《工程材料表征技術(shù)》-知到答案、智慧樹答案

《工程材料表征技術(shù)》-知到答案、智慧樹答案第一章單元測(cè)試1、問題：荷葉表面具有疏水性能原因是______選項(xiàng)：A:荷葉表面極為光滑B:荷葉表面分泌油脂C:荷葉表面很干凈D:荷葉表面的納米結(jié)構(gòu)答案:【荷葉表面的納米結(jié)構(gòu)】2、問題：材料科學(xué)中的結(jié)構(gòu)可包含以下哪些對(duì)象______選項(xiàng)：A:缺陷B:組織C:相D:單體E:大分子鏈答案:【缺陷;組織;相;單體;大分子鏈】3、問題：X射線晶體衍射技術(shù)將人們對(duì)材料結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí)推進(jìn)到了_______尺度選項(xiàng)：A:原子B:晶體C:微米級(jí)D:厘米級(jí)答案:【原子】4、問題：人的肉眼為什么無法看到紅外線？選項(xiàng)：A:人眼的分辨率只有0.1mmB:人眼僅能觀察到與周邊（背景）顏色有足夠差別的物體C:人眼的視網(wǎng)膜無法感知強(qiáng)度太弱的光線D:人眼接收光線的頻率范圍有限制答案:【人眼接收光線的頻率范圍有限制】5、問題：材料科學(xué)中的結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系式______選項(xiàng)：A:性能改變結(jié)構(gòu)B:結(jié)構(gòu)決定性能C:結(jié)構(gòu)與性能相互協(xié)調(diào)D:性能決定結(jié)構(gòu)答案:【結(jié)構(gòu)決定性能】第二章單元測(cè)試1、問題：光學(xué)系統(tǒng)的主要構(gòu)件是什么？選項(xiàng)：A:偏光鏡B:目鏡C:物鏡和目鏡D:物鏡答案:【物鏡和目鏡】2、問題：金屬材料按它的晶體結(jié)構(gòu)不同，可分為什么？選項(xiàng)：A:各向同性B:各向異性C:各向同性和各向異性答案:【各向同性和各向異性】3、問題：在鑲嵌過程中，選擇相應(yīng)的塑料，應(yīng)考慮什么？選項(xiàng)：A:鑲樣塑料有強(qiáng)的抗腐蝕能力B:鑲嵌方便，鑲嵌時(shí)間不長(zhǎng)，也不易出現(xiàn)缺陷C:鑲樣塑料，應(yīng)該有足夠的硬度D:鑲樣塑料必須不溶于酒精答案:【鑲樣塑料有強(qiáng)的抗腐蝕能力;鑲嵌方便，鑲嵌時(shí)間不長(zhǎng)，也不易出現(xiàn)缺陷;鑲樣塑料，應(yīng)該有足夠的硬度;鑲樣塑料必須不溶于酒精】4、問題：腐蝕的操作方法是什么？選項(xiàng)：A:將沾有腐蝕液的脫脂棉，擦拭拋光面，待一定時(shí)間后停止擦拭B:直接放入腐蝕液中進(jìn)行腐蝕C:拋光面向下，傾入盛有腐蝕劑的玻璃器皿中，不斷擺動(dòng)，達(dá)到一定的時(shí)間后取出答案:【將沾有腐蝕液的脫脂棉，擦拭拋光面，待一定時(shí)間后停止擦拭;拋光面向下，傾入盛有腐蝕劑的玻璃器皿中，不斷擺動(dòng)，達(dá)到一定的時(shí)間后取出】5、問題：普通光學(xué)金相顯微鏡分為哪幾類？選項(xiàng)：A:臥式顯微鏡B:立式顯微鏡C:偏光顯微鏡D:臺(tái)式顯微鏡答案:【臥式顯微鏡;立式顯微鏡;臺(tái)式顯微鏡】第三章單元測(cè)試1、問題：X射線與可見光相比，以下說法正確的是______選項(xiàng)：A:X射線的波長(zhǎng)更短B:X射線的頻率更低C:X射線光子的能量更低D:本質(zhì)上都是電磁輻射答案:【X射線的波長(zhǎng)更短;本質(zhì)上都是電磁輻射】2、問題：X射線管中阻擋電子飛行的組件是______選項(xiàng)：A:陰極B:聚焦杯C:鈹窗口D:陽極靶答案:【陽極靶】3、問題：產(chǎn)生X射線的條件為______選項(xiàng)：A:極間放電B:產(chǎn)生自由電子C:電子作定向的高速運(yùn)動(dòng)D:加速電子運(yùn)動(dòng)的路徑上設(shè)置一個(gè)障礙物使電子突然減速或停止答案:【產(chǎn)生自由電子;電子作定向的高速運(yùn)動(dòng);加速電子運(yùn)動(dòng)的路徑上設(shè)置一個(gè)障礙物使電子突然減速或停止】4、問題：硬X射線直接照射人體無任何危害。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【錯(cuò)】5、問題：解釋X射線衍射與鏡面反射的區(qū)別在于_____選項(xiàng)：A:X射線的選擇反射的能量損失大部分B:反射后的波長(zhǎng)發(fā)生變化C:X射線只有在滿足布拉格方程的方向才能反射D:入射角不等于反射角答案:【X射線的選擇反射的能量損失大部分;X射線只有在滿足布拉格方程的方向才能反射】6、問題：布拉格方程僅能應(yīng)用于X射線衍射。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【錯(cuò)】7、問題：當(dāng)反射面對(duì)應(yīng)的倒易矢量端點(diǎn)位于厄瓦爾德球的球面上時(shí)，此反射面滿足布拉格方程。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】8、問題：厄瓦爾德圖解能解釋單晶衍射原理，但無法解釋多晶衍射原理。選項(xiàng)：A:對(duì)B:錯(cuò)答案:【錯(cuò)】9、問題：d值誤差隨2θ增大而()選項(xiàng)：A:減小B:增大C:不一定D:不變答案:【減小】10、問題：基于X射線衍射強(qiáng)度的測(cè)量項(xiàng)目是()選項(xiàng)：A:晶塊尺寸B:內(nèi)應(yīng)力C:定量物相分析答案:【定量物相分析】11、問題：對(duì)于內(nèi)標(biāo)法定量分析，下列說法正確的是（）選項(xiàng)：A:測(cè)量強(qiáng)度所選用的衍射線，應(yīng)該是衍射角相近、衍射強(qiáng)度也較接近，并且不受其它衍射線干擾的衍射線B:內(nèi)標(biāo)物質(zhì)必須化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，不氧化、不吸水、不受研磨影響C:內(nèi)標(biāo)物質(zhì)衍射線數(shù)目適中、分布均勻D:在配制標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的質(zhì)量百分?jǐn)?shù)應(yīng)保持恒定答案:【測(cè)量強(qiáng)度所選用的衍射線，應(yīng)該是衍射角相近、衍射強(qiáng)度也較接近，并且不受其它衍射線干擾的衍射線;內(nèi)標(biāo)物質(zhì)必須化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，不氧化、不吸水、不受研磨影響;內(nèi)標(biāo)物質(zhì)衍射線數(shù)目適中、分布均勻;在配制標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的質(zhì)量百分?jǐn)?shù)應(yīng)保持恒定】12、問題：定量物相分析可以確定樣品中的元素含量。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【錯(cuò)】13、問題：定性物相分析中的主要依據(jù)是d值和I值。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】第四章單元測(cè)試1、問題：電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)。這一過程產(chǎn)生的信號(hào)比較豐富，主要有____選項(xiàng)：A:透射電子和俄歇電子B:X射線和吸收電子C:背散射電子D:二次電子答案:【透射電子和俄歇電子;X射線和吸收電子;背散射電子;二次電子】2、問題：掃描電鏡的塊體樣品通常要通過拋光和腐蝕等預(yù)處理。選項(xiàng)：A:對(duì)B:錯(cuò)答案:【對(duì)】3、問題：在入射電子作用下，使樣品原子的外層價(jià)電子或自由電子被擊出樣品表面，所以稱之為“二次電子”。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】4、問題：掃描電鏡的二次電子信號(hào)的產(chǎn)額對(duì)_____非常敏感選項(xiàng)：A:樣品原子序數(shù)B:樣品表面的晶體取向C:樣品表面形貌D:樣品的電離程度答案:【樣品表面形貌】5、問題：掃描電鏡的二次電子信號(hào)的主要用途是______選項(xiàng)：A:顯微組織形貌分析B:斷口表面形貌分析C:原始表面形貌觀察D:晶體取向確定答案:【顯微組織形貌分析;斷口表面形貌分析;原始表面形貌觀察】6、問題：掃描電鏡的背散射電子產(chǎn)額與樣品的平均原子序數(shù)成正比。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】7、問題：掃描電鏡的背散射電子信號(hào)的主要用途是______選項(xiàng)：A:晶體取向確定B:定性分析材料的成分分布C:斷口表面形貌分析D:顯示相的形狀和分布答案:【定性分析材料的成分分布;顯示相的形狀和分布】8、問題：特征X射線的信號(hào)特征是：能量或波長(zhǎng)與樣品中元素的原子序數(shù)有對(duì)應(yīng)關(guān)系，而且強(qiáng)度隨著對(duì)應(yīng)元素含量的增大而增大。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】9、問題：掃描電鏡的特征X射線的信號(hào)可用于材料微區(qū)成分定性和半定量分析。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】10、問題：掃描電子顯微鏡主要由以下幾個(gè)部分構(gòu)成選項(xiàng)：A:信號(hào)收集B:電子光學(xué)系統(tǒng)C:圖像顯示記錄系統(tǒng)D:真空系統(tǒng)答案:【信號(hào)收集;電子光學(xué)系統(tǒng);圖像顯示記錄系統(tǒng);真空系統(tǒng)】11、問題：習(xí)慣上，將_______的分辨率作為掃描電子顯微鏡分辨率的指標(biāo)選項(xiàng)：A:吸收電子像B:俄歇電子像C:背散射電子像D:二次電子像答案:【二次電子像】12、問題：在能夠分辨樣品上最小細(xì)節(jié)的前提下，選用放大倍數(shù)的原則是，應(yīng)盡可能的選用較低的放大倍數(shù)，因?yàn)榭梢杂^察記錄到更大的樣品區(qū)。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】13、問題：在用掃描電鏡觀察不導(dǎo)電的粉末時(shí)，不要進(jìn)行表面噴碳或噴金處理。選項(xiàng)：A:對(duì)B:錯(cuò)答案:【錯(cuò)】14、問題：可直接將粉末用于掃描電鏡觀測(cè)。選項(xiàng)：A:對(duì)B:錯(cuò)答案:【錯(cuò)】第五章單元測(cè)試1、問題：紅外光可引起物質(zhì)的能級(jí)躍遷是（）選項(xiàng)：A:分子振動(dòng)-轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷B:原子外層電子、振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷C:分子外層電子的能級(jí)躍遷D:分子外層電子、振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷答案:【分子振動(dòng)-轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷】2、問題：對(duì)應(yīng)于同一分子能級(jí)，斯托克斯線與反斯托克斯線的拉曼位移應(yīng)該相等，而且躍遷的幾率也應(yīng)相等。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】3、問題：下列敘述正確的是（）選項(xiàng)：A:拉曼光譜分析中，玻璃可以作為窗口材料B:紅外光譜與拉曼光譜在有對(duì)稱中心的分子中沒有同頻率的譜帶C:羰基在紅外中信號(hào)弱而在拉曼中信號(hào)較強(qiáng)D:拉曼光譜分析中，水可以作為溶劑答案:【拉曼光譜分析中，玻璃可以作為窗口材料;紅外光譜與拉曼光譜在有對(duì)稱中心的分子中沒有同頻率的譜帶;拉曼光譜分析中，水可以作為溶劑】4、問題：紅外光譜圖中，不同化合物中相同基團(tuán)的特征頻率峰總是在特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)出現(xiàn)，故可以根據(jù)紅外光譜圖中的特征頻率峰確定化合物中該基團(tuán)的存在。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【對(duì)】5、問題：對(duì)稱結(jié)構(gòu)分子，如H2O分子，沒有紅外活性。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【錯(cuò)】6、問題：分光光度計(jì)的可見光波長(zhǎng)范圍是（）選項(xiàng)：A:200nm～400nmB:800nm～1000nmC:400nm～800nmD:500nm～1000nm答案:【400nm～800nm】7、問題：在紅外光譜分析中，用KBr制作為試樣池，這是因?yàn)椋ǎ┻x項(xiàng)：A:在4000～400cm-1范圍內(nèi)，KBr對(duì)紅外無反射B:KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)無紅外光吸收C:KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)不會(huì)散射紅外光D:KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)有良好的紅外光吸收特性答案:【KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)無紅外光吸收】第六章單元測(cè)試1、問題：超聲波的頻率范圍是？選項(xiàng)：A:f<20HzB:20Hz≤f≤20KHzC:20KHz≤f≤1000MHzD:f>1000MHz答案:【20KHz≤f≤1000MHz】2、問題：渦流檢測(cè)線圈按應(yīng)用方式分為哪幾類？選項(xiàng)：A:外通過式線圈B:放置式線圈C:內(nèi)穿過式線圈D:自比式線圈答案:【外通過式線圈;放置式線圈;內(nèi)穿過式線圈】3、問題：超聲波波速由介質(zhì)材料和超聲波波形決定。選項(xiàng)：A:錯(cuò)B:對(duì)答案:【錯(cuò)】4、問題：由于渦流集膚效應(yīng)：交變電流通過導(dǎo)線時(shí)，導(dǎo)線周圍變化的磁場(chǎng)也會(huì)在導(dǎo)線中產(chǎn)生感應(yīng)電流，從而會(huì)使沿導(dǎo)線截面的電流分布不均勻，表面的電流密度較大，越往中心處越小。選項(xiàng)：A:對(duì)B:錯(cuò)答案:【對(duì)】第七章單元測(cè)試1、問題：熱重分析技術(shù)是由本多光太郎發(fā)明的。選項(xiàng)：A:對(duì)B:錯(cuò)答案:【對(duì)】2、