正弦規(guī)檢定規(guī)程

正弦規(guī)檢定規(guī)程本規(guī)程適用于準(zhǔn)確度等級為0級和1級的正弦規(guī)的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中2引用文獻本規(guī)程引用下列文獻：JJF1059—1999《測量不確定度評定與表示》JJF1001~-1998《通用計量術(shù)語及定義》使用本規(guī)程時，應(yīng)注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本。正弦規(guī)是應(yīng)用正弦原理，借助量塊產(chǎn)生角度的一種計量器具，主要用于測量工件角度和圓錐體錐度。它分為0級和1級，有窄型(見圖1)和寬型(見圖2)兩種結(jié)構(gòu)4計量性能要求4.1測量面的表面粗糙度最大允許誤差要求見表1。4.2主體工作面的平面度2圖2寬型正弦規(guī)最大允許誤差要求見表1。4.3主體工作面與圓柱母線公切面的平行度最大允許誤差要求見表1。表1計量性能要求結(jié)構(gòu)型式1級1級11.主體工作面：R,0.082主體工作面的平面度122中間不允許凸3線公切面的平行度1234窄型12寬型23245窄型寬型6正弦規(guī)成30°時的角值偏差("窄型寬型34.4兩圓柱軸線的平行度最大允許誤差要求見表1。4.5兩圓柱中心距的偏差最大允許誤差要求見表1。4.6正弦規(guī)成30°時的角值偏差最大允許誤差要求見表1。5通用技術(shù)要求5.1外觀5.1.1正弦規(guī)的各工作面上應(yīng)無銹蝕、碰傷、劃痕和毛刺。5.1.2正弦規(guī)應(yīng)標(biāo)明制造廠(或廠標(biāo))、MC標(biāo)志、規(guī)格及出廠編號。5.2磁性正弦規(guī)應(yīng)無磁性。使用中與修理后的正弦規(guī)允許有不影響測量準(zhǔn)確度的上述缺陷。6計量器具控制計量器具控制包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗。6.1.1環(huán)境條件6.1.1.1實驗室的溫度為(20±1)℃,每小時溫度變化應(yīng)不大于1℃。6.1.1.2檢定前，應(yīng)將正弦規(guī)置于室內(nèi)平板上不少于1h,或置于室內(nèi)不少于3h。6.1.2主要檢定器具及其技術(shù)要求主要檢定器具及其技術(shù)要求見表2。1級正弦規(guī)示值誤差：+12%~-17%刀口形直尺0級0級臥式光學(xué)計00級0級3等3等0級0級6.2檢定項目正弦規(guī)檢定項目見表3。4表3檢定項目首次檢定后續(xù)檢定十++2+++3+4++5++6+7+8正弦規(guī)成30°時的角值偏差+++注：表中“+”表示應(yīng)檢項目，“-”表示可不檢項目。6.3.3測量面的表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊以比較法進行檢定。6.3.4主體工作面平面度使用尺寸不小于主體工作面對角線長度的0級刀口形直尺，在受檢工作面不少于四個位置(如圖3所示)上以光隙法進行測量，取最大值作為檢定結(jié)果。6.3.5主體工作面與兩圓柱母線公切面的平行度檢定時，將正弦規(guī)放在平板上，使緊固在萬能表架上的測微儀與主體工作面接觸，接觸點位置距工作面邊緣約4mm,移動正弦規(guī)，按圖4所示A,B,C,D四個位置分別進行測量，測微儀測得的最大值與最小值之差即為檢定結(jié)果。6.3.6兩圓柱軸線的平行度該平行度應(yīng)在平行和垂直于主體工作面的兩個測量方向上進行。首先按圖5所示，5使用臥式光學(xué)計，在圓柱母線的A—A截面位置上測得一讀數(shù)值DA,再在B—B截面位置上測得一讀數(shù)值Dg,D?與Da的差值，即為平行于主體工作面測量方向的兩圓柱軸線的平行度。然后將正弦規(guī)主體工作面向下置于00級平板(見圖6)上，用帶萬能表架的測微儀分別在A—A和B—B兩端截面位置上以一圓柱的最高母線為基準(zhǔn)，測量兩圓柱最高點間的高度偏差，兩高度偏差之差為垂直于主體工作面方向的兩圓柱軸線的平行度。兩方向的兩圓柱軸線的平行度的最大值為檢定結(jié)果。66.3.7兩圓柱中心距的偏差6.3.7.1用臥式光學(xué)計與量塊以比較法檢定兩圓柱的直徑。檢定時，將正弦規(guī)立于臥式光學(xué)計工作臺面上，分別在兩圓柱的中間截面(即圖5所示的C-C截面)上進行測量，分別測得圓柱1的截面直徑d?c和圓柱2的截面直徑dzc。6.3.7.2按圖5所示安置正弦規(guī)于臥式光學(xué)計工作臺上，用光學(xué)計和量塊以比較法測量圖5中C—C截面位置Dc后，將其與C—C截面位置的兩圓柱直徑d?c、dzc一并代入式(1)求得正弦規(guī)中心距，該值與標(biāo)稱尺寸之差為檢定結(jié)果。De-—C-C截面位置上兩圓柱外側(cè)的距離值，mm;de,dzc——兩圓柱在C—C截面位置上的直徑，mm。6.3.8.10級正弦規(guī)成30°時的角值偏差是在00級平板上測量。測量時，先按圖7所示，用測微儀測量主體工作面上A,B兩位置的數(shù)值a?和b?,然后使用量塊與正弦規(guī)組成30°的角度，將30°專用角度塊置于正弦規(guī)上，并靠緊兩擋板，再用測微儀測量角度塊兩端A,B兩點的數(shù)值a?和b?,接著在平板原位置上，置換量塊于正弦規(guī)的另一端，重復(fù)上述方法，分別測得a?,b?,a?和b?,按式(2)計算檢定結(jié)果。l——測微儀在A,B兩點間的距離(應(yīng)不小于66mm),mm;△i——標(biāo)準(zhǔn)角度的角值偏差，(")。6.3.8.21級的正弦規(guī)裝置成30°時的角值偏差測量，首先在平板上使用量塊與正弦規(guī)組成30°的角度(按圖7所示),將角度塊置于正弦規(guī)主體工作面上，并緊靠兩擋板，然后用緊固在萬能表架上的測微儀的測微頭與角度塊工作面接觸，分別讀取A,B兩點的讀數(shù)a和b,按式(3)計算檢定結(jié)果。a,b——分別為測微儀在A,B兩點的讀數(shù)，μm;l——測微儀在A,B兩點間的距離(應(yīng)不小于66mm),mm;△i——標(biāo)準(zhǔn)角度的角值偏差，(")。6.4檢定結(jié)果的處理按本規(guī)程規(guī)定的要求檢定合格的正弦規(guī)，發(fā)給檢定證書，并注明準(zhǔn)確度等級；不合格的應(yīng)發(fā)給檢定結(jié)果通知書，并注明不合格項目。6.5檢定周期正弦規(guī)的檢定周期根據(jù)使用情況確定，一般為