焊接質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)課件

射線檢測(cè)

1、產(chǎn)生

X射線是通過(guò)加速器使燈絲釋放的熱電子獲得高能量後撞擊陽(yáng)極靶而產(chǎn)生的。高速行進(jìn)電子轟擊

金屬靶1%動(dòng)能轉(zhuǎn)換為X射線99%動(dòng)能轉(zhuǎn)換為熱能能力知識(shí)點(diǎn)1X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)射線探傷——利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。～u15～500kv高壓電源－＋高壓電纜陽(yáng)極靶電子流玻殼管陰極罩燈絲X射線能力知識(shí)點(diǎn)1X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)

X射線源即X射線發(fā)生器主要由三部分組成：發(fā)射電子的燈絲（陰極）、受電子轟擊的陽(yáng)極靶面、電子加速裝置——高壓發(fā)生器。能力知識(shí)點(diǎn)1X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)X射線管實(shí)物圖能力知識(shí)點(diǎn)1X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)2、性質(zhì)（1）不可見(jiàn)，以光速直線傳播；（2）不帶電，不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響；（3）具有可穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中衰減的特性；（4）可使物質(zhì)電離，能使膠片感光，亦能使某些物質(zhì)產(chǎn)生螢光；（5）能對(duì)生物細(xì)胞起作用（生物效應(yīng)）；能力知識(shí)點(diǎn)2γ射線的產(chǎn)生及其特性

1、產(chǎn)生

γ射線是一種電磁波，可以從天然放射性原子核中產(chǎn)生，也可以從人工放射性原子核中產(chǎn)生。射線探傷中使用的γ

射線源是由核反應(yīng)製成的人工放射線源，是由放射性物質(zhì)（60Co、192Ir等）內(nèi)部原子核的衰變過(guò)程產(chǎn)生的。

2、性質(zhì)（1）γ射線的性質(zhì)與X射線相似，但波長(zhǎng)比X射線短，因而射線能量高，具有更大的穿透力。目前廣泛使用的γ射線能力知識(shí)點(diǎn)2γ射線的產(chǎn)生及其特性

源60Co，它可以檢查250mm厚的銅質(zhì)工件、350mm厚的鋁制工件和300mm厚的鋼制工件。（2）γ射線源有自己固定的能量，需合理選取γ射線源。（3）較X射線劑量（輻射率）低，曝光時(shí)間長(zhǎng)，一般都使用增感屏。（4）γ射線源隨時(shí)都在放射，注意射線的防護(hù)。能力知識(shí)點(diǎn)3高能X射線的產(chǎn)生及其特性

1產(chǎn)生

高能X射線是指射線能量在1MeV以上的X射線。它主是通過(guò)加速器使燈絲釋放的熱電子獲得高能量後撞擊射線靶而產(chǎn)生的2性質(zhì)（1）穿透力

工業(yè)探傷用的高能X射線能量一般在15～30MeV範(fàn)圍，可以穿透一般X射線及γ射線不能穿透的工件。（2）靈敏度

高能X射線裝置可以製成很小的焦點(diǎn)來(lái)提高探傷靈敏度。一般X射線探傷靈敏度僅有1%～2%，而高能X射線探傷靈敏度高達(dá)0.5%～1%。

（3）透照幅度高能X射線能量高、強(qiáng)度大，探傷需要的曝光時(shí)短，因此散射線少，這樣它透照零件的厚度差幅度也寬。能力知識(shí)點(diǎn)4中子射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)

1產(chǎn)生中子是通過(guò)原子核產(chǎn)生的。除了普通的氫核以外，其他任何原子都含有中子，任何能使原子核受到強(qiáng)烈激發(fā)的方式都可以獲得中子。2性質(zhì)（1）中子射線在材料的傳播過(guò)程中，和其他兩種射線一樣，也可以發(fā)生折射、反射、干涉和衍射等現(xiàn)象。（2）輕元素對(duì)中子射線的影響大。

射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí)，與物質(zhì)中的原子發(fā)生撞擊、產(chǎn)生能量轉(zhuǎn)換，引發(fā)能量的衰減。並可用衰減定律表達(dá)：式中——射線透過(guò)物質(zhì)後的射線強(qiáng)度；

——射線的初始強(qiáng)度；

——自然對(duì)數(shù)的底；

——透過(guò)物質(zhì)的厚度；

——線衰減係數(shù)，為上述各物理效應(yīng)分別引起的衰減係數(shù)之和。

能力知識(shí)點(diǎn)5射線在物質(zhì)中的衰減模組二射線探傷的主要方法及其原理能力知識(shí)點(diǎn)1射線照相法探傷能力知識(shí)點(diǎn)2射線電離法能力知識(shí)點(diǎn)3射線螢光屏觀察法

能力知識(shí)點(diǎn)4射線即時(shí)成像法

能力知識(shí)點(diǎn)5射線電腦斷層掃描技術(shù)

模組二射線探傷的主要方法及其原理

一、Χ射線檢測(cè)的基本原理

Χ射線檢測(cè)是利用Χ射線通過(guò)物質(zhì)衰減程度與被通過(guò)部位的材質(zhì)、厚度和缺陷的性質(zhì)有關(guān)的特性，使膠片感光成黑度不同的圖像來(lái)實(shí)現(xiàn)的，檢測(cè)原理：當(dāng)射線通過(guò)被檢物體時(shí)，有缺陷部位與無(wú)缺陷部位對(duì)射線的吸收能力不同，一般情況是通過(guò)有缺陷部位的射線強(qiáng)度高於無(wú)缺陷部位的射線強(qiáng)度，因此可以通過(guò)檢測(cè)透過(guò)被檢物體後射線強(qiáng)度的差異來(lái)判斷被檢物體中是否有缺陷存在。模組二射線探傷的主要方法及其原理

當(dāng)一束強(qiáng)度為I0的Χ射線平行通過(guò)被檢測(cè)試件(厚度為d)後，其強(qiáng)度Id為若被測(cè)試件表面有高度為h的凸起時(shí)，則Χ射線強(qiáng)度將衰減為

如在被測(cè)試件內(nèi)，有一個(gè)厚度為x、吸收係數(shù)為μ′的某種缺陷，則射線通過(guò)後，強(qiáng)度衰減為沿射線透照方向的缺陷尺寸越大，則有無(wú)缺陷處的強(qiáng)度差越大，反映在膠片上的黑度差越大，就越容易發(fā)現(xiàn)缺陷。而模組二射線探傷的主要方法及其原理

模組二射線探傷的主要方法及其原理

能力知識(shí)點(diǎn)1射線照相法能力知識(shí)點(diǎn)2射線電離法能力知識(shí)點(diǎn)3射線螢光屏觀察法能力知識(shí)點(diǎn)4射線即時(shí)成像法能力知識(shí)點(diǎn)5射線電腦斷層掃描技術(shù)能力知識(shí)點(diǎn)1射線照相法定義：Χ射線檢測(cè)常用的方法是照相法，即利用射線感光材料(通常用射線膠片)，放在被透照試件的背面接受透過(guò)試件後的Χ射線。膠片曝光後經(jīng)暗室處理，就會(huì)顯示出物體的結(jié)構(gòu)圖像。根據(jù)膠片上影像的形狀及其黑度的不均勻程度，就可以評(píng)定被檢測(cè)試件中有無(wú)缺陷及缺陷的性質(zhì)、形狀、大小和位置。能力知識(shí)點(diǎn)1射線照相法射線照相法原理1——射線2——工件3——膠片4——底片黑度變化在實(shí)際應(yīng)用中，射線照相法根據(jù)底片上影像的形狀和黑度情況來(lái)評(píng)定物質(zhì)中有無(wú)缺陷及缺陷的形狀、大小和位置。射線照相法靈敏度高、直觀可靠、重複性好，是最常用的檢測(cè)方法之一。能力知識(shí)點(diǎn)1射線照相法能力知識(shí)點(diǎn)2射線電離法

射線電離法是利用射線電離作用和借助電離探測(cè)器，使被電離的氣體形成電離電流，通過(guò)電離電流的大小來(lái)反映射線的強(qiáng)弱。當(dāng)工件中存在缺陷時(shí)，作用到電離箱的射線強(qiáng)度發(fā)生變化，產(chǎn)生的電離電流的大小也隨之發(fā)生變化。能力知識(shí)點(diǎn)2射線電離法優(yōu)點(diǎn)：能對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)檢驗(yàn)；可在距射線源較遠(yuǎn)的安全大方觀察檢驗(yàn)結(jié)果；對(duì)厚壁工件檢驗(yàn)的時(shí)間比照相法短，工作效率高。缺點(diǎn)：靈敏度低，不能發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷，因此不適合焊縫檢驗(yàn)；只能判斷出缺陷的存在和相對(duì)大小，不能判斷缺陷的形狀和性質(zhì)；不適合檢查厚度變化的工件，只適用於形狀簡(jiǎn)單，表面平整的工件，一般應(yīng)用較少，但可製成專用設(shè)備。能力知識(shí)點(diǎn)3射線螢光屏觀察法定義：將透過(guò)被檢物體後的不同強(qiáng)度的射線，再投射在塗有螢光物質(zhì)的螢光屏上，激發(fā)出不同強(qiáng)度的螢光而得到物體內(nèi)部的影像的方法。螢光屏觀察法由於不用膠片和暗室處理，因此這種方法成本低，對(duì)於工件也可連續(xù)檢查並迅速得出結(jié)果。但不能像照相法那樣把射線的能量積累起來(lái)，因此只能檢查較薄的並且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的工件，靈敏度也比照相法低得多。能力知識(shí)點(diǎn)3射線螢光屏觀察法能力知識(shí)點(diǎn)4射線即時(shí)成像法定義：射線即時(shí)成像是一種在射線透照的同時(shí)就可以觀察到所產(chǎn)生的圖像的檢測(cè)方法。射線即時(shí)成像在檢測(cè)時(shí)，利用小焦點(diǎn)或微焦點(diǎn)X射線源透照工件，利用一定的器件將X射線圖像轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光圖像，再通過(guò)電視攝象機(jī)攝像後，將圖像直接或通過(guò)電腦處理後再顯示在電視監(jiān)視屏上，以此來(lái)評(píng)定工件內(nèi)部的品質(zhì)。具有即時(shí)，高效、不用射線膠片、可記錄和勞動(dòng)條件好等顯著優(yōu)點(diǎn)。能力知識(shí)點(diǎn)5射線電腦斷層掃描技術(shù)射線電腦斷層掃描技術(shù)電腦斷層掃描技術(shù)，簡(jiǎn)稱CT（Computertomography）。它是根據(jù)物體橫斷面的一組投影數(shù)據(jù)，經(jīng)電腦處理後，得到物體橫斷面的圖象。模組三射線探傷設(shè)備簡(jiǎn)介能力知識(shí)點(diǎn)1X射線機(jī)

能力知識(shí)點(diǎn)2γ射線機(jī)能力知識(shí)點(diǎn)3加速器

射線探傷的產(chǎn)用設(shè)備有X射線機(jī)、γ射線機(jī)和加速器。一、X射線機(jī)的分類攜帶式移動(dòng)式固定式按結(jié)構(gòu)定向周向按輻射方向能力知識(shí)點(diǎn)1X射線機(jī)X射線機(jī)X射線機(jī)攜帶式X射線機(jī)移動(dòng)式X射線機(jī)能力知識(shí)點(diǎn)1X射線機(jī)固定式X射線機(jī)能力知識(shí)點(diǎn)1X射線機(jī)

二、X射線機(jī)的組成

X射線機(jī)主要由X射線管、高壓發(fā)生器、控制裝置、冷卻器、機(jī)械裝置和高壓電纜等部件組成。

X射線管是X射線機(jī)的核心部件。它是一種由陰極、陽(yáng)極和管套組成的真空電子器件。X射線管圖能力知識(shí)點(diǎn)1X射線機(jī)

1、根據(jù)工作條件選擇對(duì)於零件較小，可以集中在地面工作的，宜選用移動(dòng)式X射線機(jī)。對(duì)於零件較大﹑需在高空或地下工作的，宜選用攜帶式X射線機(jī)。

2、根據(jù)被透物體的結(jié)構(gòu)和厚度選擇。透照輕金屬或厚度較薄的工件時(shí)，宜選用管電壓低的X射線機(jī)，透照重金屬或厚度較大的工件時(shí)，宜選用管電壓高的X射線機(jī)。三、X射線機(jī)選擇能力知識(shí)點(diǎn)1X射線機(jī)

γ射線機(jī)攜帶式Ir92薄件探傷移動(dòng)式Co60厚件探傷爬行式Co60野外焊接管探傷能力知識(shí)點(diǎn)2γ射線機(jī)能力知識(shí)點(diǎn)2γ射線機(jī)

半衰期短的γ源更換頻繁；要求有嚴(yán)格的射線防護(hù)措施；探傷靈敏度略低於X射線機(jī)。

優(yōu)點(diǎn)缺點(diǎn)穿透力強(qiáng)；透照過(guò)程中不用水和電，可在野外、對(duì)帶電高壓電器設(shè)備、高空、高溫及水下等多種場(chǎng)合下工作。能力知識(shí)點(diǎn)2γ射線機(jī)

能力知識(shí)點(diǎn)3加速器定義：電子加速器是一種利用電磁場(chǎng)使帶電粒子（如電子、質(zhì)子、氘核、氦核及其他重離子）獲得能量的裝置。用於產(chǎn)生高能X射線的加速器主要有電子感應(yīng)式、電子直線式和電子迴旋式三種。目前應(yīng)用最廣大的電子直線加速器。模組四焊縫的射線照相法檢測(cè)能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇

能力知識(shí)點(diǎn)3射線透照工藝

能力知識(shí)點(diǎn)4膠片的暗室處理

能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成1—射線源2—鉛光闌3—濾板4—像質(zhì)計(jì)、標(biāo)記帶5—遮板6—工件7—濾板8—底部鉛板9—暗盒、膠片、增感屏10—鉛罩1.射線源射線源可以是X射線機(jī)、γ射線機(jī)或高能X射線機(jī)。2.射線膠片與暗盒射線膠片是一張可以彎曲的透明膠片，不同於一般膠片之處在於片基的兩面塗有混於乳膠液中的溴化銀或氯化銀。3.增感屏（1）螢光增感屏螢光增感屏是利用螢光物質(zhì)被射線激發(fā)產(chǎn)生螢光實(shí)現(xiàn)增感作用的，其結(jié)構(gòu)如圖所示。它是將螢光物質(zhì)均勻地塗布在質(zhì)地均勻而光滑的支撐物(硬紙或塑膠薄板等)上，再覆蓋一層薄薄的透明保護(hù)層組合而成的。

能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成（2）金屬增感屏是由金屬箔（常用鉛、鋼或銅）粘合在紙基或膠片片基上製成的。金屬增感屏在受射線照射時(shí)產(chǎn)生β射線和二次標(biāo)識(shí)X射線對(duì)膠片起感光作用。其增感較小，一般只有2～7倍。能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成39

4.像質(zhì)計(jì)透度計(jì)又稱像質(zhì)指示器。透度計(jì)要用與被透照工件材質(zhì)吸收係數(shù)相同或相近的材料製成。常用的透度計(jì)主要有兩種。（1）槽式透度計(jì)。槽式透度計(jì)的基本設(shè)計(jì)是在平板上加工出一系列的矩形槽，其規(guī)格尺寸如圖所示。對(duì)不同厚度的工件照相，可分別採(cǎi)用不同型號(hào)的透度計(jì)。

能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成40槽式透度計(jì)示意圖

能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成41

(2)金屬絲透度計(jì)。金屬絲透度計(jì)是以一套不同直徑的金屬絲均勻排列，粘合於兩層塑膠或薄橡皮中間而構(gòu)成的。為區(qū)別透度計(jì)型號(hào)，在金屬絲兩端擺上與號(hào)數(shù)對(duì)應(yīng)的鉛字或鉛點(diǎn)。金屬絲一般分為兩類，透照鋼材時(shí)用鋼絲透度計(jì)，透照鋁合金或鎂合金時(shí)用鋁絲透度計(jì)。能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成42金屬絲透度計(jì)示意圖

能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成43使用金屬絲透度計(jì)時(shí)，應(yīng)將其置於被透照工件的表面，並應(yīng)使金屬絲直徑小的一側(cè)遠(yuǎn)離射線束中心。這樣可保證整個(gè)被透照區(qū)的靈敏度達(dá)到如下計(jì)算數(shù)值：

式中：

φ為觀察到的最小金屬絲直徑；d為被透照工件部位的總厚度。

能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成5.標(biāo)記系（1）定位標(biāo)記

包括中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記。（2）識(shí)別標(biāo)記

包括工件編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)、返修編號(hào)等。

（3）B標(biāo)記

該標(biāo)記應(yīng)貼附在暗盒背面，用以檢查背面散射線防護(hù)效果。若在較黑背景上出現(xiàn)“B”的較淡影像，應(yīng)予重照。

各種標(biāo)記相互位置(標(biāo)記系)A一定位及分編號(hào)(搭接標(biāo)記)B一製造廠代號(hào)C一產(chǎn)品令號(hào)(合同號(hào))D一工件編號(hào)E一焊縫類別(縱、環(huán)縫)F一返修次數(shù)G一檢驗(yàn)日期H一中心定位標(biāo)記I一像質(zhì)計(jì)J一B標(biāo)記K一操作者代號(hào)能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成

6.散射線防護(hù)裝置(1)鉛罩（2）鉛遮板（3）底部鉛板底部鉛板又稱後防護(hù)鉛板，用於遮罩後方散射線（來(lái)自暗盒背面的散射線）。（4）濾板濾板的作用主要是吸收掉X射線中那些波長(zhǎng)較長(zhǎng)的譜線。能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)系統(tǒng)的組成1、射線透照技術(shù)等級(jí)的選擇射線透照技術(shù)等級(jí)是對(duì)射線探傷本身的品質(zhì)要求。

A級(jí)——普通級(jí)，成像品質(zhì)一般，適用於承受負(fù)載較小的產(chǎn)品及部件；；

AB級(jí)——中等級(jí)，成像品質(zhì)較高，適用於鍋爐、壓力容器產(chǎn)品及部件，船舶上的重要焊縫等；

B級(jí)——優(yōu)化級(jí)，成像品質(zhì)最高，適用於航太及核設(shè)備等級(jí)為重要的產(chǎn)品及部件。。

2、探傷位置的確定及其標(biāo)記

能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇案例分析：

根據(jù)《壓力容器監(jiān)察規(guī)程》：

A、筒體與封頭連接部位必須進(jìn)行探傷。1~15、31~45兩條環(huán)焊縫100%探傷。能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇B、環(huán)節(jié)、環(huán)縫交叉部位必須探傷。16~17、23~24兩個(gè)區(qū)域必須探傷。C、筒體上縱焊縫X-321上的0~1、6~7兩個(gè)區(qū)域占該焊縫長(zhǎng)度的28%，X-322上0~1、7~8兩個(gè)區(qū)域占該焊縫長(zhǎng)度的25%，達(dá)到20%抽檢面要求。

3、靈敏度的選擇靈敏度是評(píng)價(jià)射線照相品質(zhì)的最重要的指標(biāo)，它標(biāo)誌著射線探傷中發(fā)現(xiàn)最小缺陷的能力。由於預(yù)先無(wú)法瞭解沿射線穿透方向上的最小缺陷尺寸，為此必須採(cǎi)用已知尺寸的人工“缺陷”——像質(zhì)計(jì)來(lái)度量。能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇

4、射線能量的選擇射線能量的選擇實(shí)際上是對(duì)射線源的kV﹑MeV值或γ源的種類的選擇。射線能量愈大，其穿透能力愈強(qiáng)，可透照的工件厚度愈大。但同時(shí)也帶來(lái)了由於衰減係數(shù)的降低而導(dǎo)致成象品質(zhì)下降。所以在保證穿透的前提下，應(yīng)根據(jù)材質(zhì)和成象品質(zhì)要求，儘量選擇較低的射線能量。能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇

5、透照幾何參數(shù)的選擇

（1）射線焦點(diǎn)大小的影響儘量選擇焦點(diǎn)小的射線源，或增加焦點(diǎn)至工件表面的距離。（2）射線源至工件距離的選擇在射線源選定後，增大透照距離可提高底片清晰度，也增大每次透照面積。但同時(shí)也大大削弱單位面積的射線強(qiáng)度，從而使得曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。因此，不能為了提高清晰度而無(wú)限地加大透照距離。探傷通常採(cǎi)用的透照距離為400～700mm。能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇51

4.焦距的選擇焦距是指從放射源(焦點(diǎn))至膠片的距離。焦距選擇與射線源的幾何尺寸和試件厚度有關(guān)。由於射線源有一定的幾何尺寸，從而產(chǎn)生幾何不清晰度Ug，如圖所示。由相似三角形關(guān)係，

可以求出：

式中：φ為射線源的幾何尺寸；F為焦點(diǎn)至膠片的距離；a為焦點(diǎn)至缺陷的距離；b為缺陷至膠片的距離。

能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇52透照影像幾何不清晰度

能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇53

5.曝光曲線①不同管電壓下，材料厚度與曝光量的關(guān)係曲線，材料厚度d與曝光量x的關(guān)係為：式中：μ為吸收係數(shù)；為常數(shù)。x與d呈線性關(guān)係。若以x為縱軸，d為橫軸，當(dāng)焦距一定時(shí)，則給定一個(gè)厚度d，對(duì)應(yīng)於某一管電壓可以求得一個(gè)x值。用各種不同的電壓試驗(yàn)時(shí)，就可以得出一組斜率逐漸變化的曲線，如圖所示。

能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇54材料厚度與曝光量的關(guān)係曲線

能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇55②不同焦距下，材料厚度與管電壓的關(guān)係曲線。由於底片黑度要求一定，所以x為一常數(shù)，如果被透照的材料固定，則d增大時(shí)μ必須減小，所以管電壓要相應(yīng)增大。

若以材料厚度d為橫軸，管電壓U為縱軸，則在一定焦距下的厚度所對(duì)應(yīng)的管電壓可以連成一條曲線。以不同的焦距試驗(yàn)時(shí)，就可得到一組曲線，如圖所示。能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇56材料厚度與管電壓的關(guān)係曲線

能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇

6、曝光規(guī)範(fàn)的選擇曝光規(guī)範(fàn)是影響照相品質(zhì)的重要因素。X射線探傷的曝光規(guī)範(fàn)包括管電壓、管電流、曝光時(shí)間及焦距等四個(gè)參數(shù)，其中管電流和曝光時(shí)間的乘積稱為曝光量。射線探傷中，通常利用曝光曲線進(jìn)行曝光規(guī)範(fàn)的選擇。能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇587.透照方向的選擇（1）

平板形工件能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇59（2）

圓管能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇60（3）角形工件能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇61（4）管接頭焊縫能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇62（5）

圓柱體（6）

厚度變化劇烈的工件能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇

（8）一次透照長(zhǎng)度的控制

中心射線束穿過(guò)的工件厚度，產(chǎn)生了透照厚度差（△δ＝δˊ—δ），透照厚度比Ｋ定義如下：Ｋ＝δˊ/δ

實(shí)際探傷時(shí)，透照厚度比K值按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)選擇。

能力知識(shí)點(diǎn)2檢測(cè)條件的選擇能力知識(shí)點(diǎn)3焊縫透照工藝基本操作工藝卡——具體操作指導(dǎo)性文件。工藝規(guī)程——通用性指導(dǎo)文件。能力知識(shí)點(diǎn)3焊縫透照工藝1.工藝規(guī)程一般應(yīng)包括：（1）適用範(fàn)圍（編制依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)，透照品質(zhì)等級(jí)，透照母材厚度範(fàn)圍，工件種類，焊接方法和類型等）。（2）檢測(cè)人員要求。（3）對(duì)工件的要求。（4）設(shè)備器材。（5）透照方法及相關(guān)要求。（6）鋼印標(biāo)記方法。（7）曝光曲線（管電壓，管電流，曝光時(shí)間等）。（8）暗室處理。能力知識(shí)點(diǎn)3焊縫透照工藝(9）底片評(píng)定（評(píng)片條件，驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，像質(zhì)鑒定，級(jí)別評(píng)定，返修規(guī)定）。（10）記錄報(bào)告。（11）安全管理規(guī)定。（12）其他必要的說(shuō)明。

2.工藝卡射線檢測(cè)工藝卡是針對(duì)產(chǎn)品具體結(jié)構(gòu)檢測(cè)操作的指導(dǎo)性檔，是工藝規(guī)程的“濃縮”。工藝卡包括試件原始數(shù)據(jù)、規(guī)範(fàn)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)、檢測(cè)技術(shù)數(shù)據(jù)、特殊的技術(shù)措施及說(shuō)明和有關(guān)人員簽字。能力知識(shí)點(diǎn)3焊縫透照工藝3.焊縫檢測(cè)的基本操作（1）試件檢查及清理（2）劃線（3）像質(zhì)計(jì)和標(biāo)記擺放（4）貼片（5）對(duì)焦（6）散射線防護(hù)（7）曝光能力知識(shí)點(diǎn)4膠片的暗室處理

顯影停顯定影水洗乾燥模組五底片的評(píng)定及焊縫品質(zhì)分級(jí)能力知識(shí)點(diǎn)1底片品質(zhì)評(píng)定

能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

能力知識(shí)點(diǎn)3焊接缺陷的定量評(píng)定

能力知識(shí)點(diǎn)4焊縫品質(zhì)的評(píng)定

能力知識(shí)點(diǎn)5焊縫照相檢測(cè)報(bào)告

能力知識(shí)點(diǎn)6焊縫射線探傷的一般程式

由經(jīng)過(guò)專業(yè)培訓(xùn)獲得Ⅱ級(jí)或Ⅱ級(jí)以上射線探傷資格證書(shū)的人員利用觀片燈﹑黑度計(jì)等儀器和工具進(jìn)行評(píng)片。包括底片品質(zhì)的評(píng)定﹑缺陷的定性和定量﹑焊縫品質(zhì)的評(píng)級(jí)等內(nèi)容。

1、底片品質(zhì)評(píng)定（1）黑度值（2）靈敏度（3）標(biāo)記系（4）表面品質(zhì)能力知識(shí)點(diǎn)1底片品質(zhì)評(píng)定

常見(jiàn)焊接缺陷影像顯示：

1、裂紋

能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

裂紋主要是在熔焊冷卻時(shí)因熱應(yīng)力和相變應(yīng)力而產(chǎn)生的，也有在校正和疲勞過(guò)程中產(chǎn)生的，是危險(xiǎn)性最大的一種缺陷。裂紋影像較難辨認(rèn)。因?yàn)閿嗔褜挾取⒘鸭y取向、斷裂深度不同，使其影像有的較清晰，有的模糊不清。常見(jiàn)的有縱向裂紋、橫向裂紋和弧坑裂紋，分佈在焊縫上或熱影響區(qū)。

裂紋能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

2、未焊透未焊透是熔焊金屬與基體材料沒(méi)有熔合為一體且有一定間隙的一種缺陷。在膠片上的影像特徵是連續(xù)或斷續(xù)的黑線，黑線的位置與兩基體材料相對(duì)接的位置間隙一致。能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

3、氣孔氣孔是在熔焊時(shí)部分空氣停留在金屬內(nèi)部而形成的缺陷。氣孔在底片上的影像一般呈圓形或橢圓形，也有不規(guī)則形狀的，以單個(gè)、多個(gè)密集或鏈狀的形式分佈在焊縫上。在底片上的影像輪廓清晰，邊緣圓滑，如氣孔較大，還可看到其黑度中心部分較邊緣要深一些。氣孔鏈狀氣孔能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

4、夾渣夾渣是在熔焊時(shí)所產(chǎn)生的金屬氧化物或非金屬夾雜物，因來(lái)不及浮出表面，停留在焊縫內(nèi)部而形成的缺陷。在底片上其影像是不規(guī)則的，呈圓形、塊狀或鏈狀等，邊緣沒(méi)有氣孔圓滑清晰，有時(shí)帶棱角。夾鎢能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

5、燒穿在焊縫的局部，因熱量過(guò)大而被熔穿，形成流垂或凹坑。在底片上的影像呈光亮的圓形(流垂)或呈邊緣較清晰的黑塊(凹坑)。能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

7偽缺陷偽缺陷產(chǎn)生的原因很多，形狀也多種多樣，檢測(cè)人員一般憑經(jīng)驗(yàn)?zāi)茏R(shí)別大部分偽缺陷。也就是說(shuō)，對(duì)缺陷影像可根據(jù)缺陷影像的特徵和產(chǎn)生的部位予以分析。此外，還可以從膠片兩側(cè)利用反光或放大鏡觀察表面是否劃傷來(lái)判斷。如仍懷疑有缺陷，則必須重照複驗(yàn)。6表面缺陷對(duì)於缺陷，主要應(yīng)檢查工件內(nèi)部缺陷，但是各種表面缺陷在膠片上的影像和內(nèi)部缺陷的影像並沒(méi)有什麼區(qū)別，表面缺陷有些是允許的。因此，在膠片上發(fā)現(xiàn)有缺陷影像後，應(yīng)與工件表面仔細(xì)查對(duì)，最後得出結(jié)論。能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別

1、缺陷埋藏深度的確定確定缺陷的深度採(cǎi)用雙重曝光法。利用兩個(gè)影像之間的幾何關(guān)係確定缺陷深度。

2、缺陷在射線方向上的尺寸缺陷在射線方向上的尺寸大小可用黑度計(jì)測(cè)定。能力知識(shí)點(diǎn)3焊接缺陷的定量測(cè)量

根據(jù)焊接缺陷形狀﹑大小，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)將焊縫中的缺陷分成圓形缺陷﹑條狀?yuàn)A渣﹑未焊透﹑未熔合和裂紋等五種。按照焊接缺陷的性質(zhì)﹑數(shù)量和大小將焊縫品質(zhì)分為Ⅰ﹑Ⅱ﹑Ⅲ﹑Ⅳ共四級(jí)，品質(zhì)依次降低。能力知識(shí)點(diǎn)4焊接接頭品質(zhì)的評(píng)定Ⅰ級(jí)焊縫內(nèi)不允許存在任何裂紋﹑未熔合﹑未焊透以及條狀?yuàn)A渣，允許有一定數(shù)量和一定尺寸的圓形缺陷存在。

Ⅱ級(jí)焊縫內(nèi)不允許存在任何裂紋﹑未熔合﹑未焊透等三種缺陷，允許有一定數(shù)量﹑一定尺寸的條狀?yuàn)A渣和圓形缺陷存在。

Ⅲ級(jí)焊縫內(nèi)不允許存在任何裂紋﹑未熔合以及雙面焊和加墊板的單面焊中的未焊透，允許有一定數(shù)量﹑一定尺寸的條狀?yuàn)A渣和圓形缺陷存在。

Ⅳ級(jí)焊縫指焊縫缺陷超過(guò)Ⅲ級(jí)者。能力知識(shí)點(diǎn)4焊接接頭品質(zhì)的評(píng)定

射線照相檢驗(yàn)後，應(yīng)對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果及有關(guān)事項(xiàng)進(jìn)行詳細(xì)記錄並寫(xiě)出檢驗(yàn)報(bào)告。其主要內(nèi)容包括：產(chǎn)品名稱﹑檢驗(yàn)部位﹑檢驗(yàn)方法﹑透照規(guī)範(fàn)﹑缺陷名稱﹑評(píng)定等級(jí)﹑返修情況和透照日期等。底片及有關(guān)人員簽字的原始記錄和檢驗(yàn)報(bào)告必須妥善保存，一般保存五年以上。能力知識(shí)點(diǎn)5射線照相檢測(cè)報(bào)告

選擇射線

照射方向

劃線編號(hào)

洗片

貼片

評(píng)片

整理存檔

能力知識(shí)點(diǎn)6射線照相法的一般程式

模組六射線的安全防護(hù)能力知識(shí)點(diǎn)1

射線對(duì)人體的危害能力知識(shí)點(diǎn)2

射線的防護(hù)方法能力知識(shí)點(diǎn)3

透照現(xiàn)場(chǎng)中的安全技術(shù)

當(dāng)射線作用到有機(jī)體時(shí)，射線使機(jī)體內(nèi)的組織、細(xì)胞和蛋白質(zhì)等起生物化學(xué)作用而變成一種細(xì)胞毒，這種細(xì)胞毒對(duì)有機(jī)體具有破壞性。大劑量照射時(shí)，會(huì)在人體有機(jī)組織內(nèi)產(chǎn)生嚴(yán)重病變，甚至死亡。放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，職業(yè)探傷人員年最高允許劑量當(dāng)量為5×10－２Sv，而終生累計(jì)照射量不得超過(guò)2.5Sv。

能力知識(shí)點(diǎn)1射線對(duì)人體的危害

能力知識(shí)點(diǎn)2射線的防護(hù)方法射線檢測(cè)時(shí)，對(duì)射線的防護(hù)通常採(cǎi)用的防護(hù)方法主要有三種，即遮罩防護(hù)、距離防護(hù)和時(shí)間防護(hù)。

一般根據(jù)X射線、γ射線與遮罩物的相互作用來(lái)選擇防護(hù)材料，遮罩X射線和γ射線以密度大的物質(zhì)為好，如貧化鈾、鉛、鐵、重混凝土、鉛玻璃等都可以用作防護(hù)材料。但從經(jīng)濟(jì)、方便出發(fā)，也可採(cǎi)用普通材料，如混凝土、巖石、磚、土、水等。能力知識(shí)點(diǎn)3透照現(xiàn)場(chǎng)中的安全技術(shù)

射線檢測(cè)最好在無(wú)人或很少有人的地方進(jìn)行檢查。如果在工作人數(shù)很多的工地上或車間內(nèi)進(jìn)行透照時(shí),在危險(xiǎn)區(qū)邊緣要設(shè)置警戒標(biāo)誌，防止外人誤入。操作人員要保持安全距離，選擇散射線小的方向，並儘量利用遮罩物防護(hù)。超聲波檢測(cè)

問(wèn)題：什麼是超聲波？次聲波、聲波和超聲波都是在彈性介質(zhì)中傳播的機(jī)械波，在同一介質(zhì)中的傳播速度相同。聲波——頻率在20Hz～20KHz，能引起耳膜震動(dòng)的機(jī)械波。次聲波——頻率小於20Hz，低於人耳聽(tīng)閾下限的聲波。超聲波——頻率大於20KHz，高於人耳聽(tīng)閾上限的聲波。

次聲波的頻率很低，波長(zhǎng)很長(zhǎng)，繞射能力強(qiáng)，傳播衰減小、距離遠(yuǎn)。在大自然的許多活動(dòng)中伴隨著次聲波的發(fā)生，例如地震、火箭起飛等。次聲波近似平面波，沿著與地球表面平行的方向傳播。

超聲波檢測(cè)是利用超聲波在物體中的傳播、反射和衰減等物理特性來(lái)發(fā)現(xiàn)內(nèi)部缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。超聲波探傷成本低、操作方便、檢測(cè)厚度大、對(duì)人和環(huán)境無(wú)害，但探傷不直觀、難以確定缺陷的性質(zhì)、評(píng)定結(jié)果。問(wèn)題：什麼是超聲波檢測(cè)？能力知識(shí)點(diǎn)1

超聲波的產(chǎn)生與接收能力知識(shí)點(diǎn)2

超聲波的性質(zhì)能力知識(shí)點(diǎn)3

超聲場(chǎng)能力知識(shí)點(diǎn)4

超聲波的衰減模組一超聲波探傷的基本原理

縱波1

質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向與波傳播方向一致的波，用符號(hào)L表示。縱波可在固體、液體和氣體介質(zhì)中傳播。2

質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向與波傳播方向垂直的波，用符號(hào)S表示。橫波只能在固體中傳播。橫波3

僅在固體表面?zhèn)鞑デ医橘|(zhì)表面質(zhì)點(diǎn)做橢圓運(yùn)動(dòng)的聲波，用符號(hào)R表示。表面波

一、波型1.按質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向分為縱波、橫波、表面波4在一個(gè)板厚與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯挟a(chǎn)生的一種波動(dòng)形式，稱為板波。板波能力知識(shí)點(diǎn)1超聲波的產(chǎn)生與接收能力知識(shí)點(diǎn)1超聲波的產(chǎn)生與接收2．按照波的形狀分類(1)平面波（2）柱面波能力知識(shí)點(diǎn)1超聲波的產(chǎn)生與接收（3）球面波（4）活塞波能力知識(shí)點(diǎn)1超聲波的產(chǎn)生與接收3、按振動(dòng)的持續(xù)時(shí)間分類（1）連續(xù)波：波源持續(xù)不斷地振動(dòng)所輻射的波。超聲波穿透法探傷常採(cǎi)用連續(xù)波。（2）脈衝波：波源振動(dòng)持續(xù)時(shí)間很短(通常是微秒數(shù)量級(jí)，1微秒=10-6秒)，間歇輻射的波。目前超聲波探傷中廣泛採(cǎi)用的就是脈衝波。能力知識(shí)點(diǎn)1超聲波的產(chǎn)生與接收二、超聲波的產(chǎn)生與接收由超聲波檢測(cè)儀產(chǎn)生的電振盪，以高頻電壓形式加到壓電晶片的兩面電極上，由於逆壓電效應(yīng)，鏡片會(huì)在厚度方向上產(chǎn)生伸縮變形，這樣就把電振盪轉(zhuǎn)換成機(jī)械振動(dòng)，這種機(jī)械振動(dòng)儀超聲波的形式進(jìn)入工件，這就是超聲波的產(chǎn)生；反之，當(dāng)晶片受到超聲波的作用而產(chǎn)生伸縮變形時(shí)，正壓電效應(yīng)又會(huì)使晶片兩表面產(chǎn)生不同極性的電荷，形成與超聲波頻率相同的高頻電壓，以回波電信號(hào)形式經(jīng)檢測(cè)儀顯示，這就是超聲波的接受。能力知識(shí)點(diǎn)1超聲波的產(chǎn)生與接收（a）正壓電效應(yīng)（b）逆壓電效應(yīng)一、超聲波的特點(diǎn)特點(diǎn)方向性好對(duì)人體無(wú)害穿透能力強(qiáng)能量高會(huì)產(chǎn)生反射、折射、波型轉(zhuǎn)換能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)

二、描述超聲波的物理量聲速——單位時(shí)間內(nèi)，超聲波在介質(zhì)中傳播的距離，c表示。頻率——單位時(shí)間內(nèi)，介質(zhì)中任意給定點(diǎn)所通過(guò)完整波的個(gè)數(shù)，f表示。波長(zhǎng)——傳播時(shí)，同一波線上相鄰兩個(gè)相位相同的質(zhì)點(diǎn)之間的距離。週期——聲波向前傳播一個(gè)波長(zhǎng)距離所需的時(shí)間，T表示。能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)三、異質(zhì)介面上的透射、反射、折射和波型轉(zhuǎn)換

1.單一的平介面（1）垂直入射K=W反/W入

鋼—鋼0鋼—空氣100鋼—有機(jī)玻璃77有機(jī)玻璃—變壓器油17鋼—變壓器油81有機(jī)玻璃—水100鋼—水88

表

異質(zhì)介面反射係數(shù)K能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)（2）傾斜入射能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)入射波、反射波和折射波與法線的夾角分別為入射角α、反射角γ、折射角β，它們之間的關(guān)係由斯聶耳定律來(lái)確定，即：

能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)當(dāng)縱波折射角βL2=90°時(shí)，在第二種介質(zhì)中只有橫波存在，此時(shí)的縱波入射角為第一臨界角α1m；當(dāng)橫波折射角βS2=90°時(shí)，在第一種介質(zhì)和第二種介質(zhì)中的介面上只有表面波傳播，此時(shí)的縱波入射角為第二臨界角α2m。根據(jù)第一、第二臨界角的物理意思可知：1）當(dāng)αL1＜α1m時(shí)，第二種介質(zhì)中同時(shí)存在折射縱波和折射橫波，這種情況在超聲檢測(cè)中不採(cǎi)用。2）當(dāng)α1m≤αL1＜α2m時(shí)，第二種介質(zhì)中只存在折射橫波，這是常用的斜探頭的設(shè)計(jì)原理，也是橫波檢測(cè)的基本條件。3）αL1＞α2m時(shí)，第二種介質(zhì)中既無(wú)折射縱波又無(wú)折射橫波，但此時(shí)在第一種介質(zhì)和第二種介質(zhì)的介面形成表面波，這是表面波探頭的設(shè)計(jì)原理。能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)2.平面波入射到曲介面（1）平面波在曲介面上的反射圖

平面波在球上的反射能力知識(shí)點(diǎn)2超聲波的性質(zhì)2）柱形曲介面超聲波入射到柱形的曲介面上時(shí)，反射波也將聚焦或發(fā)散且將聚焦成一條實(shí)線或發(fā)散為一條虛線，稱為焦軸。（2）平面波在曲介面上的折射(a)

一、超聲場(chǎng)參數(shù)1.聲壓P（1）定義：超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一時(shí)刻所具有的壓強(qiáng)與沒(méi)有超聲波存在時(shí)的靜態(tài)壓強(qiáng)之差，稱為該點(diǎn)的聲壓，用表示。

（2）單位：帕斯卡(Pa)，微帕斯卡(μPa)

1Pa=1N/m21Pa=106μPa（3）運(yùn)算式：（4）特點(diǎn)：聲壓的幅值與介質(zhì)密度、波速和頻率成正比。（5）超聲波探傷儀示波屏上的波高與聲壓成正比。能力知識(shí)點(diǎn)3超聲場(chǎng)

能力知識(shí)點(diǎn)3超聲場(chǎng)2.聲阻抗聲阻抗指超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)的聲壓P與該處質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度

之比，用符號(hào)Za表示。聲阻抗是反映介質(zhì)對(duì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的阻礙作用的物理量，而並非介質(zhì)對(duì)超聲波通過(guò)介質(zhì)能力的阻礙。3.聲強(qiáng)I（1）定義：?jiǎn)挝粫r(shí)間內(nèi)垂直通過(guò)單位面積的聲能稱為聲強(qiáng)，常用I表示。（2）單位：瓦/釐米2(W/cm2)或焦耳/釐米2?秒(J/cm2?s)。（3）當(dāng)超聲波傳播到介質(zhì)中某處時(shí)，該處原來(lái)靜止不動(dòng)的質(zhì)點(diǎn)開(kāi)始振動(dòng)。因而具有動(dòng)能。同時(shí)該處介質(zhì)產(chǎn)生彈性變形，因而也具有彈性位能，其總能量為二者之和。能力知識(shí)點(diǎn)3超聲場(chǎng)4.聲強(qiáng)的計(jì)量——分貝和奈培

聲強(qiáng)數(shù)量級(jí)往往相差懸殊，如引起聽(tīng)覺(jué)的聲強(qiáng)範(fàn)圍為10-16_10-14W/cm2，最大值與最小值相差12個(gè)數(shù)量級(jí)。因此採(cǎi)用對(duì)其比值(相對(duì)量)取對(duì)數(shù)來(lái)比較計(jì)算。分貝與奈培就是兩個(gè)同量綱的量之比取對(duì)數(shù)後的單位。引起聽(tīng)覺(jué)的最弱聲強(qiáng)I1=10-16W/cm2為聲強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)，將某一聲強(qiáng)I2與標(biāo)準(zhǔn)聲強(qiáng)I1之比的常用對(duì)數(shù)稱為聲強(qiáng)級(jí)，單位為貝爾(BeL)。（BeL）

實(shí)際應(yīng)用中，貝爾單位太大，常用分貝（dB）（1/10貝爾）來(lái)做單位。（dB）

能力知識(shí)點(diǎn)3超聲場(chǎng)

引起聽(tīng)覺(jué)的聲強(qiáng)10-16瓦/釐米20dB樹(shù)葉沙沙聲10-15瓦/釐米210dB耳語(yǔ)10-14瓦/釐米220dB談話10-11瓦/釐米250dB大炮聲10-6瓦/釐米2100dB超聲波10+4瓦/釐米2200dB能力知識(shí)點(diǎn)3超聲場(chǎng)能力知識(shí)點(diǎn)3超聲場(chǎng)二、活塞源聲場(chǎng)1.指向角2.近場(chǎng)區(qū)3.擴(kuò)散區(qū)與未擴(kuò)散區(qū)能力知識(shí)點(diǎn)4超聲波的衰減遇到聲阻抗不同的介面產(chǎn)生散亂反射引起的衰減散射衰減超聲波的能量隨距離增加而逐漸減弱擴(kuò)散衰減介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)間內(nèi)摩擦和熱傳導(dǎo)引起超聲波的衰減吸收衰減超聲波衰減能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)儀能力知識(shí)點(diǎn)2探頭能力知識(shí)點(diǎn)3試塊能力知識(shí)點(diǎn)4耦合劑模組二超聲波探傷設(shè)備與器材能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)儀超聲波探傷設(shè)備一般由超聲波探傷儀、探頭和試塊組成。超聲波探傷儀是探傷的主體設(shè)備，主要功能是產(chǎn)生超聲頻率電振盪，並以此來(lái)激勵(lì)探頭發(fā)射超聲波。同時(shí)，它又將探頭接收到的回波電信號(hào)予以放大、處理，並通過(guò)一定方式顯示出來(lái)。一、超聲波探傷儀的分類

能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)儀

超聲探傷儀按波的連續(xù)性分脈沖波探傷儀連續(xù)波探傷儀調(diào)頻波探傷儀按缺陷顯示方式分A型顯示超聲波探傷儀B型顯示超聲波探傷儀C型顯示超聲波探傷儀3D型顯示超聲波探傷儀按超聲波的通道數(shù)目分單通道超聲探傷儀多通道超聲探傷儀能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)儀

二、A型脈衝反射式超聲波探傷儀焊縫超聲檢驗(yàn)中廣泛使用A型脈衝反射式超聲波探傷儀。主要性能：（1）水平線性（2）垂直線性（3）動(dòng)態(tài)範(fàn)圍

能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)儀能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)儀三、數(shù)字式超聲檢測(cè)儀能力知識(shí)點(diǎn)2探頭一、探頭的結(jié)構(gòu)

圖

直探頭的構(gòu)造1-晶片2-保護(hù)膜3-接地銅圈4-吸收塊5-金屬蓋6-絕緣柱7-接觸座8-導(dǎo)線螺桿9-接線片10-晶片座11-金屬外殼12-地線圖

斜探頭結(jié)構(gòu)1—吸收塊2—斜楔塊3—壓電元件4—內(nèi)部電源線5—外殼

6—接頭能力知識(shí)點(diǎn)2探頭二、探頭的種類

探頭直探頭斜探頭水浸聚焦探頭雙晶探頭壓電元件、吸收塊、保護(hù)膜、殼體探頭芯、斜楔塊、殼體超聲探頭、聲透鏡三個(gè)壓電元件、吸收塊、保護(hù)膜、殼體直探頭斜探頭能力知識(shí)點(diǎn)2探頭能力知識(shí)點(diǎn)2探頭

三、探頭的主要參數(shù)焊縫超聲波探傷常使用斜探頭。斜探頭的主要性能如下：

（1）折射角γ(或探頭K值)

（2）前沿長(zhǎng)度

（3）聲軸偏離角四、探頭型號(hào)探頭型號(hào)由五部分組成：基本頻率、晶片材料、晶片尺寸、探頭種類、探頭特徵。

能力知識(shí)點(diǎn)2探頭

能力知識(shí)點(diǎn)3試塊試塊是按一定用途設(shè)計(jì)製作的具有簡(jiǎn)單幾何形狀人工反射體的試件。根據(jù)使用目的和要求的不同，通常將試塊分成以下兩大類：標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊。

由法定機(jī)構(gòu)對(duì)材質(zhì)、形狀、尺寸、性能做出規(guī)定和檢定的試塊

由各專業(yè)部門對(duì)某些探傷對(duì)象規(guī)定的試塊。對(duì)比試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-ⅠBCSK-ⅢA

RB-1RB-2能力知識(shí)點(diǎn)3試塊能力知識(shí)點(diǎn)4耦合劑一、耦合劑的作用

在超聲檢測(cè)中，當(dāng)探頭和被檢工件表面之間有空氣存在時(shí)，超聲波的反射率是100%，耦合劑可以填充探頭與工件表面之間的空氣空隙，是超聲波順利的進(jìn)入工件內(nèi)部進(jìn)行檢測(cè)。二、耦合劑的種類

常用的耦合劑有：水、甘油、機(jī)油、化學(xué)漿糊等。

能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)方法的分類能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法能力知識(shí)點(diǎn)3液浸法模組三超聲波檢測(cè)方法及其原理能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)方法的分類一、按照檢測(cè)原理分類按照檢測(cè)原理的差異，超聲波檢測(cè)方法可分為脈衝反射法、穿透法、共振法。能力知識(shí)點(diǎn)1超聲檢測(cè)方法的分類二、按照使用的波型分類根據(jù)檢測(cè)採(cǎi)用的波型不同，超聲檢測(cè)方法可分為縱波法、橫波法、表面波法、板波法等。三、按照探頭的接觸方式分類根據(jù)超聲檢測(cè)時(shí)探頭與工件的接觸方式，超聲波檢測(cè)方法可以分為直接接觸法和液浸法。四、按照使用探頭的數(shù)目分類單探頭法和多探頭法能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法

垂直入射法直接接觸法斜角入射法使探頭直接接觸工件進(jìn)行探傷的方法稱之為直接接觸法。能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法

一、垂直入射法

垂直接觸法採(cǎi)用A型脈衝反射法，圖形簡(jiǎn)單，靈敏度高，應(yīng)用廣泛。由於耦合劑很薄，工件表面粗糙度在Ra6.3μm以下?？v波直探頭探傷適用於厚鋼板、軸類、輪等幾何形狀簡(jiǎn)單的工件。垂直入射法探傷易發(fā)現(xiàn)與探傷面平行或近於平行的缺陷能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法縱波直探頭檢測(cè)能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法二、斜角探傷法橫波斜探頭探傷適用於厚鋼板、軸類、輪等幾何形狀簡(jiǎn)單的工件。易發(fā)現(xiàn)與探測(cè)表面呈角度的缺陷。橫波斜探頭檢測(cè)能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法

斜角探傷檢測(cè)焊縫時(shí)，可以根據(jù)幾何關(guān)係來(lái)確定相關(guān)缺陷的位置。

斜角法探傷焊縫幾何關(guān)係能力知識(shí)點(diǎn)2直接接觸法

（1）直射法

（2）一次反射法

δ——工件厚度S——聲程b——探頭前沿長(zhǎng)度K——探頭K值；γ——探頭折射角（°）

二、液浸法液浸法是將工件和探頭全部浸在耦合液體中，探頭不直接接觸工件的探傷方法。

全部水浸局部水浸噴流水浸能力知識(shí)點(diǎn)3液浸法

！液浸法探傷時(shí)，探頭到工件表面的距離應(yīng)在工件厚度的1/3以上，以避免二次介面反射波的產(chǎn)生，減少干擾波。液浸法的優(yōu)點(diǎn)：探頭易磨損，超聲波的發(fā)射和吸收比較穩(wěn)定。液浸法的缺點(diǎn)：需要較多的輔助設(shè)備，如液槽、探頭橋架、探頭操縱器。此外，由於液體耦合層較厚而聲能損失較大。能力知識(shí)點(diǎn)3液浸法能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)前的準(zhǔn)備能力知識(shí)點(diǎn)2即時(shí)檢測(cè)技術(shù)能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定能力知識(shí)點(diǎn)4缺陷評(píng)定與檢驗(yàn)結(jié)果的分級(jí)能力知識(shí)點(diǎn)5記錄與報(bào)告模組四直接接觸法超聲檢測(cè)技術(shù)能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)前的準(zhǔn)備

一、檢驗(yàn)等級(jí)的確定

一般根據(jù)對(duì)焊縫探測(cè)方向的多少，把超聲波探傷劃分為A、B、C三個(gè)級(jí)別：

A級(jí)——檢驗(yàn)的完整程度最低，難度係數(shù)最小。適用於普通鋼結(jié)構(gòu)檢驗(yàn)。

B級(jí)——檢驗(yàn)完整程度一般，難度係數(shù)較大。適用於壓力容器檢驗(yàn)。

C級(jí)——檢驗(yàn)完整程度最高，難度係數(shù)最大。適用於核容器及管道的檢驗(yàn)。能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)前的準(zhǔn)備

二、探傷面及檢測(cè)方法的選擇

表探傷面及使用折射角板厚/mm檢測(cè)面檢測(cè)方法折射角或K值A(chǔ)BC≤25單面單側(cè)

單側(cè)雙面（位置1和2或3和4）或雙面單側(cè)（1和3或2和4）

直射法及一次反射法K2.5，K2.0>25～50K2.5，K2.0，K1.5

>50～100直射法K1或K1.5；K1和K1.5，K1和K2.0並用>100雙面雙側(cè)

K1和K1.5或K2.0並用能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)前的準(zhǔn)備

三、探頭的選擇探頭的選擇包括選擇探頭的形式、晶片的尺寸、超聲波的檢測(cè)頻率和探頭角度和K值幾項(xiàng)。焊縫探傷選擇斜探頭探頭形式工件厚度大採(cǎi)用大直徑探頭，厚度小小直徑探頭晶片尺寸焊縫探傷，超聲波頻率為2~2.5MHz頻率薄工件採(cǎi)用大K值探頭，厚工件採(cǎi)用小K值探頭。探頭角度和K值能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)前的準(zhǔn)備

四、耦合劑的選用接觸法探傷常選用甘油、機(jī)油、化學(xué)漿糊等有一定粘度的耦合劑，有時(shí)也採(cǎi)用水作耦合劑。對(duì)於鋼材等易鏽的材料，常採(cǎi)用機(jī)油、變壓器油等。

能力知識(shí)點(diǎn)1檢測(cè)前的準(zhǔn)備

五、探傷儀的調(diào)節(jié)（1）探傷範(fàn)圍和掃描速度調(diào)節(jié)焊縫探傷多採(cǎi)用橫波斜探頭探測(cè)，掃描速度有三種調(diào)節(jié)方法——聲程、水準(zhǔn)、深度。厚度大於32mm的厚板採(cǎi)用深度調(diào)節(jié)法，厚度小於24mm的中薄板採(cǎi)用水準(zhǔn)調(diào)節(jié)法。（2）靈敏度調(diào)整

1）探傷靈敏度的選定——試塊上最小人工缺陷而定；

2）距離-波幅曲線的製作；

3）探傷靈敏度的調(diào)整。超聲波直接接觸法檢測(cè)一般包括下麵步驟：探傷前的準(zhǔn)備即時(shí)探傷操作缺陷評(píng)定檢驗(yàn)結(jié)果分級(jí)記錄、報(bào)告能力知識(shí)點(diǎn)2即時(shí)檢測(cè)技術(shù)能力知識(shí)點(diǎn)2即時(shí)檢測(cè)技術(shù)

1．探傷條件的選擇

2．檢驗(yàn)區(qū)域?qū)挾鹊拇_定

3．探頭移動(dòng)區(qū)的確定

4．單探頭的掃查方式（1）鋸齒形掃查（2）基本掃查（3）平行掃查（4）斜平行掃查

鋸齒形掃查基本掃查能力知識(shí)點(diǎn)2即時(shí)檢測(cè)技術(shù)平行掃查斜平行掃查能力知識(shí)點(diǎn)2即時(shí)檢測(cè)技術(shù)能力知識(shí)點(diǎn)2即時(shí)檢測(cè)技術(shù)（5）雙探頭掃查方式1）串列掃查2）交叉掃查3）V形掃查

串列式掃查交叉掃查能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定一、缺陷位置的測(cè)定

1.縱波檢測(cè)法時(shí)缺陷定位缺陷定位只需測(cè)定沿工件Z軸的座標(biāo)，即缺陷在工件中的深度即可。

缺陷定位示意圖a）垂直人射法時(shí)缺陷定位b）斜角檢測(cè)時(shí)的缺陷定位Zf

—缺陷在工件中的深度(mm)；

n—檢測(cè)儀調(diào)解比例係數(shù)；τf

—示波屏上缺陷波前沿所對(duì)水準(zhǔn)刻度值。能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定2.橫波檢測(cè)的缺陷定位（1）聲程調(diào)節(jié)法直射法探傷：

一次反射法探傷：

能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定（2）水準(zhǔn)調(diào)節(jié)法定位直射法探傷：一次反射法探傷：

能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定

（3）深度調(diào)節(jié)法定位直射法探傷：一次反射法：能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定

二、缺陷大小的測(cè)定測(cè)定工件或焊接接頭中缺陷的大小和數(shù)量稱為缺陷定量。（1）當(dāng)量法當(dāng)量法主要有當(dāng)量曲線法和當(dāng)量計(jì)算法。焊縫探傷常採(cǎi)用當(dāng)量曲線法，即利用具有同一孔徑、不同距離的橫孔試塊製作的距離——波幅曲線（DAC曲線），查出缺陷區(qū)域和當(dāng)量。（2）探頭移動(dòng)法對(duì)於尺寸或面積大於聲束直徑或斷面的缺陷，常採(cǎi)用探頭移動(dòng)法來(lái)測(cè)定其指示長(zhǎng)度和範(fàn)圍。能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定

三、缺陷性質(zhì)的估判判定工件或焊接接頭中缺陷的性質(zhì)稱之為缺陷定性。缺陷形狀動(dòng)態(tài)波形點(diǎn)狀缺陷左右移動(dòng)距離短，幅度下降快，環(huán)繞運(yùn)動(dòng)，幅度不變線形或面形缺陷左右移動(dòng)幅度變化小，環(huán)繞運(yùn)動(dòng)幅度下降快不規(guī)則線形或面形缺陷多峰密集氣孔的波型一種夾渣的波型能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定能力知識(shí)點(diǎn)3缺陷的評(píng)定（a）單個(gè)缺陷

（b）小裂紋

（c）白點(diǎn)（d）非金屬夾渣e）夾層

（f）光滑大裂紋能力知識(shí)點(diǎn)4缺陷評(píng)定與檢驗(yàn)結(jié)果的分級(jí)

距離-波幅曲線是缺陷評(píng)定與檢驗(yàn)結(jié)果分級(jí)的依據(jù)。一、缺陷評(píng)定二、檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)分類焊縫超聲檢驗(yàn)結(jié)果分為四級(jí)：（1）最大反射波幅不超過(guò)評(píng)定線的缺陷，均評(píng)為Ⅰ級(jí)。（2）最大反射波幅超過(guò)評(píng)定線的缺陷，檢驗(yàn)者判定為裂紋等危害性缺陷時(shí)，無(wú)論其波幅和尺寸如何，均評(píng)為Ⅳ級(jí)。

能力知識(shí)點(diǎn)4缺陷評(píng)定與檢驗(yàn)結(jié)果的分級(jí)

（3）反射波幅位於Ⅰ區(qū)的非裂紋性缺陷，均評(píng)為Ⅰ級(jí)。（4）最大反射波幅位於Ⅱ區(qū)的缺陷，根據(jù)缺陷的指示長(zhǎng)度按表4-9的規(guī)定予經(jīng)評(píng)級(jí)。（5）反射波幅超過(guò)判廢線進(jìn)入Ⅲ區(qū)時(shí)缺陷，無(wú)論其指示長(zhǎng)度如何，均評(píng)定為Ⅳ級(jí)。

檢驗(yàn)等級(jí)

板厚/mm

評(píng)定等級(jí)ABC8~508~3008~300Ⅰ2δ/3；最小12δ/3；最小10；最大30δ/3；最小10；最大20Ⅱ3δ/4；最小122δ/3；最小12；最大50δ/2；最小10；最大30Ⅲ<δ；最小203δ/4；最小16；最大752δ/3；最小12；最大50Ⅳ超過(guò)Ⅲ級(jí)者缺陷的等級(jí)分類能力知識(shí)點(diǎn)4缺陷評(píng)定與檢驗(yàn)結(jié)果的分級(jí)能力知識(shí)點(diǎn)5記錄與報(bào)告焊縫超聲波探傷後，應(yīng)將探傷數(shù)據(jù)、工件及工藝概況歸納在探傷的原始記錄中，並簽發(fā)檢驗(yàn)報(bào)告。檢驗(yàn)報(bào)告是焊縫超聲波檢驗(yàn)的存檔檔，經(jīng)品質(zhì)管理人員審核後，正本發(fā)送委託部門，其副本由探傷部門歸檔。探傷記錄與報(bào)告應(yīng)具有追蹤性，並至少保存7年以上以備隨時(shí)查核。探傷記錄與報(bào)告的格式。模組五超聲檢測(cè)工藝能力知識(shí)點(diǎn)1工藝規(guī)程的編制能力知識(shí)點(diǎn)2工藝卡的編制

一、檢測(cè)工藝規(guī)程根據(jù)委託單位的要求，結(jié)合工件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)及有關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)等而編制由取得超聲檢測(cè)Ⅲ級(jí)資格的人員會(huì)同相關(guān)技術(shù)人員組織編寫(xiě)

對(duì)檢測(cè)工作的實(shí)施具有最直接的指導(dǎo)意義

檢測(cè)工藝規(guī)程能力知識(shí)點(diǎn)1工藝規(guī)程的編制能力知識(shí)點(diǎn)1工藝規(guī)程的編制

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二、超聲檢測(cè)工藝規(guī)程的內(nèi)容與編制要求1）總則：該規(guī)程的適用範(fàn)圍，所引用的法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)的名稱代號(hào)，對(duì)檢測(cè)人員的要求等。

2）規(guī)程所適用的被檢材料或工件的範(fàn)圍，可包括受檢件的名稱、圖號(hào)、材料及熱處理狀態(tài)；

3）驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)或等效的技術(shù)要求；

4）實(shí)施規(guī)程的人員資格要求；

5）檢測(cè)時(shí)機(jī)、工序號(hào)；

6）採(cǎi)用的超聲檢測(cè)技術(shù)；

7）實(shí)施規(guī)程所需要的超聲檢測(cè)儀的型號(hào)；

8）所用探頭的類型、頻率、尺寸、斜探頭的角度等；能力知識(shí)點(diǎn)1工藝規(guī)程的編制

9）耦合劑的名稱、牌號(hào)；10）標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊的代號(hào)和名稱；11）被檢部位及檢測(cè)前的表面準(zhǔn)備要求，可包括受檢件的草圖，並在圖上標(biāo)明各項(xiàng)要求；12）校準(zhǔn)方法，包括儀器、設(shè)備的各項(xiàng)調(diào)整要求；13）掃查方式的要求；14）缺陷評(píng)定方法的要求；15）檢測(cè)的標(biāo)記和原始數(shù)據(jù)記錄要求；16）檢測(cè)後的操作要求；17）結(jié)果報(bào)告的要求；18）規(guī)程編制者（Ⅲ級(jí)人員）的簽名；規(guī)程批準(zhǔn)者的簽名。

返回目錄一、超聲檢測(cè)工藝卡Ⅱ級(jí)以上資格人員根據(jù)超聲檢測(cè)規(guī)程或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)編制

敘述超聲檢測(cè)方法（或超聲檢測(cè)技術(shù)）對(duì)一個(gè)具體零件或一組類似零件實(shí)施檢測(cè)所應(yīng)遵循的詳細(xì)要求的作業(yè)檔為該具體零件的檢測(cè)的實(shí)施提供準(zhǔn)確的工藝指導(dǎo)

檢測(cè)工藝卡

能力知識(shí)點(diǎn)2工藝卡的編制

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二、工藝卡的內(nèi)容及編制要求超聲檢測(cè)工藝卡常編制成表格形式，其內(nèi)容應(yīng)至少包括：

1）所依據(jù)的檢測(cè)規(guī)程或標(biāo)準(zhǔn)號(hào)；

2)（一個(gè)或一批相同的）被檢材料或工件的名稱、產(chǎn)品號(hào)（或批號(hào)）、被檢部位以及檢測(cè)前的表面準(zhǔn)備；

3)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)；

4)指定的超聲檢測(cè)儀、探頭、對(duì)比試塊、輥合劑和輔助設(shè)備的規(guī)格、型號(hào)、編號(hào)；

5)所採(cǎi)用的超聲檢測(cè)技術(shù)；

6)校準(zhǔn)要求和掃查方式；

7)對(duì)結(jié)果判斷和數(shù)據(jù)記錄的規(guī)定；

8)編制者（Ⅱ級(jí)或Ⅲ級(jí)人員）的簽名。

能力知識(shí)點(diǎn)2工藝卡的編制

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三、超聲檢測(cè)工藝卡示例

現(xiàn)有一手工焊焊接試板，X形坡口，材質(zhì)為Q235C，焊後未打磨餘高。試板的厚度為22mm，焊縫兩側(cè)試板寬度各為250mm，焊縫上下兩面的寬度均為15mm。試板按GB11345—1989標(biāo)準(zhǔn)中的B級(jí)進(jìn)行檢測(cè)，合格級(jí)別為Ⅱ級(jí)。焊縫超聲檢測(cè)工藝卡

能力知識(shí)點(diǎn)2工藝卡的編制

返回目錄試件名稱鋼焊板材料牌號(hào)Q235C試件厚度22mm坡口形式X形焊接方式焊條電弧焊表面狀態(tài)餘高未清除檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GBll345—1989檢驗(yàn)級(jí)別B級(jí)驗(yàn)收級(jí)別Ⅱ級(jí)儀器型號(hào)CTS—23探頭型號(hào)2.5P13×13K2探頭前沿小於12mm探頭K值K2探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IB對(duì)比試塊RB-2檢測(cè)面單面雙側(cè)耦合劑機(jī)油表面補(bǔ)償4dB檢測(cè)區(qū)域28mm檢測(cè)方法橫波斜入射時(shí)基線調(diào)節(jié)水準(zhǔn)1:1掃查方式鋸齒形掃查和焊縫兩側(cè)斜平行掃查探頭掃查區(qū)域大於110mm最大掃查間距不大於13mm最大掃差速度不大於150m/s檢測(cè)靈敏度縱向缺陷：評(píng)定線φ3-16dB橫向缺陷：評(píng)定線φ3-22dB探頭掃查區(qū)域：焊縫兩側(cè)110mm區(qū)域內(nèi)，兩探頭串列式掃查檢測(cè)區(qū)域：焊縫兩側(cè)28mm區(qū)間內(nèi)技術(shù)要求：編制×××審核×××批準(zhǔn)×××年月日年月日年月日

能力知識(shí)點(diǎn)2工藝卡的編制磁粉探傷

模組一磁粉探傷原理與影響漏磁場(chǎng)強(qiáng)度的因素能力知識(shí)點(diǎn)1

磁粉檢測(cè)原理能力知識(shí)點(diǎn)2

影響漏磁場(chǎng)強(qiáng)度的因素能力知識(shí)點(diǎn)1磁粉檢測(cè)原理

將鐵磁材料製成的工件放在磁極之間，工件中就會(huì)有磁力線通過(guò)。如果工件內(nèi)部沒(méi)有缺陷且各處的磁導(dǎo)率一致，則磁力線在工件中分布是均勻的。均勻分佈的磁力線能力知識(shí)點(diǎn)1磁粉檢測(cè)原理

當(dāng)工件中有氣孔、夾渣、裂紋等缺陷存在時(shí)，構(gòu)成缺陷的是非磁性物質(zhì)，磁導(dǎo)率很低，磁阻很大，必將引起磁力線在工件中的分佈發(fā)生變化，如下圖所示，在缺陷處的磁力線發(fā)生彎曲。缺陷附近的磁通分佈能力知識(shí)點(diǎn)1磁粉檢測(cè)原理

基本原理：鐵磁性材料和工件被磁化後，由於不連續(xù)性的存在，使工件表面和近表面的磁力線發(fā)生局部畸變而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合適光照下目視可見(jiàn)的磁痕，從而顯示出不連續(xù)性的位置、形狀和大小。不連續(xù)處的漏磁場(chǎng)和磁痕分佈圖能力知識(shí)點(diǎn)1磁粉檢測(cè)原理

馬氏體不銹鋼和沉澱硬化不銹鋼具有磁性，可進(jìn)行MT。MT可發(fā)現(xiàn)裂紋、夾雜、發(fā)紋、白點(diǎn)、折疊、冷隔和疏鬆等缺陷。MT不能檢測(cè)奧氏體不銹鋼材料和用奧氏體不銹鋼焊條焊接的焊縫，也不能檢測(cè)銅、鋁、鎂、鈦等非磁性材料。

磁粉檢測(cè)適用於檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面尺寸很小、間隙極窄（如可檢測(cè)出長(zhǎng)0.1mm、寬為微米級(jí)的裂紋），目視難以看出的不連續(xù)性。缺陷的磁導(dǎo)率、大小和形狀工件塗層缺陷深度能力知識(shí)點(diǎn)2影響漏磁場(chǎng)強(qiáng)度的因素工件材料缺陷方向外加磁場(chǎng)漏磁場(chǎng)能力知識(shí)點(diǎn)2影響漏磁場(chǎng)強(qiáng)度的因素

1、外加磁場(chǎng)施加的外加磁場(chǎng)強(qiáng)度越大，工件中感應(yīng)出的磁場(chǎng)強(qiáng)度也越大，磁力線分佈越密集，受缺陷阻礙的磁力線彎曲的強(qiáng)度和數(shù)量越多，形成的漏磁場(chǎng)強(qiáng)度隨之增加。2、缺陷的埋藏深度缺陷的埋藏深度越小，被彎曲逸出材料表面的磁力線越多。漏磁場(chǎng)強(qiáng)度也越大。能力知識(shí)點(diǎn)2影響漏磁場(chǎng)強(qiáng)度的因素

3、缺陷方向缺陷垂直於磁場(chǎng)方向，漏磁場(chǎng)最大，容易檢驗(yàn)出缺陷；缺陷與磁場(chǎng)方向平行則不產(chǎn)生漏磁場(chǎng)。漏磁場(chǎng)與缺陷傾角的關(guān)係能力知識(shí)點(diǎn)2影響漏磁場(chǎng)強(qiáng)度的因素

4、缺陷的磁導(dǎo)率、大小和形狀缺陷的磁導(dǎo)率越高，產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)強(qiáng)度越小。缺陷在垂直磁力線方向的尺寸越大，形成漏磁場(chǎng)的強(qiáng)度越大。缺陷的形狀為圓形時(shí)，漏磁場(chǎng)強(qiáng)度??；缺陷的形狀為線形時(shí)，漏磁場(chǎng)的強(qiáng)度越大。能力知識(shí)點(diǎn)2影響漏磁場(chǎng)強(qiáng)度的因素

5、工件的表面覆蓋層工件表面的覆蓋層越厚，漏磁場(chǎng)越小。6、工件材料及狀態(tài)

鐵素體和馬氏體是鐵磁性；滲碳體試弱磁性；珠光體有一定磁性；奧氏體沒(méi)有磁性。

模組二工件磁化過(guò)程能力知識(shí)點(diǎn)1

磁化方法能力知識(shí)點(diǎn)2

磁化電流的選擇能力知識(shí)點(diǎn)3

磁化規(guī)範(fàn)的選擇能力知識(shí)點(diǎn)1磁化方法

一、磁化方法的分類：1.按磁化電流分類：直流點(diǎn)磁化法和交流電磁化法2.按通電方式分類：直流通電磁化法、間接通電磁化法3.按工件磁化方向分類：周向磁化法、縱向磁化法、複合磁化法磁化：在外加磁場(chǎng)作用下，使被檢工件內(nèi)部產(chǎn)生磁場(chǎng)的過(guò)程叫工件的磁化。能力知識(shí)點(diǎn)1磁化方法能力知識(shí)點(diǎn)1磁化方法二、磁化方法的選擇選擇磁化方法應(yīng)考慮的因素

工件的尺寸大??；工件的外形結(jié)構(gòu)；工件的表面狀態(tài)；根據(jù)工件過(guò)去斷裂的情況和各部位的應(yīng)力分布，分析可能產(chǎn)生缺陷的部位和方向，選擇合適的磁化方法。能力知識(shí)點(diǎn)1磁化方法工件形狀缺陷方向磁化方法備註長(zhǎng)棒或長(zhǎng)管縱向直接通電磁化法橫向交流線圈通過(guò)法或分段磁化法通過(guò)法適用於自動(dòng)探傷，分段磁化適用於手工探傷多方向複合磁化法可以一次磁化完成檢驗(yàn)，以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)探傷環(huán)形縱向中心導(dǎo)體法橫向線圈磁化法多方向旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)磁化法最理想的磁化方法焊縫縱向觸頭法和磁軛法橫向旋轉(zhuǎn)磁化法也可發(fā)現(xiàn)其他方向缺陷表面缺陷交流電磁化法磁化電源採(cǎi)用交流電近表面缺陷直流電磁化法磁化電源採(cǎi)用直流電軸類縱向直接通電磁化法橫向通電線圈磁化法多方向複合磁化法能力知識(shí)點(diǎn)1磁化方法複合磁化法能力知識(shí)點(diǎn)1磁化方法a）檢驗(yàn)橫向缺陷b）檢驗(yàn)縱向缺陷觸頭法檢驗(yàn)焊縫的支桿佈置能力知識(shí)點(diǎn)1磁化方法磁軛法檢驗(yàn)焊縫曲線變化a）縱向磁化