(cè)，填寫待測(cè)試參數(shù)的測(cè)試條件。（每小題4分，共12分））待測(cè)參數(shù)：V測(cè)試條件：）待測(cè)參數(shù)：V測(cè)試條件：I3）待測(cè)參數(shù)：測(cè)試條件：二、測(cè)試原理分析（本題4分）電源電流測(cè)試即待測(cè)芯片輸入端在施加規(guī)定條件時(shí)測(cè)試流經(jīng)芯片電源端的電流測(cè)試框圖。（符號(hào)包括但不限于電壓源、電流源、電壓表、電流表）三、DUT板設(shè)計(jì)接線（本題共16分，其中設(shè)計(jì)8分，接線8分）DUT測(cè)試機(jī)接口特性進(jìn)行DUT板接線設(shè)計(jì)，將芯片管腳與測(cè)試機(jī)功能管腳的對(duì)應(yīng)關(guān)系填入表2所示DUT接線表。DUT（評(píng)測(cè)欄用于記錄DUT板接線情況，考生不必作答）表2DUT板接線表芯片管腳編號(hào)測(cè)試機(jī)功能管腳名稱評(píng)測(cè)欄測(cè)試機(jī)功能管腳名稱評(píng)測(cè)欄四、測(cè)試程序?qū)崿F(xiàn)（本題共60分）1.新建程序（14分）考生應(yīng)利用LK8810SC:\”（C盤根目錄），并以“*******_XXX”（其中“XXX”為準(zhǔn)考證號(hào)后三位）命名。2.測(cè)試程序設(shè)計(jì)（46分）考生應(yīng)按照表2的開短路測(cè)試和輸出高電平電壓測(cè)試，并將測(cè)試機(jī)的測(cè)試運(yùn)行結(jié)果填寫到表3中，具體要求如下。A.進(jìn)行、2、3、、5、6六個(gè)管腳的開短路測(cè)試要求對(duì)接地端測(cè)試開短路即設(shè)置測(cè)試電流為-100uA。測(cè)試結(jié)果參數(shù)名按照“”格式編寫，其中“X”為待測(cè)芯片管腳名稱。例如：對(duì)A管腳進(jìn)行開短路測(cè)試，則：********Openshorttest********VOS_01=B.進(jìn)行、Y1、、Y3四個(gè)輸出管腳的輸出高電平電壓測(cè)試、=-20uA。測(cè)試結(jié)果參數(shù)名按照“VOH_X”格要求測(cè)試條件為=5VIOL式編寫，其中“X”為待測(cè)芯片管腳名稱。例如：對(duì)Y0管腳進(jìn)行輸出高電平測(cè)試，則：********HighVoltagetest********VOH_Y0=表3測(cè)試報(bào)告參數(shù)名參數(shù)名VOS_02VOS_0