GB-T 2423 2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫2001-11-02發(fā)布2002-06-01實(shí)施IGB/T2423.2—2001 NIEC序言 N試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)的歷史概況 N試驗(yàn)A:低溫與試驗(yàn)B:高溫下標(biāo)字母之間的關(guān)系 V 第一篇試驗(yàn)Ba:非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn) 32一般說明 43試驗(yàn)設(shè)備的說明 44嚴(yán)酷等級(jí) 45預(yù)處理 46初始檢測(cè) 57條件試驗(yàn) 58中間檢測(cè) 59恢復(fù) 10最后檢測(cè) 511相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息 5第二篇試驗(yàn)Bb:非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn) 13一般說明 614試驗(yàn)設(shè)備的說明 15嚴(yán)酷等級(jí) 16預(yù)處理 717初始檢測(cè) 718條件試驗(yàn) 19中間檢測(cè) 20恢復(fù) 821最后檢測(cè) 822相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息 8ⅡGB/T2423.2—2001第三篇試驗(yàn)Bc:散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn)23目的 824一般說明 825試驗(yàn)設(shè)備的說明 26嚴(yán)酷等級(jí) 927預(yù)處理 28初始檢測(cè) 29條件試驗(yàn) 30中間檢測(cè) 31恢復(fù) 32最后檢測(cè) 33相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息 第四篇試驗(yàn)Bd:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn) 35一般說明 36試驗(yàn)設(shè)備的說明 37嚴(yán)酷等級(jí) 38預(yù)處理 39初始檢測(cè) 40條件試驗(yàn) 41中間檢測(cè) 42恢復(fù) 43最后檢測(cè) 44相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息 附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)試驗(yàn)樣品的體積 附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)環(huán)境溫度校正計(jì)算圖 附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)試驗(yàn)Bd方法A有強(qiáng)迫空氣循環(huán)試驗(yàn)溫度狀態(tài)的圖示 附錄D(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)試驗(yàn)Bc和試驗(yàn)Bd方法B有強(qiáng)迫空氣循環(huán)試驗(yàn)溫度狀態(tài)的圖示 附錄E(提示的附錄)試驗(yàn)Bd(40.1.2)中方法A簡(jiǎn)要流程圖 附錄F(提示的附錄)試驗(yàn)Bc(29.1.2)和試驗(yàn)Bd(40.1.2)中方法B簡(jiǎn)要流程圖 Ⅲ本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)IEC60068-2-2:1974《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》及其修正件1:1993、修正件2:1994。修正件在下列文件中可找到：標(biāo)準(zhǔn)草案投票報(bào)告50B(中央辦公室)33250B(中央辦公室)33650B(中央辦公室)34050B(中央辦公室)344本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)GB/T2423.2—1989的修訂。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T2423.2—1989主要有下列差異：為與GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法系列標(biāo)準(zhǔn)的名稱協(xié)調(diào)一致，本標(biāo)準(zhǔn)名稱為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》。GB/T2423.2—1989《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》是等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-2《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫》(1974年版)及其第一次補(bǔ)充文件IEC60068-2-2A(1978)。在編寫格式與表達(dá)方式上與IEC60068-2-2:1974相差甚大，將標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容簡(jiǎn)化分成10章，并把有關(guān)圖表、附錄刪去。而本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、文本結(jié)構(gòu)和措辭、編寫方法和順序等方面與IEC60068-2-2:1974相同。有關(guān)引用標(biāo)準(zhǔn)信息，在本標(biāo)準(zhǔn)中也隨版本的更新而作了相應(yīng)修改。根據(jù)GB/T1.1—1993《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1單元：標(biāo)準(zhǔn)的起草與表達(dá)規(guī)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)編寫的基本規(guī)定》中關(guān)于等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)規(guī)定，本標(biāo)準(zhǔn)在編寫格式上僅對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)作個(gè)別編輯性修本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法系列標(biāo)準(zhǔn)之一，本標(biāo)準(zhǔn)涉及到的與IEC出版物相對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988)GB/T2422—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(eqvIEC60068-5-2:1990)GB/T2424—1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(eqvIEC60068-3-1:1974)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄E、附錄F為提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)從實(shí)施之日起，同時(shí)代替GB/T2423.2—1989。1)IEC關(guān)于技術(shù)事項(xiàng)的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對(duì)該問題有特殊興趣的所有國(guó)家委員會(huì)派代表參加的技術(shù)委員會(huì)制定的，它盡可能地表達(dá)國(guó)際上對(duì)所討論問題的一致意見。2)這些決議或協(xié)議以推薦形式供國(guó)際上使用，并在此意義上為各國(guó)委員會(huì)所接受。3)為了促進(jìn)國(guó)際間的統(tǒng)一性，IEC希望所有國(guó)家委員會(huì)，在其國(guó)家條件允許的范圍內(nèi)采用IEC推薦標(biāo)準(zhǔn)的正文形式為國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)形式。在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與IEC標(biāo)準(zhǔn)之間存在任何不一致時(shí)，要盡可能在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中明確指出。本標(biāo)準(zhǔn)由IECTC50環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)委員會(huì)50B氣候分技術(shù)委員會(huì)制定。目前所采用的版本是試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)第三版(1966),其中增加了試驗(yàn)Bc:散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn)和試驗(yàn)Bd:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn)。第一草案是在1970年華盛頓會(huì)議上進(jìn)行討論的，根據(jù)會(huì)議結(jié)果，擬訂了第二草案50B(中央辦公室)159,并于1971年二月按“六月法”提交給各國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)以尋求批準(zhǔn)。修正件50B(中央辦公室)168于1972年六月按“二月法”提交給各國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)以獲得批準(zhǔn)。以下國(guó)家明確表示對(duì)出版物的贊同意見：法國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)提交的否決意見不是對(duì)文件中的技術(shù)內(nèi)容有異議，而是因?yàn)樗麄冋J(rèn)為在1971年50B分技術(shù)委員會(huì)列寧格勒會(huì)議上大多數(shù)國(guó)家委員會(huì)要求的提交形式過于復(fù)雜。法國(guó)國(guó)家委員會(huì)要求這一否決投票及其原因應(yīng)記錄在案。美國(guó)贊成試驗(yàn)Ba和試驗(yàn)Bb,但不接受試驗(yàn)Bc和試驗(yàn)Bd,因?yàn)樗麄儍A向于采用有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)條件，并希望此意見記錄在案。這些建議可在IEC60068-1基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程，第一部分總則以及IEC60068-3-1,基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程，第三部分背景資料，第一章：低溫試驗(yàn)和高溫試驗(yàn)中找到。試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)的歷史概況第一版(1954)僅包含一個(gè)程序試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)，關(guān)于溫度突變。第二版(1960)等同于上述的試驗(yàn)B;但標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)溫度范圍擴(kuò)大到200C。第三版(1966)——試驗(yàn)Ba,等同于上述的試驗(yàn)B;但標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)溫度范圍擴(kuò)大到1000C;INV——試驗(yàn)Bb,關(guān)于溫度漸變的新方法。第四版(1974)——試驗(yàn)Ba,等同于上述的試驗(yàn)Ba;——試驗(yàn)Bb,等同于上述的試驗(yàn)Bb;——試驗(yàn)Bc,關(guān)于散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的新方法；——試驗(yàn)Bd,關(guān)于散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的新方法。與此直接有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)見：GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988)GB/T2424.1—1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(eqvIEC60068-3-1:1974及IEC60068-3-1A:1978)試驗(yàn)A:低溫與試驗(yàn)B:高溫下標(biāo)字母之間的關(guān)系試驗(yàn)A:低溫與試驗(yàn)B:高溫下標(biāo)字母之間的關(guān)系，見下表：下標(biāo)字母試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品試驗(yàn)樣品溫度變化試驗(yàn)開始時(shí)的樣品溫度試驗(yàn)樣品試驗(yàn)樣品溫度變化試驗(yàn)開始時(shí)的樣品溫度abcd非散熱非散熱—散熱突變漸變—漸變穩(wěn)定穩(wěn)定—穩(wěn)定非散熱非散熱散熱散熱突變漸變突變漸變穩(wěn)定穩(wěn)定穩(wěn)定穩(wěn)定*在試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間開始之前，試驗(yàn)樣品通常要達(dá)到溫度穩(wěn)定。在特殊情況下，則不是這樣，就需要在相關(guān)規(guī)范中提供附加信息。參見引言第一章和GB/T2424.1—1989(包含這些情況的修正件正在考慮中)。1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B:高溫代替GB/T2423.2—1989Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts—Part2:Testmethods—TestsB:Dryheat本標(biāo)準(zhǔn)敘述的高溫試驗(yàn)適用于散熱和非散熱兩類試驗(yàn)樣品。對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Ba和Bb基本上不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本高溫試驗(yàn)的目的僅限于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用或貯存的適應(yīng)性。本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。高溫試驗(yàn)方法分為：非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)： 散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：——試驗(yàn)Bc:溫度突變；本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱(室)達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開始計(jì)算。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定：a)試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度變化速率；b)試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室)的時(shí)間；c)試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露開始的時(shí)間；d)試驗(yàn)