2022低壓電氣設(shè)備電壓暫降及短時(shí)中斷耐受能力測(cè)試方法

低壓電氣設(shè)備電壓暫降及短時(shí)中斷耐受能力測(cè)試方法II目 次112范引文件 13語定義 14試35試備能46試備布置 47試58試69試據(jù)710試告 7附錄A（規(guī)性錄測(cè)試程 9附錄B（資性錄三相統(tǒng)壓降型 11附錄C（資性錄測(cè)試告12附錄D（資性錄測(cè)試果據(jù)式 14參考獻(xiàn) 15圖1測(cè)布示5圖2一電容度7圖A.1單設(shè)測(cè)10圖A.2三設(shè)測(cè)10圖C.1測(cè)報(bào)封面 12圖C.2測(cè)報(bào)內(nèi)頁 13表B.1IEEE準(zhǔn)壓降類型 1111低壓電氣設(shè)備電壓暫降及短時(shí)中斷耐受能力測(cè)試方法范圍1kV50HzGB/T17626.11—2008電磁兼容測(cè)試和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度測(cè)試GB/T17626.34—201216A短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度測(cè)試GB/T17799.1電磁兼容通用標(biāo)準(zhǔn)居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中的抗擾度GB/T17626.34—2012GB/T30137—2013GB/T32507—2016GB/T17626.34—2012GB/T30137—2013GB/T32507—2016的部分術(shù)語和定義。3.1電能質(zhì)量powerquality;qualityofpowersystem注：基準(zhǔn)技術(shù)參數(shù)一般是理想供電狀態(tài)下的指標(biāo)值，這些參數(shù)可能涉及供電與負(fù)荷間的兼容性。[GB/T32507—2016，定義2.1.1]3.2電壓暫降voltagedip（sag）0.1p.u.～0.910ms～1[GB/T30137—20133.1]3.3短時(shí)中斷shortinterruption0.1p.u.10ms～1min22[GB/T30137—2013，定義3.2]3.4電壓容忍度曲線voltagetolerancecurve表示電氣設(shè)備承受電壓變動(dòng)范圍和持續(xù)時(shí)間能力的曲線。[GB/T32507—2016，定義2.1.41]3.5電壓暫降（短時(shí)中斷）耐受能力dip/sag（shortinterruption）immunity（3.6殘余電壓residualvoltage電壓暫降或者短時(shí)中斷過程中記錄的電壓方均根值的最小值。[GB/T30137—2013，定義3.9]3.7電壓暫降（短時(shí)中斷）持續(xù)時(shí)間durationofvoltagedip（shortinterruption）達(dá)到電壓暫降（短時(shí)中斷）閾值的電壓暫降（短時(shí)中斷）事件的持續(xù)時(shí)間。[GB/T30137—2013，定義3.4]3.8相位跳變phase-anglejumps電壓和（或）電流波形在時(shí)間軸上的進(jìn)程突然發(fā)生的變化。[GB/T32507—2016，定義2.8.7]3.9暫降起始角point-on-waveofdipinitiation暫降發(fā)生時(shí)刻電壓的相位。3.10多重暫降multipledipevents;dipsequences13.11波形畸變distortion（1）2）3）4）5）[GB/T32507—2016，定義2.6.1]3.12矩形暫降rectangulardip333.13非矩形暫降non-rectangulardip不被視為矩形暫降的電壓暫降事件。3.14三相對(duì)稱暫降balanceddip三相殘余電壓幅值相等，相位相差120°的電壓暫降。3.15三相不對(duì)稱暫降unbalanceddip三相殘余電壓幅值不相等或相位相差不等于120°的電壓暫降。3.16單相設(shè)備single-phaseequipment[GB/T32507—20162.1.34]注：本標(biāo)準(zhǔn)不涉及連接到相線與相線之間的單相設(shè)備。3.17three-phaseequipment32507—20162.1.36]3.18故障malfunction設(shè)備執(zhí)行預(yù)定功能的能力終止，或設(shè)備執(zhí)行非預(yù)定功能。[GB/T17626.34－2012，定義3.6]受試設(shè)備條件包括受試設(shè)備的運(yùn)行條件和工作狀態(tài)等，可用如下指標(biāo)描述：——電動(dòng)機(jī)的負(fù)載率；——照明設(shè)備的光照度；——CPU的利用率；——電梯的行進(jìn)方向。注：鑒于受試設(shè)備類型多、性能差異性大，受試設(shè)備的運(yùn)行條件需結(jié)合設(shè)備制造商規(guī)定進(jìn)行定義。電源條件宜包括以下設(shè)置和輸出功能：44——暫降起始角；——非矩形暫降。GB/T17626.34—2012第9GB/T17799.1—2017第性能判據(jù)A性能判據(jù)B性能判據(jù)C允許暫時(shí)喪失功能，只要這種功能可自行恢復(fù)或者可以通過操作控制器來恢復(fù)。注：鑒于受試設(shè)備類型多、性能差異性大，受試設(shè)備性能判據(jù)可結(jié)合設(shè)備制造商規(guī)定進(jìn)行定義。電壓暫降發(fā)生器用于產(chǎn)生滿足第4章所述各類電源特性的測(cè)試電壓，其性能和特征應(yīng)滿足GB/T17626.34—2012中第6章對(duì)測(cè)試設(shè)備要求。當(dāng)用于三相設(shè)備電壓測(cè)試時(shí)，電壓暫降發(fā)生器應(yīng)滿足以下要求：支持附錄A75510kHz；12bit測(cè)試布置如圖1所示。為盡可能減小對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，建議采用設(shè)備制造商規(guī)定的、盡可能短的電纜。如無電纜長度規(guī)定，則應(yīng)是適合于受試設(shè)備所用的最短電纜。電纜電壓互感器電壓暫降發(fā)生器電流互電纜電壓互感器電壓暫降發(fā)生器電流互感器受試設(shè)備數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)單相設(shè)備的測(cè)試內(nèi)容如下：20-30°～30°，測(cè)試步長為5°。090°0°～360450%、20%、40%50%、70%、、90%90%～0%10%1三相設(shè)備的測(cè)試內(nèi)容如下：（同序列的測(cè)試，即A-N，B-N，C-N，A-B，B-CA-CA-B，B-C和A-CIEEEStd1668IIIA66IEEEStd1668GB/T17626.11GB/T17626.347.1注1：本標(biāo)準(zhǔn)所有測(cè)試均在矩形暫降下完成。條件允許時(shí)，測(cè)試可包含波形畸變、多重暫降、非矩形暫降和電網(wǎng)電壓波動(dòng)等情況。注2：短時(shí)中斷的測(cè)試內(nèi)容與電壓暫降相同。在測(cè)試準(zhǔn)備完成后，完成測(cè)試接線。按照下列流程實(shí)施測(cè)試：c),d97c),d),e7c),d),e),f單相設(shè)備的詳細(xì)測(cè)試流程圖見附錄B.1，三相設(shè)備的詳細(xì)測(cè)試流程圖見附錄B.2。以持續(xù)時(shí)間為橫坐標(biāo)，殘余電壓為縱坐標(biāo)構(gòu)成一個(gè)二維平面。77（8.2中給出的c),d),e8.2圖2一簇電壓容忍度曲線測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含能重現(xiàn)的全部測(cè)試信息，應(yīng)包括但不限于下列內(nèi)容：——受試設(shè)備樣品名稱；——型號(hào)或規(guī)格；——額定技術(shù)參數(shù)（如：額定電壓、電流、頻率、三相/單相等）；——任何進(jìn)行測(cè)試的專門環(huán)境條件（如有）?！獪y(cè)試數(shù)據(jù)記錄或報(bào)告編制人員；——測(cè)量范圍及精度；——檢定日期。88——依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、項(xiàng)目及條款號(hào)；——受試設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)；——測(cè)試中和測(cè)試后的受試設(shè)備輸入電壓和電流波形；——電壓暫降類型；——相位跳變；——暫降起始角；）：——確保測(cè)試進(jìn)行的任何特定條件；——影響測(cè)試結(jié)果的特殊說明；——關(guān)鍵測(cè)試數(shù)據(jù)的不確定度分析。測(cè)試報(bào)告模板參見附錄C，數(shù)據(jù)格式參見附錄D。99附錄A（）IEEEStd16681kV表A.1EX表A.1IEEE類型向量圖表達(dá)式I型X V1E1jE32 2V1E1jE32 2II型（IEC的3c型）E V1E1jX32 2V1E1jX32 2II.A1型（IEC的3b型）E V1E1jE32 2V1E1j(2XE)32 2II.A2型（IEC的3d型）E V1X1jX32 2V1X1jX 32 2III型VXV1X1jX32 2V1X1jX 32 21010附錄B（規(guī)范性附錄）測(cè)試流程開始設(shè)定受試設(shè)備條件單相設(shè)備測(cè)試流程如圖B.1所示。開始設(shè)定受試設(shè)備條件測(cè)試測(cè)試Y是否通過性能判據(jù)？按相應(yīng)步長增大持續(xù)時(shí)間TNN已測(cè)試所有殘余電壓？Y已測(cè)試所有暫降起始角？NYN已測(cè)試所有相位跳變？Y已測(cè)試所有受試設(shè)備條件？NY結(jié)束記錄波形和數(shù)據(jù)設(shè)定持續(xù)時(shí)間T=10ms設(shè)定殘余電壓U=0%設(shè)定暫降起始角PoW=0°改變相位跳變PS改變暫降起始角PoW改變殘余電壓U設(shè)定相位跳變PS=0°改變受試設(shè)備條件擬合VTC圖B.1單相設(shè)備測(cè)試流程1111開始設(shè)定受試設(shè)備條件開始設(shè)定受試設(shè)備條件測(cè)試測(cè)試N是否通過判斷標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間TYN已測(cè)試所有殘余電壓Y已測(cè)試所有暫降起始角NYN已測(cè)試所有相位跳變Y已測(cè)試所有電壓諧波組合NYN已測(cè)試所有暫降類型Y已測(cè)試所有受試設(shè)備條件NY結(jié)束擬合VTC記錄波形和數(shù)據(jù)設(shè)定持續(xù)時(shí)間T=10ms設(shè)定殘余電壓U=0%設(shè)定暫降起始角PoW=0°設(shè)定相位跳變PS=0°設(shè)定電壓諧波THD=0%設(shè)定電壓暫降類型改變受試設(shè)備條件改變暫降類型改變電壓諧波THD及組合改變相位跳變PS改變暫降起始角PoW改變殘余電壓U圖B.2三相設(shè)備測(cè)試流程1212附錄C（資料性附錄）測(cè)試報(bào)告模板測(cè)試報(bào)告模版的封面如圖C.1所示。圖C.1測(cè)試報(bào)告封面1313測(cè)試報(bào)告模版內(nèi)頁如圖C.2所示。圖C.2測(cè)試報(bào)告內(nèi)頁1414附錄D（）測(cè)試數(shù)據(jù)建議采用如下定義方式：——30——30——30——30——出廠日期：時(shí)間類型；——額定參數(shù)：字符串類型，長度不超過100字符，包含額定功率、額定電壓等；——單相