材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)-期末復(fù)習(xí)題

射線管主要由陽極，陰極，和窗口構(gòu)成。射線透過物質(zhì)時(shí)產(chǎn)生的物理效應(yīng)有：散射，光電效應(yīng)，熒光輻射，俄歇效應(yīng)。種。4定性分析和定量分析兩種。5.透射電子顯微鏡的區(qū)分率主要受衍射效應(yīng)和像差兩因素影響。電子探針包括波譜儀和能譜儀成分器。掃描電子顯微鏡常用的信號(hào)是二次電子和背散射電子。人眼的區(qū)分率本領(lǐng)大約是：0.2掃描電鏡用于成像的信號(hào)：二次電子和背散射電子，原理：光柵掃描，逐點(diǎn)成像。11的功能是：物相分析和組織分析〔物相分析利用電子和體物質(zhì)作用可發(fā)生衍射阿貝成像原理〕12定性分析〔或半定量分析，測(cè)溫范圍大。 定分析，測(cè)溫范圍常在800℃以下。13.放大倍數(shù)〔掃描電鏡〔BM〕14射線衍射分析方法中，應(yīng)用最廣泛、最一般的是衍射儀法。15.透射電鏡室應(yīng)用透射電子來成像。16無機(jī)非金屬材料大多數(shù)以多相、多組分的非導(dǎo)電材料，直到60年月初產(chǎn)生了離子轟擊減薄法后，才使無機(jī)非金屬材料的薄膜制備成為可能。適合透射電鏡觀看的試樣厚度小于200的對(duì)電子束“透亮”的試樣。的是二次電子成像。有背散射電子，二次電子，俄歇電子。影響紅外光譜圖中譜帶位置的因素有誘導(dǎo)效應(yīng)鍵應(yīng)力，氫鍵，物質(zhì)狀態(tài)。電離能：在激發(fā)光源作用下，原子獲得足夠的能量就發(fā)生電離，電離所必需的能量稱為電離能。原子光譜分析技術(shù)：是利用原子在氣體狀態(tài)下放射或分析技術(shù)。X射線光電效應(yīng)X而它本身則被吸取，它的能量就傳遞給電子了，使之成為具有肯定能量的光電子，并使原子處于高能的激發(fā)態(tài)。這種過程稱為光電吸取或光電效應(yīng)。衍射角：入射線與衍射線的夾角。背散射電子：電子射入試樣后，受到原子的彈性和非90℃，重從試樣外表逸出，成為背散射電子。磁透鏡：產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)對(duì)稱磁場的線圈裝置稱為磁透鏡。俄歇電子：當(dāng)外層電子躍入內(nèi)層空位時(shí)，其多余的能使之脫離原子，這樣的電子稱為俄歇電子。熱重法：把試樣置于程序掌握的加熱或冷卻環(huán)境中，測(cè)定試樣的質(zhì)量變化對(duì)溫度活時(shí)間作圖的方法。相干散射：X時(shí)，光子的能量可以認(rèn)為不受損失，而只轉(zhuǎn)變方向。因此這種散射的波長與入射線一樣，并且有肯定的位相關(guān)系，它們可以相互干預(yù)，形成衍射圖樣，稱為相干散射。質(zhì)厚襯度：對(duì)于無定形或非晶體試樣，電子圖像的襯度是由于試樣各局部的密度t：指透鏡凹凸不平的樣品各部位能同時(shí)聚焦成像的一個(gè)力量范圍，這個(gè)范圍用一段距離來表示。復(fù)型法：用對(duì)電子束透亮的薄膜把材料外表或斷口的形貌復(fù)制下來的方法叫復(fù)型法，次薄膜即為復(fù)型。差熱分析：在程序掌握溫度下測(cè)定物質(zhì)和參比物之間的溫度差隨時(shí)間或溫度變化的一種分析技術(shù)。質(zhì)譜分析：是通過對(duì)樣品離子的質(zhì)量和強(qiáng)度的測(cè)定來進(jìn)展成分和構(gòu)造分析的一種方法。區(qū)分率：兩個(gè)埃利斑中心間距等于埃利斑半徑時(shí)，平面上相應(yīng)的兩物點(diǎn)的間距△為透鏡能區(qū)分最小間距。1.X射線衍射儀法中對(duì)粉末多晶樣品的要求？要求粉末粒度要大小適中，在15之間，粉末不能有應(yīng)力和織構(gòu)，樣品有一個(gè)最正確厚度。透射電子顯微鏡的主要組成局部，功能，應(yīng)用？成分，組成及經(jīng)過的加工工藝等。？透射電鏡:原理：阿貝成像原理，平行入射波受到有周期性掃描電鏡：原理：即光柵掃描，逐點(diǎn)成像，電子束受到掃描統(tǒng)和電源系統(tǒng)組成。用途：物體外表形貌分析。式樣的制備方法？塊體材料制備薄膜試樣〔離子減薄，電解雙噴減薄〕利用0.7100-150，離子減薄儀或雙噴裝置對(duì)薄片試樣進(jìn)展最終減薄直至試樣穿孔。粉末試樣，通常將粉末顆粒放入蒸餾水或其他適宜的溶液后再蒸上一局碳膜，成為觀看用的粉末樣品。復(fù)型法超薄切片法與測(cè)量原理不同點(diǎn)？0，測(cè)用于定量分析。原子放射與原子吸取原理？原子放射：元素受到熱或電擊發(fā)時(shí)，由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，在返回基態(tài)時(shí)，放射出特征光譜。到激發(fā)態(tài)而產(chǎn)生原子吸取光譜。差熱分析的根本原理？掃描電鏡圖像的忖度？形貌忖度——由于樣品外表形貌差異而形成的忖度〔二次電子。成分忖度——由于樣品外表化學(xué)成分差異而形成的忖度〔背散射電子像。電壓忖度——樣品外表電位差異而形成的忖度。影響差熱曲線的因素？樣品方面：熱容量和熱導(dǎo)率變化，樣品的用量，樣品的顆粒度和裝填狀況，樣品的結(jié)晶度和純度，參照物。23光源：1XX光學(xué)顯微鏡——電子束。透射電子顯微鏡——高速電子束。掃描電子顯微鏡——高速電子束。綜合熱分析的優(yōu)點(diǎn)？推斷。原子吸取光譜儀由光源，原子化系統(tǒng)，單色器，檢測(cè)器等局部組成〔重點(diǎn)：光源的原理，霧化器的作用及原理〕源的要求：銳線光源，輻射強(qiáng)度大，穩(wěn)定性高，背景小等。燒和助燃?xì)饣旌暇鶆蚝筮M(jìn)入燃燒器。分析紫外——可見吸取光譜，可以得到的結(jié)論？同一種物質(zhì)對(duì)不同波長光的吸光度不同，吸光度最大處對(duì)應(yīng)的波長稱為最大吸取波長。則不同。的依據(jù)之一。AA分析的依據(jù)。據(jù)。紅外吸取光譜產(chǎn)生的條件？輻射應(yīng)具有剛好能滿足物質(zhì)躍遷時(shí)所需的能量。2輻射與物質(zhì)之間有相互作用。關(guān)于對(duì)峰位，峰數(shù)與峰強(qiáng)的理解？K低頻率區(qū)〔高波長區(qū))。外吸取。吸取峰稱為倍頻峰。色譜分析技術(shù)？動(dòng)，從而到達(dá)將各組分分別檢測(cè)的目的的技術(shù)。？要求：1在整個(gè)測(cè)溫范圍內(nèi)無熱效應(yīng)2比熱和導(dǎo)熱性能與試3〔50-150〕物質(zhì)：α2O3〔1720K2O3。二次電子是怎樣產(chǎn)生的？主要特點(diǎn)？電子二次電子像主要反映試樣外表的形貌