磁粉提升力試塊校準(zhǔn)規(guī)范征求意見稿

JB/T4278.1—××××PAGE2JB/T4278.1—××××PAGE××××-××-××發(fā)布××××-××-××實(shí)施磁粉探傷儀提升力試塊校準(zhǔn)規(guī)范Calibrationspecificationfor磁粉探傷儀提升力試塊校準(zhǔn)規(guī)范Calibrationspecificationforliftingforcetestblockofmagneticparticleflawdetector（征求意見稿）JJF（有色金屬）XXXX—XXXXJJF××××—××××PAGEII磁粉探傷儀提升力試塊校準(zhǔn)規(guī)范Calibrationspecificationforliftingforcetestblockofmagneticparticleflawdetector磁粉探傷儀提升力試塊校準(zhǔn)規(guī)范CalibrationspecificationforliftingforcetestblockofmagneticparticleflawdetectorJJF（有色金屬）XXXX—XXXXJJF（有色金屬）XXXX—XXXXJJFX（機(jī)械）0001-2018JJF（有色金屬）XXXX—XXXXPAGEII PAGEII目錄TOC\o"1-2"\h\z\u引言 II1范圍 12引用文件 13概述 14計(jì)量特性 14.1表面粗糙度 14.2幾何尺寸 14.3提升力 15校準(zhǔn)條件 15.1環(huán)境條件 15.2校準(zhǔn)項(xiàng)目和測量標(biāo)準(zhǔn) 26校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法 26.1準(zhǔn)備工作 26.2表面粗糙度 26.3幾何尺寸 26.4重力示值誤差 27校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá) 38復(fù)校時(shí)間間隔 3附錄A 4附錄B 5附錄C 6

引言本規(guī)范是以JJF1071-2010《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》、JJF1001-2011《通用計(jì)量術(shù)語及定義》和JJF1059.1-2012《測量不確定度評定與表示》為基礎(chǔ)性系列規(guī)范進(jìn)行編寫。本規(guī)范引用了下列文件：GB/T15822.3無損檢測磁粉檢測第3部分：設(shè)備；JB/T6870-2005攜帶式旋轉(zhuǎn)磁場探傷儀技術(shù)條件；JJF1458-2014磁軛式磁粉探傷機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本規(guī)范。本規(guī)范為首次發(fā)布。PAGEPAGE8PAGE6磁粉探傷儀提升力試塊校準(zhǔn)規(guī)范1范圍本規(guī)范適用于電磁軛磁粉探傷儀提升力檢測試塊（以下簡稱提升力試塊）的校準(zhǔn)。2引用文件本規(guī)范引用了下列文件：GB/T15822.3無損檢測磁粉檢測第3部分：設(shè)備JB/T6870-2005攜帶式旋轉(zhuǎn)磁場探傷儀技術(shù)條件JJF1458-2014磁軛式磁粉探傷機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本規(guī)范。3概述提升力試塊是用于驗(yàn)證電磁軛磁粉探傷儀磁軛提升力大小，具有一定質(zhì)量的鐵磁性材料。主要應(yīng)用于電磁軛磁粉探傷儀其電磁軛的磁化能力的校驗(yàn)。其根本目的在于檢驗(yàn)磁軛導(dǎo)入工件的有效磁通的多少，以此來衡量磁軛性能的優(yōu)劣。4計(jì)量特性4.1幾何尺寸提升力試塊應(yīng)為面積不小于200mm*200mm或300mm*100mm的方形Q235-A鋼板，其尺寸誤差不得大于±5mm。4.2提升力提升力試塊根據(jù)型號分為四個(gè)規(guī)格，分別為：45N、88N、118N、177N。其提升力應(yīng)當(dāng)大于其標(biāo)準(zhǔn)提升力，但不得超過標(biāo)準(zhǔn)值的10%。5校準(zhǔn)條件5.1環(huán)境條件環(huán)境溫度:20℃±5℃；環(huán)境濕度:不大于75%RH。準(zhǔn)備工作：將被檢試塊及標(biāo)準(zhǔn)器置于平板或木桌上，平衡溫度，穩(wěn)定時(shí)間不得低于1h。實(shí)驗(yàn)室內(nèi)應(yīng)無灰塵、振動和磁場等影響測量的因素。如果校準(zhǔn)用儀器設(shè)備規(guī)定了正常使用的環(huán)境溫度，應(yīng)符合其規(guī)定。5.2校準(zhǔn)項(xiàng)目和測量標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)定器的校準(zhǔn)項(xiàng)目和測量標(biāo)準(zhǔn)的要求見表1。表1校準(zhǔn)項(xiàng)目和測量標(biāo)準(zhǔn)序號校準(zhǔn)項(xiàng)目測量標(biāo)準(zhǔn)1幾何尺寸萬能工具顯微鏡MPE：±（1μm+10×10-6L）游標(biāo)卡尺M(jìn)PE：±（0.02~0.05）mm千分尺M(jìn)PE：±4μm；1級直角尺2提升力準(zhǔn)確度等級0.1級的測力儀，測力支架注：也可采用滿足測量不確定度要求的其它測量標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)。6校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法6.1準(zhǔn)備工作校準(zhǔn)前應(yīng)用無水乙醇清洗試塊，并確認(rèn)無影響校準(zhǔn)結(jié)果的因素。6.2幾何尺寸用萬能工具顯微鏡測量。測量時(shí)調(diào)整儀器，使試塊邊緣清晰地出現(xiàn)在儀器視場內(nèi)，按儀器操作方法進(jìn)行測量，測量時(shí)要避免試塊被測幾何體的邊緣倒角和毛刺等影響測量結(jié)果的因素。用游標(biāo)類量具或千分尺測量長度和厚度尺寸可選用相應(yīng)分度值的游標(biāo)類量具或千分尺直接測量；對于角度尺寸可用直角尺直接測量。6.3提升力示值誤差使用測力支架配合測力儀進(jìn)行測量。待測力支架與測力儀平穩(wěn)后，先將測力儀力值清零，然后緩慢的平穩(wěn)將試塊放置在托盤中，待測力儀示值穩(wěn)定后讀取測力儀示值。該過程重復(fù)進(jìn)行6次，以6次示值的算術(shù)平均值減去標(biāo)準(zhǔn)力值，即得該提升力試塊的重力示值誤差。7校準(zhǔn)結(jié)果的表達(dá)經(jīng)過校準(zhǔn)的磁粉提升力試塊出具校準(zhǔn)證書。8復(fù)校時(shí)間間隔由于復(fù)校時(shí)間間隔的長短是由儀器的使用情況、使用者、儀器本身質(zhì)量等諸因素所決定的，可根據(jù)實(shí)際使用情況自主決定復(fù)校時(shí)間間隔。一般復(fù)校時(shí)間建議一年。

附錄A校準(zhǔn)原始記錄參考格式原始記錄編號證書編號送校單位校準(zhǔn)依據(jù)被校設(shè)備信息器具名稱出廠編號型號/規(guī)格設(shè)備編號制造廠家校準(zhǔn)地點(diǎn)環(huán)境條件℃%RH測量標(biāo)準(zhǔn)信息名稱型號編號測量范圍不確定度/準(zhǔn)確度等級/最大允許誤差證書編號有效期至校準(zhǔn)項(xiàng)目校準(zhǔn)結(jié)果1、試塊尺寸mm×mm×mm2、提升力測量次數(shù)123456測得值N平均值N附錄B校準(zhǔn)證書內(nèi)頁參考格式校準(zhǔn)證書編號：××××校準(zhǔn)數(shù)據(jù)/結(jié)果1、試塊尺寸mm×mm×mm2、提升力N……以下空白……

附錄C示值誤差測量結(jié)果不確定度評定示例C.1概述提升力試塊重力的示值誤差為直接測量，用相應(yīng)測力計(jì)測量后，取3次測量值的平均值作為測量結(jié)果。本附錄以提升力試塊重力的示值誤差為示例，對其進(jìn)行測量不確定度評定。其他校準(zhǔn)項(xiàng)目可參照本附錄作類似評定。C.1.1測量依據(jù)依據(jù)本規(guī)范。C.1.2被測對象選用測力計(jì)為被測對象，測力計(jì)測力范圍（5~50）N、（50~500）N,這里取45N、88N、118N、177N進(jìn)行測量。C.1.3測量方法及主要設(shè)備在規(guī)定環(huán)境條件下，使用測力支架配合測力儀進(jìn)行測量。待測力支架與測力儀平穩(wěn)后，先將測力儀力值清零，然后緩慢平穩(wěn)將提升力試塊放置在托盤中，待測力儀示值穩(wěn)定后讀取測力儀示值。該過程重復(fù)進(jìn)行3次，以3次示值的算術(shù)平均值減去標(biāo)準(zhǔn)力值，即得該提升力試塊的重力示值誤差。C.2測量模型及不確定度來源分析C.2.1測量模型被校提升力試塊示值誤差的測量模型為：式中：--提升力試塊的示值誤差（N）；--提升力試塊3次示值的算術(shù)平均值（N）；--標(biāo)準(zhǔn)測力儀的標(biāo)準(zhǔn)力值（N）。靈敏系數(shù)：C.2.2各輸入量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度評定C.2.2.1輸入量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u()評定來源主要是力值的測量重復(fù)性，可以通過連續(xù)測量得到測量列，采用A類方法進(jìn)行評定。對提升力試塊連續(xù)測量10次，其測量結(jié)果如下表1，實(shí)際測量情況，以3次測量值的算術(shù)平均值作為測量結(jié)果，可得到。表1測量結(jié)果及計(jì)算結(jié)果檢定點(diǎn)/N458811817710次測量平均值/N44.98387.974117.986176.966標(biāo)準(zhǔn)偏差/N0.0020.0210.0210.0190.0010.0120.0120.011C.2.2.2輸入量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(F)主要來源于標(biāo)準(zhǔn)測力儀?？筛鶕?jù)標(biāo)準(zhǔn)測力儀檢定規(guī)程可知，測力儀引入的標(biāo)準(zhǔn)測量不確定度主要來源于測力儀的最大允許誤差和測力儀的年穩(wěn)定度，采用B類方法評定。C.2.2.2.1由標(biāo)準(zhǔn)測力儀最大允許誤差引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(F1)由于所用標(biāo)準(zhǔn)測力儀為0.1級，對應(yīng)相應(yīng)力值的相對誤差為：±0.1%，換算可得各測量點(diǎn)F對應(yīng)的力值為：±0.1%F，區(qū)間半寬為：0.1%F，估計(jì)為均勻分布，取包含因子,故u(F1)=0.1%F/,其計(jì)算結(jié)果如下表2所示。表2測量結(jié)果及計(jì)算結(jié)果檢定點(diǎn)/N4588118177MPE/N±0.045±0.088±0.118±0.177區(qū)間半寬/N0.0450.0880.1180.177u(F1)/N0.0260.0510.0680.102C.2.2.2.2由于標(biāo)準(zhǔn)測力儀年穩(wěn)定度引入的標(biāo)準(zhǔn)測量不確定度u(F2)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)測力儀檢定檢定規(guī)程可知測力儀年穩(wěn)定度為±0.1%,，估計(jì)為均勻分布，取包含因子。故u(F2)=0.1%F/。標(biāo)準(zhǔn)不確定度合成，則，測量結(jié)果如表3所示。表3測量結(jié)果及計(jì)算結(jié)果檢定點(diǎn)/N4588118177u(F1)/N0.0260.0510.0680.102u(F2)/N0.0260