關(guān)于射線檢測(cè)用線型像質(zhì)計(jì)的修訂

關(guān)于射線檢測(cè)用線型像質(zhì)計(jì)的修訂

99.1u3000i-2像質(zhì)計(jì)結(jié)構(gòu)gb和t32采用線性成像質(zhì)量基準(zhǔn)和樓梯孔成像質(zhì)量模型。參考標(biāo)準(zhǔn)en462-1的輻射成像質(zhì)量：確定絲綢質(zhì)量和成像質(zhì)量的概念。和en462-2輻射成像質(zhì)量的第二個(gè)部分：概念、樓梯孔成像質(zhì)量和成像質(zhì)量的確定。JB/T4730.2只采用線型像質(zhì)計(jì)(普通和專用(等徑絲)像質(zhì)計(jì)兩種)。引用標(biāo)準(zhǔn)JB/T7902—1999《線型像質(zhì)計(jì)》和HB7684—2000《射線照相用線型像質(zhì)計(jì)》以及附錄F《專用像質(zhì)計(jì)》。9.2u3000jb/t4930.2(1)GB/T3323與JB/T4730.2關(guān)于像質(zhì)計(jì)規(guī)定的差異在于①JB/T4730.2未采用孔型像質(zhì)計(jì),主要考慮孔型像質(zhì)計(jì)應(yīng)用不普遍,推廣無(wú)必要。②GB/T3323容許使用“射線吸收系數(shù)小于被檢材料”的像質(zhì)計(jì),ASME也容許使用比被透照材料射線吸收性能低的合金材料制作的像質(zhì)計(jì),但JB/T4730.2無(wú)類似規(guī)定。(2)實(shí)際使用時(shí),鐵(Fe)像質(zhì)計(jì)可用于鎳(Ni)、銅(Cu)材料的照相;不可用于鈦(Ti)、鋁(Al)材料的照相。(3)JB/T4730適用的厚度擴(kuò)大到2～400mm,其引用標(biāo)準(zhǔn)JB/T7902—1999規(guī)定的金屬絲直徑范圍不能滿足要求,故當(dāng)時(shí)引用HB7684—2000,增添了<0.100mm的絲(即17號(hào)/0.080mm,18號(hào)/0.063mm和19號(hào)/0.050mm)。隨后頒布的JB/T7902—2006則參照ISO19232-1:2004和EN462-1:1994,將金屬絲直徑范圍規(guī)定為1～19號(hào),并將像質(zhì)計(jì)型號(hào)重新命名為:1號(hào)IQI對(duì)應(yīng)1～7號(hào)金屬絲(3.2～0.8mm);6號(hào)IQI對(duì)應(yīng)6～12號(hào)金屬絲(1.0～0.25mm);10號(hào)IQI對(duì)應(yīng)10～16號(hào)金屬絲(0.4～0.1mm);13號(hào)IQI對(duì)應(yīng)13～19號(hào)金屬絲(0.2～0.05mm)。1010.1延遲裂紋傾向檢測(cè)GB/T3323:除非另有規(guī)定,射線檢測(cè)應(yīng)在制造完工后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料,至少應(yīng)在焊后24h以后進(jìn)行射線照相檢測(cè)。JB/T4730.2:除非另有規(guī)定,射線檢測(cè)應(yīng)在焊后進(jìn)行。有延遲裂紋傾向的材料,至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行射線檢測(cè)。10.2射線照相應(yīng)進(jìn)行GB/T3323規(guī)定射線檢測(cè)應(yīng)在制造完工后進(jìn)行,是參照了EN1435的描述,即“除非另有規(guī)定,射線照相應(yīng)在制造完工后進(jìn)行,例如在拋光后或熱處理后進(jìn)行”。JB/T4730編寫(xiě)組認(rèn)為:射線檢測(cè)是針對(duì)焊接接頭,故用“焊后”比“制造完工后”涵義明確。1111.1射線透照等級(jí)的確定GB/T3323:射線透照技術(shù)等級(jí)的選擇應(yīng)按相關(guān)規(guī)程及設(shè)計(jì)要求由合同各方商定.當(dāng)A級(jí)靈敏度不能滿足檢測(cè)要求時(shí),應(yīng)采用B級(jí)透照技術(shù)。當(dāng)需要采用優(yōu)于B級(jí)的透照技術(shù)時(shí),相應(yīng)的檢測(cè)參數(shù)可由合同各方商定。當(dāng)B級(jí)規(guī)定的透照條件(如射源種類或射源-工件表面距離)無(wú)法實(shí)現(xiàn)時(shí),經(jīng)合同各方商定,也可選用A級(jí)規(guī)定的條件,此時(shí)靈敏度的損失可通過(guò)將底片黑度提高至3.0,或選用較高對(duì)比度的膠片系統(tǒng)來(lái)補(bǔ)償。因所得靈敏度優(yōu)于A級(jí),工件可認(rèn)為是按B級(jí)技術(shù)透照。但對(duì)6.1.4和6.1.5所規(guī)定的透照布置,要按6.6所述縮短最小焦距JB/T4730.2對(duì)承壓設(shè)備射線透照技術(shù)等級(jí)的選擇作出強(qiáng)制規(guī)定:①一般應(yīng)采用AB級(jí);②重要和特殊情況采用B級(jí)。當(dāng)由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件和設(shè)備等方面限制,不能滿足AB級(jí)(或B級(jí))射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí),經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn),在采取有效補(bǔ)償措施(如選用更高類別的膠片)的前提下,若底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到了AB級(jí)(或B級(jí))射線檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定,則可認(rèn)為按AB級(jí)(或B級(jí))射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)。在承壓設(shè)備在用檢測(cè)時(shí),由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境和設(shè)備等方面限制,檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí),經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn),在采取有效補(bǔ)償措施(例如選用更高類別的膠片)后可采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè),但應(yīng)同時(shí)采用其它無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。11.2u3000材料等級(jí)(1)GB/T3323規(guī)定除A級(jí)、B級(jí)外,還可采用優(yōu)于B級(jí)的透照技術(shù)。(2)JB/T4730.2對(duì)承壓設(shè)備射線透照技術(shù)等級(jí)應(yīng)采用AB級(jí)的強(qiáng)制規(guī)定,是國(guó)家特種設(shè)備安全監(jiān)察法規(guī)的規(guī)定。(3)GB/T3323規(guī)定,如透照條件需要縮短(4)在特殊情況下,JB/T4730.2中允許采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè),條件是①必須經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)。②要求采取有效補(bǔ)償措施。③要求采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。1212.1關(guān)于法定條文的修改GB/T3323:射線照相的輻射防護(hù)應(yīng)遵循GB4792,GB16357和GB18465標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)規(guī)定。JB/T4730.2:放射衛(wèi)生防護(hù)應(yīng)符合GB18871,GB16357和GB18465標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)規(guī)定。12.2輻射源安全產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的確立GB4792《放射衛(wèi)生防護(hù)基本標(biāo)準(zhǔn)》已被GB18871—2002《電離輻射防護(hù)及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》取代。1313.1組合焊縫的透照方法GB/T3323:標(biāo)準(zhǔn)中圖1～圖19列出19種透照布置,包括插入式接管組合焊縫的4種透照方法(單壁外透法、單壁內(nèi)透法、單壁內(nèi)透偏心法和雙壁單影法)和騎座式接管組合焊縫的3種透照方法(單壁外透法、單壁內(nèi)透法和單壁內(nèi)透偏心法)。JB/T4730.2:附錄C(資料性附錄)列出了8種透照布置。13.2厚壁鍋筒或容器承壓設(shè)備采用角接接頭和組合焊縫,相關(guān)法規(guī)對(duì)厚壁鍋筒或容器上的此類結(jié)構(gòu)有100%射線和超聲檢測(cè)要求,JB/T4730.2比GB/T3323少列了此類焊接接頭,今后應(yīng)考慮增補(bǔ)。1414.1基本概念,主要有GB/T3323:未規(guī)定透照方式中單壁透照優(yōu)先的基本原則。JB/T4730.2:在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。14.2單壁透照技術(shù)ASME規(guī)定在任何可以實(shí)施的情況下,應(yīng)采用單壁透照技術(shù)。當(dāng)單壁透照技術(shù)無(wú)法實(shí)施時(shí),可采用雙壁透照技術(shù)。1515.1比較內(nèi)容GB/T3323:外徑JB/T4730:一次透照長(zhǎng)度應(yīng)以透照厚度比15.2未對(duì)縱焊縫專門(mén)規(guī)定3.b級(jí)環(huán)焊縫最曝光次數(shù)的情況(1)GB/T3323未采用透照厚度比(2)GB/T3323未對(duì)縱焊縫專門(mén)規(guī)定Δ(3)GB/T3323B級(jí)環(huán)焊縫最少曝光次數(shù)少于JB/T4730B級(jí)規(guī)定。對(duì)(4)JB/T4730A級(jí)和AB級(jí)對(duì)(5)由不同年代歐洲標(biāo)準(zhǔn)的1616.1比較內(nèi)容GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同。16.2透照-橢圓成像和垂直透照-重疊成像的選擇依據(jù)ASME對(duì)小徑管透照的規(guī)定為①適合雙壁雙影透照布置的小徑管直徑為<?89mm。②對(duì)傾斜透照-橢圓成像和垂直透照-重疊成像的選擇依據(jù)無(wú)明確規(guī)定。③對(duì)控制橢圓成像影像的開(kāi)口寬度無(wú)要求。④在100%檢測(cè)的透照次數(shù)方面,ASME規(guī)定選擇傾斜透照方式透照2次,選擇垂直透照方式透照3次,并且當(dāng)以上曝光次數(shù)達(dá)不到射線照相的全部覆蓋要求時(shí),應(yīng)增加曝光次數(shù)。1717.1比較內(nèi)容GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同。17.2黑度和機(jī)關(guān)靈敏度要求ASME規(guī)定對(duì)射線能量的選擇只簡(jiǎn)單地提出應(yīng)滿足黑度和IQI靈敏度的要求(具體要求列入B分卷)。從1996版起即取消了透照不同厚度材料時(shí)許用最高X射線管電壓的相應(yīng)規(guī)定。1818.1u3000線源JB/T4730列入三種γ射線源:GB/T3323比JB/T4730多兩種γ射線源,即對(duì)γ射線適用穿透厚度下限的規(guī)定,GB/T3323與JB/T4730基本一致,JB/T4730的A級(jí)和AB級(jí)與GB/T3323的A級(jí)相同。但GB/T3323規(guī)定了兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)均規(guī)定:在特定條件和前提下,透照厚度范圍下限可進(jìn)一步降低,18.2透照厚度下限(1)兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)透照厚度范圍下限可進(jìn)一步降低的規(guī)定條件和前提略有不同。JB/T4730規(guī)定,源在內(nèi)中心透照,只要像質(zhì)計(jì)靈敏度滿足要求,降低透照厚度下限不需經(jīng)合同各方同意。采用其它透照方式時(shí),則要求經(jīng)合同各方同意,采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計(jì)靈敏度滿足要求,方可使用。(2)在ASME規(guī)范中,只要靈敏度達(dá)到要求,對(duì)γ射線最小透照厚度沒(méi)有限制。19u3000jb/t333a分級(jí)與u/t4930a、ab級(jí)的關(guān)系GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同:GB/T3323A級(jí)