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集成電路測試集成電路測試1大綱半導(dǎo)體(集成電路)產(chǎn)業(yè)特性IC測試及其重要性集成電路測試行業(yè)現(xiàn)狀和發(fā)展

IC測試技術(shù)資源如何學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)

測試系統(tǒng)簡介IC測試前途出路

大綱半導(dǎo)體(集成電路)產(chǎn)業(yè)特性2半導(dǎo)體(集成電路)產(chǎn)業(yè)特性半導(dǎo)體(集成電路)產(chǎn)業(yè)特性3半導(dǎo)體(集成電路)產(chǎn)業(yè)特性何謂集成電路

集成電路產(chǎn)業(yè)集成電路設(shè)計公司晶圓制造(含晶圓代工)集成電路封裝廠集成電路測試廠半導(dǎo)體(集成電路)產(chǎn)業(yè)特性何謂集成電路4何謂集成電路定義集成電路(IntegratedCircuit)又稱為集成電路,系將一些晶體管組件、二極管、電阻..等組件同時制造在一起形成一個新的電路組件,這個新的電路組件已具備了某種功能。產(chǎn)品Digital、Analog、Mix-signal、SoC、ASIC。應(yīng)用手機、PDA、計算機、數(shù)碼相機、MP3播放器...等等

何謂集成電路定義5集成電路產(chǎn)業(yè)

集成電路產(chǎn)業(yè)主要分類IC設(shè)計公司晶圓廠(晶圓代工廠)封裝廠及測試廠

代表廠商

臺積電、聯(lián)電、聯(lián)發(fā)科、瑞昱、硅統(tǒng)科技、威盛、日月光、硅品...,為一相當(dāng)龐大的產(chǎn)業(yè)煉。產(chǎn)品銷路

各種電子設(shè)備廠商如通信產(chǎn)業(yè)、計算機信息產(chǎn)業(yè)、光電顯示業(yè),所需人才涵蓋電機(含電子、通信及計算器)、資訊工程、機械、物理、化工、材料...等集成電路產(chǎn)業(yè)集成電路產(chǎn)業(yè)主要分類6集成電路設(shè)計公司

主要工作主要設(shè)計集成電路,擁有自己的產(chǎn)品,主導(dǎo)產(chǎn)品的一切,包含設(shè)計、驗證、應(yīng)用工程、委外代工(晶圓代工、封裝及測試代工)、客戶工程等方面人才,設(shè)計研發(fā)人才為IC設(shè)計公司的主力

人才來源人才主要來自電機電子相關(guān)科系的大學(xué)生,一般公司偏好211工程重點大學(xué)畢業(yè)生,近年來IC設(shè)計公司之高獲利,吸引了不少菁英投入,少數(shù)大學(xué)已有教授這類課程,可說是兵家必爭之地

集成電路芯片設(shè)計過程框架是功能要求行為設(shè)計(VHDL)行為仿真綜合、優(yōu)化——網(wǎng)表時序仿真布局布線——版圖后仿真否是否否是Singoff集成電路設(shè)計公司主要工作集成電路芯片設(shè)計過程框架是功能要求7晶圓制造(含晶圓代工)

主要工作主要從事晶圓制造,主要工作性質(zhì)如制程開發(fā)(研發(fā)R&D)、制程整合(Integration)、模塊程師、設(shè)備維修程師,人才來源電機(子)、機械、材料、物理、化工、工業(yè)工程的學(xué)生工作環(huán)境大部分工作都要穿著潔凈服,工作環(huán)境并不是大家都能適應(yīng)

生產(chǎn)過程中使用很多化學(xué)藥品、有毒氣體,實際上晶圓廠在工安這方面作的比其它產(chǎn)業(yè)好得多,對有害物質(zhì)皆有層層防護(hù),但還是讓一些人望而止步。

晶片整合(Integration)光刻作業(yè)(PhotoMask)芯片製造(ChipFabrication)晶圓切割(DieSaw)封裝(Package)NTUNCKUNTHUCCUNCTU晶圓制造(含晶圓代工)主要工作晶片整合光刻作業(yè)芯片製造晶圓8集成電路封裝廠

主要工作將裸片封裝成不同形狀,不同規(guī)格的芯片人才來源封裝方面與電子信息方面較不相關(guān),這方面需要的人力大都在機械(機構(gòu)、熱流)及材料方面,也需要基板設(shè)計(布局)人員晶片整合(Integration)光刻作業(yè)(PhotoMask)芯片製造(ChipFabrication)晶圓切割(DieSaw)封裝(Package)NTUNCKUNTHUCCUNCTU集成電路封裝廠主要工作晶片整合光刻作業(yè)芯片製造晶圓切割封裝9IC封裝IC封裝10集成電路測試廠

集成電路測試分為晶圓測試成品測試集成電路測試廠性質(zhì)一般從事代工工作沒有自己的產(chǎn)品沒有生產(chǎn)原物料庫存問題

前景但近幾年來IC設(shè)計公司紛紛崛起,IC設(shè)計公司為了節(jié)省成本,大都不愿投資測試設(shè)備及測試人員,測試工程的工作就落在測試廠了。

芯片測試流程芯片與設(shè)計圖形(IC&DesignPattern)(TesterSetting)功能測試(FunctionalTest)(Yield&

FailureAnalysis)直流交流量測試(DC,ACMeasurement)VOHVOLDCDataClockTsetACinputoutput00000000110011110101

0246810n5050ExpectedV.S.0246810n5050Measured+Sparc-1000000000010011101000成品率及故障分析測試環(huán)境設(shè)定集成電路測試廠集成電路測試分為芯片測試流程芯片與設(shè)計圖形(11IC測試及其重要性IC測試及其重要性12IC測試及其重要性何謂IC測試?IC生產(chǎn)之后必經(jīng)過一段測試(Test)才能出貨

IC測試的特性測試看似簡單,但卻隱含很多種技術(shù)

測試并不增加芯片的功能,但會增加成本IC測試的價值測試也可增加產(chǎn)品的價值

例如你去買內(nèi)存模塊時一些所謂臺制內(nèi)存模塊就很便宜,然而一些宣稱原廠顆粒的模塊就必較貴,主要的差別就在測試這個步驟。

IC測試及其重要性何謂IC測試?13集成電路測試行業(yè)現(xiàn)狀和發(fā)展集成電路測試行業(yè)現(xiàn)狀和發(fā)展14集成電路測試課件15賽迪顧問報告顯示,2002年國內(nèi)集成電路銷售收入為257.9億元人民幣,其中封裝測試為152.5億元,占整個集成電路銷售收入的59.1%;2003年國內(nèi)集成電路銷售收入為351.4億元人民幣,其中封裝測試產(chǎn)值為244.0億元,占整個半導(dǎo)體產(chǎn)值的69.4%;2004年國內(nèi)集成電路銷售收入為545.3億元人民幣,其中封裝測試產(chǎn)值為282.6億元,占整個集成電路銷售收入的52.6%。預(yù)計未來3年~5年內(nèi),測試封裝銷售收入仍將是整個集成電路銷售收入的最大組成部分。隨著集成電路產(chǎn)品檔次的不斷提高,測試銷售收入在測試封裝中的所占的比例從將從目前的20%多,提升到30%~40%。賽迪顧問報告顯示,2002年國內(nèi)集成電路銷售收入為257.916測試既是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中的一環(huán),也是集成電路產(chǎn)品驗證出廠的關(guān)鍵,由于測試技術(shù)含量高、知識密集,一直是我國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的制約因素。近幾年來,對于剛剛提速的國內(nèi)半導(dǎo)體業(yè)來說,其測試能力相對IC設(shè)計、制造、封裝,這卻是最薄弱的一環(huán)。特別是產(chǎn)品進(jìn)入高性能CPU、DSP時代以后,高性能CPU、DSP產(chǎn)品,每年都以50%以上,遠(yuǎn)高于其他IC產(chǎn)品的速度發(fā)展,加上其作為高端產(chǎn)品,測試驗證和生產(chǎn)費用越來越高,IC供應(yīng)商在測試上的花費接近產(chǎn)品總成本的三成,這也意味著將給測試業(yè)帶來巨大的商機。測試既是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中的一環(huán),也是集成電路產(chǎn)品驗證出廠的關(guān)17根據(jù)Instat公司2006年出具的中國集成電路產(chǎn)業(yè)報告分析得出的結(jié)論,相對了比較成熟的集成電路封裝企業(yè)來講,中國大陸的專業(yè)測試公司相對匱乏(目前不超過20家),隨著SOC時代的到來,市場對獨立的、專業(yè)的測試服務(wù)機構(gòu)的需求會越來越迫切,而Foundry企業(yè)產(chǎn)量的不斷增加也成為促進(jìn)測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展的源動力。根據(jù)Instat公司2006年出具的中國集成電路產(chǎn)業(yè)報告分析18集成電路測試課件19如何學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)如何學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)20如何學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)(1)學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)所面臨的困難集成電路測試技術(shù)包含制造生產(chǎn)、質(zhì)量管理、電子電路、電子電路設(shè)計、信號噪聲問題、集成電路設(shè)計、集成電路制程、計算機程序...是一個綜合的技術(shù),所需的知識相當(dāng)廣、但大都不具學(xué)術(shù)研究價值的知識,這也就各大學(xué)不會去投入的主題。除了一些訓(xùn)練機構(gòu)所出版圖書外,目前無合適教科書可用集成電路測試設(shè)備相當(dāng)昂貴,一般大學(xué)并無此設(shè)備如何學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)(1)學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)所面臨的困難21如何學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)(2)必備知識涵蓋電子電路、程序設(shè)計、集成電路...所需學(xué)習(xí)知識了解測試原理了解測試機熟悉所測器件熟悉基礎(chǔ)元器件電容電阻電感,二極管,三極管,Mosfet.Troubleshotting總結(jié)如何學(xué)習(xí)IC測試技術(shù)(2)必備知識22IC測試技術(shù)資源IC測試技術(shù)資源23IC測試技術(shù)資源有用的網(wǎng)絡(luò)在線雜志Test&MeasurementWorldChina(簡體中文)

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AnalogDevicesApplicationNotesMaximAllicationNotesNationalsemiconductorApplicationNotesTIApplicationNotesIC測試技術(shù)資源有用的網(wǎng)絡(luò)在線雜志24測試系統(tǒng)簡介測試系統(tǒng)簡介25OverviewofTester測試系統(tǒng)的介紹OverviewofTester測試系統(tǒng)的介紹26DPS:DevicePowerSuppliesareusedtosupplyvoltageandcurrentdirectlytotheDUT.TheVDD(power)pinoftheDUTwillusuallybeconnectedtoaDPS.RVS:ReferenceVoltageSuppliesareusedtosupplyvoltagereferencesforlogic0andlogic1levelstothedriverandcomparatorcircuitrylocatedonthepinelectroniccards.ThesevoltagesareusedtoestablishVIL,VIH,VOLandVOH.

VectorMemory:Ahighspeedmemorywhichstorestestvectorinformation.Vectormemorymayalsobecalledpatternmemory.MaybeParallelorSCANTesterchannel:Circuitryonthepinelectronicscardwhichappliesand/orprocessesvoltage,currentandtimingforoneDUTpin.Alsocalledatesterpin.TesterPerPin:Eachtesterchannelhasitsownresources,suchasindependentlevels,timingsandPMUforeachtesterpin.SharedResource:AtestsystemresourcethatislimitedinnumberandmustbesharedovermultipletesterchannelssuchastiminggeneratorsorasinglePMU.TesterUnitsDescription:DPS:DevicePowerSuppliesar27Example:AdvantestT5335PMemoryTesterVerigyV93000SoCTesterTeradyneFLEX

TesterExample:AdvantestT5335PMemor28Example:ProberTSKUF200Exampl

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