超聲波檢測工藝規(guī)程

標(biāo)準(zhǔn)超聲波檢測J_藝規(guī)程制定2015/09/28

1,目的

1目的

本工藝規(guī)程是根據(jù)47013—2015《承壓設(shè)備無損檢測》的第1部分：通用要求和第3部分：

超聲檢測，并結(jié)合我公司的實(shí)際情況進(jìn)行制定。凡按國內(nèi)規(guī)范設(shè)計(jì)、制造的鍋爐、壓力容

器需作超聲檢測時(shí)，均應(yīng)執(zhí)行本工藝。本工藝自實(shí)施之日起，代替163002/06C。

2、適用范圍

本工藝規(guī)定了鍋爐、壓力容器及承壓設(shè)備管子采用A型脈沖反射式超聲探傷儀檢測工

件焊接接接頭的超聲檢測方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定要求。且適用于鋼板、鍛件超聲檢測以

及超聲測厚方法。

文件編制部門質(zhì)控部編制人

校對(duì)人部門負(fù)責(zé)人

會(huì)簽欄

審批人生效日期

部門份數(shù)部門份數(shù)

經(jīng)理部4管理部0

技術(shù)部2生產(chǎn)管理部0

分發(fā)部門

制造部1質(zhì)控部2

采購部0財(cái)務(wù)部0

營業(yè)部0

修訂編號(hào)年月日修訂記錄

R02007.11.18

R12009.07.01標(biāo)準(zhǔn)改版

R22010.06.01換版

R32011.05.19換版

R42012.07.01換版

R52013.07.01換版

R62014.06.06換版

R62015.09.28換版

3本工藝依據(jù)下列標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)及技術(shù)文件

12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測

Z8001-2013特種設(shè)備無損檢測人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則

47013.1-2015承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用要求

47013.3-2015承壓設(shè)備無損檢測第4部分：超聲檢測

G0001-2012鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程

16507-2013鍋殼鍋爐

16508-2013水管鍋爐

R0004-2009固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程

R0005-2011移動(dòng)式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程

150-2011壓力容器

11259無損檢測超聲波檢測用鋼參考試塊的制作與檢驗(yàn)方法

27664.1無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分：儀器

27664.2無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第2部分：探頭

8428無損檢測超聲檢測用試塊

9214無損檢測A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法

10062超聲探傷用探頭性能測試方法

4術(shù)語和定義

4.1底波降低量

鍛件檢測時(shí)，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅

的比值，用值來表示。

4.2密集區(qū)缺陷

鍛件檢測時(shí)，在顯示屏掃描線上相當(dāng)于50聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，或

是在50X50的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，其反射波幅均大于

等于某一特定當(dāng)量的缺陷。

4.3基準(zhǔn)靈敏度和

基準(zhǔn)靈敏度：一般指將對(duì)比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈

敏度。掃查靈敏度則主要指實(shí)際檢測靈敏度。

掃查靈敏度：為了不漏掉記錄缺陷或某些特定的缺陷，確保鍋爐、壓力容器的安全，在基準(zhǔn)靈敏度基

礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測缺陷要求及探頭類型等適當(dāng)提高數(shù)（增益）進(jìn)行實(shí)際檢測的靈敏度。

4.4超聲標(biāo)準(zhǔn)試塊

T47013.3規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊。

4.5超聲對(duì)比試塊

用于檢測校準(zhǔn)的試塊。

4.6缺陷自身高度

缺陷在工件厚度方向上的尺寸。

4.7端點(diǎn)衍射

超聲波在傳播過程中，當(dāng)波陣面通過缺陷時(shí)，波陣面會(huì)繞缺陷邊緣彎曲，并呈圓心展衍，這種現(xiàn)象稱

之為端點(diǎn)衍射。

4.8端點(diǎn)最大反射波

當(dāng)缺陷的端部回波的幅度達(dá)到最大時(shí)（也即缺陷端部回波峰值開始降落前瞬時(shí)的幅度位置），該回波稱

之為缺陷端點(diǎn)最大反射波。

4.9回波動(dòng)態(tài)波型

回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。

4.10工件厚度t

a）對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí)，工件厚度t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí),

工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度；

b）對(duì)于插入式接管角焊縫，工件厚度t為筒體或封頭公稱厚度；安放式接管角焊縫，工件厚度t為接管

公稱厚度；

c）對(duì)于T型焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱厚度。

5檢測人員要求

5.1超聲檢測人員必須按Z8001-2013《特種設(shè)備無損檢測人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則》要求進(jìn)行培訓(xùn)考

核，取得超聲檢測資格證書。并且由公司向中國特種設(shè)備檢驗(yàn)協(xié)會(huì)進(jìn)行執(zhí)業(yè)注冊后，方能從事超聲檢測工

作方法與等級(jí)的無損檢測工作。

5.3超聲檢測人員資格級(jí)別分為I級(jí)（初級(jí)）、II級(jí)（中級(jí)）和HI級(jí)（高級(jí)）。

5.4質(zhì)量等級(jí)評(píng)定及檢測報(bào)告簽發(fā)應(yīng)有取得H級(jí)或HI級(jí)資格證的人員擔(dān)任，且資格證應(yīng)在有效期內(nèi)。

5.5超聲檢測人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，應(yīng)熟悉被檢工

件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對(duì)檢測中出現(xiàn)的問題能作出分析、判斷和處理。

6檢測設(shè)備和器材

6.1檢測儀器、探頭和系統(tǒng)性能

6.1.1檢測儀器

采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀350+及390,其工作頻率范圍為0.5?10,儀器至少在熒光屏滿刻度

的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2,其精度為任意相

鄰12誤差在±1以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1。超聲儀器各性能的測試條件和指標(biāo)要求應(yīng)滿足附錄N的要求

并由制造廠家提供證明文件，測試方法按27664.1的規(guī)定。

6.1.2探頭

a超聲檢測常用探頭有直探頭、單斜探頭、雙晶直探頭和其他適用性探頭，其性能應(yīng)滿足各種檢測工

件的檢測需要，以最大可能有效地檢測出不允許存在缺陷為原則。

b圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40,方形晶片任一邊長一般不應(yīng)大于40。其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄0的要

求，測試方法應(yīng)按27664.2的規(guī)定。

c單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2。，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。

6.1.3超聲探傷儀和探頭的組合性能

6.1.3.1儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和

遠(yuǎn)場分辨力，測試方法按附錄C、附錄D、附錄E規(guī)定執(zhí)行。

6.1.3.2以下情況時(shí)應(yīng)測定儀器和探頭的組合性能：

a）新購置的超聲檢測儀器和探頭；

b）儀器和探頭在維修或更換主要部件后；

c）檢測人員有懷疑時(shí)。

6.1.3.3水平線性偏差不大于1%,垂直線性偏差不大于5%。

6.1.3.4儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之間偏差不得大于±10%。

6.1.3.5儀器-直探頭組合性能應(yīng)滿足以下要求：

a）靈敏度余量應(yīng)不小于32.

b）在基準(zhǔn)靈敏度下，對(duì)于標(biāo)稱頻率為5的探頭，盲區(qū)不大于10；對(duì)于標(biāo)稱頻率為2.5的探頭，盲區(qū)不

大于15；

c）直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于20。

6.1.3.6儀器-斜探頭組合性能應(yīng)滿足以下要求：

a）靈敏度余量應(yīng)不小于42。

b）斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于12。

6.1.3.7儀器和探頭組合頻率的測試方法按10062的規(guī)定，其他組合性能的測試方法參照9214的規(guī)定。

現(xiàn)有的探頭單位:

探頭類別探頭K值晶片尺寸探頭頻率

直探頭/14D、20D1.0、2.5、5

雙晶探頭/20D5

K110X10、13X132.5

斜探頭K210X10、13X132.5

K36X6、10X10^13X132.5、5

7試塊和耦合劑

7.1標(biāo)準(zhǔn)試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本工藝規(guī)程規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測的試塊，本工藝采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有

（入射點(diǎn)、K值、分辨力測試）、、、-1（直探頭盲區(qū)測試）、-PZ20-2和-PZ20-4（垂直線性測試、

水平線性測試、靈敏度余量測試）。

7.1.1標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成。該材料內(nèi)不得有影響人工缺陷顯示的自

然缺陷，當(dāng)用直探頭檢測時(shí)，不得有大于①2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。

7.1.2校準(zhǔn)用反射體可采用長橫孔、短橫孔、平底孔、線切割槽和V型槽等。校準(zhǔn)時(shí)，探頭主聲束應(yīng)與反射

體的反射面相垂直。

7.1.3標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本工藝要求，并經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。

7.1.4標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合/T8428的規(guī)定。

7.2對(duì)比試塊

7.2.1對(duì)比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，含有意義明確參考反射體的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)

備的幅度和（或）時(shí)間分度，以將所檢出的不連續(xù)信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較，即用于檢測校

準(zhǔn)的試塊。本工藝采用的對(duì)比試塊有：階梯平底試塊，鋼板超聲檢測對(duì)比試塊、奧氏體不銹鋼焊縫對(duì)比試

塊、鋼管環(huán)向?qū)咏宇^試塊、鍛件試塊、承壓設(shè)備曲面縱向?qū)咏宇^1和2試塊、承壓設(shè)備曲面環(huán)向?qū)咏?/p>

頭試塊。

7.2.2對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到

兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由最大厚度來確定。

7.2.3對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或相似的材料制成，試塊用直探頭檢測時(shí)，不得有大于或等

于2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。

7.2.4對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本規(guī)程的規(guī)定。

7.3耦合劑

7.3.1應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。

7.3.2耦合劑污染物含量的控制

7.3.2.1銀基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250。

7.3.2.2奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250。

8超聲檢測設(shè)備和器材的測定、核查、運(yùn)行核查和復(fù)核要求

8.1一般要求

系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大

的反射信號(hào)。

8.2校準(zhǔn)或核查

8.2.1每年至少對(duì)超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈

敏度余量、分辨力以及儀器的衰減器精度，進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄，測試要求應(yīng)滿足6.1.3的規(guī)定。

8.2.2每年至少對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核查。

8.3儀器和探頭運(yùn)行核查

每隔6個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定，測定方法按27664.1的規(guī)定。（見附錄C）

對(duì)實(shí)際使用中探頭每3個(gè)月至少對(duì)盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄,

測試要求應(yīng)滿足6.1.3的規(guī)定。

8.4使用前儀器和探頭系統(tǒng)測定

每次檢測前應(yīng)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開機(jī)信號(hào)顯示情況是否正常。

斜探頭在使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值測定。測定應(yīng)按附錄D有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。

8.5檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：

a校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；

b檢測人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí)；

c連續(xù)工作4h以上時(shí)；

d工作結(jié)束時(shí)。

8.6檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

a每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%,

則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)檢測結(jié)果進(jìn)行復(fù)核；

b每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。對(duì)距離-波幅曲線的校核不少于3點(diǎn)。如曲線上任何一

點(diǎn)幅度下降2,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核后所檢測的部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新

評(píng)定。

8.7注意事項(xiàng)

校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在

“關(guān)”的位置或處于最低水平上。

9超聲檢測操作指導(dǎo)書。

9.1應(yīng)根據(jù)通用工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢對(duì)象的檢測要求操作指導(dǎo)書，其內(nèi)容應(yīng)包括：

a）檢測技術(shù)要求：檢測技術(shù)（直接接觸法-直探頭檢測、斜探頭檢測、）和檢測波形；

b）檢測對(duì)象：承壓設(shè)備類別，檢測對(duì)象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測部位等；

c）檢測設(shè)備器材：儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類。

d）檢測工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測記錄和評(píng)定要求、檢測示意

圖等。

9.2操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，驗(yàn)證方式可在相關(guān)對(duì)比試塊上進(jìn)行，驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測范圍

內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。

10檢測實(shí)施

10.1檢測準(zhǔn)備

10.1.1承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢驗(yàn)中，超聲檢測的檢測時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)

及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。

10.1.2所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。

10.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測面（探頭經(jīng)過的區(qū)域）上所有影響檢測的油漆、銹蝕、飛

濺和污物等均應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測結(jié)果的有效性。

10.2檢測時(shí)應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)被檢查區(qū)域是應(yīng)保證足夠的復(fù)蓋率（應(yīng)大于探頭直徑的15%）。

10.3探頭的掃查速度應(yīng)當(dāng)不成超過150,以防止漏檢。

10.4掃查靈敏度不低于基準(zhǔn)靈敏度。

10.5應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊等。

10.6靈敏度補(bǔ)償

在檢測和缺陷定量時(shí)，對(duì)引起檢測靈敏度下降和缺陷當(dāng)量誤差的因素應(yīng)進(jìn)行:補(bǔ)償，這些因素包括耦合、

材質(zhì)衰減和曲面的差異造成的靈敏度變化。

a）耦合補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償；

b）衰減補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償；

c）曲面補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，對(duì)檢測面是曲面的工件，應(yīng)對(duì)由工件和試塊曲率半徑不同引起

的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。

10.7檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：

a校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；

b檢測人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí)；

c連續(xù)工作4h以上時(shí)；

d工作結(jié)束時(shí)。

10.8掃描量程的復(fù)核

如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線該點(diǎn)讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整,

并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。

10.9掃查靈敏度的復(fù)核

復(fù)核時(shí)，如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離一波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降2,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核

以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。

10.10不允許存在的缺陷應(yīng)返修。返修的部位及返修影響的部位均應(yīng)復(fù)探，復(fù)探部位的質(zhì)量亦應(yīng)符合驗(yàn)收

標(biāo)準(zhǔn)。返修后進(jìn)行復(fù)驗(yàn)時(shí)，按原探傷條件進(jìn)行。

11超聲檢測記錄和報(bào)告

11.1檢測設(shè)備器材：

a）檢測儀器型號(hào)及編號(hào)；

b）探頭（類型、晶片尺寸、K值、標(biāo)稱頻率等）：

c）試塊型號(hào)；

d）耦合劑。

11.2檢測工藝參數(shù)：

a）檢測范圍、掃查位置（面、側(cè)等）；

b）掃描比例；

C）掃查方式；

d）檢測靈敏度；

e）耦合補(bǔ)償量等。

11.3檢測情況:

a）檢測部位示意圖；

b）缺陷位置、尺寸、回波波幅等；

c）缺陷評(píng)定級(jí)別；

d）缺陷類型、缺陷自身高度（在用承壓設(shè)備檢測時(shí)）。

11.4檢測人員和復(fù)核人員簽字。

11.5應(yīng)依據(jù)檢測記錄出具檢測報(bào)告。超聲檢測報(bào)告除符合47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括以下內(nèi)

容：

a）委托單位；

b）檢測技術(shù)等級(jí)；

c）檢測設(shè)備器材：儀器型號(hào)及編號(hào)、探頭、試塊、耦合劑；

d）檢測示意圖：檢測部位、檢測區(qū)域以及所發(fā)現(xiàn)的缺陷位置、尺寸和分布。

11.6記錄、報(bào)告應(yīng)有相應(yīng)責(zé)任人員簽名認(rèn)可，保存期不得少于7年。7年后，若用戶需要可轉(zhuǎn)交用戶保

管。

11.7缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判（見附錄A）

12承壓設(shè)備用原材料鋼板超聲檢測和質(zhì)量分級(jí)

本工藝適用于板厚6?250的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測及其缺陷等級(jí)評(píng)定。奧氏

體鋼板材的超聲檢測可參照執(zhí)行。

12.1探頭的選用見下表：

（表1）承壓設(shè)備用板材超聲檢測直探頭選用

板厚（）采用探頭公稱頻率（）探頭晶片尺寸（）

6-20雙晶直探頭4?5

雙晶直探頭或單晶直圓形晶片直徑中10?30

>20?602?5

探頭圓形晶片邊長10?30

>60單晶直探頭2?5

12.1.1雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄F的要求。

12.2標(biāo)準(zhǔn)試塊的選用

12.2.1當(dāng)檢測厚度W20的鋼板時(shí)（用雙晶直探頭），采用圖1所示的階梯平底試塊。

全部承

圖1階梯平底試塊

12.2.2檢測厚度大于20的板材時(shí)，對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表2和圖2的規(guī)定。對(duì)比試塊人工反射

體為①5平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少3個(gè)。

b和

圖2板厚大于20檢測用試塊（單直探頭）

表2承壓設(shè)備用板材超聲檢測用對(duì)比試塊單位:

試塊

板材厚度，檢測面到平底孔的距離S試塊厚度7成塊寬度匕

編號(hào)

1>2(M010、20、304030

2>40-6015、30、456040

3>60-10015、30、45、60、8010040

4>100-15015、30、45、60、80、110、M015060

5>150-20015、30、45、60,80'110、140、18020060

6>200-25015、30、45、60、80、110、140、】80、23025060

注1：板材厚度大于40mm時(shí)，試塊也可用厚代海。

注2：為減輕單個(gè)試塊尺寸和亶量，聲學(xué)性能相同或相似的試塊上的平底孔可加工在不同厚度試塊上。

13基準(zhǔn)靈敏度

a板厚不大于20時(shí)，用圖1所示的試塊將與工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10

作為基準(zhǔn)靈敏度。

b板厚大于20時(shí)，應(yīng)按圖2按所用探頭和儀器在①5平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線，并以此曲線作為

基準(zhǔn)靈敏度。

c板厚不小于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，如能確定板材底面回波與不同深度①5平底孔反射波幅度之間的關(guān)系，

也可取鋼板無缺陷的完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度。

13.1掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6。

14檢測方法

14.1.1檢測面可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行檢測。若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可對(duì)鋼板的

上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測.

14.1.2耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。

14.1.3靈敏度補(bǔ)償

檢測時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。

14.1.3掃查方式

a）在板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫姳?根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖

樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。

b）在板材中部區(qū)域，探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于50的平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿垂直和

平行板材壓延方向且間距不大于100格子線進(jìn)行掃查。掃查示意圖見圖3；

c）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；

d）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。

表3板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)區(qū)域?qū)挾葐挝唬?/p>

板厚區(qū)域?qū)挾?/p>

<6050

>60-10075

“00100

圖3探頭掃查示意圖

15缺陷的測定與記錄

15.1在檢測基準(zhǔn)靈敏度條件下，發(fā)現(xiàn)下列二種情況之一即作為缺陷：

a）缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距離-波幅曲線，或用雙晶探頭檢測板厚小于20板材時(shí)，缺陷第

一次反射波（F1）波幅大于或等于顯示屏滿刻度的50%；

b）底面第一次反射波（B1）波幅低于顯示屏滿刻度的50%,即B1<50%,

15.2缺陷邊界范圍的確定

a）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測，以確定缺陷的范圍；

b）板材厚度小于20用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲

層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的25%,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)：

c）板材厚度20、60用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并

使缺陷波下降到距離-波幅曲線，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；

d）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷第一次反射波波高下降到距離-波幅

曲線，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)；

e）確定15.1b）中缺陷的邊界范圍時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到顯示

屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)

16缺陷尺寸的評(píng)定方法

16.1缺陷指示長度的評(píng)定規(guī)則

用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為該缺陷的指示長度。

16.2單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則

a）一個(gè)缺陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；

b）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面

積之和。

16.3缺陷面積占有率的評(píng)定規(guī)則

在任一ImXml檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于lmX1m,可按比例折算。

16.4鋼板質(zhì)量分級(jí)

鋼板質(zhì)量分級(jí)見表4和表5。在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)要求時(shí)，表4和表5應(yīng)獨(dú)立使用。

16.5在檢測過程中，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。

16.6在鋼板中部檢測區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一ImXlm檢測面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)確

定質(zhì)量等級(jí).如整張板材中部檢測面積小于ImXlm,缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。

16.7在鋼板邊緣檢測區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示長度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m檢測長

度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材邊緣檢測長度小于1m,缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。

16.8斜探頭檢測

a在檢測過程中對(duì)缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭檢測。

b承壓設(shè)備用鋼板斜探頭檢測應(yīng)按附錄B進(jìn)行。

表4承壓設(shè)備用鋼板中部檢測區(qū)域質(zhì)量分級(jí)

在任一ImK1m檢測面積內(nèi)缺陷四大允許個(gè)數(shù)

最大允許單個(gè)缺陷指示面積S或

等級(jí)單個(gè)缺陷指示面積或

當(dāng)量平底孔直徑0最大允許個(gè)數(shù)

當(dāng)垃平底孔直徑評(píng)定范圍

雙晶直探頭檢測時(shí)：SW5O雙晶直探頭檢測時(shí)：20<SW50

I10

或單晶直探頭檢測時(shí)：￡>wO5+8dB或單晶直探頭檢測時(shí)：O5v0W?5+8dB

EH，ccrm。士63a

注：使用單晶直探頭檢測并確定15.1b）所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)（I級(jí)和【【級(jí)）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同

表5承壓設(shè)備用鋼板邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測區(qū)域質(zhì)量分級(jí)

最大允許單個(gè)在任一1m檢測長度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)

最大允許單個(gè)缺陷指示面積s或

等級(jí)缺陷指示長度

當(dāng)量平底孔直徑。單個(gè)缺陷指示長度L或最大允

心■kU當(dāng)量平底孔直徑評(píng)定范91許個(gè)數(shù)

雙晶直探頭檢測時(shí)：SW50雙晶直探頭檢測時(shí)：IO<LW2O

1W202

或單晶直探頭檢測時(shí)：QwO5+8dB或單晶直探頭檢測時(shí)：^5<DC^5+8dB

雙晶直探頭檢測時(shí)：SW100雙晶直探頭檢測時(shí)：15VZW30

U<303

或單晶直探頭檢測時(shí):DW^5+14dB或單晶3探貼測時(shí)：05+8dBvDw@5+14dB

III<50swiooo25<L<505

IV<100SW200050<Z^1006

V超過rv級(jí)者

注：使用單晶直探頭檢測并確定15.1b）所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)（I級(jí)和H級(jí)）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同

17承壓設(shè)備焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級(jí)

17.1檢測范圍和一般要求

17.1.1本章規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)，其適用范圍和使用原則見表6

17.1.2奧氏體不銹鋼承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)按附錄H的規(guī)定進(jìn)行。

17.1.3與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測可參照本章的規(guī)定進(jìn)行。

表6鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測適用范圍和使用原則單位:

承壓設(shè)備焊接接頭工件厚度檢測面直徑焊接接檢測技術(shù)檢測方法質(zhì)量分級(jí)

類別類型t頭分類等級(jí)要求

2500,縱向?qū)咏?/p>

頭時(shí)，內(nèi)外徑比2I型17.2

70%

筒體（或

>100?500的縱向

封頭）對(duì)26?200

對(duì)接接頭且內(nèi)外徑I型附錄J

接接頭

比270%

》159?500的環(huán)向

I型附錄K

對(duì)接接頭17.2.417.4.1

插入式：筒體（或封

頭）》500且內(nèi)外徑

接管與筒

比270%,接管公稱

鍋爐、壓力體（或封

26?200直徑280I型附錄L

容器頭）角接

安放式：筒體（或封

接頭

頭）2300且接管公

稱直徑與100

26?150外徑0500I型17.2.417.217.4.2

管子環(huán)向26?150外徑Z159?5001型17.2.4附錄K17.4.2

對(duì)接接頭26?50外徑M32?159II型17.2.417.317.4.2

24?6外徑232II型17.2.417.317.4.2

外徑2500,內(nèi)外徑

I型17.2.417.217.4.2

管子縱向比270%

26?150

對(duì)接接頭外徑。100?500,內(nèi)

I型17.2.4附錄J17.4.2

外徑比已70%

17.2承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測方法

17.2.1范圍

本條適用I型焊接接頭的超聲檢測，I型焊接接頭范圍見表6

17.2.2探頭

探頭頻率選用2?5。

17.2.3試塊

采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為IA、IIA、IHA。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖4、圖5、圖6規(guī)定。

圖4IA試塊

b)CSK-DA-2ilife

圖5HA試塊單位:

CSK-UA編號(hào)適用工件厚度，試塊厚度r橫孔位置橫孔直徑d

CSK-UA-l455、15、25、35《2.0

CSK-IIA-2>40-10011010、30、50、70>90#2.0

10.30、50、70、

CSK-IIA-3>4g00210，2.0

90、110.140.170、200

注1：孔徑誤是不大于±0.02mm,其他尺寸誤差不大于±0。5mm。

注2：試塊長度由使用的聲程等確定。

注3：如聲學(xué)特性相同或相近，試塊也可用厚代菊。

注4：可以在試塊全厚度范圍增加橫孔數(shù)量。

注5：也可使用其他直徑的橫孔，靈數(shù)度應(yīng)與此相當(dāng)。

注6：開孔垂直度偏差不大于0.1，

圖6IIIA試塊

17.2.4超聲檢測技術(shù)等級(jí)

17.2.4.1超聲檢測技術(shù)等級(jí)分為A、B、C三個(gè)檢測級(jí)別。

17.2.4.2超聲檢測技術(shù)等級(jí)的選擇

超聲檢測技術(shù)等級(jí)的選擇應(yīng)符合制造、安裝等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備焊接接頭的制造、

安裝時(shí)的超聲檢測，一般應(yīng)采用B級(jí)超聲檢測技術(shù)等級(jí)進(jìn)行檢測。對(duì)重要設(shè)備的焊接接頭，可采用C級(jí)超聲

檢測技術(shù)等級(jí)進(jìn)行檢測。

17.2.4.3不同檢測技術(shù)等級(jí)的一般要求

不同類型焊接接頭超聲檢測的具體要求見附錄G（規(guī)范性附錄）。

17.2.4.4A級(jí)檢測

A級(jí)適用于工件厚度為6~40焊接接頭的檢測?？捎靡环NK值斜探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接

頭的單面單側(cè)或單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測。

17.2.4.5B級(jí)檢測

a）B級(jí)適用于工件厚度為6?200焊接接頭的檢測；

b）焊接接頭一般應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測；

c）對(duì)于按附錄G（規(guī)范性附錄）要求進(jìn)行雙面雙側(cè)檢測的焊接接頭，如受幾何條件限制或由于堆焊層

（或復(fù)合層）的存在而選擇單面雙側(cè)檢測時(shí)，還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測。

17.2.4.6C級(jí)檢測

a）C級(jí)適用于工件厚度大于等于6~500焊接接頭的檢測；

b）采用C級(jí)檢測時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平。對(duì)焊接接頭斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探

頭進(jìn)行檢測，檢測方法按以下的規(guī)定進(jìn)行：

對(duì)于C檢測或必要時(shí)，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探

頭檢測結(jié)果的分層或其他類型缺陷存在。該項(xiàng)檢測僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測。母材檢測的要點(diǎn)

如下：

I）掃查靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為顯示屏滿刻度的100%;

2）凡缺陷信號(hào)幅度超過顯示屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。

c）工件厚度大于15的焊接接頭一般應(yīng)在雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測，如受幾何條件限制或由于堆焊

層（或復(fù)合層）的存在而選擇單面雙側(cè)檢測時(shí)，還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測；

d）工件厚度大于40的對(duì)接焊接接頭，還應(yīng)增加直探頭檢測；

e）焊接接頭應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。

17.2.4.7用兩種或兩種以上K值斜探頭檢測時(shí)，探頭間折射角相差不應(yīng)小于10°。

17.2.5檢測準(zhǔn)備

17.2.5.1檢測區(qū)

17.2.5.2檢測區(qū)由焊接接頭檢測區(qū)寬度和焊接接頭檢測區(qū)厚度表征。

17.2.5.3焊接接頭檢測區(qū)寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各10確定。對(duì)接接頭檢測區(qū)示意

見圖7。

17.2.18對(duì)接焊接接頭檢測區(qū)厚度應(yīng)為工件厚度加上焊縫余高。

17.2.5.5超聲檢測應(yīng)覆蓋整個(gè)檢測區(qū)。若增加檢測探頭數(shù)量或增加檢測面（ft）還不能完全覆蓋,

應(yīng)增加輔助檢測，包括采用其他無損檢測方法。

圖7檢測區(qū)示意圖

注：a表示焊接接頭檢測區(qū)寬帶

17.2.6檢測面準(zhǔn)備

17.2.6.1探頭移動(dòng)區(qū)寬度

17.2.6.2探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)能滿足檢測到整個(gè)檢測區(qū)。見圖8。

圖8探頭移動(dòng)區(qū)寬帶示意圖

17.2.6.3采用一次反射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于1.25P：

2或2tXB

式中：

P----跨距,；

T一一工件厚度，；

K——探頭K值；

6——探頭折射角，（°）。

17.2.6.4采用直射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于0.75Po

17.2.6.5檢測面應(yīng)清除油漆、焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他異物，以免影響聲波耦合和缺陷判斷。

檢測面應(yīng)平整，檢測面與探頭楔塊底面或保護(hù)膜間的間隙不應(yīng)大于0.5,其表面粗糙度值應(yīng)

小于或等于25um。檢測面一般應(yīng)進(jìn)行打磨。

17.2.6.6去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較

大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過渡以免影響檢測結(jié)果的評(píng)定。。

17.2.6.6探頭K值（角度）

采用一次反射法檢測時(shí)，斜探頭K值（角度）的選取應(yīng)盡可能使主聲束與檢測面相對(duì)的底

面法線夾角在35°~70°之間，當(dāng)使用兩個(gè)或兩個(gè)以上K值（角度）探頭檢測時(shí)，應(yīng)至少有一種K值（角度）

的探頭滿足這一要求。

斜探頭K值（角度）選取可參照表6的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。直探頭標(biāo)稱頻率的選

取可參照表7的規(guī)定。

（表6）推薦采用的斜探頭K值和標(biāo)稱頻率

工件厚度〃mm折射角值）標(biāo)稱頻率/MHz

>&-2563。?72。(2.0~3.0)4~5

>25-4056O~68O(1.5-2.5)2-5

>4045°~63°(1.0-2.0)2?2，

（表7）推薦采用的直探頭標(biāo)稱頻率

工件厚度〃mm標(biāo)稱頻率/MHz

26~404-5

>402~5

17.2.6.7母材的檢測

對(duì)于C級(jí)檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢測

結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測。母材檢測規(guī)程要點(diǎn)如下：

a檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用2?5的直探頭，晶片尺寸10?25。

b檢測靈敏度：用接觸式脈沖反射法，將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%.

c凡缺陷信號(hào)幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。

17.2.7儀器調(diào)節(jié)

17.2.7.1斜探頭入射點(diǎn)、折射角

斜探頭入射點(diǎn)、折射角的測量應(yīng)選擇在、或上進(jìn)行。

17.2.7.2儀器時(shí)基線

儀器時(shí)基線的調(diào)整應(yīng)選擇在、或上進(jìn)行。

17.2.8距離一波幅曲線繪制

17.2.8.1距離一波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量

線和

判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為

區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)，如圖9所示。如果距離-波幅曲線繪制在顯示屏上，則在檢測范圍內(nèi)

曲線任一點(diǎn)高度不低于顯示屏滿刻度的20

圖9距離一波幅曲線

八

m

波幅

判廢線（）

17.2.9距離一波幅曲線的靈敏度選擇

17.2.9.1工件厚度為6~200的焊接接頭，斜探頭或直探頭檢測時(shí)，用試塊制作的距離-波幅曲線靈敏

度按表6的規(guī)定。

表6斜探頭或直探頭檢測距離-波幅曲線的靈敏度

試塊型式工件厚度評(píng)定線定量線判廢線

26?402X40-184)2X40-122X40-4

>40-1002X60-1462X60-82X60+2

>100-2002X60-104)2X60-42X60+6

17.2.9.2工件厚度為8~120的焊接接頭，斜探頭檢測時(shí)，用試塊制作的距離-波幅曲線靈敏度按表7的規(guī)

定。

表7距離一波幅曲線的靈敏度

試塊取式工件厚度//nun評(píng)定線定置線判廢嫌

8-15.1x6-12dB.1X6-6dB.iX6+2dB

CSK-IIIA>15To.1x6-9dB.1x6-3dB.1x67dB

>40-120《1x6-6dB.1x6.1x升lOdB

17.2.9.3工件厚度大于200、500的焊接接頭,斜探頭或直探頭檢測時(shí)距離-波幅曲線靈敏度按表8的規(guī)

定。

表8斜探頭或直探頭檢測距離-波幅曲線的靈敏度

試塊型式「件厚度mm部定線定址線判廢線

>200?300”x8O?l3dH^dxH0-7dB

CSK-IVA

>300-50046x80?5dB

17.2.9.4檢測橫向缺陷時(shí);應(yīng)將掃查靈敏度至少再提高6進(jìn)行檢測.

17.2.9.5工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按附錄I（規(guī)范性附錄）的規(guī)定測量聲

能傳輸損耗差并進(jìn)行補(bǔ)償，補(bǔ)償量應(yīng)計(jì)入距離-波幅曲線。

17.2.9.6掃查靈敏度不應(yīng)低于評(píng)定線靈敏度，此時(shí)在檢測范圍內(nèi)最大聲程處的評(píng)定線高度不應(yīng)低于熒光屏

滿刻度的20%?

17.2.10掃查方法

17.2.10.1斜探頭掃查

檢測焊接接頭縱向缺陷時(shí)，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查，見圖10。

探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí).，掃查時(shí)還

應(yīng)作10°?15°的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，確定缺陷的位置、方

向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見圖11?

圖10鋸齒型掃查

前后左右轉(zhuǎn)角環(huán)繞

圖11四種基本掃查方法

17.2.10.2檢測焊接接頭橫向缺陷時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使斜探頭與焊接接頭中心線成不大于10°作

兩個(gè)方向斜平行掃查，見圖12。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平

行掃查，見圖13

圖12斜平行掃查圖13平行掃查

17.2.10.3對(duì)電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成45°的斜向掃查。

17.2.10.4直探頭掃查

直探頭掃查時(shí)，應(yīng)確保超聲聲束能掃查到焊接接頭的整個(gè)被檢區(qū)域。

17.2.10.5檢測面曲率半徑小于或等于250對(duì)接焊接接頭超聲檢測的一般原則

17.2.10.6檢測曲面工件時(shí)，如檢測面曲率半徑RWM/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測時(shí)為探頭

寬度，縱縫檢測時(shí)為探頭長度），應(yīng)采用與檢測面曲率相同對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。

試塊寬度b一般應(yīng)滿足：

b22A

式中：

b一試塊寬度，

人一起聲波波長，

S一聲程，

D。聲源有效直徑，

17.2.10.7曲面工件對(duì)接焊接接頭的檢測

17.2.10.8檢測面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測方法進(jìn)行檢測外。對(duì)于受幾何形狀限制，無法檢

測的部位應(yīng)予以記錄。

17.2.10.9縱縫檢測時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為工件檢測面曲率半徑的0.9?1.1