2024年MSA理論知識考核試題及答案

MSA理論知識考核

一、單選題

1測量系統(tǒng)的變差來源可能是：（）［單選題］*

A、標(biāo)準(zhǔn)或工件

B、儀器或環(huán)境溫度

C、測量人員或程序

D、全部V

2對測量過程研究的目的：（）［單選題］*

A、研究對過程決策的影響

B、研究對產(chǎn)品決策影響

C、研究測量系統(tǒng)的能力

D、全部V

3測量系統(tǒng)的變差可能對哪些決策產(chǎn)能影響：（）［單選題］*

A、產(chǎn)品接收

B、過程調(diào)整

C、生產(chǎn)啟動的驗(yàn)證

D、全部V

4測量時(shí)發(fā)現(xiàn)工件接近了規(guī)范極限，則要：（）［單選題］*

A、對準(zhǔn)過程目標(biāo)，馬上調(diào)整

B、以上次測量的結(jié)果為目標(biāo)進(jìn)行調(diào)整

C、向偏離目標(biāo)相反的方向進(jìn)行調(diào)整

D、除非過程不穩(wěn)定，否則不調(diào)。V

5可靠的GR&R接受準(zhǔn)則是:（）［單選題］*

A、10%V

B、20%

C、30%

D、視情而定。

6分辨力是指（）［單選題］*

A、也叫解析度

B、是儀器上的最小刻度

C、有時(shí)，可以用最小刻度的一半表示

D、全部V

7下列描述正確的是（）［單選題］*

A、購買了最先進(jìn)的測量技術(shù)或設(shè)備便可以對過程作出正確的決策

B、應(yīng)用于對測量系統(tǒng)分析的過程樣件要能代表過程范圍W

C、測量系統(tǒng)的研究可以暫不關(guān)注成本因素

D、全錯(cuò)

8測量系統(tǒng)應(yīng)（）［單選題］*

A、在使用前或定期校準(zhǔn)

B、建立相應(yīng)的校準(zhǔn)方法

C、被維護(hù)

D、全對V

9對"測量生命周期"理解恰當(dāng)?shù)氖牵海ǎ蹎芜x題］*

A、測量方法一旦被確定就不能更改

B、能產(chǎn)生計(jì)量型數(shù)據(jù)的測量就不能用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)替代

C、取決于對過程的理解，對過程理解越深，測量或監(jiān)視的方法越簡單V

D、量具的使用壽命

10對"測量的計(jì)劃階段"描述正確的是：（）［單選題］*

A、在任何情況下，經(jīng)驗(yàn)就是指導(dǎo)方針

B、經(jīng)驗(yàn)對測量系統(tǒng)的策劃是沒有幫助的

C、所有產(chǎn)品和過程特性都使用復(fù)雜的方法來開發(fā)測量系統(tǒng)，如：簡單量具

D、全錯(cuò)V

11通過測量誕生的數(shù)據(jù)類型可以是：（）［單選題］*

A、一定是計(jì)數(shù)型

B、一定是計(jì)量型的

C、可能是計(jì)數(shù)性，也可能是計(jì)量型V

D、全對

12對真值理解正確的是：（）［單選題］*

A、通過測量可以準(zhǔn)確的得到

B、采取統(tǒng)計(jì)的方法可以準(zhǔn)確的得到

C、只有在實(shí)驗(yàn)室里才能得到

D、不可能得到V

13對一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行多次測量計(jì)算出的平均值和在實(shí)驗(yàn)室確定的參考值有偏差，則

偏差叫：（）［單選題］*

A、偏倚V

B、飄移

C、一致性

D、全錯(cuò)

14穩(wěn)定性（）［單選題］*

A、和量程有關(guān)

B、和時(shí)間無關(guān)

C、和偏移有關(guān)，

D、全錯(cuò)

15線性（）［單選題］*

A、和量程有關(guān)V

B、和時(shí)間有關(guān)

C、和偏移無關(guān)

D、全錯(cuò)

16重復(fù)性（）［單選題］*

A、是系統(tǒng)間變差

B、可以理解為設(shè)備變差V

C、可以理解為測量人員變差

D、全部

17再現(xiàn)性（）［單選題］*

A、是系統(tǒng)間變差V

B、是系統(tǒng)內(nèi)變差

C、是設(shè)備變差

D、是和時(shí)間有關(guān)的變差

18關(guān)于“極限樣件”描述正確的：（）［單選題］*

A、.極限樣件可以作為校準(zhǔn)計(jì)數(shù)型測量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)

B、.極限樣件應(yīng)取自于第二區(qū)

C、.極限樣件的制定應(yīng)由具備資格的人員完成，并對其建立管理數(shù)據(jù)。

D、.全對，

19誤報(bào)警指：（）［單選題］*

A、把"合格"判定成"不合格"V

B、把"不合格"判定成"合格"

C、把"不合格"判定成"不合格"

D、全錯(cuò)

20計(jì)數(shù)型測量系統(tǒng)分析---交叉表法中的KAPPA大于多少，可以認(rèn)為一致性可以接受:

（）［單選題］*

A、0.5

B、0.6

C、0.7

D、0.75V

21.MSA主要目的是分析測量系統(tǒng)的變差以及測量系統(tǒng)相對與產(chǎn)品規(guī)范或過程變差的

可接受程度。

對V

錯(cuò)

22.再現(xiàn)性是系統(tǒng)間變差。

對V

錯(cuò)

23.重復(fù)性是系統(tǒng)內(nèi)變差。

對V

錯(cuò)

24.根據(jù)IATF16949標(biāo)準(zhǔn)總的要求控制計(jì)劃中的每一套測量系統(tǒng)都必須實(shí)施測量系統(tǒng)

分析。

對

錯(cuò)M

25.MSA關(guān)注的優(yōu)先級為測量特殊產(chǎn)品特性或特殊過程特性的測量系統(tǒng)。

對V

錯(cuò)

26.測量器具的磨耗可以引起其精密度變差，對精確度為影響。

對

錯(cuò)V

27.在采購測量儀器的的技術(shù)協(xié)議中，應(yīng)該注明測量儀器的驗(yàn)收準(zhǔn)則等。

對V

錯(cuò)

28.計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)對應(yīng)的分布函數(shù)是連續(xù)函數(shù)，可以被分成無限小增量。

對

錯(cuò)V

29.計(jì)量型數(shù)據(jù)對應(yīng)的分布函數(shù)是離散函數(shù)。

對

錯(cuò)V

30.在測量系統(tǒng)用來對過程進(jìn)行監(jiān)視分析時(shí)，十分之一原則指測量系統(tǒng)的分辨力應(yīng)為產(chǎn)

品公差的1/10。

對

錯(cuò)V

31.表征精密度的統(tǒng)計(jì)量可以是標(biāo)準(zhǔn)差，極差。

對V

錯(cuò)

32.表征準(zhǔn)確度的統(tǒng)計(jì)量可以是均值，中位數(shù)。

對V

錯(cuò)

33.在實(shí)施測量系統(tǒng)分析時(shí)，測量工程師要在分析現(xiàn)場做好觀察，并記錄/修正測量過程

中可能存在的影響測量的各類變化，以便啟動改進(jìn)措施，減少測量系統(tǒng)變差的存在。

對V

錯(cuò)

34.在實(shí)施測量系統(tǒng)分析，需要考慮顧客的特定要求，如：某些顧客要求測量Cg/Cgk,

必須滿足顧客要求。

對V

錯(cuò)

35.測量系統(tǒng)分析僅僅發(fā)生在對新產(chǎn)品項(xiàng)目或新過程的初始研究階段，生產(chǎn)啟動后，沒

有必要再實(shí)施研究了。

對

錯(cuò)V

36.以"目視"為主的檢測，由于沒有測量儀器，所以不存在重復(fù)性。

對

錯(cuò)V

37.在實(shí)施測量系統(tǒng)分析時(shí)，在得到顧客許可的情況下，工廠可以開發(fā)并使用自己的分

析方法。

對V

錯(cuò)

38.在實(shí)施測量系統(tǒng)分析時(shí)，建立"標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)"是實(shí)施分析的基本事項(xiàng)之一，一旦建立

可重復(fù)測量的“標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)"，則測量系統(tǒng)各變差分析將變得可行。

對V

錯(cuò)

39.測量系統(tǒng)的構(gòu)成要素可以歸納為SWIPE,即：標(biāo)準(zhǔn)/被測工件/儀器/測量者/測量方

法/環(huán)境。

對V

錯(cuò)

40.一套相對一個(gè)過程可以接收的測量系統(tǒng)，可能相對另一個(gè)過程會變得不可接收。

對V

錯(cuò)

二、填空題

1.測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性是表示測量系統(tǒng)隨（）的偏倚值。

答案：時(shí)間。

2.測量系統(tǒng)的線性是標(biāo)識在量具正常（使用范圍）內(nèi)的（1

答案：偏倚變化量。

3.測量系統(tǒng)的（）通常被稱為測量設(shè)備的變差。

答案：重復(fù)性。

4.測量系統(tǒng)的（）通常被稱為評價(jià)人的變差。

答案：再現(xiàn)性。

5.測量系統(tǒng)應(yīng)處于狀態(tài)意味著在重復(fù)測量條件下，測量系統(tǒng)中的變差只能由

________造成，而不能由特殊原因造成。這種情況可稱之為具有統(tǒng)計(jì)的穩(wěn)定性，并且可以通

過—法最佳地進(jìn)行評價(jià)。

空1答案：統(tǒng)計(jì)受控空2答案：普通原因空3答案：控制圖。

6.測量系統(tǒng)是用來對被測特性______或—的儀器或量具、_、_、_、夾具、軟

件、—環(huán)境和假設(shè)的集合。

空1答案：定量測量空2答案：定性評價(jià)空3答案：標(biāo)準(zhǔn)空4答案：操作空5答案：

方法空6答案：人員。

7.測量過程的分別有、_、___五個(gè)輸入要素，輸出則為

空1答案：操作者空2答案：器具空3答案：產(chǎn)品空4答案：測量方法空5答案：環(huán)

境空6答案：測量值。

8.數(shù)據(jù)的類型分為_____數(shù)據(jù)和_________數(shù)據(jù)。

空1答案：計(jì)量型空2答案：計(jì)數(shù)型。

9.MSA評審的二個(gè)階段分別為階段和階段［填空題］*

空1答案：分析空2答案：改進(jìn)。

10線性是測量系統(tǒng)預(yù)期操作范圍內(nèi)()誤差值的差別。

答案：偏倚。

11.如果一個(gè)測量系統(tǒng)用于過程控制,其變異性通常與_____進(jìn)行比較，如果用于產(chǎn)

品檢驗(yàn)，其變異性通常與_______進(jìn)行比較。

空1答案：變差空2答案：公差。

12.測量數(shù)據(jù)的用途之一是用于分析生產(chǎn)過程，判斷生產(chǎn)過程是否()。

答案：統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定。

13.進(jìn)行測量系統(tǒng)分析時(shí)應(yīng)給樣品標(biāo)上()，否則，會帶入零件內(nèi)變差(如推度、圓度的

影響X

答案：測量位置。

14.分辨力又稱最小()，它是量具設(shè)計(jì)的一個(gè)固有特性，并作為測量或分級的單位被報(bào)

告。

答案：讀數(shù)單位。

16.偏倚是指測量的觀測平均值(在可重復(fù)條件下的一組試驗(yàn))和()之間的差值。

答案：基準(zhǔn)值。

測驗(yàn)

L以下哪種原因可能導(dǎo)致測量結(jié)果的誤差［多選題］*

A、儀器和夾具間的差異V

B、使用人員的差異V

C、環(huán)境所造成的差異V

D、使用方法所造成差異V

2.位置誤差通常是通過分析來確認(rèn)［多選題］*

A、偏倚V

B、重復(fù)性

C、穩(wěn)定性V

D、再現(xiàn)性

E、線性V

3.以下描述錯(cuò)誤的是［單選題］*

A、零件的真值永遠(yuǎn)無法得到，只能無限與之接近

B、數(shù)顯卡尺的準(zhǔn)確度是0.02mmV

C、產(chǎn)品控制理論關(guān)注的是零件是否在指定的范圍內(nèi)

D、過程控制理論關(guān)注的是過程變差是否穩(wěn)定并可接受

4.以下公式錯(cuò)誤的是［單選題］*

A、測量誤差=測量值-真值（或約定真值）

B、TV（總變差）2=EV（測量設(shè)備的變差）2+PV（零件的變差）2V

C、GRR（測量系統(tǒng)變差）2=EV（測量設(shè)備的變差）2+AV（評價(jià)人的變差）2

D、ndc（區(qū)別分類數(shù)）=1.41*（PV/GRR\生產(chǎn)開始初期

5.測量儀器分辨力的第一準(zhǔn)則應(yīng)該至少是［單選題］*

A、公差的1/5

B、公差的1/10V

C、過程變差的1/5

D、過程變差的1/10

6.R&R=［單選題］*

A、EV+AV

B、EV2+AV2

C、EV2+AVV

D、(EV+AV)2

7.偏倚分析結(jié)果可否與以下因素相關(guān)［多選題］*

A、標(biāo)準(zhǔn)值(參考值)V

B、實(shí)測值平均值V

C、實(shí)測值標(biāo)準(zhǔn)差V

D、測量特性的公差

8.破壞性測量系統(tǒng)的分析可通過穩(wěn)定過程的大量取樣來進(jìn)行，其原理，其中若控制圖出

現(xiàn)失控，說明［單選題］*

A、過程不穩(wěn)定

B、測量系統(tǒng)異常V

C、過程和測量系統(tǒng)均異常

D、過程和測量系統(tǒng)均正常

9Cgk分析結(jié)果與以下哪些因素呈反比例關(guān)系［多選題］*

A、|偏倚|V

B、實(shí)測值平均值