GBT 41270.7-2022 航空電子過程管理 大氣輻射影響 第7部分：航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應(yīng)分析過程管理

航空電子過程管理大氣輻射影響第7部分：航空電子產(chǎn)品設(shè)計中國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會I本文件修改采用IEC/TR62396-7:2017《航空電子過程管理大氣輻射影響第7部分：航空電子ⅡGB/T34955—2017《大氣輻射影響航空電子系統(tǒng)單粒子效應(yīng)試驗指南》和GB/T3 1GB/T34956—2017大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計指南(IEC62396-1:MBU:多位翻轉(zhuǎn)[multiplebitupset(inth24.1總則否是否是32)原理圖和電子設(shè)備設(shè)計資料；3)已知的敏感型電子元器件的有效SEE率。1)測試數(shù)據(jù)；2)工業(yè)數(shù)據(jù)；3)在役飛行數(shù)據(jù)；4)基于其他來源質(zhì)子和重離子的測試數(shù)據(jù)計算的FOM;5)保守估計。1)僅包括設(shè)計中使用的位；41)主動式監(jiān)控器；2)看門狗定時器，數(shù)據(jù)流CRC校驗。2)三模冗余；3)片上EDAC或ECC;1)數(shù)據(jù)刷新；3)三模冗余(硬件或軟件);4)合理性測試；6)看門狗定時器；7)周期性重啟?？啃砸?，則可認(rèn)為完成評估。如果不滿足要求，且對未經(jīng)測試的電子元器4.5SEE率計算及風(fēng)險分析經(jīng)合理地完成SEE影響分析，或者有進(jìn)一步獲得更好SEE率的可能。當(dāng)無法確定是否滿足所有安全如果判定初始SEE率不可接受，可通過輻射試驗來獲得更精確的電子元器件SEE率，或者變更5通過將單個元器件暴露于與大氣條件相當(dāng)?shù)牧Ｗ邮?見GB/T34955—2017和GB/T34956—c)數(shù)據(jù)來源包括：1)高能中子源的測試數(shù)據(jù)；2)電子元器件制造商和行業(yè)數(shù)據(jù)；3)根據(jù)其他來源(質(zhì)子和重離子)的測試數(shù)據(jù)計算得出的FOM;67表A.1本文件與IEC/TR62396-7:2017技術(shù)差異及其原因原因1于本文件的應(yīng)用按GB/T1.1的要求表述本文件規(guī)定的于本文件的應(yīng)用范圍刪除了縮略語COTS、E、JEDEC、JESD、IEEE、MTBF、SET和SSA于本文件的應(yīng)用以列項的形式強調(diào)各項中的內(nèi)容，符合進(jìn)行解釋說明，刪除解釋說明性語句，提高易用性，便于本文件的應(yīng)用于本文件的應(yīng)用于本文件的應(yīng)用8否9臺表C.1電子器件的SEE影響評估表(P/SSA輸入)件制節(jié)點中子%減緩的理由減緩的影響說明L1DataCacheMBU32KBy32)特征尺寸電壓[3]IEC62396-2Processmanagementforavionics—Atmosphericradiationeffe[4]IEC62396-3ProcessSystemdesignoptimizat[5]IEC62396-4ProcessmanagementforDesignofhighvoltageaircraft[6]IEC62396-5Process[7]ARP4761Guidelinesandmetho[8]JEDECJESD89-3Testmethodforbe[10]SAEEIA-STD-4899Requirementsforanelectroniccompon[11]Dr.EugeneNormand,‘AssessmentofAlternativeFacilitiestoLosAlamosNationalLaboratory(LANL)forAvionicsSingleEven[12]E.NormandandT.J.Baker,‘AltitudeaAtmosphericNeutronFlux',IEEETrans,Nucl.Sci.,40,1484(1993).[13]M.J.DionandL.Dominik,‘IncorporationofAtmosphericNeutronSingle航空電子過程管理大氣輻射影響第7部分：航空電子產(chǎn)品