焙燒鉬精礦化學(xué)分析方法 鉬、銅含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法（鈮內(nèi)標(biāo)法）

1T/HNNMIAXX-202X焙燒鉬精礦化學(xué)分析方法鉬、銅含量的測定波長色散X-射線熒光光譜法（鈮內(nèi)標(biāo)法）本文件描述了焙燒鉬精礦中鉬、銅含量的測定方法。本文件適用于焙燒鉬精礦中鉬、銅含量的測定，測定范圍：鉬42規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件。不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T6682分析實(shí)驗(yàn)室用水規(guī)格和試驗(yàn)方法GB/T8170數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件：3.1內(nèi)標(biāo)法internalstandardmethod在樣品中加入已知量的內(nèi)標(biāo)物，在熒光測定過程中，同時測定內(nèi)標(biāo)物與待測物的X-射線強(qiáng)度值，根據(jù)內(nèi)標(biāo)法的計算公式求出待測物的含量。3.2X-射線強(qiáng)度X-rayintensityX-射線熒光光譜分析中的強(qiáng)度為單位時間內(nèi)的計數(shù)，通常用I表示。3.3校準(zhǔn)曲線calibrationcurve通過測量一套與試料化學(xué)組成，物理化學(xué)狀態(tài)相似的標(biāo)準(zhǔn)系列的X射線強(qiáng)度，將其與相應(yīng)的元素含量用最小二乘法擬合成的曲線，用以計算在相同的儀器條件下所測未知試料中分析元素的含量。3.4校準(zhǔn)樣品testportionforcalibrationcurve用于繪制校準(zhǔn)曲線或進(jìn)行校正的一套已知組成和含量的試料。4原理試樣與混合熔劑[ω（無水四硼酸鋰）：ω（偏硼酸鋰）=67:33]、五氧化二鈮混勻后在全自動熔樣機(jī)中于1050℃熔融制成玻璃片。用X-射線熒光光譜儀測定，以鉬的La和鈮的Lb1線X-射線強(qiáng)度的比值為縱坐標(biāo)，鉬含量為橫坐標(biāo)繪制校準(zhǔn)曲線，計算出待測試樣中鉬元素的含量；以銅的Ka線X-射線強(qiáng)度為縱坐標(biāo)，銅含量為橫坐標(biāo)繪制校準(zhǔn)曲線，計算出待測試樣中銅元素的含量。5試劑或材料除非另有說明，在分析中僅使用確認(rèn)為分析純以上試劑和符合GB/T6682規(guī)定的二級水。5.1混合熔劑[ω（無水四硼酸鋰）：ω（偏硼酸鋰）=67:33]，優(yōu)級純。5.2五氧化二鈮，高純試劑。5.3硝酸鋰溶液（500g/L）。5.4溴化銨溶液（300g/L）。5.5焙燒鉬精礦標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM）或標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（RM）。2T/HNNMIAXX-202X6儀器和設(shè)備6.1波長色散X-射線熒光光譜儀：配有端窗銠靶X-射線管，功率4KW，符合JJG810的檢定要求。6.2全自動熔樣機(jī)：溫度能控制在1050℃±20℃。6.3分析天平：感量0.1mg。6.4鉑黃坩堝（95%Pt+5%Au）：容積大于30mL。6.5干燥箱：溫度能控制在105℃±10℃。7試樣試樣粒度小于74μm(200目），在干燥箱（6.5）105℃±10℃干燥2h，置于干燥器中冷卻至室溫。8測定步驟8.1平行測定獨(dú)立地進(jìn)行兩次測定，取其平均值。8.2樣片制備8.2.1稱取混合熔劑6.0000g（5.1）、五氧化二鈮0.5000g（5.2）、試樣0.5000g（7），均精確至0.0002g于不銹鋼坩堝或鎳坩堝中，用玻璃棒順時針攪拌混勻后轉(zhuǎn)移至鉑黃坩堝中（6.4）。8.2.2加入1mL硝酸鋰溶液（5.30.5mL溴化銨溶液（5.4放入全自動熔樣機(jī)（6.2）于1050℃熔融，熔融時間設(shè)置為預(yù)熔180s、搖擺600s、靜置10s，取出冷卻成型。8.2.3熔融的樣片表面應(yīng)平整、光潔、無氣孔。8.3校準(zhǔn)曲線的繪制8.3.1校準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)樣品應(yīng)不少于10個且覆蓋各元素的檢測范圍，按8.2規(guī)程制備得到校準(zhǔn)樣片。8.3.2推薦測量條件測量條件參見表1。表1參考測量條件Nb8.3.4校準(zhǔn)曲線將制備好的校準(zhǔn)樣片在儀器上依次測定，根據(jù)各元素強(qiáng)度與含量對應(yīng)關(guān)系繪制校準(zhǔn)曲線，曲線線性相關(guān)系數(shù)r≥0.9995。8.4樣品測定在波長色散X-射線熒光光譜儀上測量試樣樣片，按推薦的儀器參數(shù)進(jìn)行測量。9分析結(jié)果計算測量校準(zhǔn)樣片中MoLa線和NbLb1線的X-射線強(qiáng)度，按式（1）進(jìn)行回歸校正。測量校準(zhǔn)3T/HNNMIAXX-202X樣片中CuKa線的X-射線強(qiáng)度，按式（2）進(jìn)行回歸校正。CMo=α1IMo/INb+b1 式中：CMo——鉬含量，質(zhì)量分?jǐn)?shù)（%）；IMo——MoLa線的X-射線強(qiáng)度；INb——NbLb1線的X-射線強(qiáng)度；a1，b1——工作曲線常數(shù)。CCu=α2ICu+b2 式中：CCu——銅含量，質(zhì)量分?jǐn)?shù)（%）；ICu——CuKa線的X-射線強(qiáng)度；a2，b2——工作曲線常數(shù)。取兩次平行測定結(jié)果的算術(shù)平均值為最終結(jié)果。數(shù)據(jù)修約按GB/T8170的規(guī)定進(jìn)行。10精密度10.1重復(fù)性在同一實(shí)驗(yàn)室，由同一操作者使用相同設(shè)備，按照相同的測試方法，并在短時間內(nèi)對同一試樣相互獨(dú)立進(jìn)行測試，獲得兩次獨(dú)立測試結(jié)果的絕對差值應(yīng)不超過重復(fù)性限（r超過重復(fù)性限（r）的情況不超過5%。重復(fù)性限（r）見表2，數(shù)據(jù)采用內(nèi)插法或外延法獲得。表2重復(fù)性限（r）10.2再現(xiàn)性在不同實(shí)驗(yàn)室，由不同操作者使用不同設(shè)備，按照相同的測試方法，對同一試樣相互獨(dú)立測試，獲得的兩次獨(dú)立測試結(jié)果的平均值的絕對差值應(yīng)不超過再現(xiàn)性限（R），超過再現(xiàn)性限（R）的情況應(yīng)不超過5%。再現(xiàn)性限（R）按表3，數(shù)據(jù)采用內(nèi)插法或外延法獲得。表3再現(xiàn)性限（R）4T/HNNMIAXX-202X1