材料分析測試技術(shù)知到章節(jié)答案智慧樹2023年山東科技大學(xué)

材料分析測試技術(shù)知到章節(jié)測試答案智慧樹2023年最新山東科技大學(xué)第一章測試

X射線特征譜的產(chǎn)生機(jī)理與（）有關(guān)。

參考答案:

X射線管的陽極靶材的原子結(jié)構(gòu)

倒易矢量的長度與正點(diǎn)陣中同名晶面的晶面間距（）

參考答案:

成倒數(shù)

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

參考答案:

不同

在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。（）

參考答案:

對(duì)

關(guān)于X射線衍射儀的測量動(dòng)作，說法正確的是（）。

參考答案:

機(jī)械連動(dòng)時(shí)，樣品臺(tái)轉(zhuǎn)過θ角時(shí)，計(jì)數(shù)管轉(zhuǎn)2θ角。

;樣品臺(tái)和計(jì)數(shù)管可以分別繞O軸轉(zhuǎn)動(dòng)，也可機(jī)械連動(dòng)。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

參考答案:

步進(jìn)掃描

當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個(gè)圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。（）

參考答案:

對(duì)

X射線衍射的充分條件是（）。

參考答案:

滿足布拉格方程且結(jié)構(gòu)因子不為零。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）

參考答案:

大小

;形狀

每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。（）

參考答案:

對(duì)

第二章測試

影響電磁透鏡分辨率的因素包括（）。

參考答案:

衍射效應(yīng)

;球差

;色差

;像散

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。（）

參考答案:

錯(cuò)

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。

參考答案:

中間鏡

制備透射電鏡薄膜樣品時(shí)，離子減薄既適用于導(dǎo)電樣品，又適用于不導(dǎo)電樣品。（）

參考答案:

對(duì)

產(chǎn)生電子衍射的充分條件是滿足布拉格方程。（）

參考答案:

錯(cuò)

簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí)，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

參考答案:

（100）

;（111）

;（110）

;（200）

衍射襯度在晶體和非晶體中都是存在的。（）

參考答案:

錯(cuò)

根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

參考答案:

樣品厚度

;偏離矢量

暗場像中位錯(cuò)線的像為亮線。（）

參考答案:

對(duì)

第三章測試

電子束與固體樣品作用時(shí)，產(chǎn)生的信號(hào)有（）。

參考答案:

俄歇電子

;特征X射線

;二次電子

;背散射電子

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

參考答案:

原子序數(shù)

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。（）

參考答案:

錯(cuò)

在掃描電鏡觀察樣品，對(duì)樣品微觀組織形貌敏感的成像信號(hào)是（）。

參考答案:

二次電子

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

參考答案:

景深

掃描電鏡中，無論二次電子呈像還是背散射電子呈像，圖像的分辨率不發(fā)生改變。（）

參考答案:

錯(cuò)

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。（）

參考答案:

錯(cuò)

掃描電鏡的分辨率等于入射電子束直徑。（）

參考答案:

錯(cuò)

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

參考答案:

大于

二次電子像襯度最亮的表面區(qū)域是（）。

參考答案:

法線與電子束成86°的表面

第四章測試

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

參考答案:

分析元素范圍廣

;分辨率高

;分析速度慢

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

參考答案:

EDS

利用電子探針，可以對(duì)樣品的成分進(jìn)行（）。

參考答案:

定性分析

;定量分析

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。（）

參考答案:

對(duì)

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

參考答案:

高

電子探針的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。（）

參考答案:

對(duì)

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。（）

參考答案:

對(duì)

電子探針只能對(duì)材料進(jìn)行微區(qū)成分分析，不能同步觀察材料微觀形貌。（）

參考答案:

錯(cuò)

在電子探針中，測定X射線特征波長的譜儀為波長分散譜儀，簡寫為EDS。（）

參考答案:

錯(cuò)

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。（）

參考答案:

錯(cuò)

第五章測試

差熱分析法的簡稱為（）。

參考答案:

DTA

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

參考答案:

基線

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。（）

參考答案:

對(duì)

差熱分析中，試樣對(duì)曲線會(huì)產(chǎn)生影響，影響因素有（）。

參考答案:

試樣粒度

;試樣用量

;試樣的裝填

;試樣結(jié)晶度

在熱分析技術(shù)中，參比物質(zhì)的選擇是任意的。（）

參考答案:

錯(cuò)

熱重分析法的簡稱為（）。

參考答案:

TG

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。（）

參考答案:

錯(cuò)

熱分析中，