GB/T 22461.2-2023表面化學(xué)分析詞匯第2部分：掃描探針顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)

ICS7104040

CCSG.04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T224612—2023

.

表面化學(xué)分析詞匯

第2部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)

:

Surfacechemicalanalysis—Vocabulary—

Part2Termsusedinscanninrobemicrosco

:gppy

ISO18115-22021MOD

(:,)

2023-05-23發(fā)布2023-09-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T224612—2023

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

掃描探針顯微法術(shù)語(yǔ)

3……………………1

接觸力學(xué)模型術(shù)語(yǔ)

4………………………7

掃描探針法術(shù)語(yǔ)

5…………………………8

掃描探針顯微法補(bǔ)充術(shù)語(yǔ)

6………………27

掃描探針法補(bǔ)充術(shù)語(yǔ)

7……………………30

附錄資料性縮略語(yǔ)

A()…………………34

參考文獻(xiàn)

……………………37

索引

…………………………38

Ⅰ

GB/T224612—2023

.

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是表面化學(xué)分析詞匯的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下部分

GB/T22461《》2。GB/T22461:

第部分通用術(shù)語(yǔ)及譜學(xué)術(shù)語(yǔ)

———1:;

第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)

———2:。

本文件修改采用表面化學(xué)分析詞匯第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)

ISO18115-2:2021《2:》。

本文件與相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整

ISO18115-2:2021:

第章對(duì)應(yīng)的第章中術(shù)語(yǔ)條目編號(hào)按提及順序依次調(diào)整

———3ISO18115-2:20213.1,3。

本文件與的技術(shù)差異及原因如下

ISO18115-2:2021:

更改了第章范圍的陳述增加了適用范圍以符合我國(guó)文件起草要求

———1,,。

本文件做了下列編輯性改動(dòng)

:

刪除了第章中術(shù)語(yǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)的網(wǎng)址信息

———3ISO/IEC;

刪除了的注的注的注中與相應(yīng)術(shù)語(yǔ)定義重復(fù)的內(nèi)容

———4.32、4.42、4.52;

刪除了的定義來(lái)源原因是來(lái)源文件已

———5.2、5.24、5.48、5.110、5.114、5.132,ASTME1813-96

廢止

;

更改了的注注將改為原因是后者已替代了前者

———7.251、4,“ISO4287”“ISO21920-2”,;

增加了索引

———。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院北京大學(xué)上海交通大學(xué)中國(guó)科學(xué)院上海應(yīng)用物理

:、、、

研究所

。

本文件主要起草人蔡瀟雨朱星沈軼孫潔林胡鈞李源

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T224612—2023

.

引言

表面化學(xué)分析是一個(gè)重要的領(lǐng)域涉及來(lái)自不同領(lǐng)域和有不同背景人員間的相互交流從事表面

,。

化學(xué)分析的可能是材料科學(xué)家化學(xué)家或物理學(xué)家其研究背景可能以實(shí)驗(yàn)或理論為主使用表面化學(xué)

、,。

數(shù)據(jù)的不僅僅是上述人員也包括其他學(xué)科的人員

,。

通過現(xiàn)有的表面化學(xué)分析技術(shù)可以獲得來(lái)自接近于表面區(qū)域一般在內(nèi)的成分信息當(dāng)

,(20nm),

表面層去除后用該技術(shù)還可得到成分深度信息

,-。

表面化學(xué)分析詞匯由兩部分構(gòu)成

GB/T22461《》。

第部分通用術(shù)語(yǔ)及譜學(xué)術(shù)語(yǔ)涵蓋電子能譜術(shù)質(zhì)譜術(shù)以及光譜術(shù)和射線分析等術(shù)語(yǔ)

———1:。、X。

第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)涵蓋掃描探針顯微術(shù)相關(guān)術(shù)語(yǔ)

———2:。。

上述技術(shù)的概念源自核物理和輻射科學(xué)以及物理化學(xué)和光學(xué)等廣泛領(lǐng)域廣泛的學(xué)術(shù)領(lǐng)域?qū)е铝?/p>

。

對(duì)術(shù)語(yǔ)不同的解釋相同的概念也會(huì)用不同的術(shù)語(yǔ)來(lái)描述為了避免由此產(chǎn)生的誤解和便于信息的交

,。

流有必要明確概念采用正確的術(shù)語(yǔ)以確定其定義

,,。

在接觸力學(xué)中基礎(chǔ)理論通常以縮略語(yǔ)表示為避免混淆本文件第章定義了這些縮略語(yǔ)第

,。,4。4

章所述模型假定接觸材料為均勻且各向同性具線性彈性的屬性對(duì)于非均質(zhì)非等向非線性黏彈性

,。、、、

或彈塑性的其他材料能在文獻(xiàn)中找到其接觸模型

,。

Ⅳ

GB/T224612—2023

.

表面化學(xué)分析詞匯

第2部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)

:

1范圍

本文件界定了表面化學(xué)分析領(lǐng)域掃描探針顯微術(shù)方面的術(shù)語(yǔ)并給出了相關(guān)縮略語(yǔ)清單見附錄

,(A)。

本文件適用于表面化學(xué)分析中掃描探針顯微術(shù)相關(guān)的教學(xué)科研設(shè)計(jì)制造編寫相關(guān)技術(shù)文件和

、、、、

書刊及技術(shù)交流

。

2規(guī)范性引用文件

本文件沒有規(guī)范性引用文件

。

3掃描探針顯微法術(shù)語(yǔ)

31

.

無(wú)孔拉曼顯微術(shù)aperturelessRamanmicroscopy

利用近場(chǎng)588光源獲得拉曼光譜的顯微術(shù)此方法以適當(dāng)偏振光照射樣品表面并將

<SNOM>(.)。,

金屬探針針尖5120置于樣品表面近場(chǎng)區(qū)域

(.)。

32

.

原子力顯微術(shù)atomic-forcemicroscopyAFM

;

掃描力顯微術(shù)拒用

scanningforcemicroscopy;SFM()

機(jī)械式掃描表面輪廓的表面成像方法將尖銳的探針針尖5120安裝于柔性懸臂梁518上以

。(.)(.),

探針感應(yīng)表面力然后檢測(cè)探針的偏離

,。

注1能進(jìn)行絕緣或?qū)щ姳砻娴母叨榷砍上?69

:AFM(.)。

注2一些原子力顯微鏡是固定探針針尖位置沿xz方向移動(dòng)樣品另一些原子力顯微鏡則是固定樣品位

:,、y、;

置移動(dòng)探針針尖

,。

注3能用于真空液相可控氣氛或空氣等環(huán)境用銳利針尖和適當(dāng)?shù)某上衲Ｊ皆诤线m的樣品上可以獲得原

:AFM、、。

子分辨率

。

注4能測(cè)量的力種類繁多包括法向力591以及側(cè)向力577摩擦力562或剪切力后三者對(duì)應(yīng)的技術(shù)分

: