GB/T 19502-2023表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則

ICS7104040

CCSG.04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T19502—2023/ISO147072021

:

代替GB/T19502—2004

表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則

Surfacechemicalanalysis—Generalrulesforglowdischargeopticalemission

sectrometrGD-OES

py()

ISO147072021Surfacechemicalanalsis—Glowdischareoticalemission

[:ygp

sectrometrGD-OES—IntroductiontouseIDT

py(),]

2023-12-28發(fā)布2024-07-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T19502—2023/ISO147072021

:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………2

原理

4………………………2

儀器

5………………………4

分析步驟

6…………………6

附錄資料性安全事項(xiàng)

A()………………9

參考文獻(xiàn)

……………………10

GB/T19502—2023/ISO147072021

:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則與

GB/T19502—2004《》,GB/T19502—

相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外主要技術(shù)變化如下

2004,,:

增加了檢測(cè)器的應(yīng)用見第章

a)CCD(4);

更改了放電電流放電電壓氣體流量和射頻頻率等光源參數(shù)的適用范圍見年版

b)、、[5.1a),2004

的

5.1.1];

刪除了使用和檢測(cè)器的特別說明見年版的

c)CCDCID(20045.2);

增加了和檢測(cè)器的應(yīng)用見

d)CCDCID(5.3);

增加了深度剖析定量分析所選擇工作曲線樣品應(yīng)具有可測(cè)定可再現(xiàn)的濺射速率的要求見

e)“、”(

6.2.2);

增加了計(jì)算工作曲線函數(shù)的要求見

f)(6.2.3)。

本文件等同采用表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜法使用介紹

ISO14707:2021《》。

本文件做了下列最小限度的編輯性改動(dòng)

:

為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào)將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則

———,《》。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位寶山鋼鐵股份有限公司

:。

本文件主要起草人于永波張毅繆樂德余衛(wèi)華何曉蕾王忠良

:、、、、、。

本文件于年首次發(fā)布本次為第一次修訂

2004,。

Ⅰ

GB/T19502—2023/ISO147072021

:

表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則

1范圍

本文件提供了采用輝光放電發(fā)射光譜法以下簡(jiǎn)稱

(Glowdischargeopticalemissionspectrometry,

進(jìn)行深度剖析和體相分析的指南本文件僅限于討論剛性固體樣品的分析不包括粉末氣

GD-OES,)。,、

體或溶液的分析結(jié)合現(xiàn)有和將來特定的標(biāo)準(zhǔn)方法本文件旨在能夠?qū)崿F(xiàn)儀器的規(guī)范管理和測(cè)量條件

。,

的控制

。

盡管近年來有不同類型的輝光放電發(fā)射光源問世但目前絕大多數(shù)使用直流和射頻光源的輝光放

,

電光譜設(shè)備仍以空心陽極的型為主然而不同于最初型光源陰極接觸樣品正面的設(shè)

Grimm。Grimm

計(jì)一些光源的陰極接觸常置于樣品背面例如型光源本文件包含的條款同樣適用于上述

,,Marcus。

種和其他類型的光源型光源僅作為一個(gè)實(shí)例

2,Grimm。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量射線光譜方法

ISO3497X(Metalliccoatings—Measurementof

coatingthickness—X-rayspectrometricmethods)

注金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量射線光譜方法

:GB/T16921—2005X(ISO3497:2000,IDT)

測(cè)量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度正確度與精密度第部分總則與定義

ISO5725-1()1:[Accuracy

(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults—Part1:Generalprinciplesanddefinitions]

注測(cè)量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度正確度與精密度第部分總則與定義

:GB/T6379.1—2004()1:(ISO5725-1:

1994,IDT)

測(cè)量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度正確度與精密度第部分確定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法重復(fù)性

ISO5725-2()2:

與再現(xiàn)性的基本方法

[Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults—Part2:

Basicmethodforthedeterminationofrepeatabilityandreproducibilityofastandardmeasure-

mentmethod]

注測(cè)量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度正確度與精密度第部分確定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法重復(fù)性與再

:GB/T6379.2—2004()2:

現(xiàn)性的基本方法

(ISO5725-2:1994,IDT)

測(cè)量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度正確度與精密度第部分標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法精密度的中

ISO5725-3()3:

間度量

[Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults—Part3:In