2024年射線材料(三級)知識(shí)競賽筆試歷年真題薈萃含答案

2024年射線材料(三級)知識(shí)競賽筆試歷年真題薈萃含答案（圖片大小可自由調(diào)整）答案解析附后卷I一.參考題庫(共25題)1.指出小口徑管對接焊縫射線照相缺陷檢出的不利因素，并提出改進(jìn)措施。2.實(shí)驗(yàn)證明，焊縫余高和母材區(qū)的散射比是不一致的，一般來說，余高中心部位的散射比大于母材區(qū)的散射比。3.散亂射線是怎樣產(chǎn)生的？它對底片有何影響？透照時(shí)如何遮擋？4.為使像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到最佳值，透照余高磨平的焊縫宜選擇黑度約為（）的攝片條件；透照有余高的焊縫時(shí)，宜選擇母材黑度約（），焊縫黑度約（）的攝片條件。5.采用換算的方法，可將某種材料制作的像質(zhì)計(jì)用于不同吸收系數(shù)的材料透照時(shí)的像質(zhì)評價(jià)。6.什么是偽缺陷？簡述底片上偽缺陷的來源。7.不同劑量的照射對人體的損傷：D≤（）的一次照射時(shí)，無明顯病理變化；D≈（）時(shí)，出現(xiàn)一時(shí)性血象變化；D≥（）時(shí)，會(huì)引起急性放射病。8.在進(jìn)行焊縫射線照相時(shí)，線型透度計(jì)一般是放置在鋼板上面。9.產(chǎn)生給定膠片密度所需要的倫琴數(shù)隨射線能量的增加而（）；射線能量高到一定數(shù)值，上述倫琴數(shù)（），這就是所謂射線膠片的光譜靈敏度。10.放射性同位素衰變過程中的輻射有哪幾種形式？11.X、γ射線具有哪些主要特征？12.固有不清晰度大小與哪些因素有關(guān)？13.鉛箔增感屏前屏起（）、（）作用，后屏主要起（）作用。14.在射線底片上呈現(xiàn)較大面積的樹枝形影像是（）。15.對于相同物體，易于透過的X射線其線質(zhì)軟，硬X射線比軟X射線的波長長，衰減系數(shù)大，半值層薄。16.153Gd（釓153）的半衰期是242天。17.個(gè)人劑量筆給出的是（）值。18.中子探傷設(shè)備包括哪幾部分？19.最新的第二代75Seγ射線源有些什么特點(diǎn)？20.通常把膠片本身引起的不清晰度稱為膠片不清晰度或固有不清晰度。21.以玻殼X射線管為例說明其結(jié)構(gòu)各部分名稱及主要作用。22.60Co和192Ir的射線輸出分別為（）R/m·h·ci和（）R/m·h·ci；60Co和192Irγ射線的能譜線分別為（）根和至少（）根。23.試述底片影象顆粒度及影響因素。24.底片上焊縫中心部位出現(xiàn)的長度和寬度不等的連續(xù)或間斷的長條形黑色影像很可能是未焊透（熔入不足）。25.對于實(shí)用的X射線，為了要用半值層公式，應(yīng)以什么波長為計(jì)算半值層厚度的基準(zhǔn)？卷II一.參考題庫(共25題)1.焦距對射線檢驗(yàn)的靈敏度有何影響？2.用于狹窄部位攝片的X射線管陽極是什么樣的？3.射線照相靈敏度是射線照相（）和（）兩大因素的綜合結(jié)果。4.工業(yè)CT的全稱是什么？5.X射線熒光屏法的優(yōu)缺點(diǎn)是什么？6.對不同種類的放射性同位素，高活度的同位素總是比低活度的同位素具有更高的輻射水平。7.熒光增感屏經(jīng)常受到強(qiáng)光照射或紫外線照射后，會(huì)導(dǎo)致顏色改變和喪失一些光澤。8.定影液使用一段時(shí)間后，由于定影液成分被揮發(fā)，導(dǎo)致定影效果下降。9.同位素源輻射出的伽瑪射線能量用（）來度量，X射線機(jī)輻射出X射線的能量用（）來度量。10.一放射性同位素放出的γ射線穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射線機(jī)的穿透力，這種關(guān)系稱作該同位素的當(dāng)量能。11.進(jìn)行γ射線探傷作業(yè)時(shí)，必須考慮γ射線探傷機(jī)和被檢物體的距離、照射方向、時(shí)間和屏蔽條件，以保證作業(yè)人員的受照劑量低于年劑量限值，并應(yīng)達(dá)到可以合理做到的盡可能低的水平。12.直接電離輻射通常是指陰極射線，（）射線，（）射線和（）射線，間接電離輻射是指（）射線，（）射線和（）射線13.定影液使用一段時(shí)間后，由于定影液中可溶解的銀鹽濃度增加，導(dǎo)致定影效果下降。14.膠片的增感因子在40-400KV之間的變化情況是隨著電壓增大，增感因子變小。15.直線加速器的優(yōu)點(diǎn)是（）和（），回旋加速器的優(yōu)點(diǎn)是（）。16.像質(zhì)計(jì)是用來鑒定照相技術(shù)和膠片處理質(zhì)量的器件。17.管電壓越高，X光管中飛向靶金屬的電子速度就越大，射線的輻射能量就越高。18.可用于2～10mm薄壁管透照的一種γ射線新源是（），其半衰期為（）天，射線輸出為（）mR/h·ci。19.在射線檢測中應(yīng)用的X射線、伽瑪射線、中子射線，從本質(zhì)上來說都屬于電磁波。20.底片上焊縫中心部位出現(xiàn)的長度和寬度不等的連續(xù)或間斷的長條形黑色影像很可能是裂紋。21.單色窄束射線的半價(jià)層厚度約為1/10價(jià)層厚度的（）倍；若已知線衰減系數(shù)μ，則1/10價(jià)層厚度為（）。22.用于射線照相法檢驗(yàn)的X和γ射線，它們之間的差別僅在于X射線是高速電子韌致的輻射產(chǎn)物，γ射線是放射性物質(zhì)原子核裂變的輻射產(chǎn)物。23.觀察底片時(shí)，要注意辨別膠片暗盒背面圖像重疊在試樣的圖像上，因?yàn)樗芸赡苁且驗(yàn)楸成⑸涞脑蛟斐傻摹?4.60Co放出的γ射線平均能為（），相當(dāng)于（）X射線穿透力，192Ir放出的γ射線平均能為（），相當(dāng)于（）X射線穿透力25.X射線機(jī)要求什么樣的絕緣油，有哪些具體要求？卷III一.參考題庫(共25題)1.用強(qiáng)光觀察高黑度的底片時(shí)，由于界限識(shí)別對比度△Dmin增大，從而擴(kuò)大了可識(shí)別的黑度范圍。2.對電子加速器產(chǎn)生的Χ射線束，不宜用（）或重過濾材料，因在（）MeV時(shí)，其質(zhì)量衰減系數(shù)有一最低值。3.當(dāng)單色窄束X射線通過厚度為d的物質(zhì)后，表示射線強(qiáng)度衰減規(guī)律的公式為：（）。4.表達(dá)式：（毫安x時(shí)間）/距離平方，稱之為照相的對比度。5.X射線檢測法不適用于混凝土結(jié)構(gòu)件。6.新購置或長期停用的X光機(jī)使用前要進(jìn)行“訓(xùn)練”，這是為了排除冷卻油中的氣泡，提高冷卻油的絕緣性能。7.底片對比度與（）和（）有關(guān)。8.X射線管的種類中，有一種旋轉(zhuǎn)式陽極，它是怎樣的？9.用相同條件透照同一容器的環(huán)焊縫，采用外照法（）比內(nèi)照法（）對橫向裂紋的檢出率要（），而對單面焊根部裂紋和未焊透（）的檢出率要（）。10.活度為1居里的銥192，距離它1米處在無遮擋、無吸收的條件下，其一次射線的照射量率為（）倫琴/小時(shí)。11.裝在暗盒內(nèi)而未經(jīng)曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是受到散射線照射。12.高能X射線比低能X射線更易于使膠片感光。13.射線膠片產(chǎn)生一定黑度所需要的照射量（即倫琴數(shù)）與射線線質(zhì)無關(guān)。14.閃爍計(jì)數(shù)器型的輻射儀，是由鉈活化的碘化鈉單晶、光電倍增管和電子電路構(gòu)成。15.照射量只反映X或γ射線對空氣中的電離本領(lǐng)，而吸收劑量可反映不同性質(zhì)的物質(zhì)吸收輻射能量的程度。16.新的或長期停止使用的X光機(jī)，使用前要對X光管進(jìn)行“訓(xùn)練”，其目的是為了提高X光管的真空度。17.含氫元素的物質(zhì)對中子射線有較強(qiáng)的衰減作用。18.按照信息論，空間頻率f即每毫米黑白線對是指（），而影像噪聲是指（）。19.當(dāng)X射線通過三個(gè)半價(jià)層后，其強(qiáng)度僅剩初始的1/8。20.在某一密度D時(shí)的膠片襯度用下式表示：G0=（）；在兩特定密度之間，膠片的平均襯度可表示為G=（）。21.射線照相的幾何不清晰度Ug與焦點(diǎn)的大小成反比，與射線源到工件表面的距離成正比。22.射線照像質(zhì)量等級是根據(jù)射線源（能量），膠片和增感屏的不同組合來劃分的。23.一鑄件厚度為1.25英寸，射線底片上顯示出ASTM20#像質(zhì)計(jì)的2T孔，則該底片的當(dāng)量靈敏度為（）。24.確定膠片密度和膠片速度的方法是利用特性曲線進(jìn)行比較。25.輻射劑量儀可分為（）和（）兩部分。卷I參考答案一.參考題庫1.參考答案: 小口徑管焊縫射線照相采用雙壁雙影法透照，對缺陷檢出的不利因素和改進(jìn)措施有以下幾點(diǎn)： （1）雙壁雙影法透照時(shí)，由于射源側(cè)焊縫比膠片側(cè)焊縫離開膠片的距離相差一個(gè)管子直徑，故射線源尺寸的幾何影響較大，使幾何模糊度增加，小缺陷對比度降低，為減小射源尺寸對幾何模糊度和對比度的影響，可選擇焦點(diǎn)尺寸小的射線源，適當(dāng)增大焦距。 （2）透照小口徑管時(shí)射線的穿透厚度自中心向兩端變化很大，易導(dǎo)致底片上中心部位黑度過大，邊緣部位黑度過小，為減少被檢區(qū)域不同部位的黑度差，宜適當(dāng)提高射線能量，采用“高電壓，短時(shí)間”的透照工藝。 （3）由于管子直徑較小，散射線引起“邊蝕”效應(yīng)比較嚴(yán)重。相應(yīng)的措施是在射線機(jī)窗口處加濾板，或采用鉛罩屏蔽焊縫以外部分，以減少“邊蝕”。 （4）雙壁雙影透照時(shí)，焊縫被傾斜投影到膠片上，缺陷影像會(huì)發(fā)生畸變。為減少畸變，應(yīng)控制透照角度和橢圓開口間距，間距一般為3～10mm，最大不超過15mm。2.參考答案:正確3.參考答案:散亂射線是由射線與物質(zhì)作用而產(chǎn)生的，如果來自工件內(nèi)部，處于膠片前方，稱為前方散射線，射線透過工件和膠片后打到地板、墻壁上等，均會(huì)產(chǎn)生散亂射線，由于它來自膠片背面，故稱背面散亂射線（包括側(cè)壁散亂射線）；散亂射線使底片產(chǎn)生附加黑度，嚴(yán)重時(shí)全部變黑，影響底片的對比度和清晰度，降低底片的靈敏度；遮擋的方法有：采用限光器（準(zhǔn)直器）或采用鉛板在射線源側(cè)遮擋膠片附近不需透照的部位，從而減少散亂射線對底片的影響；采用金屬增感屏，前屏吸收一部分前方散亂射線，后屏減少背面散亂射線的影響；透照較厚工件時(shí)，暗盒后面用薄鉛板（鉛墊板）遮擋背面散亂射線；被透照工件周圍盡可能保障有一定的空間，避免存放與透照無關(guān)的雜物以避免側(cè)壁散亂射線影響。4.參考答案:2.5；3.0～3.5；1.5～2.05.參考答案:正確6.參考答案: 由于膠片本身質(zhì)量、膠片保管、剪切、裝取、暗室操作處理不當(dāng)，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨別的影像，但并非是被檢驗(yàn)工件缺陷在底片上留下的影像，稱之為偽缺陷。 偽缺陷的來源包括機(jī)械損傷或表面附著物形成（如指紋、折痕、劃傷、水印等），或者是由化學(xué)作用形成（如漏光、感光、藥物玷污等），大致上可以分為來源于膠片本身的制造質(zhì)量與儲(chǔ)運(yùn)、保管，來源于增感屏制造質(zhì)量及損傷導(dǎo)致的增感不均勻或受過可見光線照射過的熒光增感屏的受激熒光影響等，來源于膠片裁切、包裝、照相及沖洗過程中的漏光、手印、靜電、劃傷或局部折傷等；來源于暗室處理中的玷污、處理不均勻、水跡、指紋、氣泡、藥水老化失效、操作程序不當(dāng)?shù)鹊取?.參考答案:0.25Gy；0.5Gy；1Gy8.參考答案:錯(cuò)誤9.參考答案:增加；基本不變10.參考答案: 放射性同位素的衰變幅射主要有以下幾種形式： （1）僅幅射α粒子 （2）僅幅射β粒子， （3）既幅射α粒子又幅射γ射線 （4）既幅射β粒子又幅射γ射線11.參考答案:直線傳播的電磁波，速度為光速；不受電磁場的影響；能使膠片感光；能使物質(zhì)電離；能透過可見光不能透過的物質(zhì)；具有反射、折射、衍射、干涉等波的性質(zhì)；有生物效應(yīng)。12.參考答案: 固有不清晰度大小受以下因素影響： （1）射線的質(zhì)。透照射線的光子能量越高，激發(fā)的電子在乳劑層中的行程就越長，固有不清晰度也就越大。 （2）增感屏。據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道：在中低能量射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用鉛增感屏的底片；增感屏厚度增加也會(huì)引起固有不清晰度增大；在γ射線和高能量Χ射線照相中，使用銅屏、鉭屏、鎢屏、鋼屏的固有不清晰度均小于鉛屏。 （3）屏與膠片貼緊程度。透照時(shí)，如暗盒內(nèi)增感屏和膠片貼合不緊，會(huì)使固有不清晰度增大。為改善屏與膠片貼合情況，提出使用一種真空暗盒。 固有不清晰度與膠片的類型和粒度無關(guān)，與暗室處理?xiàng)l件無關(guān)。13.參考答案:增感；吸收軟射線；吸收散射線14.參考答案:靜電感光15.參考答案:錯(cuò)誤16.參考答案:正確17.參考答案:射線劑量累計(jì)照射率18.參考答案:中子探傷設(shè)備包括中子源、慢化劑、準(zhǔn)直器和像探測器。19.參考答案:是在反應(yīng)堆中激活的具有熱穩(wěn)定性的金屬硒化物，焦點(diǎn)呈準(zhǔn)球形，和其他射源相比，在相同活度下其焦點(diǎn)尺寸更小，更適用于小焦距曝光、管道爬行器和接觸式射線照相，影像幾何不清晰度小，是γ射線透照中等厚度（5-40mm鋼），獲取較高影像質(zhì)量的一種新型同位素射源，較銥192和釔169源的半衰期長（118天），與銥192相比，其發(fā)射能譜較軟，γ射線照射率常數(shù)較小，設(shè)定輻射防護(hù)禁區(qū)較小，對操作者安全等。20.參考答案:正確21.參考答案: 玻殼X射線管的內(nèi)部構(gòu)造主要包括七個(gè)部分，即： 鉛玻璃罩-保持X射線管內(nèi)的真空度，吸收軟射線； 陽極罩-吸收二次電子和軟射線； 陽極體-支撐陽極靶和散熱； 陰極頭-聚焦電子； 燈絲-產(chǎn)生熱電子； 陽極靶-發(fā)射X射線； 鈹窗-吸收軟射線。22.參考答案:1.3；0.5；2；2423.參考答案: 底片影像是由許多形狀大小不一的顆粒組成的，人們觀察影像時(shí)在感覺上產(chǎn)生的不均一或不均勻的印象稱為顆粒性，用儀器測定由于影像不均勻引起的透射光強(qiáng)變化，其測定結(jié)果稱為顆粒度。由于顆粒大小的分布是隨機(jī)的，所以顆粒度一般是采用均方根離差σ來度量。目前較通用的方法是用直徑24μm的掃描孔測定顆粒度。肉眼所觀察到的顆粒團(tuán)實(shí)際上是許多顆粒交互重迭生成的影像。影像顆粒與膠片鹵化銀顆粒是不同的概念，影像顆粒大小取決于以下因素： ①膠片鹵化銀粒度； ②曝光光子能量； ③顯影條件。24.參考答案:正確25.參考答案:在管電壓一定時(shí)，X射線強(qiáng)度最大所對應(yīng)的波長為計(jì)算基準(zhǔn)。卷II參考答案一.參考題庫1.參考答案: 主要表現(xiàn)在四個(gè)方面： ①焦距的大小會(huì)引起缺陷投影的畸變，焦距越小，缺陷投影畸變越大，因此從減小缺陷畸變考慮，選用較大焦距為好； ②焦距的大小會(huì)引起零件沿射線方向厚度的變化，這是由于射線束成圓錐形擴(kuò)散，引起零件邊緣沿射線方向厚度增加，導(dǎo)致零件在底片上的黑度不均勻，用K表示邊緣部位與中間部位沿射線方向的厚度比，即K值越大，零件中間部位與邊緣部位沿射線方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均勻，對射線檢驗(yàn)靈敏度影響越大，選用較大的焦距可有效地減小K值（一般要求K值越小越好，最好不超過1.1），對靈敏度有利； ③焦距大小隊(duì)幾何模糊度的影響，幾何模糊度Ug的存在使缺陷邊緣輪廓模糊，降低了底片的清晰度和缺陷對比度，因此焦距越大則Ug越小，檢驗(yàn)靈敏度越高； ④焦距大小對散射線的影響，焦距增大必然導(dǎo)致曝光量要增加，在管電流一定的情況下只能增加曝光時(shí)間，除了降低工作效率外，也會(huì)使得散射線作用時(shí)間增長而影響底片清晰度，降低了檢驗(yàn)靈敏度。因此，從前三項(xiàng)而言，增大焦距對提高檢驗(yàn)靈敏度有利，但從散射線影響的因素來說，提高焦距對靈敏度是不利的，故在確定焦距參數(shù)時(shí)應(yīng)予以全面綜合考慮，選擇適宜的焦距。2.參考答案:用于狹窄部位攝片的X射線管陽極是棒狀陽極。3.參考答案:清晰度；對比度4.參考答案:工業(yè)CT的全稱是工業(yè)用計(jì)算機(jī)控制層析X射線照相裝置。5.參考答案: 優(yōu)點(diǎn)是：檢驗(yàn)速度快，檢驗(yàn)結(jié)果可即時(shí)性觀察；操作簡單，檢測成本低；無膠片處理過程；可改變照射角度來全面觀察工件內(nèi)部質(zhì)量。 缺點(diǎn)是：檢驗(yàn)結(jié)果較難做全面的永久性記錄；工作人員容易疲勞；檢驗(yàn)靈敏度較低；受穿透力限制，一般只適用于較薄的工件。6.參考答案:正確7.參考答案:正確8.參考答案:錯(cuò)誤9.參考答案:所有輻射能量的平均值；電壓峰值10.參考答案:正確11.參考答案:正確12.參考答案:β；α；質(zhì)子；Χ；γ；中子13.參考答案:正確14.參考答案:錯(cuò)誤15.參考答案:體積??；輸出射線強(qiáng)度大；焦點(diǎn)尺寸小16.參考答案:正確17.參考答案:正確18.參考答案:169Yb；31；1