CHT 7001-1999 1：5 000 1：10 000 1：25 000海岸帶地形圖測繪規(guī)范（正式版）

中華人民共和國測繪行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)航測儀器整機(jī)精度檢定規(guī)程VerificationRegulationfortheGenaralAccuracy前言I 2引用標(biāo)準(zhǔn) 4檢測條件 5方法提要 7檢測方法 8檢測數(shù)據(jù)處理及整機(jī)精度評定限差要求 附錄A檢測記錄計算表格(補(bǔ)充件) I為了加強(qiáng)對航測儀器整機(jī)精度檢測工作的需要，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了整機(jī)檢定的檢測條件、檢具、方法和精度評定限差要求。并有標(biāo)準(zhǔn)附錄A檢測記錄計算表格示例。從而為開展航測儀器整機(jī)精度檢測工作提供了統(tǒng)一的技術(shù)依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由國家測繪局提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由國家測繪局測繪標(biāo)準(zhǔn)化研究所、江蘇省測繪研究所共同負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：畢生成、馬聰麗、成燕輝。1航測儀器整機(jī)精度檢定規(guī)程ofAerophotogrammetricInstruments本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各等級精度的模擬立體測圖儀、解析測圖儀和糾正儀的整機(jī)精度的檢定。本標(biāo)準(zhǔn)適用于新制造、使用中和維護(hù)后的立體測圖儀與解析測圖儀和由模儀改造而成的相應(yīng)等級精度的機(jī)助或解析測圖儀的整機(jī)精度檢定。并適用于各種類型糾正儀整機(jī)精度對于引進(jìn)國外相應(yīng)等級精度的儀器亦可參照本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行整機(jī)精度檢定。下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。CH8006-91模擬測圖儀系列及其基本參數(shù)CH8012-92HJT05解析測圖儀CH8005-910.8～7.0倍糾正儀3定義3.1航測儀器整機(jī)精度(GenaralAccuracyofAerophotogramm用模擬像對(或模擬像片)對測圖儀(或糾正儀)在儀器整個量測范圍內(nèi)測定三維(或二維)空間定位精度的總稱。3.2模擬像片玻璃板(AnalogPhotographPlate)用玻璃材料制造，表面刻有按共線方程求得的像面坐標(biāo)點(diǎn)位的十字狀刻線3.3模擬像對玻璃板(PairofAnalogPhotographPlates)模擬可構(gòu)成立體像對的兩張模擬像片玻璃板。4檢測條件4.4糾正儀在暗室或半暗室進(jìn)行檢測。遜額蝦斗斜對勤TM125方法提要本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定采用專用模擬像對玻璃板檢測立體測圖儀和解析測圖儀的檢測方法，采用專用模擬像片玻璃板檢測糾正儀的檢測方法。模擬航攝時的幾何關(guān)系，根據(jù)設(shè)計的像片內(nèi)、外方位元素和航向重疊度以及具布的地面點(diǎn)坐標(biāo)值，按共線方程解算得出地面點(diǎn)在左、右像面上的坐標(biāo)值，并以兩坐標(biāo)刻劃設(shè)備精密刻劃在經(jīng)光學(xué)加工的平行平面玻璃板上，制成模擬像片和定向后，測定各模型點(diǎn)的三維空間坐標(biāo)，其與應(yīng)有值之差計算得出高程相對中誤差m/H(H平均高程面的相對航高)和平面點(diǎn)位中誤差m'(歸化至像片面上),作為整機(jī)精度，以評定立體測圖儀和解析測圖儀整機(jī)精度。用模擬像片在糾正儀上檢測時，當(dāng)用4個角點(diǎn)糾正對點(diǎn)后，檢測其余各點(diǎn)誤差，從而評定糾正儀整機(jī)精度。6專用檢測器具6.1HMD模擬像對玻璃板航空攝影測量模擬像對玻璃板刻劃點(diǎn)位分布見圖1。6.6.1HMD模擬像對主要技術(shù)參數(shù)c.框標(biāo)：有以主點(diǎn)對稱分布的上下、左右框標(biāo)標(biāo)志及4個象限中x和y為±100mm處的4個十字狀標(biāo)志；右片g=-1°30',wg=+2°30',xg=0;g.攝影比例尺：1:18033;h.成圖比例尺：1:5000;i.地面點(diǎn)平面位置見圖2,在3000m×1500m范圍內(nèi)均布15個點(diǎn)作為平面精度的檢測和平面精j.高程布點(diǎn)：采用框架結(jié)構(gòu)模型設(shè)置高程點(diǎn)，分五層高程值分別為+300.00m,+100.00m,0,-100.00m,-300,00m五層，在單號點(diǎn)上同一平面點(diǎn)設(shè)置+300.00m,0,-300.00m三種高程，在雙號點(diǎn)上同一平面點(diǎn)設(shè)置有+100.00m,-100.00m二種高程，另外設(shè)置16～23號8個點(diǎn)，高程各不相同且尾數(shù)相差0.1m。模型范圍內(nèi)最大高差達(dá)1/3H,另有左、右主點(diǎn)的高程，見表1。6.1.2主要技術(shù)要求a.采用5～6mm厚玻璃板經(jīng)光學(xué)精加工；b.在230mm×230mm范圍內(nèi)刻劃點(diǎn)位中誤差應(yīng)小于±0.002～0.003mm;c.刻劃線寬為0.01～0.02mm。十十w+++十十主十4Z圖2HMD模擬像對地面點(diǎn)平面位置分布圖注：1~15點(diǎn)的三位數(shù)字編號中前一位數(shù)表示高程的百米數(shù)，后二位表示平面點(diǎn)號，16～23的平面點(diǎn)號與高程值分列，另外還有左、右片主點(diǎn)50L和50R,共48個高程，23個平面點(diǎn)位。在高程檢測時，可以任舍7、9點(diǎn)和50L、50R其中的一組，即成為46或42個高程值。表1HMD模擬像對地面點(diǎn)點(diǎn)號、坐標(biāo)和高程5 模擬像片玻璃板點(diǎn)位刻劃分布見圖3,HMP模擬像片玻璃板分為HMP-1和HMP-2兩種(可刻在e.地面點(diǎn)平面位置見圖4,在900m×900m范圍內(nèi)均布25個點(diǎn)。6e.地面點(diǎn)平面位置見圖5,在6000m×6000m范圍內(nèi)均布9個點(diǎn)并在4個象限中央設(shè)4個點(diǎn)共13個點(diǎn)。H中其.愿十十十十6.2.3主要技術(shù)要求a.玻璃板厚度為5～6mm,經(jīng)光學(xué)精加工；b.刻劃點(diǎn)位中誤差應(yīng)小于土0.007mmc.刻劃線寬為0.02～0.04mm。77.1立體測圖儀整機(jī)精度檢測7.1.1檢測器具HMD模擬像對玻璃板1對，三等標(biāo)準(zhǔn)金屬線紋尺。7.1.2檢測方法a.裝片：模擬像對玻璃板分別安置在左、右像片盤上，并通過放大鏡仔細(xì)觀察使框標(biāo)標(biāo)志對準(zhǔn)像片盤相應(yīng)標(biāo)志，其對準(zhǔn)誤差不得大于0.005mm,個別不得大于0.008mm。b.安置主距：安置左、右主距f=152.50mm,精確到0.01mm。c.模型比例尺選擇：在保證模擬像對模型所有高程、平面的活動范圍的條件下，盡可能選擇較大的模型比例尺，一般選擇模型比例尺1;10000。d.相對定向：6個標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)(OL、OR、501、503、513、515)的殘余上下視差以像片比例尺計應(yīng)不大于0.010～0.015mm(相當(dāng)于1/4測標(biāo))。e.絕對定向：(a)歸化模型比例尺：用模擬像對模型4個角點(diǎn)(501、503、513、515)進(jìn)行比例尺歸化。當(dāng)用圖解對點(diǎn)時應(yīng)使平面對點(diǎn)誤差不大于0.1mm,個別點(diǎn)允許達(dá)0.2mm誤差。當(dāng)采用模型點(diǎn)計數(shù)器記錄上述4個角點(diǎn)的模型坐標(biāo)進(jìn)行比例尺歸化時，邊長和對角線線段長度與應(yīng)有值之差應(yīng)小于0.02mm,個別線段長度允許誤差0.03mm。(b)模型置平：用(a)述4個角點(diǎn)為平面和高程定向點(diǎn)，經(jīng)合理配賦后高程定向點(diǎn)殘余誤差不大于0.15m,4個高程定向點(diǎn)之間最大較差應(yīng)不大于0.2m,個別允許達(dá)0.3m。f.高程和平面坐標(biāo)量測：量測48(或46、42)個高程值和15個點(diǎn)平面坐標(biāo)值。(a)高程量測：采用立體觀察、一人單測，以往返兩次切讀的讀數(shù)取中數(shù)。同一點(diǎn)往返測高程值二次切讀讀數(shù)較差應(yīng)不大于0.2m,個別點(diǎn)允許達(dá)0.3m。當(dāng)往返量測48(或46、42)個點(diǎn)高程后，凡二次讀數(shù)超限(大于0.2m)點(diǎn)個數(shù)超過總點(diǎn)數(shù)的1/5時，則全部高程點(diǎn)須重新切讀，如果超限點(diǎn)數(shù)在總點(diǎn)數(shù)的1/5之內(nèi)，則允許對超限的點(diǎn)重新往返測高程值。記錄、計算表格見附錄A中的表A1。(b)平面坐標(biāo)量測：立體觀察切讀15個點(diǎn)的高程和平面點(diǎn)位[801、602、503、404、205、606、507差不應(yīng)大于相當(dāng)實地0.1m,個別允許差0.2m。記錄計算表格見附錄A中的表A2。對于帶縮放儀或繪圖桌而無x、y計數(shù)器的立體測圖儀器，采用立體觀察切讀9個點(diǎn)[801、503、205、507(50L)、408、509(50R)、811、513、215]并刺點(diǎn)在0.1mm厚聚脂薄膜上(或圖板上),然后用三等標(biāo)準(zhǔn)金屬線紋尺量取邊長和對角線，記錄表格見附錄A中的表A3。7.2解析測圖儀整機(jī)精度檢測7.2.1檢測器具HMD模擬像對玻璃板1對。7.2.2檢測方法a.內(nèi)定向：模擬像對玻璃板分別安置在左、右承片盤上后，測標(biāo)依次精確對準(zhǔn)4個框標(biāo)，框標(biāo)應(yīng)有值為4個象限中x=y=±100.000mm,內(nèi)定向誤差應(yīng)小于0.003mm,個別不得大于0.005mm。b.相對定向：6個標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)的殘余上下視差以像片比例尺計應(yīng)不大于0.003mm,個別不得大于c.絕對定向：用4角4個點(diǎn)(501、503、513、515)的高程值和平面大地坐標(biāo)作為絕對定向值。其平面坐標(biāo)誤差應(yīng)小于0.05m,個別允許0.10m,高程定向點(diǎn)誤差應(yīng)不大于0.05m,個別點(diǎn)允許達(dá)0.1m。d.高程和平面坐標(biāo)量測：采用立體觀察、一人單測，以往返測兩次切讀的讀數(shù)取中數(shù)。量測48(或46、42)個高程點(diǎn)和15個點(diǎn)平面坐標(biāo)值，并自動記錄打印出48(或46、42)個高程值和15個點(diǎn)的平面坐標(biāo)值，亦可48(或46、42)個點(diǎn)平面坐標(biāo)值全部記錄打印。其高程值同一點(diǎn)往返測二次切讀讀數(shù)較差應(yīng)不87.3.1檢測器具b.糾正對點(diǎn)：放大4倍時，用在600mm×600mm范圍內(nèi)均布25個點(diǎn)，且展點(diǎn)誤差不大于0.1mm點(diǎn)誤差應(yīng)不大于0.1mm,個別點(diǎn)允許不大于c.目視估讀或必要時用讀數(shù)顯微鏡讀取25個點(diǎn)的誤差值，并記錄見附錄A中的表A5左上部。d.改變縮放倍數(shù)為6倍時或直接安置在6倍時，用在450mm×450mm范圍內(nèi)均布9個點(diǎn)且展點(diǎn)誤差不大于0.1mm的對點(diǎn)底圖，分4個象限(各9個點(diǎn))進(jìn)行縮放對點(diǎn)。對點(diǎn)誤差應(yīng)不大于0.1mm,個別允許不大于0.2mm。b.糾正對點(diǎn)：放大4倍時，用在600mm×600mm范圍內(nèi)分布13個且展點(diǎn)誤差不大于0.1mm的對應(yīng)不大于0.1mm,個別點(diǎn)允許不大于0.2mm。8檢測數(shù)據(jù)處理及整機(jī)精度評定限差要求8.1.1高程中誤差m-√C?8.1.3平面精度9z——儀器上平均投影高度，mm;n——觀測值個數(shù)；t——未知數(shù)個數(shù)(本規(guī)程設(shè)定為4個);N?=[dx?]+[dy,];N?=[dx?]+[dy?];b.用于解析測圖儀的15個點(diǎn)平面精度檢測。平面中誤差(地面上):化至像片面上：dx——x坐標(biāo)讀數(shù)平均值減去x應(yīng)有值，m;dy—y坐標(biāo)讀數(shù)平均值減去y應(yīng)有值，m;n——觀測平面點(diǎn)個數(shù)。c.9點(diǎn)刺點(diǎn)平面精度檢測對于不附有x、y計數(shù)顯示功能的立體測圖儀，用圖解刺點(diǎn)后，以邊長、對角線線段量測值與應(yīng)有值比較。8.1.4糾正對點(diǎn)后檢測點(diǎn)的殘余對點(diǎn)誤差用模擬像片糾正對點(diǎn)后直接讀取投影點(diǎn)與對點(diǎn)底圖上相應(yīng)點(diǎn)之誤差并標(biāo)記誤差方向。8.2整機(jī)精度評定限差要求8.2.1立體測圖儀整機(jī)精度限差要求對立體測圖儀整機(jī)精度限差要求如表2所示。等級高程相對中誤差m',(像面上)儀器型號示例I1/20000以上Ⅱ1/10000以上Ⅱ1/5000以上8.2.2解析測圖儀整機(jī)精度限差要求對解析測圖儀整機(jī)精度限差要求如表3所示。表3解析測圖儀整機(jī)精度限差等級高程相對中誤差m'(像面上)儀器型號示例I1/20000以上Ⅱ1/10000以上1/13000以上Ⅲ1/5000以上8.2.3糾正儀整機(jī)精度限差要求在放大4倍、6倍糾正時，當(dāng)4角糾正點(diǎn)誤差小于0.1mm(個別為0.2mm)時，其檢測點(diǎn)殘余對點(diǎn)誤差應(yīng)在0.1mm以內(nèi)(個別誤差允許達(dá)0.2mm)。8.3檢測結(jié)果的處理和檢定周期8.3.1經(jīng)檢測符合本標(biāo)準(zhǔn)精度限差要求的儀器應(yīng)填發(fā)儀器精度檢定合格證書，對不符合本標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)發(fā)給檢定結(jié)果通知書，用戶須重新進(jìn)行檢校維修，然后再重新檢定。各等級儀器如使用年久，檢校維修后仍達(dá)不到本儀器原等級限差要求，可降低儀器等級，按其達(dá)到的限差等級發(fā)給合格證書。8.3.2檢定周期可根據(jù)儀器具體使用情況確定，一般為1年，對于解析測圖儀最長不超過2年，尤其在儀器搬動或大的檢校后必須及時對儀器進(jìn)行檢定。派派檢測記錄計算表格(補(bǔ)充件)誤差v點(diǎn),m'號135誤差v點(diǎn)m號2468 表A2HMD模擬像對模型15點(diǎn)平面精度檢測表點(diǎn)號Ⅱab點(diǎn)號Ⅱcd+十 十++十十 十一一十一十+十十++觀測者：記錄者：觀測者：記錄者：表A3HMD模擬像對模型9點(diǎn)刺點(diǎn)平面精度檢測表儀