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GalaxyPWi系列UPS并聯(lián)接觸器失效方案匯報型號：GalaxyPWi3:1100KVADC220GalaxyPWi3:1120KVADC220GalaxyPWi3:3160KVADC384GalaxyPWi3:3200KVADC384測試信息項目名稱GalaxyPWi系列并聯(lián)接觸器失效方案匯報樣機型號GalaxyPWi3:1100KVADC220GalaxyPWi3:1120KVADC220GalaxyPWi3:3160KVADC384GalaxyPWi3:3200KVADC384生產(chǎn)日期-06-20軟件版本S1.0硬件版本主控板S1.2測試時間-3-12測試地點中山冠虹電子有限企業(yè)測試人員Leo測試儀器失效方案現(xiàn)兩接觸器并聯(lián)使用，當(dāng)其中一顆失效時，另一種無法自動斷開，3D圖如下修改方案1：改用單顆電磁接觸器FUJIN10180A，3D圖如下該方案中接觸器與其他機型不共用，用量少，需驗證可靠度修改方案2：兩顆電磁接觸器輸出端添加FUSE，當(dāng)一顆磁接觸器失效或是FUSE燒掉時，此外一顆接觸器輸出端FUSE如超過其額定電流，則燒掉保護，3D圖如下PWI31PWI33需確認該方案可靠度以及與否會影響走線保險規(guī)格如下：機型保險規(guī)格用量PWi100K31DC220FuseFWH-250A250A500V(COOPERBUSSMANN)2PWi120K31DC220FuseFWH-300A300A500V(COOPERBUSSMANN)2PWi160K33DC384FuseFWH-250A250A500V(COOPERBUSSMANN)2PWi200K33DC3

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