(高清版)GBT 42744-2023 微波電路 電調(diào)衰減器測(cè)試方法

微波電路電調(diào)衰減器測(cè)試方法2023-08-06發(fā)布國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)I前言 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語(yǔ)和定義 14一般要求 34.1測(cè)試環(huán)境 34.2測(cè)試儀器 34.3注意事項(xiàng) 45詳細(xì)要求 45.1插入損耗(Lins) 4 55.3衰減量(Am) 55.4衰減平坦度(△A) 65.5衰減范圍(Am) 75.6衰減溫度穩(wěn)定性(Aem)、衰減溫度系數(shù)(aa) 7 85.8幅度一致性(△A) 95.9相位一致性(△qo) 5.12交調(diào)失真(雙頻)(P,/P1) 5.13n階交調(diào)點(diǎn)輸入功率(IP。) 5.14附加相移(Ph) 5.15開(kāi)啟時(shí)間(tm)、關(guān)斷時(shí)間(tof)、上升時(shí)間(t)、下降時(shí)間(tm) 5.16最大承受功率(Pmx) Ⅲ本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專(zhuān)利的責(zé)任。本文件由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出。本文件由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC78)歸口。本文件起草單位：成都亞光電子股份有限公司、安徽明洋電子有限公司、安徽省中智科標(biāo)準(zhǔn)化研究院有限公司、空軍裝備部駐成都地區(qū)軍事代表局、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院。侯林。1微波電路電調(diào)衰減器測(cè)試方法本文件描述了微波電路類(lèi)的電調(diào)衰減器主要電參數(shù)的測(cè)試方法。本文件適用于單片和混合集成的微波電調(diào)衰減器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)衰減器)的相關(guān)電參數(shù)測(cè)試。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T17573—1998半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分：總則3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。Lins在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)，參考狀態(tài)下入射功率與輸出功率之比。帶內(nèi)波動(dòng)passbandripple在不同頻點(diǎn)下，參考狀態(tài)插入損耗以分貝(dB)為單位的最大變化量。在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)，指定控制電壓下的衰減狀態(tài)插入損耗與參考狀態(tài)插入損耗以分貝(dB)為單位的差值。衰減平坦度attenuationflatness在不同頻點(diǎn)下，指定控制電壓下的衰減量以分貝(dB)為單位的最大變化量。Aran可提供的衰減控制最大衰減量。2衰減溫度穩(wěn)定性attenuationtemperaturestabilityA|cm在規(guī)定溫度點(diǎn)或溫度間隔的衰減量最大變化量。A指定衰減量與測(cè)試衰減量之間的最大差值。衰減溫度系數(shù)attenuationtemperaturecoefficientαA指定控制電壓下的衰減量隨著溫度變化而變化的速率。指定狀態(tài)下不同被測(cè)衰減器的衰減量與衰減量標(biāo)稱(chēng)值的偏差。相位一致性phaseconsistency指定狀態(tài)下不同被測(cè)衰減器相位值與相位標(biāo)稱(chēng)值的偏差。輸入駐波比inputvoltagestandingwaveratio輸入端的最大信號(hào)電壓與輸入端的最小信號(hào)電壓之比。輸出駐波比outputvoltagestandingwaveratioVSWRou輸出端的最大信號(hào)電壓與輸出端的最小信號(hào)電壓之比。ndB壓縮輸入功率inputpowerforndBcompressionPi(ndB)插入損耗比線(xiàn)性區(qū)插入損耗增加ndB時(shí)的輸入功率。交調(diào)失真intermodulationdistortionP,/P?在規(guī)定的輸入功率下，n階交調(diào)功率與輸出信號(hào)基頻功率之比。n階交調(diào)點(diǎn)輸入功率inputpowerattheinterceptpointforn-orderintermodulationproductsIIP,在描點(diǎn)圖上對(duì)作為輸入功率函數(shù)的輸出功率進(jìn)行外推時(shí)，基頻的輸出功率與n階交調(diào)信號(hào)的輸出功率的延伸線(xiàn)交點(diǎn)處的對(duì)應(yīng)輸入功率。注：輸入功率和輸出功率單位為分貝毫瓦(dBm)。3在指定衰減控制下，衰減后輸出相位與參考狀態(tài)輸出相位之間的差。3.17.1ton在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)，控制電壓上升沿參考點(diǎn)和輸出電壓對(duì)應(yīng)的翻轉(zhuǎn)沿參考點(diǎn)之間的時(shí)間間隔。toff在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)，控制電壓下降沿參考點(diǎn)和輸出電壓對(duì)應(yīng)的翻轉(zhuǎn)沿參考點(diǎn)之間的時(shí)間間隔。trise在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)，輸出電壓上升沿低參考點(diǎn)和輸出電壓上升沿高參考點(diǎn)之間的時(shí)間間隔。在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)，輸出電壓下降沿低參考點(diǎn)和輸出電壓下降沿高參考點(diǎn)之間的時(shí)間間隔。最大承受功率maximuminputpower在規(guī)定條件下，能保證正常工作的連續(xù)波輸入功率或脈沖輸入功率。4一般要求4.1測(cè)試環(huán)境除另有規(guī)定外，所有的測(cè)試應(yīng)在15℃~35℃、相對(duì)濕度20%～80%、氣壓86kPa～106kPa下進(jìn)行。測(cè)試環(huán)境應(yīng)無(wú)影響結(jié)果準(zhǔn)確性的機(jī)械振動(dòng)和電磁干擾。仲裁試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件為：25℃±1℃、相對(duì)濕度48%～52%、氣壓86kPa～106kPa。4.2測(cè)試儀器測(cè)試儀器要求如下：a)測(cè)試儀器應(yīng)經(jīng)過(guò)檢定、校準(zhǔn)合格，并在計(jì)量有效期內(nèi)；b)測(cè)試儀器的量程和精度應(yīng)滿(mǎn)足測(cè)試要求；c)測(cè)試設(shè)備應(yīng)良好接地；d)測(cè)試儀器的頻率范圍應(yīng)滿(mǎn)足衰減器的工作帶寬。44.3注意事項(xiàng)測(cè)試時(shí)注意事項(xiàng)如下：a)GB/T17573—1998第Ⅲ篇第1節(jié)列出的一般注意事項(xiàng)；b)應(yīng)按衰減器要求進(jìn)行加電，并按照測(cè)試儀器說(shuō)明書(shū)規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間充分預(yù)熱，若說(shuō)明書(shū)未規(guī)定c)除另有規(guī)定外，系統(tǒng)的輸入、輸出阻抗應(yīng)為50Ω;d)應(yīng)使用合適的測(cè)試夾具進(jìn)行測(cè)試；e)測(cè)試人員應(yīng)經(jīng)過(guò)專(zhuān)業(yè)技術(shù)培訓(xùn)，并嚴(yán)格按照相關(guān)操作規(guī)程進(jìn)行操作；f)當(dāng)操作靜電敏感器件時(shí)，應(yīng)遵守GB/T17573—1998第IX篇中的注意事項(xiàng)。5詳細(xì)要求測(cè)試在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)△P。(dBm)=△P;(dBm),參考狀態(tài)下入射功率與輸出功率之比。測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀被測(cè)件偏置電源控制電壓圖1插入損耗測(cè)試框圖應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于參考狀態(tài)，從矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上直接讀出此狀態(tài)下輸出端口比輸入端口的幅度S參數(shù)，即為插入損耗Lins。應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；5e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。測(cè)試在不同頻點(diǎn)下，參考狀態(tài)插入損耗最大變化量。測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于參考狀態(tài)，測(cè)量同一衰減器在不同頻點(diǎn)下參考狀態(tài)插入損耗最大值Lm與參考狀態(tài)的插入損耗最小值Lm;d)根據(jù)公式(1)計(jì)算帶內(nèi)波動(dòng)： (1)式中：△L?！粶y(cè)衰減器的帶內(nèi)波動(dòng)，單位為分貝(dB);Lmaxo——被測(cè)衰減器帶內(nèi)參考狀態(tài)下插入損耗的最大值，單位為分貝(dB);Lming——被測(cè)衰減器帶內(nèi)參考狀態(tài)下插入損耗的最小值，單位為分貝(dB)。5.2.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。測(cè)試在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)△P。(dBm)=△P;(dBm),指定控制電壓下的衰減狀態(tài)插入損耗與參考狀態(tài)插入損耗的差值。5.3.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；6GB/T42744—2023c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于參考狀態(tài)，記錄插入損耗Lims;改變控制電壓，使衰減器處于指定的衰減狀態(tài)，記錄插入損耗La;d)根據(jù)公式(2)計(jì)算衰減量：Aau=|Lat-Linsl………(2)式中：An——衰減器的衰減量，單位為分貝(dB);Lat——指定狀態(tài)下的插入損耗，單位為分貝(dB);Lims——參考狀態(tài)下的插入損耗，單位為分貝(dB)。5.3.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。5.4衰減平坦度(△A)5.4.1目的測(cè)試在不同頻點(diǎn)下，指定控制電壓下的衰減量的最大變化量。5.4.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.4.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)；d)記錄指定狀態(tài)下，被測(cè)件在不同頻率點(diǎn)下衰減量最大值A(chǔ)a(mx)與衰減量最小值A(chǔ)a(min);e)根據(jù)公式(3)計(jì)算衰減平坦度：△A=Aat(max)—Aat(min)…………(3)式中：△A——衰減器的衰減平坦度，單位為分貝(dB);Aa(指定衰減狀態(tài)下的衰減量最大值，單位為分貝(dB);Aat(min)——指定衰減狀態(tài)下的衰減量最小值，單位為分貝(dB)5.4.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；7GB/T42744—2023d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。5.5衰減范圍(Arm)測(cè)試衰減控制可提供的最大衰減量。5.5.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.5.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于參考狀態(tài)，記錄插入損耗Lim;改變控制電壓，使衰減器處于最大衰減狀態(tài)，記錄最大衰減狀態(tài)插入損耗La(m;d)根據(jù)公式(4)計(jì)算衰減范圍：Aran=Lat(max)—Lins…………(4)式中：An——衰減器的衰減范圍，單位為分貝(dB);Lat(max——最大衰減狀態(tài)下的插入損耗，單位為分貝(dB);Lins——參考狀態(tài)下的插入損耗，單位為分貝(dB)。5.5.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。5.6衰減溫度穩(wěn)定性(Am)、衰減溫度系數(shù)(α?)測(cè)試衰減器在規(guī)定溫度點(diǎn)或溫度間隔的衰減量最大變化量以及在指定控制電壓下的衰減量隨著溫度變化而變化的速率。5.6.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.6.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：8GB/T42744—2023a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)，從網(wǎng)絡(luò)分析儀中讀取常溫規(guī)定頻率的衰減量為基準(zhǔn)；d)根據(jù)規(guī)定溫度點(diǎn)或溫度間隔測(cè)量衰減器的衰減量Aatm和A;e)根據(jù)公式(5)計(jì)算衰減溫度穩(wěn)定性，根據(jù)公式(6)計(jì)算衰減溫度系數(shù)：Am=|Aan(H)—Aat(L)l (5) (6)Am——衰減器的衰減溫度穩(wěn)定性，單位為分貝(dB);Aa(H)——高溫值下讀出的衰減值，單位為分貝(dB);AanL)——低溫值下讀出的衰減值，單位為分貝(dB);aA——衰減器的衰減溫度系數(shù)，單位為分貝每攝氏度(dB/℃);Tn——規(guī)定高溫值，單位為攝氏度(℃);T?——規(guī)定低溫值，單位為攝氏度(℃)。5.6.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境溫度或溫度間隔；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。5.7衰減精度(Aa)測(cè)試指定衰減量與測(cè)試衰減量之間的最大差值。5.7.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.7.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接好測(cè)試系統(tǒng)，加上規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)，測(cè)試衰減量Aan;d)根據(jù)公式(7)計(jì)算衰減精度：Aaur=Aan-Ai……(7)式中：Aaur——衰減器的衰減精度，單位為分貝(dB);9GB/T42744—2023Aatt——衰減器的衰減量，由公式(1)計(jì)算出，單位為分貝(dB);Aa——指定衰減狀態(tài)下的目標(biāo)衰減量，單位為分貝(dB)。5.7.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。5.8幅度一致性(△Ano)測(cè)試在指定狀態(tài)下不同被測(cè)衰減器的衰減量與衰減量中心值的偏差。5.8.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.8.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)，從矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中讀取衰減量最大值A(chǔ)(m和最小值A(chǔ)amim);d)根據(jù)公式(8)計(jì)算幅度一致性： (8)式中：△A,o——n個(gè)衰減器的幅度一致性，單位為分貝(dB);A)——第i個(gè)被測(cè)衰減器同一頻率點(diǎn)參考狀態(tài)下衰減量，單位為分貝(dB);Aat(max)——Aat(max=max[Aat,Aa?,…,Aat(n-D,Aautw)],n個(gè)衰減器同一頻率點(diǎn)參考狀態(tài)下衰減量最大值，單位為分貝(dB);Aan(min)——Aat(min)=max[Aa,Aane,…,Aau(g-D,Aat(n)],n個(gè)衰減器同一頻率點(diǎn)參考狀態(tài)下衰減量最小值，單位為分貝(dB)。5.8.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。GB/T42744—20235.9.1目的測(cè)試在指定狀態(tài)下不同被測(cè)衰減器相位值與相位中心值的偏差。5.9.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.9.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)或歸一化校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)，從矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中讀取相位的最大值PHmx和最小值PHmin;d)根據(jù)公式(9)計(jì)算幅度一致性：式中：△qao——n個(gè)衰減器的相位一致性，單位為度(°);PH;——第i個(gè)被測(cè)衰減器同一頻率點(diǎn)指定狀態(tài)下相位值，單位為度(°);PHmx——PHx=max[PH?,PH?,…,PH,-1,PH,],n個(gè)衰減器同一頻率點(diǎn)指定狀態(tài)下相PHmn——PHmin=min[PH?,PH?,…,PH,-1,PH,],n個(gè)衰減器同一頻率點(diǎn)指定狀態(tài)下相位5.9.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。測(cè)試輸入端的最大信號(hào)電壓與輸入端的最小信號(hào)電壓之比以及輸出端的最大信號(hào)電壓與輸出端的最小信號(hào)電壓之比。5.10.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.10.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行S參數(shù)校準(zhǔn)；c)按圖1連接好測(cè)試系統(tǒng)，加上規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)，從矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上直接讀出此狀態(tài)下輸入、輸出端口的駐波比VSWRm、VSWRou。應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。測(cè)試插入損耗比線(xiàn)性區(qū)插入損耗增加ndB時(shí)的輸入功率。以下給出兩種測(cè)試方法：——方法1,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試法；——方法2,信號(hào)功率測(cè)試法。測(cè)試框圖見(jiàn)圖2。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀7衰減器偏置電源控制電壓放大器被測(cè)件LL圖2ndB壓縮輸入功率測(cè)試框圖(方法1)應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)測(cè)試儀器開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行功率校準(zhǔn)和S參數(shù)校準(zhǔn)；c)按圖2連接被測(cè)件，加上規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)；d)按規(guī)定條件調(diào)節(jié)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出功率，使被測(cè)件的輸入功率為P,記錄被測(cè)件的插入損耗Lims;增加矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出功率，直到插入損耗增加ndB時(shí)，記錄此時(shí)被測(cè)件的輸入功率即為ndB壓縮輸入功率P;(ndB)。應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率。注意事項(xiàng)如下：a)當(dāng)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀輸出功率不能滿(mǎn)足被測(cè)件要求時(shí)，應(yīng)在被測(cè)件輸入端口增加放大器；b)當(dāng)被測(cè)件輸出功率超過(guò)矢量分析儀輸入功率承受能力時(shí)，應(yīng)在被測(cè)件輸出端口增加合適的衰減器以保護(hù)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的接收端。測(cè)試框圖見(jiàn)圖3。77衰減器L控制電壓偏置電源信號(hào)源放大器功率計(jì)廠(chǎng)廠(chǎng)7圖3ndB壓縮輸入功率測(cè)試框圖(方法2)應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)測(cè)試儀器開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)功率計(jì)自校準(zhǔn)并設(shè)置測(cè)試線(xiàn)纜損耗補(bǔ)償，連接衰減器、信號(hào)源和功率計(jì)，校準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)；c)按圖3連接被測(cè)件，加上規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)；d)按規(guī)定條件調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出功率，使被測(cè)件的輸入功率為P,記錄被測(cè)件的輸出功率P。,計(jì)算該狀態(tài)下插入損耗Lims;增加被測(cè)件輸入功率，直到插入損耗增加ndB時(shí)，記錄此時(shí)的輸入功率即為ndB壓縮輸入功率P(dB)。應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率。注意事項(xiàng)如下：a)當(dāng)信號(hào)源輸出功率不能滿(mǎn)足被測(cè)件要求時(shí)，P;應(yīng)在被測(cè)件輸入端口增加放大器；b)當(dāng)被測(cè)件輸出功率超過(guò)功率計(jì)輸入功率承受能力時(shí)，應(yīng)在被測(cè)件輸出端口增加合適的衰減器以保護(hù)功率計(jì)的接收端。5.12交調(diào)失真(雙頻)(P,/P?)測(cè)試在規(guī)定的輸入功率下，n階交調(diào)功率與輸出信號(hào)基頻功率之比。5.12.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖4。信號(hào)源1信號(hào)源1頻譜儀偏置電源控制電壓合路器被測(cè)件圖4交調(diào)失真(雙頻)(P。/P?)測(cè)試框圖5.12.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)測(cè)試開(kāi)機(jī)預(yù)熱，頻率、輸入功率設(shè)置為規(guī)定值；b)測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)；c)按圖4連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)，調(diào)節(jié)信號(hào)源1和信號(hào)源2,按規(guī)定條件向被測(cè)件輸入相同功率、不同頻率的信號(hào)；d)在頻譜儀上讀出被測(cè)件輸出的基頻信號(hào)輸出功率P?。,讀出n階交調(diào)信號(hào)輸出信號(hào)功率Pm。;e)根據(jù)公式(10)計(jì)算交調(diào)失真：式中：P?/P?——衰減器的交調(diào)失真，單位為分貝(dBc);P。基頻信號(hào)輸出功率，單位為分貝毫瓦(dBm);Pno——n階交調(diào)信號(hào)輸出信號(hào)功率，單位為分貝毫瓦(dBm)。5.12.4規(guī)定條件應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率范圍。5.13n階交調(diào)點(diǎn)輸入功率(IP)測(cè)試基頻的輸出功率與n階交調(diào)信號(hào)的輸出功率的延伸線(xiàn)交點(diǎn)處的對(duì)應(yīng)輸入功率。5.13.2測(cè)試框圖測(cè)試框圖見(jiàn)圖4。應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)測(cè)試開(kāi)機(jī)預(yù)熱，頻率、輸入功率設(shè)置為規(guī)定值；b)測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)；c)按圖4連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)，調(diào)節(jié)信號(hào)源1和信號(hào)源2,按規(guī)定條件向被測(cè)件輸入相同功率、不同頻率的信號(hào)；d)在頻譜儀上讀出被測(cè)件輸出的基頻信號(hào)輸出功率和n階交調(diào)信號(hào)輸出信號(hào)功率；e)改變輸入信號(hào)功率，在指定范圍內(nèi)重復(fù)上述d)步驟，將得到的數(shù)據(jù)繪成曲線(xiàn)；f)將基頻信號(hào)和n階交調(diào)信號(hào)的線(xiàn)性區(qū)延伸，兩延伸線(xiàn)的交點(diǎn)對(duì)應(yīng)的輸入功率即是n階交調(diào)點(diǎn)輸入功率IP。。應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率范圍。5.14附加相移(Ph)測(cè)試在指定衰減控制下，衰減后輸出與參考狀態(tài)輸出之間的相位差。測(cè)試框圖見(jiàn)圖1。5.14.3測(cè)試步驟應(yīng)按以下步驟進(jìn)行測(cè)試：a)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀開(kāi)機(jī)預(yù)熱，工作頻率、輸入功率、掃描頻率點(diǎn)數(shù)設(shè)置為規(guī)定值；b)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)；c)按圖1連接被測(cè)件，加規(guī)定的偏置條件，設(shè)置控制電壓使衰減器處于指定狀態(tài)；d)測(cè)量被測(cè)件在規(guī)定頻率點(diǎn)或規(guī)定頻率范圍內(nèi)所有衰減狀態(tài)的相位與參考狀態(tài)的相位之差即為附加相移Ph?v。應(yīng)規(guī)定以下條件：a)環(huán)境或參考點(diǎn)溫度；b)偏置條件；c)工作頻率；d)輸入功率；e)掃描頻率點(diǎn)數(shù)。測(cè)試在衰減器線(xiàn)性工作區(qū)△P。(dBm)=△P(dBm),控制電壓上升沿的50%和輸出電壓對(duì)應(yīng)的翻轉(zhuǎn)沿的50%之間的時(shí)間間隔為ton,控制電壓下降沿的50%和輸出電壓對(duì)應(yīng)的翻轉(zhuǎn)沿的50%之間的時(shí)間間隔為to,輸出電壓