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PAGE1PAGE3附件1:光誘導力顯微光學測量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)項號貨物名稱數(shù)量技術(shù)參數(shù)及性能(配置)要求1光誘導力顯微光學測量系統(tǒng)1套介紹:在可見~紅外波段下,對于納米光子學、貴金屬納米結(jié)構(gòu)、二維材料以及范德華異質(zhì)結(jié)構(gòu)(諸如像激子極化、等離極化、聲子極化)等領(lǐng)域,進行電磁場強/極化強度成像及光譜采集。對于聚合物、生命科學、無機物等研究領(lǐng)域,進行化學成像及光譜采集。該探測系統(tǒng)也可以與拉曼-熒光光譜等進行聯(lián)用。技術(shù)指標:1.多視角光學顯微鏡平臺★1.1具備正置-倒置一體顯微鏡平臺,正置顯微鏡具備20X/0.42NA物鏡,倒置顯微鏡具備60X/0.9NA物鏡,該物鏡由13μm×13μm×100μm的壓電掃描器控制,用于準確對焦和物鏡/激光掃描。1.2電動樣品臺可移動范圍:6mm×6mm,位移傳感器精度:<100nm,重復性:<1μm。1.3最大樣品尺寸:75mm×25mm×5mm。1.4預留額外的光路接口,可連接其它遠場成像技術(shù),例如:共聚焦拉曼-熒光光譜儀,超分辨熒光顯微鏡,單分子熒光成像系統(tǒng)等。2.檢測頭部:2.1檢測頭部具有多種成像模式,包括:形貌,電勢,電荷,電磁場強,光吸收。★2.2檢測頭部內(nèi)置由壓電陶瓷控制的拋物面鏡,可以將外置激光器由側(cè)面激發(fā)至針尖與樣品間。其中壓電陶瓷最大支持1mm×1mm×0.8mm的行程以及20μm×20μm×20μm的高精度掃描,拋物面鏡的數(shù)值孔徑約合0.5。2.3檢測頭部頭部檢測器噪音水平低于<50fm/√Hz(200KHz以上),系統(tǒng)噪音優(yōu)于70pm(RMSZ-noise)。2.4掃描器XY掃描范圍及噪音水平:80μm×80μm,<0.4nm(RMS@1KHz帶寬),在UltraQuiet模式下(10μm×10μm以內(nèi)),噪音水平<0.1nm。掃描器Z方向掃描范圍及噪音水平:10μm,<0.1nm(RMS)。2.5檢測頭部頭部內(nèi)置1μmZ方向上高速掃描器。2.6針座帶有定位槽,快速更換探針以及激光對準。★3.可見~紅外電磁場強成像及光譜采集:3.1可見~近紅外波長可調(diào)諧激光器:可見-近紅外光源覆蓋400~2400nm,波長可調(diào)諧范圍450~1450nm。光源總功率不低于6W。脈沖重復率可調(diào),最高2MHz。光束發(fā)散角,<2mrad@633nm脈沖寬度:100ps3.2中紅外寬帶波長可調(diào)諧量子級聯(lián)激光器:中紅外波光源覆蓋5.37~13.15μm,波長可調(diào)諧范圍5.37~13.15μm。覆蓋范圍的三個交叉點能量不低于20mW,峰值功率150mW。脈沖重復率可調(diào),最高3MHz。光束穩(wěn)定性,<1mrad(1100cm-1范圍內(nèi))。脈沖寬度:30~50ns,步進單位10ns。冷卻方式:循環(huán)水自動冷卻。3.3具備可見~近紅外(450~1450nm)以及中紅外(5.37~13.15μm),電磁場強成像及光譜采集,無需遠場光學接收器或光譜儀,具備光學顯微鏡探測功能。3.4電磁場強空間分辨率:<10nm,光譜分辨率:2~10nm(可見~近紅外),<2cm-1(中紅外)。★4.拉曼-熒光光譜儀:4.1單模固態(tài)532nm激光器。4.2光譜范圍:200~1100nm。4.3拉曼范圍:100~2100cm-1。4.4光譜空間分辨率:360nm@532nm激光器&0.9NA物鏡,光譜波數(shù)分辨率:5cm-1?!?.帶電磁屏蔽罩的主動隔振系統(tǒng):5.1主動隔振臺隔振范圍:0.6~200Hz,被動隔振范圍:200Hz以上,隔振效率:XYZ>5Hz,94.4%,XYZ>10Hz,99%。5.2電磁屏蔽罩內(nèi)置溫度控制系統(tǒng),可將儀器所處的環(huán)境溫度控制在+/-0.2°C,降低熱漂移所帶來的影響。6.控制系統(tǒng)與軟件:6.1控制系統(tǒng)及軟件將所有功能模塊高度集成,可控制項目包括:可見-近紅外光源,原子力顯微鏡及其擴展功能和光譜采集及數(shù)據(jù)分析。★6.2控制系統(tǒng)具備4個優(yōu)質(zhì)雙相鎖相放大器,用于形貌,光誘導力成像,近場光學三者同時成像。6.3控制系統(tǒng)最大采樣率>500MHz,可調(diào)帶寬0~10MHz,ADC數(shù)量為12個,頻率分別為8×24-bit,156KHz,4×24-bit,156KHz,同時采集和顯示20個多通道數(shù)據(jù)?!?.4控制系統(tǒng)包含一臺計算機工作站、具備與儀器相連接的接口和網(wǎng)絡(luò)接口等附件,以便對儀器進行控制以及數(shù)據(jù)傳輸。兩臺高對比度彩色平板顯示器,用以同時顯示多個控制菜單和圖像。6.5提供成熟軟件包,用以采集、顯示及離線數(shù)據(jù)分析。6.6提供軟件系統(tǒng)終身免費升級。7.其他附件AFM鍍金探針210根?!?.配置要求:8.1多視角光學顯微鏡平臺(底部,側(cè)面,頂部)1套8.2閉環(huán)平板掃描器(80μmXYZ)1套8.3測量頭部1套8.4高速控制箱1套8.5開爾文探針力顯微鏡1套8.6控制系統(tǒng)與軟件(含1臺專用工作站及2個顯示器)1套8.7主動式隔振臺1套8.8中紅外寬帶波長可調(diào)諧量子級聯(lián)激光器(760~1860cm-1)1套8.9可見~近紅外激光器(400~2400nm,450~1450nm)1套8.10激光器多路切換系統(tǒng)1套8.11干燥空氣系統(tǒng)1套8.12帶有掃描器的底部物鏡1套8.13頭部真空罩
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