標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 41232.6-2024 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專注于納米制造領(lǐng)域中的關(guān)鍵控制特性,特別是針對(duì)納米儲(chǔ)能應(yīng)用。該標(biāo)準(zhǔn)的第六部分詳細(xì)規(guī)定了測(cè)定納米電極材料中碳含量的方法,采用的是紅外吸收法。以下是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的具體闡釋:

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類納米電極材料,其目的是為了提供一種準(zhǔn)確、可靠的方法來測(cè)定這些材料中碳元素的含量。這對(duì)于理解和控制納米儲(chǔ)能器件(如超級(jí)電容器、鋰離子電池等)的性能至關(guān)重要,因?yàn)樘己恐苯佑绊懙诫姌O材料的導(dǎo)電性、容量和循環(huán)穩(wěn)定性。

測(cè)定原理

紅外吸收法基于不同物質(zhì)對(duì)特定波長(zhǎng)紅外光的吸收特性差異來進(jìn)行定量分析。在納米電極材料中,碳原子能夠吸收特定波段的紅外光,通過測(cè)量這些吸收峰的強(qiáng)度,可以間接計(jì)算出材料中碳的含量。這種方法需要精確的儀器校準(zhǔn)和對(duì)照實(shí)驗(yàn)以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

方法概述

  1. 樣品準(zhǔn)備:首先需要將納米電極材料制備成適合紅外光譜分析的狀態(tài),可能包括研磨、混合并壓片,或采用特殊技術(shù)分散于適當(dāng)介質(zhì)中。

  2. 測(cè)量過程:使用紅外光譜儀對(duì)樣品進(jìn)行掃描,記錄其在特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的吸收譜圖。重點(diǎn)關(guān)注碳元素特征吸收峰的位置和強(qiáng)度。

  3. 數(shù)據(jù)處理:通過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)和樣品吸收譜圖的對(duì)比分析,運(yùn)用適當(dāng)?shù)臄?shù)學(xué)模型計(jì)算出樣品中碳的百分比含量。

  4. 質(zhì)量控制:標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了重復(fù)性和再現(xiàn)性的要求,確保不同實(shí)驗(yàn)室間結(jié)果的一致性。需要有嚴(yán)格的質(zhì)量控制措施,包括空白試驗(yàn)、平行試驗(yàn)及與已知方法比較驗(yàn)證等。

重要性

該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施有助于統(tǒng)一行業(yè)內(nèi)納米電極材料碳含量測(cè)定的方法,提升測(cè)試結(jié)果的可比性和可靠性。對(duì)于科研機(jī)構(gòu)、高校、電池制造商以及相關(guān)檢測(cè)機(jī)構(gòu)來說,它是評(píng)估和優(yōu)化納米儲(chǔ)能器件性能的重要依據(jù),促進(jìn)技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品質(zhì)量控制的進(jìn)步。

注意事項(xiàng)

盡管未直接要求總結(jié),但理解該標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)注意,實(shí)施過程中應(yīng)嚴(yán)格遵循操作規(guī)程,確保實(shí)驗(yàn)環(huán)境控制、儀器校準(zhǔn)及數(shù)據(jù)分析的準(zhǔn)確性,以獲得最可靠的測(cè)試結(jié)果。


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....

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  • 即將實(shí)施
  • 暫未開始實(shí)施
  • 2024-08-23 頒布
  • 2025-03-01 實(shí)施
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GB/T 41232.6-2024納米制造關(guān)鍵控制特性納米儲(chǔ)能第6 部分:納米電極材料中的碳含量測(cè)定紅外吸收法_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS

07.030;07.120

CCS

F19

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T41232.6—2024

納米制造關(guān)鍵控制特性納米儲(chǔ)能

第6部分:納米電極材料中的碳含量

測(cè)定紅外吸收法

Nanomanufacturing—Keycontrolcharacteristics—Nano-enabledelectricalenergy

storage—Part6:Determinationofcarboncontentfornano-enabledelectrode

materials—Infraredabsorptionmethod

(IECTS62607-4-6:2018,Nanomanufacturing—Keycontrolcharacteristics—

Part4-6:Nano-enabledelectricalenergystorage—

Determinationofcarboncontentfornano-enabledelectrodematerials,infrared

absorptionmethod,MOD)

2024-08-23發(fā)布2025-03-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T41232.6—2024

目次

前言

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引言

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1

范圍

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1

2

規(guī)范性引用文件

······················································································

1

3

術(shù)語(yǔ)、定義和縮略語(yǔ)

·················································································

1

3.1

術(shù)語(yǔ)和定義

······················································································

1

3.2

縮略語(yǔ)

···························································································

1

4

試劑和材料

···························································································

2

4.1

分析氣

···························································································

2

4.2

載氣

······························································································

2

4.3

助熔劑

···························································································

2

4.4

有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

····················································································

2

5

儀器

··································································································

2

5.1

分析天平

·························································································

2

5.2

粉末壓片機(jī)

······················································································

2

5.3

高頻紅外碳硫分析儀

·············································································

2

5.4

馬弗爐

···························································································

3

5.5

坩堝

······························································································

3

5.6

干燥箱

···························································································

3

6

測(cè)試方法

······························································································

3

6.1

概述

······························································································

3

6.2

樣品制備

·························································································

3

6.3

開機(jī)

······························································································

3

6.4

空白試驗(yàn)驗(yàn)證與測(cè)定

·············································································

3

6.5

檢查和校準(zhǔn)

······················································································

4

6.6

測(cè)試分析

·························································································

4

6.7

結(jié)果

······························································································

4

7

數(shù)據(jù)驗(yàn)證

······························································································

4

8

不確定度分析

·························································································

4

9

測(cè)試報(bào)告

······························································································

4

附錄A(資料性)實(shí)例分析

···········································································

5

參考文獻(xiàn)

··································································································

9

GB/T41232.6—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)

定起草。

本文件是GB/T41232《納米制造關(guān)鍵控制特性納米儲(chǔ)能》的第6部分。GB/T41232已經(jīng)發(fā)

布了以下部分:

—第2部分:納米正極材料的密度測(cè)試;

—第3部分:納米材料接觸電阻率和涂層電阻率的測(cè)試;

—第6部分:納米電極材料中的碳含量測(cè)定紅外吸收法。

本文件修改采用IECTS62607?4?6:2018《納米制造關(guān)鍵控制特性第4?6部分:納米儲(chǔ)能納

米電極材料中的碳含量測(cè)定紅外吸收法》,文件類型由IEC的技術(shù)規(guī)范調(diào)整為我國(guó)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

本文件與IECTS62607?4?6:2018相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整:

—增加了第8章,第9章對(duì)應(yīng)IECTS62607?4?6:2018中的第8章。

本文件與IECTS62607?4?6:2018的技術(shù)差異及其原因如下:

—用ISO80004?1替換了ISO/TS80004?1:2010,以確保引用最新版本的文件(見第2章和

3.1);

—增加了分析天平的分辨力,以明確分析天平的分辨力要求(見表1);

—增加了干燥箱的內(nèi)容,以明確干燥箱的溫度范圍(見5.6和6.2.1);

—增加了不確定度分析的內(nèi)容,以明確與測(cè)量納米電極材料的碳含量有關(guān)的不確定度來源(見第

8章);

—增加了測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含的內(nèi)容,以明確測(cè)試對(duì)象、測(cè)試人員及日期、測(cè)試儀器及型號(hào)[見第9章

中的a)~c)]。

本文件做了下列編輯性改動(dòng):

—為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào),將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《納米制造關(guān)鍵控制特性納米儲(chǔ)能第6部分:納米

電極材料中的碳含量測(cè)定紅外吸收法》;

—?jiǎng)h除了縮略語(yǔ)“IR”;

—增加了縮略語(yǔ)“LMFP”(見3.2);

—將測(cè)試儀器的參數(shù)進(jìn)行了歸類(見表1)。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。

本文件由中國(guó)科學(xué)院提出。

本文件由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC279)歸口。

本文件起草單位:深圳市德方納米科技股份有限公司、國(guó)家納米科學(xué)中心、寧波鋒成先進(jìn)能源材料

研究院有限公司、佛山市德方納米科技有限公司、深圳市標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院、山東精工電子科技股份有限

公司、深圳市德方創(chuàng)域新能源科技有限公司、曲靖市德方納米科技有限公司、清華大學(xué)深圳國(guó)際研究生

院、中國(guó)計(jì)量大學(xué)、鋰源(深圳)科學(xué)研究有限公司。

本文件主要起草人:孔令涌、孫言、王遠(yuǎn)航、葛廣路、高潔、王耀國(guó)、俞波、陳燕玉、樊陽(yáng)波、

金青青、邱志平、張敬捧、賈永鵬、周永輝、龔昊、陳心怡、李寶華、張淑琴、岳海峰。

GB/T41232.6—2024

引言

與一般材料相比,納米儲(chǔ)能材料表現(xiàn)出了優(yōu)越的性能,為了加快納米儲(chǔ)能這一新興產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)

展,規(guī)范納米儲(chǔ)能材料性能測(cè)試方法成為業(yè)內(nèi)亟需完成的工作。在這方面,國(guó)際電工委員會(huì)電工產(chǎn)品和

系統(tǒng)納米技術(shù)委員會(huì)(IEC/TC113)已經(jīng)發(fā)布了8項(xiàng)關(guān)于納米儲(chǔ)能材料性能測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化文件,結(jié)合

國(guó)內(nèi)產(chǎn)業(yè)發(fā)展需要,擬對(duì)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行采標(biāo)。GB/T41232《納米制造關(guān)鍵控制特性納米儲(chǔ)能》是

指導(dǎo)納米儲(chǔ)能材料物理性能和化學(xué)性能測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn),擬由8個(gè)部分構(gòu)成。

—第1部分:納米正極材料的電化學(xué)性能測(cè)試

兩電極電池法。目的在于確立采用兩電極電池法測(cè)

試納米正極材料電化學(xué)性能的相關(guān)規(guī)定。

—第2部分:納米正極材料的密度測(cè)試。目的在于確立測(cè)試納米正極材料密度的相關(guān)規(guī)定。

—第3部分:納米材料接觸電阻率和涂層電阻率的測(cè)試。目的在于確立測(cè)量納米電極材料接觸電

阻率和涂層電阻率的相關(guān)規(guī)定。

—第4部分:納米材料的熱性能測(cè)試針刺法。目的在于確立采用針刺法測(cè)試納米儲(chǔ)能器件熱失

控水平的相關(guān)規(guī)定。

—第5部分:納米正極材料的電化學(xué)性能測(cè)試三電極電池法。目的在于確立采用三電極電池法

測(cè)試納米正極材料電化學(xué)性能的相關(guān)規(guī)定。

—第6部分:納米電極材料中的碳含量測(cè)定紅外吸收法。目的在于確立采用紅外光譜吸收法測(cè)

定納米電極材料碳含量的相關(guān)規(guī)定。

—第7部分:納米正極材料中磁性雜質(zhì)的測(cè)定ICP?OES法。目的在于確立使用電感耦合等離子

體發(fā)射光譜儀(ICP?OES)測(cè)定納米正極材料中磁性雜質(zhì)的相關(guān)規(guī)定。

—第8部分:納米電極材料中水分含量的測(cè)定卡爾·費(fèi)休庫(kù)倫滴定法。目的在于確立采用卡爾·費(fèi)

休庫(kù)侖滴定法測(cè)定納米電極材料中水分含量的相關(guān)規(guī)定。

納米儲(chǔ)能技術(shù)已廣泛應(yīng)用于便攜式電子設(shè)備、電動(dòng)汽車和儲(chǔ)能系統(tǒng)等領(lǐng)域。這些應(yīng)用的持續(xù)快速發(fā)

展對(duì)納米儲(chǔ)能器件的性能提出了更高的要求。電能儲(chǔ)存器件的主要性能取決于電極材料。

納米電極材料的碳含量是一個(gè)重要控制指標(biāo),碳含量會(huì)影響電極材料的性能和質(zhì)量。碳作為導(dǎo)電

劑,能提高粒子間的電子傳導(dǎo)性能,因此合適的碳含量是必要的。一方面。當(dāng)碳含量不足時(shí),導(dǎo)電性能

得不到有效改善,導(dǎo)致電池的內(nèi)阻高、放電平臺(tái)低或容量小,從而使得其倍率性能和循環(huán)壽命下降。但

另一方面,碳含量過高則容易相互聚集且難以分散,會(huì)影響后續(xù)加工,因?yàn)檫^量的碳會(huì)降低活性物質(zhì)的

占比,影響電池的能量密度。

由于納米電極材料的顆粒粒徑較小、表觀密度低,測(cè)試過程中,樣品在爐膛內(nèi)很容易被氣體吹走,

不僅影響碳含量的測(cè)定,而且可能污染測(cè)試系統(tǒng)。本文件通過特殊的制樣方式─粉末壓片,提供了一

種應(yīng)用于電能儲(chǔ)存裝置中的納米電極材料碳含量的測(cè)定方法,用于評(píng)估納米電極復(fù)合材料配方的最佳組

合,避免樣品損失的同時(shí)保護(hù)了儀器。依據(jù)該方法,能比較不同研究團(tuán)隊(duì)的結(jié)果。

本方法僅適用于比較研究階段納米電極材料中的碳含量,而不適用于評(píng)估終端產(chǎn)品中的電極材料。

本方法適用于只有通過納米技術(shù)才能展現(xiàn)出功能或性能的材料,有意地將其添加到活性材料中能顯

著提高電儲(chǔ)能器件的性能。

GB/T41232.6—2024

納米制造關(guān)鍵控制特性納米儲(chǔ)能

第6部分:納米電極材料中的碳含量

測(cè)定紅外吸收法

1范圍

本文件描述了一種采用紅外光譜吸收法測(cè)定納米電極材料中碳含量的方法,包含樣品制備、納米電

極材料性能測(cè)試的試驗(yàn)過程、數(shù)據(jù)分析與結(jié)果解釋、實(shí)例分析。

本文件適用于質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.001%~100%的碳含量的檢測(cè),用于對(duì)納米電極材料的判斷,以及對(duì)納

米電極材料碳含量的選擇。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過

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