半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第六篇：微處理器空白詳細(xì)規(guī)范 編制說明

《半導(dǎo)體器件集成電路第2-6部分：數(shù)字集成電路微處理器空白詳細(xì)規(guī)范》（征求意見稿）編制說明器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))下達(dá)的《國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)修訂項(xiàng)目任務(wù)書》，對(duì)《半導(dǎo)體集成電路微處理器空白詳細(xì)規(guī)范》(GB7509-1987)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行修訂，計(jì)劃代號(hào)：IEC60748-2-6:1991（QC790110）《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第6篇微處理器空白詳細(xì)規(guī)范》（英文版），主要承辦單位為中國(guó)電子科隨著信息時(shí)代的到來，網(wǎng)絡(luò)通信、信息安全和信息家電產(chǎn)品將越來越普及，家大力扶植和重點(diǎn)發(fā)展的戰(zhàn)略科技領(lǐng)域，是信息產(chǎn)業(yè)和人工智能的基礎(chǔ)和載體。干政策》中強(qiáng)調(diào)國(guó)家大力培育集成電路企業(yè)，加交流。該標(biāo)準(zhǔn)的修訂，可以為我國(guó)微處理器4.第2頁，簡(jiǎn)要說明[6]的表述按IEC607487.對(duì)GB7509-1987第5章“電工作條件和電特性”的表述和表格按9.GB7509-1987第10章“試驗(yàn)條件和檢驗(yàn)要求”的表述和表格按三、試驗(yàn)驗(yàn)證的分析、綜述報(bào)告，技術(shù)經(jīng)濟(jì)論證，預(yù)期的經(jīng)濟(jì)效益、社會(huì)我所擁有十年以上微處理器產(chǎn)品的生產(chǎn)、檢驗(yàn)工作經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過成熟的試驗(yàn)此次修訂等同采用國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）標(biāo)準(zhǔn)IEC60748-2-6:1991（QC五、以國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的起草情況，以及是否合規(guī)引用或者采用國(guó)際國(guó)外等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(IEC60748-2-6標(biāo)準(zhǔn)在標(biāo)準(zhǔn)體系中的位置是集成電路-產(chǎn)品-半導(dǎo)體九、實(shí)施國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求，以及組織措施、技術(shù)措施、過渡期和實(shí)施日期1.本標(biāo)準(zhǔn)作為支撐基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，一經(jīng)頒布后，相關(guān)產(chǎn)品規(guī)范，