(高清版)GBT 11420-2024 搪瓷制品和瓷釉 光澤度測(cè)試方法

搪瓷制品和瓷釉光澤度測(cè)試方法Vitreousandporcelainenamels—Testmethodofspecularglossiness2024-04-25發(fā)布I本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T11420—1989《搪瓷光澤測(cè)試方法》,與GB/T11420—1989相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外，主要技術(shù)變化如下：a)更改了“術(shù)語和定義”(見第3章，1989年版的第2章);b)更改了儀器設(shè)備的入射角和工作標(biāo)準(zhǔn)板的要求(見第5章，1989年版的5.3);c)增加了試驗(yàn)環(huán)境(見第7章);d)更改了試驗(yàn)步驟(見第8章，1989年版的第6章);e)增加了計(jì)算與結(jié)果表示(見第9章);f)更改了試驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容(見第10章，1989年版的第7章)。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本文件由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC57)歸口。本文件起草單位：湖南信諾技術(shù)股份有限公司、珠海格力電器股份有限公司、東華大學(xué)、江陰硅普搪瓷股份有限公司。龔苗。本文件于1989年首次發(fā)布，本次為第一次修訂。1搪瓷制品和瓷釉光澤度測(cè)試方法本文件描述了搪瓷制品和瓷釉瓷層表面光澤度的測(cè)試方法。本文件適用于測(cè)試搪瓷制品和瓷釉瓷層表面的光澤度。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。JJG696鏡向光澤度計(jì)和光澤度板檢定規(guī)程3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。光澤gloss搪瓷制品和瓷釉瓷層表面的光亮程度。光澤度specularglossiness通過數(shù)值表示搪瓷制品和瓷釉瓷層表面的光亮程度。在可見光波長(zhǎng)范圍內(nèi)，在入射角(θ)下，折射率為1.567且表面光澤度值定為100的拋光平整黑玻璃板。通常采用玻璃或陶瓷等材料制成，用于光澤度儀測(cè)量校準(zhǔn)的表面平整、均勻、耐磨的標(biāo)準(zhǔn)板。在規(guī)定的光源和入射角(θ)下，通過比較搪瓷制品和瓷釉瓷層表面鏡向方向的反射光通量與基準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)板或工作標(biāo)準(zhǔn)板在鏡向方向的反射光通量來測(cè)試其光澤度。光澤度按公式(1)進(jìn)行計(jì)算：式中：G、——樣品的光澤度；2φ?！鶞?zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)板或工作標(biāo)準(zhǔn)板的反射光通量；5儀器設(shè)備5.1光澤度儀5.1.1入射角為45°或60°,儀器性能不低于JJG696中二級(jí)，儀器的光學(xué)原理圖見附錄A。5.1.2測(cè)試窗口的邊長(zhǎng)或直徑不小于10mm。5.2工作標(biāo)準(zhǔn)板符合JJG696中工作板的要求。6樣品樣品測(cè)試面應(yīng)為平整面，無明顯凹凸不平、翹曲、裂紋或爆瓷缺陷。7試驗(yàn)環(huán)境環(huán)境溫度為23℃±5℃,相對(duì)濕度為30%～80%。8試驗(yàn)步驟8.1先用脫脂劑(如無水乙醇等)清洗樣品測(cè)試面，隨后用去離子水沖洗，直至水能夠在測(cè)試面均勻擴(kuò)展為止。8.2用濾紙吸干或用吹風(fēng)機(jī)吹干樣品。干燥后，手不應(yīng)觸碰樣品測(cè)試面。8.3測(cè)試部位應(yīng)符合表1的規(guī)定，圖1為測(cè)試部位位置示意圖。表1測(cè)試部位的確定樣品測(cè)試點(diǎn)數(shù)測(cè)試部位*最大平整部分直徑<150mm4以平整部分中心為圓心，25mm為半徑的圓周上的4個(gè)平分點(diǎn)為測(cè)試部位最大平整部分直徑≥150mm8以平整部分中心為圓心，50mm為半徑的圓周上的4個(gè)平分點(diǎn)及以25mm為半徑的同心圓周上的4個(gè)平分點(diǎn)為測(cè)試部位宜避免在明顯的凹坑、凸點(diǎn)或其他缺陷處選擇測(cè)試部位。3標(biāo)引序號(hào)說明：1——測(cè)試部位的位置。圖1測(cè)試部位位置示意圖8.4接通電源，儀器穩(wěn)定后，按儀器使用要求校零或自檢。8.5用工作標(biāo)準(zhǔn)板校核儀器。8.6將儀器測(cè)試窗口逐個(gè)置于測(cè)試部位上測(cè)試，記錄各個(gè)部位的測(cè)試值。9計(jì)算與結(jié)果表示計(jì)算樣品光澤度測(cè)試值的算術(shù)平均值，以此算術(shù)平均值作為測(cè)試結(jié)果，測(cè)試結(jié)果精確到1光澤單位。對(duì)于不同角度的測(cè)試結(jié)果，應(yīng)在符號(hào)G后括號(hào)內(nèi)標(biāo)注入射角：—入射角為45°,用G(45)表示；——入射角為60°,用G(60)表示。10試驗(yàn)報(bào)告試驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)給出以下內(nèi)容：a)樣品名稱；b)本文件編號(hào)；d)測(cè)試日期；e)測(cè)試結(jié)果；f)其他需要說明的情況。4(資料性)光學(xué)原理圖光學(xué)原理圖見圖A.1標(biāo)引符號(hào)說明：