(高清版)GB∕T 19289-2019 電工鋼帶(片)的電阻率、密度和疊裝系數(shù)的測量方法

ICS77.040.99H21GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018疊裝系數(shù)的測量方法ofelectricalsteelstripandsheetPart13:Methodsofmeasurementofresistivity,densityandstackingfactorofelectricalsteelstripandsheet,IDT)國家市場監(jiān)督管理總局GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14電阻率的測定 14.1總則 14.2測量原理 2 44.4測量裝置 44.5測量程序 54.6再現(xiàn)性 54.7檢測報告 5 6 65.2基于電阻測量的方法(方法D1) 65.3氣體比重瓶法(方法D2) 85.4檢測報告 8 9 96.2試樣 96.3測量程序 96.4再現(xiàn)性 6.5檢測報告 附錄A(資料性附錄)一種用矩形試樣片測量電阻率裝置的實例(方法R2) 附錄B(資料性附錄)采用氣體比重瓶法(方法D2)測定密度的實例 附錄C(資料性附錄)根據(jù)硅和鋁含量計算密度(方法D4) IⅢGB/T19289—2019/IEC60404-13:2018本標準按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標準代替GB/T19289—2003《電工鋼片(帶)的密度、電阻率和疊裝系數(shù)的測量方法》。與——引入氣體比重瓶法，并引用了液體浸沒法和基于試樣化學成分的理論計算法(見5.3);——原標準正文中的用矩形試樣測定電阻率裝置的實例在資料性附錄A中表述(見附錄A,2003年版的3.4.3);——增加了資料性附錄C,描述了利用硅、鋁元素含量計算密度的方法(見附錄C)。本標準使用翻譯法等同采用IEC60404-13:2018《磁性材料第13部分：電工鋼帶(片)的電阻率、與本標準中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應關(guān)系的我國文件如下：——GB/T1033.3—2010塑料非泡沫塑料密度的測定第3部分：氣體比重瓶法(ISO1183-3:——GB/T2900.60—2002電工術(shù)語電磁學[eqvIEC60050(121):1998]-—GB/T3655—2008用愛潑斯坦方圈測量電工鋼片(帶)磁性能的方法(IEC60404-2:1996,——GB/T9637—2001電工術(shù)語磁性材料與元件[eqvIEC60050(221):1990]——GB/T13789—2008用單片測試儀測量電工鋼片(帶)磁性能的方法(IEC60404-3:2002,——修改了標準名稱。本標準由中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會提出。本標準由全國鋼鐵標準化技術(shù)委員會(SAC/TC183)歸口。本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：——GB/T2522—1988;——GB/T3655—1992;1GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018疊裝系數(shù)的測量方法由于這些性能參數(shù)與溫度相關(guān)，除非另有規(guī)定，測量將在室溫23℃±5℃進行。ISO1183-3塑料非泡沫塑料的密度的測定方法第3部分：氣體比重瓶法(Plastics—Methodsfordeterminingthedensityofnon-cellularplastics—Part3:Gaspyknometermethod)IEC60050-121國際電工術(shù)語第121部分：電磁學(Internationalelectrotechnicalvocabulary—Part121:Electromagnetism)IEC60050-221國際電工術(shù)語第221部分：磁性材料與元件(Internationalelectrotechnicalvo-cabulary—Part221:Magneticmaterialsandcomponents)IEC60404-2磁性材料第2部分：用愛潑斯坦方圈法測量電工鋼帶(片)磁性能的方法(Magneticmaterials—Part2:MethodsofmeasurementofthemagneticpropertiesofelectricalsteelstripandsheetbymeansofanEpsteinframe)IEC60404-3磁性材料第3部分：單片電工鋼帶(片)磁性能測量方法(Magneticmaterials—Part3:Methodsofmeasurementofthemagneticpropertiesofelectricalsteelstripandsheetbymeansofasinglesheettester)4.1總則該方法進一步用于密度pm測定時(見5.2),適用范圍僅限于5.1中規(guī)定的材2GB/T19289—2019/IEC60404-13:20184.2測量原理4.2.1用愛潑斯坦方圈試樣測p的方法(方法R1)用愛潑斯坦方圈試樣測定電阻的電路連接方式如圖1所示。電接觸點A和B應分別排布在試樣的兩條短邊上，使電流沿試樣長度方向均勻流過試樣。另兩個間距為l。的電接觸點C和D應排布在試樣一條長邊上且位于觸點A和B之間，用于測定試樣長度le上的電壓。由于電接觸點是與試樣的剪切邊接觸，因此無需去除試樣表面的氧化層或絕緣涂層。A,B,C,D——A?V?電接觸點；——直流電流表；-—直流電壓表；——C和D之間的距離；圖1愛潑斯坦方圈試樣電阻測量電路圖(方法R1)當電流均勻流過愛潑斯坦方圈試樣時，則長度le上的材料電阻R可由式(1)計算：…………(1)式中：R———試樣上觸點C和D之間長度l。的材料電阻，單位為歐姆(Ω);Uep——觸點C和D之間的電壓，單位為伏特(V);IAB——觸點A和B之間的電流，單位為安培(A)。電阻率p可根據(jù)式(2)計算：式中：…………b——試樣的寬度，單位為米(m);d——無絕緣層的試樣的厚度，單位為米(m);le——觸點C和D之間的距離，單位為米(m)。4.2.2用矩形試樣測定p的方法(方法R2)及用于愛潑斯坦方圈試樣的補充要求用于測定正方形或矩形試樣電阻的電路連接方式如圖2所示。四個電接觸點A、B、C和D應分別對稱排布在試樣每條邊的中心。觸點與試樣的接觸面積應盡可能小。當有電流流過觸點A和B,應測3GB/T19289—2019/IEC60404-13:20量觸點C和D間的電壓。由于電接觸點是與試樣的剪切邊接觸，因此無需去除試樣表面的氧化層或絕緣涂層。電阻RAB.cp可根據(jù)式(3)計算：…………RAB,cp——觸點C和D之間的材料電阻，單位為歐姆(Ω);Ucp———觸點C和D之間的電壓，單位為伏特(V);說明：A?-—直流電流表；圖2矩形試樣電阻測量電路圖(方法R2)相應地，電阻Rpc.DA可由流過觸點B和C的電流和觸點D和A之間的電壓得到。根據(jù)二維空間保角映射理論[1],對于任意形狀厚度均勻的物體，電阻率可根據(jù)式(4)計算：式中：…………d——無絕緣層的試樣的厚度，單位為米(m);F——僅與比相關(guān)的函數(shù)。若比近似為1,則函數(shù)F。為1,那么該項可省略1]。為確保該電阻比率近似為1,觸點應對稱地排布在矩形試樣邊長的中點(如圖2所示)。方法R2也適用于愛潑斯坦方圈試樣，此時，為了獲得可靠的測量結(jié)果，宜測定一定數(shù)量(如大于10)的愛潑斯坦方圈試樣，取平均值作為測量結(jié)果。注：有證據(jù)表明，同鋼種材料各試樣之間的差異大于方法R1和方法R2之間的差異[2],因此，可以認為方法R2(范德堡方法(1)在一定程度上是與方法R1等效的。方法R2的優(yōu)點是可以采用多種形狀的試樣進行測量3]。4GB/T19289—2019/IEC60404-13:20184.2.3厚度d的測定式(2)和式(4)中的試樣厚度d應根據(jù)的規(guī)定測定。根據(jù)密度pm計算厚度式中：m——試樣的質(zhì)量，單位為千克(kg);…pm——試樣材料的密度，單位為千克每立方米(kg/m3);b——試樣的寬度，單位為米(m);l———試樣的長度，單位為米(m)。4.3.1愛潑斯坦方圈試樣方法R1(見4.2.1)采用的愛潑斯坦方圈試樣應滿足IEC60404-2的要求，具有以下尺寸：——長度：280mm≤l≤320mm,公差為士0.5mm。4.3.2矩形試樣方法R2(見4.2.2)采用的矩形或正方形試樣應滿足IEC60404-3的要求，具有以下尺寸：——寬度：300mm≤b≤500mm,公差為士0.5mm;-—長度：500mm≤l≤610mm,公差為±0.5mm。4.4測量裝置4.4.1方法R1和方法R2的通用要求測量裝置要求如下：——根據(jù)的要求，一臺經(jīng)過校準的天平，其稱量試樣的誤差在±0.1%以內(nèi)；——一臺低壓直流穩(wěn)壓電源，其電流負載范圍為1A～10A(或使用四端歐姆計，見4.5.2和4.5.3);——一臺電阻測量裝置，其測量試樣電阻R的誤差在±1%以內(nèi)[例如，準確度為±0.1%或更好的電流表和電壓表，或一臺具有相應準確度的開爾文(Kelvin)電橋或四端歐姆計];——一個面積應小于試樣的支撐平板，其上配置一種用于接觸試樣的夾緊裝置(見4.4.2和4.4.3),可使電接觸點在試樣邊緣排布，平板邊緣距離試樣各條邊的距離應不大于5mm(對矩形試樣應不大于10mm)。支撐平板應有足夠的厚度能使試樣放平，并使電接觸頭和試樣充分接觸。4.4.2方法R1的要求與試樣電接觸的裝置采用四個觸點：兩個固定在可拆卸橋架上的電壓觸點(觸針)和兩個固定在基座上的電流觸點。四個觸點排布方式如下：兩個電壓觸點C和D布于試樣長邊上，且位于兩個電流觸點A5GB/T19289—2019/IEC60404-13:20184.4.3方法R2的要求四個頭部相對尖銳(例如，具有1mm的曲率半徑)的觸點應安裝在固定在基板的支架上。各個電注1:附錄A給出了方法R2測量裝置的實例。4.5.1試樣厚度d的測定試樣厚度d應根據(jù)測定。應使用滿足要求的測量裝置和天平，分別測量試樣長度l及寬度b和質(zhì)量m。按圖1所示連接電路，電流值IAB范圍應控制在1A～5A之間，該值取決于材料的厚度及性能。通過試樣的電流應足夠大，以確保電壓Ucp的測量準確度滿足要求。如果使用能確保測量準確度的四端歐姆計，電流值可適當調(diào)低。記錄電壓值Ucp和電流值IAB,或使用四端歐姆計或開爾文電橋直接測應采用式(1)計算電阻R,或使用四端歐姆計或開爾文電橋直接測量電阻。應結(jié)合式(5),并采用式(2)計算電阻率p。按圖2所示連接電路，電流值范圍應控制在2A～10A之間，通過試樣觸點A和B的電流應足夠流值可適當調(diào)低。記錄電壓值Uep和電流值IAp,或使用四端歐姆計或開爾文電橋直接測量電阻值。為應采用式(3)計算電阻RAB.cp,或使用四端歐姆計或開爾文電橋直接測量電阻。相應地，電阻應結(jié)合式(5),并采用式(4)計算電阻率p。4.6再現(xiàn)性根據(jù)比對試驗[3],符合第4章規(guī)定的電阻率測量方法的再現(xiàn)性用相對標準差表示為0.5%。b)試樣寬度b和長度l;c)試樣質(zhì)量m;d)采用的檢測方法(若采用方法R2,使用愛潑斯坦方圈試樣測定，應標明試樣數(shù));6GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018e)測量進行時的室溫；5密度的測定本標準涉及以下四種測定密度的方法：——方法D1,是基于愛潑斯坦方圈試樣或矩形試樣的電阻率測量的方法；-—方法D2,是根據(jù)ISO1183-3的氣體比重瓶法，這是基礎(chǔ)方法；——方法D3,是根據(jù)ISO1183-2:2012[4]和ISO2738:1999[5]的液體浸沒法；——方法D4,是基于試樣化學成分的理論計算法，參見附錄C。方法D1是基于第4章描述的電阻率測定方法R1和方法R2的間接測量方法。5.2中方法D1只方自行確定。方法D3稱為液體浸沒法，依據(jù)ISO1183-1:2012[4]和ISO2738:1999[5],是直接測量方法。方法D4是基于試樣化學成分進行理論計算的間接測定方法，該方法的使用由相關(guān)方協(xié)議規(guī)定。附錄C給出了通過硅和鋁元素含量計算得到密度的實例。5.2基于電阻測量的方法(方法D1)經(jīng)驗表明，對5.1中方法D1適用的材料，密度pm和密度及電阻率的乘積pmp近似呈簡單的線性關(guān)注1:密度pm和電阻率p都是硅和鋁元素含量的函數(shù)。圖3所示的線性函數(shù)由實驗數(shù)據(jù)線性擬合得到[6],見式(6):注2:式(6)通過對液體浸沒法6結(jié)果和乘積pmp細致的統(tǒng)計，同時考慮了無取向材料的常規(guī)雜質(zhì)含量而建立。采用兩類不同試樣，根據(jù)第4章的愛潑斯坦方圈試樣法(方法R1)或矩形試樣法(方法2)測定。7GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018Pm,103Pm,103kg/m37.90-P×P,10-5ΩXkg/m2注：符號O和□分別表示方法R1和方法R2測得的電阻率。詳見參考文獻[6]。用愛潑斯坦方圈試樣…………矩形試樣…………8若采用矩形試樣(或愛潑斯坦方圈試樣),電阻RAB,cp和Rpc,DA應根據(jù)4.5.3測定。密度值pm由式(10)計算得到。也可先由式(9)確定pmp乘積值，再利用圖3讀數(shù)得到。5.2.4再現(xiàn)性本方法以5.2.1測定乘積pmp為基礎(chǔ)，其再現(xiàn)性用密度相對標準差表示，為1.0%。5.3氣體比重瓶法(方法D2)5.3.1測量原理氣體比重瓶法是根據(jù)ISO1183-3的規(guī)定測定固體材料的體積，進而得到密度。注：氣體比重瓶法并非磁性材料的專用方法，該方法在工業(yè)上廣泛應用于測定形狀規(guī)則或不規(guī)則材料的體積，例如多孔、粉末狀以及顆粒狀固體材料。可以采用研磨或其他適用的物理或化學方法，將試樣的氧化層及絕緣涂層去除干凈。剪切或沖剪成的試樣形狀應與所使用的比重瓶尺寸相適應，便于放入。為獲得較好的測量準確度，放入比重瓶內(nèi)的試樣量應適量。建議試樣質(zhì)量不宜少于200g。開始測量前，應清除試樣上的油脂或銹跡。試樣前處理時應特別謹慎，避免引入污染，影響試樣密度的測量結(jié)果。若試樣處理后需烘干，應使試樣冷卻到室溫后再進行密度測定。5.3.3測量裝置電工鋼片試樣體積(以及密度)的測量裝置應滿足ISO1183-3的要求。測量程序應根據(jù)ISO1183-3的規(guī)定實施，試樣制備應根據(jù)5.3.2。附錄B給出了氣體比重瓶法測定電工鋼試樣的密度的實例。5.3.5再現(xiàn)性根據(jù)ISO1183-3描述，符合5.3規(guī)定的氣體比重瓶法的再現(xiàn)性可期望優(yōu)于0.2%。5.4檢測報告除非相關(guān)方另有約定，檢測報告應指明對本標準的引用，并至少包括以下信息：c)對于基于電阻測定的方法，應說明試樣寬度b和長度l;d)試樣質(zhì)量m;e)采用的測定方法；f)測定溫度；9GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018方分米表示，修約間隔為0.01kg/dm3。6疊裝系數(shù)疊裝系數(shù)的測定方法可用于所有類型材料的樣片。試樣應由足夠數(shù)量相同尺寸的樣片組成，其疊裝高度不小于6mm,對無取向硅鋼材料至少需要16片樣片，對取向硅鋼材料至少需要24片樣片。在有爭議的情況下，應使用100片樣片進行檢測。由于毛刺可能造成疊裝系數(shù)的測量偏差，因此，剪切試樣時，不應使樣片邊部產(chǎn)生過多毛刺。若試樣邊部有過多毛刺，應采用合適的工藝將其去除。樣片寬度應不小于20mm,表面積應不小于5000mm2,寬度尺寸允許差應滿足士0.2mm,長度尺寸允許差應滿足士0.5mm。建議使用滿足IEC60404-2要求的愛潑斯坦方圈試樣。6.3測量程序以0.1%或更優(yōu)的準確度稱量試樣質(zhì)量，并分別以±0.2%和±0.7%或更優(yōu)的準確度測量試樣的平均長度和寬度，或在愛潑斯坦方圈試樣滿足IEC60404-2要求的情況下，使用其的公稱長度和寬度。疊裝樣片，并放置在一對夾板之間，如圖4所示。夾板的表面積應足夠大，以便完整覆蓋處于疊裝和受壓狀態(tài)下的試樣表面；根據(jù)相關(guān)方協(xié)議，疊裝系數(shù)的測定也可使用較小尺寸的夾板，但是不能小于25mm(長)×12mm(寬),此時，不必去除樣片邊部的毛刺。夾板圖4疊裝的試樣和夾板示意圖均勻施加1.00MPa±0.05MPa的壓強在疊裝的試樣上，以±0.3%或更優(yōu)的準確度測量夾板之間靠近試樣四個邊部對稱位置的高度。若無法測量四點，也可測量疊裝樣片兩短邊中點(圖4中B)或?qū)蔷€頂點(圖4中A或C)附近對稱位置夾板間的距離。如夾板間距的測量無法達到特定的準確度，可以增加試樣的疊裝高度。疊裝系數(shù)按式(11)計算：…………GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018h——試樣平均疊裝高度，單位為米(m);6.4再現(xiàn)性本章描述的方法的疊裝系數(shù)測量結(jié)果的再現(xiàn)性用相對標準差表示為0.5%。6.5檢測報告b)試樣的寬度b和長度l的平均值；c)試樣的質(zhì)量m;d)試樣疊裝高度；e)檢測時的環(huán)境溫度；f)疊裝系數(shù)f的結(jié)果，修約間隔為0.005,或用百分比表示，修約間隔為0.5%。GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018(資料性附錄)一種用矩形試樣片測量電阻率裝置的實例(方法R2)本附錄描述了符合4.4.3規(guī)定的用矩形試樣片測量電阻率(方法R2)的裝置實例。該裝置用于對試樣以四個接觸點的方式形成電接觸，觸點具有相對尖銳的頭部(例如，曲率半徑1mm)。每個觸點安裝在固定于基座的支架上(見圖A.1)。這些觸點對稱地安放在試樣的軸線上，對稱性偏差在士1mm以內(nèi)。若觸點用于愛潑斯坦試樣片，試樣短邊上觸點位置的對稱性偏差應在±0.5mm以內(nèi)。觸點之間有一塊支撐試樣的平板，其面積小于試樣；電接觸點在試樣邊緣，平板邊緣到試樣各邊緣的距離不大于10mm(對愛潑斯坦試樣片不大于5mm)。支撐平板有足夠的厚度能使平放在其上的試樣和觸點充分接觸(見圖A.1)。處于相對位置的一對觸點的位置可以在保持相對于另一對觸點構(gòu)成的軸線的對稱性的條件下變化，偏差在±1mm以內(nèi)(對愛潑斯坦試樣片的短邊在±0.5mm以內(nèi))。這樣可適應不同的試樣尺寸，此時支撐平板的尺寸也許要改變。采用不同位置的定位孔或可調(diào)節(jié)溝槽可以使觸點支架固定在需要的位置。借助彈簧觸頭可彈性地壓在試樣的邊部。觸頭的邊部同試樣的邊部垂直。此結(jié)構(gòu)可以由一個相對支架可動的小觸塊以及支架與壓在試樣邊的觸塊間的一個彈簧組成?？蓜佑|塊連在支架上，或插在支架上的插孔中，并通過一段焊在兩部分上的軟導線相連(見圖A.1)。支架觸頭支撐平板基座試樣圖A.1觸點支架機構(gòu)截面示意圖GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018(資料性附錄)采用氣體比重瓶法(方法D2)測定密度的實例B.1概述本附錄描述使用雙室壓力型比重瓶(氣體擴散比重瓶)測定電工鋼的密度的實例。由于電工鋼材料物理結(jié)構(gòu)隨溫度變化，因此由試樣體積導出的密度與溫度相關(guān)。測量需滿足5.3的所有要求，本附錄中的其他細節(jié)和具體規(guī)定也需考慮到。B.2試樣沖制試樣成圓片時，圓片的尺寸和數(shù)量取決于所使用的比重瓶。例如，使用測量室直徑為50mm,長度為75mm的比重瓶，直徑為36mm圓片的數(shù)量可根據(jù)表B.1確定，試樣總質(zhì)量不小于200g。表B.1直徑36mm待測圓片的數(shù)量厚度/mm圓片數(shù)量約200g除去試樣涂層最好使用化學溶劑。例如：——在室溫下，將試樣在三氯化鐵(FeCl?)溶液中浸漬數(shù)小時；或——將試樣在沸騰的濃度大于50%的氫氧化鈉(NaOH)溶液中浸漬10min,然后在室溫下，將試樣直接在高純度鹽酸(HCl)中浸漬30s;紙擦拭試樣，再用冷空氣干燥器除去試樣表面殘留的水汽；——使用鉗子或尺寸合適的磁鐵拿取試樣，避免手指接觸試樣影響檢測結(jié)果。注：以上內(nèi)容涉及危險的材料、操作及設(shè)備。本標準不負責告知使用時的所有安全事項。本標準的使用者負責在B.3裝置裝置由兩個內(nèi)部連接室，分別是測量室(容積Vmea)和擴散室(容積Vex),氣體入口和出口閥以及連接兩個氣室的閥門組成，如圖B.1所示。測量室有一個可移動的氣密蓋，擴散室經(jīng)校準，具有已知內(nèi)部容積。一個壓力感應器(傳感器)與測量室相連。GB/T19289—2019/IEC60404-13:20183528說明：圖B.1雙室壓力型氣體比重瓶示意圖測定程序開始之前，比重瓶需根據(jù)設(shè)備廠家說明用已知體積和密度的標準物質(zhì)進行校正，標準物質(zhì)需溯源至國家或國際基準。對于密度測定，天平也需要校準。比重瓶容積Vmeas和容積Vexp的校準可根據(jù)ISO1183-3。B.5測量程序首先，用不確定度±0.1mg或更優(yōu)的天平測定試樣(例如，一疊圓片)的質(zhì)量m。將試樣(例如，一疊圓片)放入測量室后，打開所有閥門，用氣體吹掃兩室，清除裝置內(nèi)的雜質(zhì)，使兩室充滿處于標準大氣壓的氣體。將壓力感應器讀數(shù)清零。優(yōu)先使用對試樣表面具有低吸附力的氣體，推薦使用氦氣或氮氣。然后，如圖B.1所示，關(guān)閉閥門6和8。打開閥門2,使工作氣體進入測量室達到理想壓強P?,例如120kPa。然后關(guān)閉閥門2,打開閥門6,達到平衡，測量壓強P?。溫度T下，試樣體積可根據(jù)式(B.1)計算：…………(B.1)式中：Vmeas——比重瓶測量室的容積，單位為立方米(m3);Vexp——比重瓶擴散室的容積，單位為立方米(m3);P?—-—-工作氣體擴散至擴散室前含試樣的比重瓶(測量室)的壓強，單位為千帕(kPa);P?———工作氣體擴散至擴散室后含試樣的比重瓶壓強，單位為千帕(kPa)。密度可用式(B.2)計算：…………(B.2)GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018m——試樣質(zhì)量，單位為千克(kg);Vr——T溫度下，試樣體積，單B.6重復性使用氦氣或氮氣所得檢測結(jié)果通常沒有差異。在理想狀態(tài)下，預計檢測的重復性可以達到優(yōu)于0.2%的水平。GB/T19289—2019/IEC60404-13:2018(資料性附錄)根據(jù)硅和鋁含量計算密度(方法D4)可用式(C.1)(引自參考文獻[7])計算密度值：Pm=7865—65×(Cs+1.7×CA)…………(C.1)式中：pm——密度，單位為千克每立方米(kg/m3);Cs;-—硅的質(zhì)量分數(shù)，%;CA——鋁的質(zhì)量分數(shù)，%。注1:電工鋼的化學成分由生產(chǎn)方自行決定。[1]VANDERPAUW,L.J.AmethodofmeasuringspecificresistivityandHalleffectofdiscsofarbitraryshape.PhilipsRes.Repts.13(1958),p.1-9.[2]SIEVERT,J.Thedeterminationofthedensit