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數(shù)智創(chuàng)新變革未來(lái)納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管簡(jiǎn)介制備材料與設(shè)備納米線合成與表征晶體管結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)制備工藝流程詳解性能參數(shù)測(cè)試方法結(jié)果分析與討論總結(jié)與展望ContentsPage目錄頁(yè)納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管簡(jiǎn)介納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管簡(jiǎn)介納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管簡(jiǎn)介1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管是一種利用納米技術(shù)制造的電子器件,具有高性能、低功耗、集成度高等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于集成電路、傳感器、光電器件等領(lǐng)域。2.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的結(jié)構(gòu)主要包括納米線、源極、漏極和柵極等部分,其中納米線是核心部分,其尺寸在納米級(jí)別,具有較高的載流子遷移率和較好的機(jī)械性能。3.制備納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管需要采用先進(jìn)的納米制造技術(shù),如電子束光刻、原子層沉積等,以保證納米線的質(zhì)量和器件的性能。納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的發(fā)展歷程1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的發(fā)展歷程可分為三個(gè)階段:實(shí)驗(yàn)探索階段、技術(shù)突破階段和應(yīng)用拓展階段。2.在實(shí)驗(yàn)探索階段,科學(xué)家們通過(guò)不斷嘗試不同的材料和制造工藝,逐步探索出納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的基本結(jié)構(gòu)和性能特點(diǎn)。3.在技術(shù)突破階段,研究人員通過(guò)改進(jìn)制造工藝和提高納米線的質(zhì)量,不斷提高納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的性能和穩(wěn)定性,為其應(yīng)用奠定了基礎(chǔ)。納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管簡(jiǎn)介納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的應(yīng)用前景1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管在集成電路、傳感器、光電器件等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景,有望成為未來(lái)電子器件的重要發(fā)展方向。2.隨著納米制造技術(shù)的不斷進(jìn)步和發(fā)展,納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的性能和應(yīng)用范圍將進(jìn)一步擴(kuò)大,有望為人類帶來(lái)更多的科技創(chuàng)新和成果。以上是一份簡(jiǎn)要介紹的施工方案PPT《納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備》中介紹"納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管簡(jiǎn)介"的章節(jié)內(nèi)容,供您參考。制備材料與設(shè)備納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備制備材料與設(shè)備制備材料1.高純度半導(dǎo)體材料:需要保證納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的高性能,因此需要選擇高純度的半導(dǎo)體材料,如硅片、碳化硅等。2.納米線材料:納米線作為場(chǎng)效應(yīng)晶體管的核心部分,需要選擇直徑小、長(zhǎng)徑比高的納米線材料,如碳納米管、二氧化硅納米線等。3.有機(jī)溶劑和表面活性劑:在制備過(guò)程中需要用到有機(jī)溶劑和表面活性劑,以保證納米線的分散性和穩(wěn)定性。制備設(shè)備1.納米線合成設(shè)備:需要采用專業(yè)的納米線合成設(shè)備,如化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)、物理氣相沉積系統(tǒng)等,以保證納米線的質(zhì)量和產(chǎn)量。2.顯微操作設(shè)備:制備過(guò)程中需要進(jìn)行顯微操作,因此需要配備高精度的顯微操作設(shè)備,如原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡等。3.清洗和干燥設(shè)備:在制備過(guò)程中需要對(duì)材料進(jìn)行清洗和干燥,因此需要配備清洗和干燥設(shè)備,如超聲波清洗機(jī)、真空干燥箱等。以上內(nèi)容僅供參考,具體施工方案需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)整和優(yōu)化。納米線合成與表征納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備納米線合成與表征納米線合成方法1.介紹納米線合成的主要方法,包括氣相沉積、液相合成和模板合成等。2.分析各種合成方法的優(yōu)缺點(diǎn),適用范圍和可控性。3.舉例說(shuō)明不同合成方法對(duì)所制備納米線性能的影響。納米線結(jié)構(gòu)與性能表征1.介紹納米線結(jié)構(gòu)表征的主要技術(shù),如掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡和X射線衍射等。2.分析各種表征技術(shù)的分辨率、應(yīng)用范圍和局限性。3.展示納米線性能表征的結(jié)果,包括電學(xué)、光學(xué)和機(jī)械性能等。納米線合成與表征1.闡述納米線生長(zhǎng)的基本機(jī)制和影響因素,如催化劑、溫度和壓力等。2.介紹如何通過(guò)調(diào)控生長(zhǎng)條件來(lái)控制納米線的直徑、長(zhǎng)度和取向等。3.討論納米線生長(zhǎng)機(jī)制對(duì)合成方法的選擇和優(yōu)化的指導(dǎo)意義。納米線表面改性與功能化1.介紹納米線表面改性的方法和目的,如提高穩(wěn)定性、增強(qiáng)活性和調(diào)節(jié)潤(rùn)濕性等。2.分析不同表面改性方法對(duì)納米線性能的影響和機(jī)制。3.舉例說(shuō)明功能化納米線在能源、生物和環(huán)保等領(lǐng)域的應(yīng)用。納米線生長(zhǎng)機(jī)制與調(diào)控納米線合成與表征納米線組裝與器件制備1.介紹納米線組裝的基本方法和原理,如自組裝、模板組裝和外場(chǎng)輔助組裝等。2.分析不同組裝方法對(duì)納米線排列、密度和取向等的控制能力。3.展示基于納米線組裝的器件制備流程和性能優(yōu)勢(shì)。納米線應(yīng)用前景與挑戰(zhàn)1.總結(jié)納米線在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用現(xiàn)狀和潛力,如電子、光電子、生物和傳感器等。2.分析納米線應(yīng)用中面臨的挑戰(zhàn)和可能的解決方案。3.展望納米線未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)和前沿方向。晶體管結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備晶體管結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)晶體管結(jié)構(gòu)類型和選擇1.晶體管結(jié)構(gòu)類型包括平面型、鰭型和納米線型等。2.每種結(jié)構(gòu)類型都有其優(yōu)缺點(diǎn),需根據(jù)應(yīng)用需求和工藝條件進(jìn)行選擇。3.納米線晶體管具有高遷移率、小尺寸和良好可控性等優(yōu)點(diǎn),成為研究熱點(diǎn)。納米線材料選擇和生長(zhǎng)1.常用的納米線材料包括InAs、InSb、GaN等,需根據(jù)能帶結(jié)構(gòu)、遷移率和生長(zhǎng)工藝進(jìn)行選擇。2.納米線生長(zhǎng)方法包括氣相生長(zhǎng)、液相生長(zhǎng)和模板法等,需根據(jù)材料和結(jié)構(gòu)需求進(jìn)行選擇。3.生長(zhǎng)過(guò)程中需要控制納米線的直徑、長(zhǎng)度、密度和均勻性等參數(shù)。晶體管結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)納米線表面處理和功能化1.納米線表面處理可以去除表面污染和提高表面活性,有利于后續(xù)加工和性能優(yōu)化。2.功能化處理可以在納米線表面引入特定官能團(tuán)或材料,實(shí)現(xiàn)性能調(diào)控和功能增強(qiáng)。3.表面處理和功能化方法需要兼顧效果和可操作性,以確保工藝穩(wěn)定性和可重復(fù)性。晶體管柵極設(shè)計(jì)和優(yōu)化1.柵極結(jié)構(gòu)是晶體管的核心部分,需根據(jù)工作機(jī)制和性能需求進(jìn)行設(shè)計(jì)和優(yōu)化。2.柵極材料需要具有高介電常數(shù)、低漏電流和良好的熱穩(wěn)定性等性質(zhì)。3.柵極優(yōu)化方法包括減小柵極長(zhǎng)度、提高柵極介電層質(zhì)量和優(yōu)化柵極工藝流程等。晶體管結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)晶體管源漏電極設(shè)計(jì)和優(yōu)化1.源漏電極是晶體管的另一個(gè)重要組成部分,需根據(jù)導(dǎo)電性、接觸電阻和可靠性等要求進(jìn)行設(shè)計(jì)和優(yōu)化。2.電極材料需要具有良好的導(dǎo)電性、熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性等性質(zhì)。3.源漏電極優(yōu)化方法包括改善電極形狀、優(yōu)化接觸材料和調(diào)整工藝參數(shù)等。晶體管性能測(cè)試和評(píng)估1.需要對(duì)制備好的納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管進(jìn)行性能測(cè)試和評(píng)估,以確保其性能和可靠性滿足應(yīng)用要求。2.測(cè)試內(nèi)容包括電流電壓特性、場(chǎng)效應(yīng)遷移率、閾值電壓、亞閾值擺幅等。3.評(píng)估方法需要根據(jù)具體應(yīng)用場(chǎng)景和性能指標(biāo)進(jìn)行選擇和優(yōu)化,以確保評(píng)估結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。制備工藝流程詳解納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備制備工藝流程詳解納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的制備工藝流程1.流程概述:制備工藝流程包括納米線生長(zhǎng)、納米線圖案化、源/漏電極制備、柵電極制備、絕緣層制備和退火處理等步驟。2.納米線生長(zhǎng):采用氣相沉積法或溶液法生長(zhǎng)納米線,關(guān)鍵參數(shù)包括生長(zhǎng)溫度、氣氛、壓力等。3.納米線圖案化:采用電子束光刻或納米壓印技術(shù)對(duì)納米線進(jìn)行圖案化,形成所需的器件結(jié)構(gòu)。源/漏電極制備1.材料選擇:源/漏電極材料應(yīng)具有低電阻、高熔點(diǎn)、良好熱穩(wěn)定性和電學(xué)穩(wěn)定性等特點(diǎn)。2.制備方法:采用濺射、蒸發(fā)或化學(xué)氣相沉積等方法制備源/漏電極。3.電極圖案化:采用光刻和刻蝕技術(shù)對(duì)源/漏電極進(jìn)行圖案化,形成與納米線接觸的電極結(jié)構(gòu)。制備工藝流程詳解柵電極制備1.材料選擇:柵電極材料應(yīng)具有高的介電常數(shù)、低的漏電流和良好的熱穩(wěn)定性等特點(diǎn)。2.制備方法:采用濺射、原子層沉積或化學(xué)氣相沉積等方法制備柵電極。3.電極圖案化:采用光刻和刻蝕技術(shù)對(duì)柵電極進(jìn)行圖案化,形成所需的柵極結(jié)構(gòu)。絕緣層制備1.材料選擇:絕緣層材料應(yīng)具有高的介電常數(shù)、低的漏電流和良好的熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性等特點(diǎn)。2.制備方法:采用原子層沉積、化學(xué)氣相沉積或物理氣相沉積等方法制備絕緣層。3.絕緣層圖案化:采用光刻和刻蝕技術(shù)對(duì)絕緣層進(jìn)行圖案化,形成所需的器件隔離結(jié)構(gòu)。制備工藝流程詳解退火處理1.退火目的:退火處理可以消除制備過(guò)程中產(chǎn)生的缺陷和應(yīng)力,提高器件的性能和穩(wěn)定性。2.退火條件:退火溫度、時(shí)間和氣氛等條件應(yīng)根據(jù)材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行優(yōu)化。3.退火設(shè)備:采用高溫管式爐或快速熱退火設(shè)備等進(jìn)行退火處理。以上內(nèi)容僅供參考,具體細(xì)節(jié)需要根據(jù)實(shí)際的制備工藝和設(shè)備進(jìn)行調(diào)整和優(yōu)化。性能參數(shù)測(cè)試方法納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備性能參數(shù)測(cè)試方法1.在測(cè)試前需要確保晶體管處于穩(wěn)定狀態(tài),避免誤差。2.通過(guò)測(cè)量晶體管的電流-電壓特性曲線,可以評(píng)估其放大能力、開(kāi)關(guān)特性等性能指標(biāo)。場(chǎng)效應(yīng)遷移率測(cè)試1.場(chǎng)效應(yīng)遷移率是衡量晶體管性能的重要指標(biāo),需要通過(guò)特定測(cè)試方法獲取。2.測(cè)試過(guò)程中需要保持溫度、濕度等環(huán)境因素的穩(wěn)定,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。電流-電壓特性測(cè)試性能參數(shù)測(cè)試方法閾值電壓測(cè)試1.閾值電壓是晶體管開(kāi)啟的臨界電壓,對(duì)晶體管的工作性能有重要影響。2.通過(guò)測(cè)量晶體管的轉(zhuǎn)移特性曲線,可以獲取閾值電壓的值。亞閾值擺幅測(cè)試1.亞閾值擺幅反映了晶體管在亞閾值區(qū)的電流控制能力。2.測(cè)試過(guò)程中需要保持測(cè)試儀器的精度和穩(wěn)定性,以確保測(cè)試結(jié)果的可靠性。性能參數(shù)測(cè)試方法1.擊穿電壓是晶體管能夠承受的最大電壓,超過(guò)此電壓會(huì)導(dǎo)致晶體管損壞。2.通過(guò)逐漸增加電壓的方式測(cè)試晶體管的擊穿電壓,以確保其在正常工作電壓下不會(huì)受損。噪聲性能測(cè)試1.噪聲性能反映了晶體管在工作過(guò)程中產(chǎn)生的噪聲水平。2.測(cè)試過(guò)程中需要采用合適的噪聲測(cè)量方法和儀器,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。同時(shí),需要考慮晶體管的尺寸、材料等因素對(duì)噪聲性能的影響。擊穿電壓測(cè)試結(jié)果分析與討論納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備結(jié)果分析與討論納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的電學(xué)性能1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管展現(xiàn)出高電流開(kāi)關(guān)比和低亞閾值擺幅,表明其具有優(yōu)秀的邏輯開(kāi)關(guān)性能。2.通過(guò)分析晶體管的輸出特性曲線,發(fā)現(xiàn)其具有較高的跨導(dǎo),證明了納米線溝道的有效導(dǎo)電性。3.晶體管的閾值電壓隨著背柵電壓的改變而顯著變化,顯示出良好的柵極控制能力。納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的可靠性1.對(duì)納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管進(jìn)行了長(zhǎng)時(shí)間的老化測(cè)試,發(fā)現(xiàn)其性能穩(wěn)定,沒(méi)有出現(xiàn)明顯的退化現(xiàn)象。2.通過(guò)對(duì)比不同批次的晶體管,發(fā)現(xiàn)其性能具有良好的一致性,表明制備工藝可靠。3.在高低溫交變環(huán)境中對(duì)晶體管進(jìn)行測(cè)試,發(fā)現(xiàn)其具有良好的溫度適應(yīng)性,證明了其在不同工作環(huán)境下的可靠性。結(jié)果分析與討論納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的形貌分析1.使用掃描電子顯微鏡對(duì)納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的形貌進(jìn)行觀察,發(fā)現(xiàn)納米線表面平整,直徑均勻。2.通過(guò)透射電子顯微鏡對(duì)納米線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,證實(shí)其為單晶結(jié)構(gòu),具有較高的結(jié)晶質(zhì)量。3.能譜分析結(jié)果顯示納米線中元素分布均勻,沒(méi)有出現(xiàn)雜質(zhì)偏析現(xiàn)象。納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的制備工藝優(yōu)化1.通過(guò)對(duì)比不同生長(zhǎng)條件下的納米線,發(fā)現(xiàn)生長(zhǎng)溫度、氣氛和催化劑種類對(duì)納米線形貌和性能具有顯著影響。2.優(yōu)化后的制備工藝提高了納米線的產(chǎn)率和質(zhì)量,為進(jìn)一步提升納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管性能打下基礎(chǔ)。3.通過(guò)采用新型刻蝕技術(shù)和清洗工藝,減少了制備過(guò)程中的污染和損傷,提高了晶體管的成品率和可靠性。結(jié)果分析與討論納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的應(yīng)用前景1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管在邏輯電路、傳感器和存儲(chǔ)器等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。2.隨著制備工藝的不斷優(yōu)化和性能提升,納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管有望在未來(lái)取代傳統(tǒng)硅基晶體管,成為下一代電子器件的核心組件。3.通過(guò)對(duì)納米線材料的創(chuàng)新和改性,可以進(jìn)一步拓展納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的應(yīng)用領(lǐng)域,促進(jìn)其在柔性電子、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用??偨Y(jié)與展望納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管制備總結(jié)與展望總結(jié)納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的制備工藝1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的制備需要精確的工藝控制和高超的技術(shù)水平,以保證納米線的質(zhì)量和性能。2.制備過(guò)程中需要注意保持清潔和避免污染,以確保納米線的純度和可靠性。3.制備工藝的優(yōu)化和改進(jìn)可以進(jìn)一步提高納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的性能和穩(wěn)定性。納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的應(yīng)用前景1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管在半導(dǎo)體領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景,可用于制造高性能、低功耗的電子設(shè)備。2.隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管有望在未來(lái)的量子計(jì)算和生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域發(fā)揮重要作用。3.進(jìn)一步的研究和探索可以發(fā)掘納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管更多的潛在應(yīng)用。總結(jié)與展望1.納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的制備技術(shù)仍面臨一些挑戰(zhàn),如納米線的均勻性和穩(wěn)定性問(wèn)題。2.進(jìn)一步的工藝優(yōu)化和技術(shù)創(chuàng)新可以解決當(dāng)前的技術(shù)瓶頸,提高納米線場(chǎng)效應(yīng)晶體管的性能
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