GB/T 42208-2022納米技術(shù)多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量透射電鏡圖像法

ICS1718001

CCSN.33.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T42208—2022

納米技術(shù)多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量

透射電鏡圖像法

Nanotechnologies—Measurementofnanoparticlesizeinmultiphasesystem—

Imagemethodoftransmissionelectronmicrosopy

2022-12-30發(fā)布2023-07-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T42208—2022

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

原理

4………………………2

概述

4.1…………………2

透射電子顯微鏡的成像原理

4.2………………………2

圖像處理

4.3……………2

樣品

5………………………2

樣品要求

5.1……………2

樣品制備方法

5.2………………………2

試驗(yàn)步驟

6…………………3

總體要求

6.1……………3

裝樣

6.2…………………3

儀器準(zhǔn)備

6.3……………3

圖像的獲取

6.4…………………………4

粒徑測(cè)量

7…………………4

概述

7.1…………………4

圖像分析

7.2……………4

結(jié)果表示

7.3……………5

測(cè)量不確定度

8……………5

測(cè)試報(bào)告

9…………………5

附錄資料性固態(tài)金屬多相體系實(shí)例

A()………………7

附錄資料性納米復(fù)合材料實(shí)例

B()……………………10

參考文獻(xiàn)

……………………13

Ⅰ

GB/T42208—2022

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國(guó)科學(xué)院提出

。

本文件由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC279)。

本文件起草單位國(guó)家納米科學(xué)中心國(guó)標(biāo)北京檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司北京市科學(xué)技術(shù)研究院分析

:、()、

測(cè)試研究所北京市理化分析測(cè)試中心深圳市德方納米科技股份有限公司中國(guó)計(jì)量大學(xué)北京粉體

()、、、

技術(shù)協(xié)會(huì)

。

本文件主要起草人常懷秋付新齊笑迎李婷杜志偉白露韓小磊高原鄭強(qiáng)孫言張淑琴

:、、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T42208—2022

引言

納米材料由于表面效應(yīng)量子尺寸效應(yīng)體積效應(yīng)和量子隧道效應(yīng)等使材料表現(xiàn)出傳統(tǒng)固體不具

、、,

有的化學(xué)電學(xué)磁學(xué)光學(xué)等特異性能同時(shí)受到尺寸的限制納米材料單獨(dú)使用的場(chǎng)合有限往往存

、、、。,,,

在于材料基體中形成多相體系來(lái)增加整個(gè)材料特性

,。

由于納米顆粒粒徑較小比表面積較大表面能較大極易團(tuán)聚致使其在多相體系中很難表征和評(píng)

、、,,

價(jià)而透射電子顯微鏡是采用透過(guò)薄膜樣品的電子束成像來(lái)顯示樣品內(nèi)部形態(tài)與結(jié)構(gòu)的一種表征設(shè)

。

備它不僅可以觀察樣品微觀形態(tài)還可以對(duì)所觀察區(qū)域的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征因此透射電鏡配合圖

。,。

像分析技術(shù)可進(jìn)行納米顆粒在多相體系中的粒徑測(cè)量

。

對(duì)多相體系中納米顆粒的粒徑測(cè)量在優(yōu)化材料結(jié)構(gòu)改善材料的性能方面有著極大的促進(jìn)作

,,

用對(duì)推動(dòng)納米材料的應(yīng)用和發(fā)展具有重要的意義

,。

Ⅳ

GB/T42208—2022

納米技術(shù)多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量

透射電鏡圖像法

1范圍

本文件描述了利用透射電子顯微鏡圖像處理和分析技術(shù)進(jìn)行納米顆粒在多相體系中分散的粒徑測(cè)

量方法

。

本文件適用于固相多相體系中納米顆粒的粒徑測(cè)量和粒徑分布

。

本文件也適用于在樣品制備滿足透射電子顯微鏡觀察要求時(shí)的膠體和生物組織中納米顆粒粒徑

測(cè)量

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

粒度分析圖像分析法第部分靜態(tài)圖像分析法

GB/T21649.11:

納米科技術(shù)語(yǔ)第部分納米結(jié)構(gòu)材料

GB/T30544.44:

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T30544.4。

31

.

納米顆粒nanoparticles

粒度為范圍的固體顆粒

1nm~1