電力建設(shè)施工及驗(yàn)收技術(shù)規(guī)范管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)篇

電力建設(shè)施工及驗(yàn)收技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)篇TheCodeofErectionandAcceptanceforElectricPowerConstructionUltrasonicinspectionsectionforbuttweldsofpipesDL/T5048-95主編部門：電力工業(yè)部建設(shè)協(xié)調(diào)司批準(zhǔn)部門：中華人民共和國(guó)電力工業(yè)部前言依據(jù)電力工業(yè)部建質(zhì)(1994)7號(hào)文的要求，部電力建設(shè)爭(zhēng)論所組織部?jī)?nèi)有關(guān)專家組成標(biāo)準(zhǔn)修訂小組,對(duì)《電力建設(shè)施工及驗(yàn)收技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)〔管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)篇)》SDJ67-83進(jìn)展了修訂。修訂后的標(biāo)準(zhǔn)保存了原標(biāo)準(zhǔn)中經(jīng)長(zhǎng)期實(shí)踐，行之有效的有關(guān)探傷工藝方面的條款。小徑管焊接接頭超聲波探傷的探傷工藝及質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)曾以導(dǎo)則形式在電力系統(tǒng)試用一年。在廣泛聽(tīng)取國(guó)內(nèi)有關(guān)單位的意見(jiàn),參考國(guó)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的根底上進(jìn)展了修改，修改后的條文強(qiáng)調(diào)了可操作性及準(zhǔn)確性并以獨(dú)立的一章收入標(biāo)準(zhǔn).本標(biāo)準(zhǔn)從1996年4月1日起實(shí)施。本標(biāo)準(zhǔn)從生效之日起，同時(shí)代替SDJ67—83。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F、附錄G、附錄H和附錄J均為標(biāo)準(zhǔn)的附錄。附錄K為提示的附錄.本標(biāo)準(zhǔn)由電力工業(yè)部電力建設(shè)爭(zhēng)論所提出并歸口。公司、安徽電建一公司、湖北電建公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳平、毛森祥、徐亞澄、施汝才、王寰明、李其杰。1 范 圍方法和探傷結(jié)果的分級(jí)方法。4～120mm，標(biāo)稱直徑大于或等于32mm的鋼制承壓管道單面焊接雙面成型的焊接接頭超聲波探傷。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鑄鋼、奧氏體不銹鋼的焊接接頭超聲波探傷，以及壁厚為4~14mm、標(biāo)稱直徑為32~89mm的小徑管摩擦焊焊接接頭探傷.引用標(biāo)準(zhǔn)以下標(biāo)準(zhǔn)包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)本錢標(biāo)準(zhǔn)的條文。在標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。全部標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用以下標(biāo)準(zhǔn)最版本的可能性。ZBJ04001—84A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法ZBY230-84A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件ZBY231—84超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法ZBY232-84超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件GB11345—89鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級(jí)DL5007—92電力建設(shè)施工及驗(yàn)收技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)〔火力發(fā)電廠焊接篇)探傷人員3。1資格探傷人員必需取得電力工業(yè)無(wú)損檢測(cè)人員資格考核委員會(huì)頒發(fā)的資格證書，探傷報(bào)告必需由Ⅱ級(jí)或Ⅱ級(jí)以上的超聲波探傷人員簽發(fā).非標(biāo)準(zhǔn)探傷得到有關(guān)部門批準(zhǔn),并在報(bào)告中注明.安全超聲波探傷必需遵守現(xiàn)場(chǎng)安全規(guī)程和其他有關(guān)規(guī)定.探傷條件當(dāng)探傷條件不符合本標(biāo)準(zhǔn)的工藝要求或不具備安全作業(yè)條件時(shí)，探傷人員有權(quán)停頓工作，待條件改善符合要求后再行探傷。探傷儀和探頭4。1探傷儀1ZBY23A型脈沖反射式超聲探傷儀用技術(shù)條件》及ZBJ04001《A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法》規(guī)定的相應(yīng)條款，其工作頻率為1～5MHz。4。1。2不小于6dB.4。1。3組合區(qū)分力：應(yīng)能將附錄A的標(biāo)準(zhǔn)試塊上φ50與φ44兩孔的反射信號(hào)分開(kāi)，當(dāng)兩孔反射波幅一樣時(shí)，其波峰與波谷的差值不小于6dB。4。2探頭。1探頭性能必需按ZBY231《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》進(jìn)展測(cè)定。4.2.2幅最大時(shí)，探頭中心線與被測(cè)棱邊的夾角應(yīng)在90°±2°的范圍內(nèi)。4.2。3斜探頭主聲束在垂直方向：不應(yīng)有明顯的雙峰或多峰。4。2。4探頭的中心頻率允許偏差為±0。5MHz。試 塊5。1標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊的外形和尺寸見(jiàn)附錄A,試塊制造的技術(shù)要求應(yīng)符合ZBY232《超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件》的規(guī)定。該試塊主要用于探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能的測(cè)定。比照試塊比照試塊的外形和尺寸見(jiàn)附錄B。5.2。2比照試塊承受與被探管材一樣或聲學(xué)性能相近的鋼材制作。試塊的探測(cè)面及側(cè)面用直探頭以2.5MHz以上頻率探傷時(shí)，不得消滅大于距探測(cè)面20mm處的φ2平底孔反射回波幅度1/4高度的缺陷回波。5.2.3鋸齒槽比照試塊的外形和尺寸見(jiàn)附錄C,該試塊用被探管材制作，用作焊接接頭根部缺陷的比照測(cè)定.5.24當(dāng)探傷面曲率半徑R≤W２/4〔W為探頭寬度),應(yīng)承受與探傷面曲率一樣的比照試塊.反射體的布置可參照比照試塊確定,試塊寬度應(yīng)滿足：式中b—-試塊寬度，mm;λ--波長(zhǎng),mm;S——聲程,mm;——聲源有效直徑,mm。5。2.5現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)為校核靈敏度和掃描線性,可以承受附錄D所示的攜帶式試塊。5.2。6在滿足靈敏度要求的條件下，可以承受其他型式的試塊,但事先應(yīng)得到有關(guān)部門批準(zhǔn)并在報(bào)告中注明.工藝要求6。1探傷前的預(yù)備探傷前應(yīng)了解焊件名稱、材質(zhì)、規(guī)格、焊接工藝、熱處理狀況、坡口型式(內(nèi)坡。6，以及焊接接頭中心位置的標(biāo)定。注：t為管壁厚度，下同。6。2焊接接頭6。2.1焊接接頭外表質(zhì)量及外形尺寸需經(jīng)檢查合格。6。2。2焊接接頭兩側(cè)應(yīng)去除飛濺、銹蝕、氧化物及油垢，外表應(yīng)打磨平滑，打磨寬度至少為探頭移動(dòng)范圍〔圖72.及圖7.2.。6。2。3焊接接頭兩側(cè)的母材,探傷前應(yīng)測(cè)量管壁厚度,至少每隔90°測(cè)量一點(diǎn)。6.2.4焊后需熱處理的焊接接頭，應(yīng)在熱處理后探傷.耦合劑耦合劑應(yīng)具有良好的潤(rùn)濕力量和透聲性能,且無(wú)毒、無(wú)腐蝕性、易去除.常用的耦合劑為機(jī)油、甘油和漿糊等。探傷接觸面測(cè)定入射點(diǎn)及折射角。探 傷7.1探頭選擇及掃描速度調(diào)整7。1.1管道焊接接頭超聲波探傷時(shí)，斜探頭折射角的選擇以直射波聲束中心線至少2/為原則表7.1.角為60°左右的探頭。7.1。2探頭頻率一般承受2.5MHz，當(dāng)管壁厚度較薄時(shí)易承受5MHz的探頭.7.1.3管道焊接接頭探傷時(shí),掃描速度的調(diào)整可在標(biāo)準(zhǔn)試塊或比照試塊上進(jìn)展。7。1.4掃描速度比例依據(jù)工件厚度和選用探頭角度來(lái)確定.表7.1.1 斜探頭折射7。2探傷位置及探頭移動(dòng)范圍7。2.1一般要求從焊接接頭兩側(cè)探傷。因條件限制只能從焊接接頭一側(cè)探傷時(shí)，應(yīng)承受兩種以上經(jīng)批準(zhǔn)的不同折射角的探頭探傷，并在報(bào)告中注明。圖7.2。2一般管道焊接接頭探傷時(shí)探頭移動(dòng)區(qū)7。2。2承受直射涉及一次反射波法探傷,探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于1。25p〔見(jiàn)圖7。2。2).式中p——跨距,mm;t—-管壁厚度,mm;β——折射角,°。圖7。2.3 厚壁管道焊接接頭探傷時(shí)探頭移動(dòng)區(qū)7。2。3當(dāng)管壁較厚〔壁厚大于50mm)時(shí)，承受直射波探傷，但還需增加一個(gè)折射角度大的探頭探傷〔表7。。10.7p〔7.。。7.2.4如需檢測(cè)橫向缺陷,一般應(yīng)在去除余高的焊接接頭上探傷。7。3母材的檢查7.3.1斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域應(yīng)用直探頭檢查,以便確定是否有影響斜角探傷結(jié)果解釋的分層性或其他類型的缺陷存在。該項(xiàng)檢查僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢驗(yàn)。檢查的要點(diǎn)如下：——方法:接觸式脈沖反射法,承受頻率為2～5MHz的直探頭，晶片直徑10～25mm;——靈敏度：將無(wú)缺陷處二次底波調(diào)整到熒光屏滿刻度；—-記錄：凡缺陷信號(hào)超過(guò)熒光屏滿刻度20%幅度的部位，應(yīng)在工作外表作出標(biāo)記，并記錄。7。3。2探測(cè)管壁較薄的管材，或探測(cè)近外表缺陷時(shí)，假設(shè)單晶探頭達(dá)不到所要求的近外表區(qū)分力,可選用雙晶探頭。7。4掃查方式7。4.1一般承受探頭沿焊接接頭作矩形移動(dòng)的根本掃查方式。掃查時(shí)，探頭每次移動(dòng)的距離s不得超過(guò)探頭晶片的直徑。在保持探頭移動(dòng)方向與焊縫中心線垂直的同時(shí)，依據(jù)管徑曲率大小還要作小角度的搖擺(見(jiàn)圖7。4.1)。7。4。2為了確定缺陷的位置、方向、外形，觀看缺陷動(dòng)態(tài)波形或區(qū)分缺陷信號(hào)與偽信號(hào),可采圖7.4。1 探頭的根本掃查方式圖7。4.2 其他掃查方式用前后、左右、轉(zhuǎn)角等掃查方式〔7.。。7.4.3探傷速度應(yīng)小于150mm/s。7.5距離—波幅曲線的繪制圖7.5。1距離—波幅曲線示意圖7。5。1距離-波幅曲線除可用探傷儀自繪外,應(yīng)以所用探傷儀和探頭在比照試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制(見(jiàn)附錄E)。該曲線由RL〔判廢線、SL〔定量線〕和EL〔評(píng)定線〕組成。EL與SL之間稱Ⅰ區(qū)，SL與RL之間稱Ⅱ區(qū)，RL以上稱Ⅲ區(qū)，如圖7。5。1所示。7。5.2不同管壁厚度的距離—波幅曲線靈敏度按表7。5。2規(guī)定。7。5.3距離—波幅曲線的校驗(yàn)以所用探傷儀和探頭在比照試塊上進(jìn)展，校驗(yàn)應(yīng)不少于兩點(diǎn).表7。5。2距離-波幅曲線的靈敏度注：管壁厚度小于或等于14mm的距離-波幅曲線的靈敏度見(jiàn)表9。3.2。。4探傷時(shí)由于管件外表耦合損失、材料衰減以及內(nèi)外曲率的影響,應(yīng)對(duì)探傷靈敏度進(jìn)展綜合補(bǔ)償，綜合補(bǔ)償量必需計(jì)入距離—波幅曲線。補(bǔ)償?shù)臏y(cè)量方法參考附錄F。7。5。5探傷靈敏度不得低于EL線,探傷過(guò)程中應(yīng)留意對(duì)探傷靈敏度進(jìn)展校對(duì)。7。6缺陷的定量761探傷中消滅在SL線和SL線至RL線之間的缺陷反射波信號(hào),應(yīng)進(jìn)展波幅和缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定.7。6.2缺陷波幅的測(cè)定：將探頭移至缺陷消滅最大反射波信號(hào)的位置，依據(jù)波幅確定它的距離-波幅曲線圖中的區(qū)域.圖7。6。3—1相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法。3缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定:——當(dāng)缺陷反射波信號(hào)只有一個(gè)高點(diǎn)且缺陷處聲束寬度小于缺陷長(zhǎng)度時(shí)，用降6d相對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷的指示長(zhǎng)度〔7.6.1。-—在探頭移動(dòng)過(guò)程中，當(dāng)缺陷反射波信號(hào)起伏變化有多個(gè)高點(diǎn)，缺陷端部反射波幅位于SL線或Ⅱ區(qū)時(shí)，用端點(diǎn)峰值法測(cè)量缺陷的指示長(zhǎng)度(即探頭移動(dòng)過(guò)程中,圖7。6.3—2〕.圖7.6。3-2端點(diǎn)峰值測(cè)長(zhǎng)法7。7缺陷的定位7。7.1探傷時(shí)覺(jué)察缺陷反射波信號(hào)時(shí)，應(yīng)準(zhǔn)確測(cè)量該處的管壁厚度。。2缺陷位置以熒光屏上顯示的缺陷最大反射波信號(hào)的位置表示。依據(jù)探頭的相應(yīng)位置和反射波信號(hào)在熒光屏上的位置,確定缺陷沿焊接接頭方向的位置；缺陷到探傷面的垂直距離及缺陷至探頭入射點(diǎn)的水平距離等缺陷的位置參數(shù)。。3缺陷的深度和水平距離兩數(shù)值中的一個(gè)可由缺陷最大反射波信號(hào)在熒光屏上的位置直接讀出，另一數(shù)值可用計(jì)算法、曲線法、作圖法或缺陷定位尺求出。7。7。4初探覺(jué)察不允許存在的缺陷時(shí),必需校核探頭的折射角、探傷靈敏度，重調(diào)整探傷儀后進(jìn)展評(píng)定探傷。7。8缺陷評(píng)定。1最大反射波信號(hào)位于Ⅱ區(qū)的缺陷，其指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí),按5mm計(jì)。7.8。2相鄰兩缺陷間距小于8mm時(shí),兩缺陷指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度。7。8。3根部未焊透的比照測(cè)定：探傷時(shí)當(dāng)覺(jué)察根部缺陷，經(jīng)綜合分析確認(rèn)為未焊透時(shí)，改用折射角為45°~505MHzC鋸齒槽比照試塊上深1.5mm50％作為比照靈敏度進(jìn)展比照測(cè)定。7.8.4法，轉(zhuǎn)變探頭角度或掃查方式，并結(jié)合焊接工藝等進(jìn)展綜合分析.質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定單位管道焊接接頭質(zhì)量以每個(gè)焊接接頭為評(píng)定單位，當(dāng)量數(shù)計(jì)算按DL5007《電力建設(shè)施工及驗(yàn)收技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(火力發(fā)電廠焊接篇)》規(guī)定。記錄缺陷EL線或I區(qū)時(shí)，應(yīng)作記錄但不作為質(zhì)量評(píng)定。缺陷位置記錄見(jiàn)附錄J和附錄K。8。3超標(biāo)缺陷。1焊接接頭中存在以下?tīng)顩r之一的缺陷時(shí)，該焊接接頭評(píng)為Ⅲ級(jí)。——當(dāng)缺陷反射波幅位于RL線或Ⅲ區(qū)時(shí).——當(dāng)缺陷反射波幅位于SL〔經(jīng)修正后的圓周方向的弧長(zhǎng))超過(guò)表8.3。1—1中的Ⅱ級(jí)規(guī)定時(shí)?！?當(dāng)缺陷累計(jì)指示長(zhǎng)度經(jīng)修正后超過(guò)表8.3。1—2的Ⅱ級(jí)規(guī)定時(shí)?！?dāng)密集缺陷的反射波信號(hào)中，有一個(gè)波幅到達(dá)SL線以上時(shí)。-—當(dāng)根部未焊透缺陷深度或長(zhǎng)度超過(guò)表8.3。1-3中的Ⅱ級(jí)規(guī)定時(shí)。表8.3。1—1允許存在的缺陷指示長(zhǎng)度 mm注：管壁厚度不等的焊接接頭，t取薄壁管厚度。表8。3。1-2 允許存在缺陷的累計(jì)指示長(zhǎng)度 mm表8。3。1-3 根部未焊透缺陷的允許范圍。2根部未焊透的比照:——當(dāng)缺陷反射波幅大于或等于用鋸齒槽試塊調(diào)整的比照靈敏度反射波幅時(shí)，應(yīng)評(píng)為不合格.—-當(dāng)缺陷反射波幅小于用鋸齒槽試塊調(diào)整的比照靈敏度反射波幅時(shí)，用端點(diǎn)14dB法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度L，并按下式換算成未焊透在根部的長(zhǎng)度l8。3.1條進(jìn)展評(píng)定。式中D——管道外徑，mm.危急性缺陷探傷中如檢驗(yàn)人員能判定缺陷性質(zhì)為裂紋、未熔合等危急性缺陷時(shí)，不受8.3條限制，該焊接接頭應(yīng)評(píng)為不合格。8。5返修條件進(jìn)展,質(zhì)量評(píng)定按8。3、8.4條規(guī)定。小徑管焊接接頭的超聲波探傷9。1探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能9.1。1探頭應(yīng)滿足如下的要求：——探頭應(yīng)滿足小徑管內(nèi)、外壁曲率大，管壁薄(其規(guī)格為:壁厚4～14mm,外徑32～89mm)的要求。應(yīng)使用高阻尼，短前沿的單晶橫波探頭。--探頭晶片尺寸，一般不大于6mm×6mm.—-探頭前沿距離小于或等于5mm，偏差小于或等于0.5mm，工作頻率為5MHz。9。1。2始脈沖占寬應(yīng)盡可能小,一般小于或等于2。5mm(相當(dāng)于鋼中深度。9.1。3為了提高根部缺陷探測(cè)結(jié)果的牢靠性,推舉使用橫波雙晶聚焦探頭或平晶片雙傾角TR橫波探頭。表9.1。4 推舉的探頭角度91.4選用的橫波斜探頭應(yīng)滿足直射波能掃查到焊接接頭1/4應(yīng)依據(jù)管壁厚度確定，對(duì)不同管壁厚度的焊接接頭探傷，可參考表9。1.4。9.1。5當(dāng)組合靈敏度可以滿足二次反射波法探傷靈敏度要求時(shí)，探頭的晶片尺寸可為10mm×10mm或8mm×9mm,其前沿距離可為10mm,頻率為2.5～5MHz，定位時(shí)推舉用晶片尺寸為6mm×6mm的探頭。9.1。6探頭的接觸面必需與管子外外表嚴(yán)密接觸，其邊緣與管子外外表的間隙不大于0.1mm〔如圖9。1.6所示?？梢酝ㄟ^(guò)在管子外表上鋪上細(xì)砂紙沿軸向輕輕研磨，使探頭外表與管子的外外表嚴(yán)密接觸.圖9.1.6探頭接觸面邊緣與管子外外表的間隙示意圖9。1。7除上述要求外，其余參照4章的有關(guān)規(guī)定。9。2試塊9。2.1專用試塊:用于測(cè)定探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能以及掃描速度和靈敏度的調(diào)整。其外形和尺寸見(jiàn)附錄G4塊，使用時(shí)可按表G的規(guī)定范圍進(jìn)展選擇。9。2。2測(cè)量補(bǔ)償量試塊：小徑管焊接接頭探傷中，探傷靈敏度除需測(cè)定材質(zhì)衰減和工件外表粗糙及耦合狀況造成的外表聲能損失外，還需測(cè)定由于內(nèi)曲率大造成對(duì)靈敏度進(jìn)展修正.補(bǔ)償量的測(cè)定試塊參考附錄H。9。3工藝及探傷要求9。3.1焊接接頭余高寬度應(yīng)滿足:式中β——探頭折射角，°；——探頭前沿長(zhǎng)度,mm;S——余高寬度,mm.9.3。2小徑管焊接接頭探傷時(shí)，距離—波幅曲線的靈敏度按表9。3.2規(guī)定。9.3.3掃查靈敏度不得低于φ2×15—18dB。表9.3。2 距離—波幅曲線的靈敏度。5探傷時(shí)用直射波和一次反射波法在焊接接頭兩側(cè)對(duì)整個(gè)檢驗(yàn)區(qū)進(jìn)展同向掃查。使用70°以上角度的探頭時(shí)要留意識(shí)別外表波的干擾信號(hào)。當(dāng)管子外表比較粗糙時(shí),應(yīng)當(dāng)進(jìn)展打磨。9.3。8其余參照6、7章的有關(guān)規(guī)定。質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)9。4。1頭的質(zhì)量分為合格和不合格兩類.9。4.2如探傷人員能判定為裂紋、坡口未熔合、層間未熔合或密集性缺陷等危急性缺陷時(shí)，評(píng)為不合格。9。4.3缺陷反射波幅大于或等于φ2×15-4dB時(shí),評(píng)為不合格.94.4在φ2×15—18dB10mm技術(shù)檔案記錄等技術(shù)資料,探傷報(bào)告及探傷記錄表格可參考附錄J。10。2機(jī)組安裝(或檢修)完畢后,應(yīng)將探傷報(bào)告及探傷記錄整理成冊(cè)，并歸檔統(tǒng)一保管。附錄A 標(biāo)準(zhǔn)試塊(標(biāo)準(zhǔn)的附錄〕用于管道焊接接頭探傷的標(biāo)準(zhǔn)試塊承受CSK-1B圖A所示。圖A CSK—1B試塊附錄B 對(duì)比試塊〔標(biāo)準(zhǔn)的附錄〕管道焊接接頭探傷時(shí),承受RB-3比照試塊，其外形和尺寸見(jiàn)圖B。圖B RB—3比照試塊注：1。尺寸公差±0。1;各邊垂直度不大于0。1；3。外表粗糙度不大于6.3μm；4。標(biāo)準(zhǔn)孔加工面的平行度不大于0.05。附錄C 焊接接頭根部缺陷比照試塊(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)承受SD-Ⅲ型比照試塊，用于管道焊接接頭根部缺陷的比照測(cè)定，型式見(jiàn)圖C.圖C SD—Ⅲ型比照試塊附錄D 攜帶式試塊(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)現(xiàn)場(chǎng)使用的攜帶式試塊可依據(jù)需要選擇，如圖D-1和圖D—2為SD-Ⅳ型試塊和IIW2型試塊,可供選用。圖D-1 SD—Ⅳ型試塊圖D—2 ⅡW2型試塊E1試塊

附錄E 距離—波幅曲線的制作〔標(biāo)準(zhǔn)的附錄〕E1。1承受附錄B的比照試塊。E1。2當(dāng)R≤時(shí)，承受探傷面曲率與管子探傷面曲率一樣或相近的比照試塊。E2繪制步驟〔距離—波幅曲線可繪制在坐標(biāo)紙上,也可以繪制在儀器面板上)E2.1將測(cè)試范圍調(diào)整到探傷使用的最大探測(cè)范圍，并按深度(水平或聲程法〕調(diào)整E2。2依據(jù)工件厚度和曲率選擇適宜的比照試塊，選取試塊上孔深與探傷深度一樣或相近的橫孔為第一基準(zhǔn)孔，將探頭置于試塊探傷面聲束指向該孔，調(diào)整探頭位置找到橫孔最高反射波。E2。3調(diào)整增益或衰減器使該反射波幅為熒光屏刻度上某一高度〔為滿刻度的6％E2。4調(diào)整衰減器，依次測(cè)量其他橫孔，并找出最大反射波高，分別記錄各反射波的幅值。E2。5以波幅為縱坐標(biāo),探測(cè)距離為橫坐標(biāo),將E2。3、E2。4記錄數(shù)據(jù)描繪在坐標(biāo)紙上。E2.60點(diǎn)面水平線，該曲線即φ3橫孔距離—波幅曲線的基準(zhǔn)線。E2。7依據(jù)正文規(guī)定的靈敏度,在基準(zhǔn)線下分別繪出RL、SL及EL，并標(biāo)記波幅的分區(qū).E2.8試塊上某一參考反射體進(jìn)展測(cè)量，記錄其反射波位置和反射波幅并標(biāo)記在距離—波幅曲線圖上。F1試塊

附錄F 補(bǔ)償量測(cè)量試塊〔標(biāo)準(zhǔn)的附錄〕F1。1制作與被探管道的材質(zhì)、規(guī)格及外表粗糙度一樣的試塊(見(jiàn)圖F1。1—2)F12在試塊上鉆φ3mm×40mm25mm距內(nèi)壁t/2〔見(jiàn)圖F1.1-1)；當(dāng)管壁厚度大于25mm時(shí)，鉆兩個(gè)孔,距內(nèi)壁分別為t/4和3/4t(見(jiàn)圖F1.1-2〕.F2測(cè)量方法

圖F1。1-1 補(bǔ)償量測(cè)定試塊圖F1.1—2 補(bǔ)償量測(cè)定試塊注：1。尺寸公差±0.1；2。各邊垂直度不大于0。1;外表粗糙度不大于6。3μm；4。標(biāo)準(zhǔn)孔加工面的平行度不大于0。05。F2。1以所用的儀器和探頭在RB比照試塊上作出距離—波幅曲線.F2。2一樣的儀器和探頭，在一樣的起始靈敏度條件下探測(cè)試塊上φ3mm×40mm橫孔,直射波探下孔，一次反射波探上孔〔圖F1。1—2)。如試塊只有一個(gè)孔時(shí)，均探同一橫孔圖F。1-后讀取衰減器的分貝數(shù)N。F2.3在距離—波幅曲線上查出同距離的分貝數(shù)N，則綜合補(bǔ)償量ΔN由下式打算：dB附錄G 小徑管焊接接頭超聲波探傷專用試塊〔標(biāo)準(zhǔn)的附錄〕小徑管焊接接頭超聲波探傷專用試塊，如圖G所示.試塊一套共4塊,其適用范圍如表G所示，其材質(zhì)、外表狀態(tài)要求同5.1和5。2.1條的要求.表G 專用試塊的適用范圍 mm圖G 小徑管焊接接頭超聲波探傷專用試塊注:1.尺寸公差±0.1;各邊垂直度不大于0。1；外表粗糙度不大于6.3μm;標(biāo)準(zhǔn)孔加工面的平行度不大于0。05.附錄H 小徑管焊接接頭超聲波探傷靈敏度補(bǔ)償量測(cè)量試塊及補(bǔ)償量(標(biāo)準(zhǔn)的附錄〕H1當(dāng)承受直射波探傷時(shí)的管外外表聲能損失測(cè)量H11探頭放置在圖Gφ2孔，將其最高反射波調(diào)到熒光屏滿刻度的80％且登記衰減器的分貝值。H1.2圖Hr為1mm的圓弧斷面中心的探頭聲束在圓弧槽外外表上的反射波，將其波幅調(diào)到熒光屏滿刻度的80％，且登記衰減器的分貝值。圖H 測(cè)量補(bǔ)償量試塊參考圖注：1。試塊材料、R、t同被探管子;2.試塊探傷外表粗糙度與打磨后的管子一樣。H1。3比較按H1。1和H1。2兩條所述方法測(cè)得的分貝值,其差值為當(dāng)承受直射波探傷時(shí)，管外外表聲能損失即補(bǔ)償值。H2當(dāng)承受一次反射波法探傷時(shí)的管內(nèi)外外表聲能損失測(cè)量H2.1探頭旋轉(zhuǎn)在圖G2倍厚度一樣或相近深度的φ2孔，將其最高反射波調(diào)至熒光屏滿刻度的80％且登記衰減器的分貝值。H2.2在保持儀器探頭不變的條件下,探頭放置在圖H試塊的圓弧外外表上,測(cè)試塊內(nèi)外表r為1mm的圓弧斷面中心的探頭聲束在圓弧槽外外表上的反射波,將其波幅調(diào)到熒光屏滿刻