燃?xì)廨啓C(jī)精密鑄造透平葉片射線檢測(cè)技術(shù)規(guī)范

3燃?xì)廨啓C(jī)精密鑄造透平葉片射線檢測(cè)技術(shù)規(guī)范本文件規(guī)定了燃?xì)廨啓C(jī)精密鑄造透平葉片制造過程中射線檢測(cè)必須滿足的相關(guān)技術(shù)條件和管理要求。本文件規(guī)定的射線檢測(cè)方法和質(zhì)量驗(yàn)收準(zhǔn)則要求適用于制造階段燃?xì)廨啓C(jī)透平葉片的檢測(cè)，在役檢修階段的透平葉片射線檢測(cè)可參照本文件執(zhí)行。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T5677鑄件射線照相檢測(cè)GB/T9445無損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證GB/T12604.2無損檢測(cè)術(shù)語射線照相檢測(cè)GB/T19802無損檢測(cè)工業(yè)射線照相觀片燈最低要求GB/T23901.1無損檢測(cè)射線照相底片像質(zhì)第1部分：線形像質(zhì)計(jì)像質(zhì)指數(shù)的測(cè)定GB/T25758.2無損檢測(cè)工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性第2部分：針孔照相機(jī)射線照相方法GB/T20129無損用電子直線加速器GB/T19348無損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片GB18871電離輻射防護(hù)及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)ASTME747射線照相用線型像質(zhì)指示器的設(shè)計(jì)、制造和材料分類的實(shí)施細(xì)則ASTME1742射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范ASTME192射線檢測(cè)參考底片ASTME446射線檢測(cè)參考底片ASTME1165用針孔成像法測(cè)量工業(yè)X射線管焦點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)方法3術(shù)語、定義和符號(hào)43.1術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件，其它術(shù)語參考GB/T12604.2相關(guān)描述。金屬液充型后，在金屬液的交接處融合不好，而且在鑄件中產(chǎn)生穿透的或不穿透的縫隙。3.1.2氣孔（鑄造）Gasholes（casting）產(chǎn)生于鑄件內(nèi)部、表面或近表面，呈大小不等的圓形、長(zhǎng)型及不規(guī)則形的光滑孔洞。通常為液態(tài)金屬凝固或冷卻過程中因氣體溶解度下降，析出的氣體來不及逸出而產(chǎn)生。3.1.3裂紋Crack裂紋是指材料局部開裂形成的缺陷。3.1.4夾雜Inclusions鑄件內(nèi)部或表面不規(guī)則形狀或異物，可以是金屬雜質(zhì)、鑄型砂或其他雜質(zhì)的混合物鑲嵌到鑄件金屬中。3.1.5縮孔Shrinkagecavity由于金屬液收縮和凝固收縮所縮減的體積得不到補(bǔ)充，在鑄件最后凝固的部位形成的宏觀孔洞。3.1.6縮松Shrinkageporosity鑄件最后凝固的區(qū)域沒有得到液態(tài)金屬或合金的補(bǔ)縮形成分散和細(xì)小的孔洞。3.1.7澆不足Misrun金屬液未能充滿鑄型型腔而形成不完整的鑄件。3.1.8殘余型芯Residualcore葉片內(nèi)腔中未去除完的陶瓷型芯。3.1.9氣孔（焊接）Gasholes（welding）焊接時(shí)熔池中的氣體未在金屬凝固前逸出，殘存于焊縫之中所形成的空穴。焊接過程中，殘存在焊縫中的溶渣。3.1.11未熔合IncompleteFusion焊縫金屬與母材金屬，或焊縫金屬之間未熔化結(jié)合在一起的缺陷。3.1.12邊蝕效應(yīng)Edgeerosioneffect散射線影響射線底片影像邊界的現(xiàn)象。3.1.13透照厚度Penetratedthickness射線照射方向上材料的公稱厚度。多層透照時(shí)，透照厚度為射線通過的各層材料公稱厚度之和。3.1.14有效透照部位采用膠片射線檢測(cè)技術(shù)對(duì)復(fù)雜葉片實(shí)施檢測(cè)時(shí)，具備良好的透照成像條件，成像效果好，5能夠獲得滿意圖像質(zhì)量要求的部位，稱為有效透照部位。3.1.15參考透照部位采用膠片射線檢測(cè)技術(shù)對(duì)復(fù)雜葉片實(shí)施檢測(cè)時(shí)，因射線檢測(cè)技術(shù)固有特點(diǎn)和葉片固有結(jié)構(gòu)限制，受邊蝕效應(yīng)、投影疊加等因素的影響，不具備良好透照成像條件，成像效果差，不能夠獲得滿意圖像質(zhì)量要求的部位，稱為參考透照部位。3.1.16有效評(píng)定區(qū)底片評(píng)定時(shí)，有效透照部位對(duì)應(yīng)的底片投影區(qū)域，稱為有效評(píng)定區(qū)。3.1.17參考評(píng)定區(qū)底片評(píng)定時(shí)，參考透照部位對(duì)應(yīng)的底片投影區(qū)域，稱為參考評(píng)定區(qū)。3.2符號(hào)下列符號(hào)適用于本文件。F：焦距，沿射線束中心測(cè)定的射線源與膠片之間的距離Ug：幾何不清晰度d：射線源尺寸，采用制造方提供的公稱尺寸或選用合適的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試出的有效焦點(diǎn)尺寸T：材料公稱厚度W：透照厚度b：射線源側(cè)工件表面至膠片的距離4檢測(cè)人員資格凡從事射線檢測(cè)的操作人員和評(píng)定人員應(yīng)經(jīng)過培訓(xùn)，應(yīng)按照GB/T9445或其它國(guó)家、行業(yè)認(rèn)可的相關(guān)等效標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行培訓(xùn)和考核，并取得相應(yīng)考核機(jī)構(gòu)頒發(fā)的射線檢測(cè)資格證書，方可從事與資格證書等級(jí)相適應(yīng)的工作。5表面要求鑄件表面應(yīng)經(jīng)過外觀檢驗(yàn)合格。如果存在妨礙檢測(cè)和影響底片上缺陷影像辨識(shí)的表面多余物、凹坑等應(yīng)進(jìn)行處理。6檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)在最后可能產(chǎn)生缺陷工序后，實(shí)施最終檢測(cè)。宜在熱處理后或認(rèn)為最有利于缺陷檢出的時(shí)機(jī)進(jìn)行。除非在其它技術(shù)文件中有特殊規(guī)定。7檢測(cè)部位應(yīng)對(duì)葉片鑄件全體積實(shí)施檢測(cè)，或者按照技術(shù)文件規(guī)定的檢測(cè)部位執(zhí)行。68檢測(cè)設(shè)備和器材8.1.1能量選擇應(yīng)選用X射線源進(jìn)行檢測(cè)，X射線能量的選擇必須達(dá)到本文件對(duì)黑度和像質(zhì)計(jì)靈敏度的要求。對(duì)于鎳基合金等材料X射線源能量推薦選擇表1參數(shù)。能量選擇時(shí)，在滿足底片影像質(zhì)量情況下，盡可能選擇較低射線能量；對(duì)于厚度差異大的變截面區(qū)域，可適當(dāng)提高射線能量。表1X射線設(shè)備能量等級(jí)與透照厚度范圍透照厚度范圍（mm）X射線能量（上限）≤10≤210keV>10~25>210keV~380keV>25~50>380keV~490keV>50~100>490keV~4MeV8.1.2焦點(diǎn)選擇為保證射線檢測(cè)靈敏度，射線源有效焦點(diǎn)尺寸不宜過大，宜不大于5.5×5.5mm。使用前確認(rèn)焦點(diǎn)尺寸，焦點(diǎn)尺寸可采用制造方提供的公稱值，或者按ASTME1165、GB/T25758.2或GB/T20129標(biāo)準(zhǔn)要求測(cè)試出的有效焦點(diǎn)尺寸。8.2膠片應(yīng)依據(jù)射線源能量水平、零件厚度、零件形狀和影像質(zhì)量選擇射線膠片。工業(yè)用的感光材料（以下簡(jiǎn)稱膠片）按照GB/T19348.1《無損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片》第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類，分為6類：C1、C2、C3、C4，C5，C6。根據(jù)檢測(cè)區(qū)域厚度范圍和質(zhì)量要求，單膠片透照時(shí)應(yīng)選擇等于或優(yōu)于C5類膠片，其中排氣邊透照應(yīng)選擇等于或優(yōu)于C4類膠片；雙膠片透照時(shí)應(yīng)選擇等于或優(yōu)于C4+C5或C5類雙膠片，底片質(zhì)量應(yīng)符合本規(guī)范黑度和靈敏度的要求。膠片制造商應(yīng)提供規(guī)定的全部數(shù)據(jù)的合格證書以及Ks劑量值和膠片處理方法（手工或自動(dòng)，化學(xué)試劑的類型，顯影時(shí)間和顯影溫度同時(shí)還應(yīng)提供膠片使用、保存以及使用限制（如有必要）所需的所有技術(shù)資料。未使用的膠片，其保存應(yīng)符合膠片制造商推薦的溫度和濕度要求，避免任何電離輻射、可見光照射，并在有效期內(nèi)使用。7膠片灰霧度應(yīng)不超過0.3。應(yīng)從購(gòu)進(jìn)膠片中按批抽樣，采用與實(shí)際檢測(cè)相同的暗室處理?xiàng)l件處理，然后進(jìn)行灰霧度測(cè)量。經(jīng)過測(cè)量合格的膠片如果6個(gè)月還沒有使用完，應(yīng)再次測(cè)量，以核查膠片儲(chǔ)存是否符合要求。8.3增感屏射線檢測(cè)應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏，增感屏應(yīng)平整、無劃傷、無污物。金屬增感屏類型和厚度應(yīng)按表2進(jìn)行選擇。表2金屬增感屏的類型和厚度射線種類金屬增感屏的類型和厚度/mm不用屏或用鉛屏（前后）≤0.03X射線（＞100kV～150kV）鉛屏（前后）≤0.15X射線（＞150kV～250kV）鉛屏（前后）0.02～0.15X射線（＞250kV～500kV）前鉛屏0.02～0.20后鉛屏0.02～0.20X射線（1MeV～4MeV）鋼或銅屏（前后）0.25～0.70，鉛屏（前后）0.5～28.4膠片暗袋膠片暗袋或暗盒不應(yīng)透光，所用材料不應(yīng)影響底片質(zhì)量和檢測(cè)靈敏度。膠片暗袋或暗盒應(yīng)定期檢查有無漏光，如果發(fā)現(xiàn)膠片暗袋或暗盒漏光，應(yīng)作修理或廢棄。8.5濾波板、背散射防護(hù)板與遮蔽物當(dāng)?shù)湍苌⑸渚€引起對(duì)比度降低而不能達(dá)到合同、采購(gòu)圖紙或技術(shù)規(guī)范對(duì)射線檢測(cè)質(zhì)量要求時(shí)，可使用濾波板。背散射防護(hù)板一般由一層或幾層鉛板或鉛橡皮組成，其厚度應(yīng)≥4mm。薄鉛板和鉛箔、塑料或其它低密度非金屬吸收材料均可用做散射遮蔽物，以使散射線或影像邊蝕效應(yīng)的影響最小化。工件邊沿遮擋防護(hù)時(shí)，應(yīng)避免操作不當(dāng)產(chǎn)生底片影像邊蝕效應(yīng)。8.6像質(zhì)計(jì)8.6.1像質(zhì)計(jì)的類別像質(zhì)計(jì)選用與被檢工件材質(zhì)相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制作。Ni基高溫合金葉片應(yīng)選用Ni或Fe材料的像質(zhì)計(jì)。8.6.2像質(zhì)計(jì)的選用8應(yīng)選用線型像質(zhì)計(jì)。表3和表4分別列出了ASTME747和GB/T23901.1標(biāo)準(zhǔn)中線型像質(zhì)計(jì)組別、線徑和線號(hào)信息。其它國(guó)際或國(guó)內(nèi)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等同線徑的像質(zhì)計(jì)亦可選用。表4質(zhì)計(jì)的徑和線GB/T表3線型像質(zhì)計(jì)的組別、線徑和線號(hào)（按ASTME747）組別：A組組別：B組線號(hào)線號(hào)0.0810.2560.1020.3370.1330.4180.1640.5190.2050.640.2560.81組別：C組組別：D組線號(hào)線號(hào)0.812.543.204.065.082.036.352.548.13組別：W1-W7組別：W6-W12線號(hào)線號(hào)3.20W1W62.50W20.80W72.00W30.63W8W40.50W9W50.40W10W60.32W110.80W70.25W12組別：W10-W16組別：W13-W19線號(hào)線號(hào)0.40W100.20W130.32W110.16W140.25W120.125W150.20W130.10W160.16W140.080W170.125W150.063W180.10W160.050W19線型像號(hào)（按8.7標(biāo)記8.7.1透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的金屬鉛（或其它適宜的重金屬）制作的數(shù)字、拼音字母和符號(hào)等構(gòu)成。底片上的標(biāo)記應(yīng)能清晰顯示且不對(duì)底9片的評(píng)定帶來影響，標(biāo)記的材料和厚度應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度來選擇，應(yīng)能保證標(biāo)記影像不模糊，也不至于產(chǎn)生眩光。8.7.2識(shí)別標(biāo)記一般包括工件編號(hào)、部位編號(hào)和透照日期，返修后的透照還應(yīng)放置相應(yīng)返修標(biāo)記R1（返修一次）、R2（返修第二次以此類推。允許采用預(yù)曝光方式獲得相關(guān)識(shí)別標(biāo)記，但應(yīng)采取有效措施保證底片上的預(yù)曝光識(shí)別標(biāo)記能可靠追蹤到工件的相應(yīng)被檢區(qū)域且非識(shí)別標(biāo)記區(qū)域被有效屏蔽，不被曝光。8.7.3定位標(biāo)記用于識(shí)別工件被檢部位與底片影像的對(duì)應(yīng)位置，定位標(biāo)記的影像應(yīng)出現(xiàn)在底片上，且不影響對(duì)底片的評(píng)定，并能證實(shí)整個(gè)透照區(qū)完全被覆蓋。在工件上應(yīng)標(biāo)劃出定位標(biāo)記的位置，在射線檢測(cè)過程中，應(yīng)保留該標(biāo)劃痕跡。如果整個(gè)工件采用一張膠片進(jìn)行射線檢測(cè)，或依據(jù)工件的形狀特征在底片的影像可區(qū)分位置的情況，則可不需要定位標(biāo)記。8.8黑度計(jì)及標(biāo)準(zhǔn)密度片8.8.1按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T5677《鑄件射線照相檢測(cè)》規(guī)定：黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于4.5，測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過±0.05。8.8.2標(biāo)準(zhǔn)密度片應(yīng)至少有8個(gè)一定間隔的黑度基準(zhǔn)，且能覆蓋0.3~4.5黑度范圍。8.9觀片燈觀片燈應(yīng)有足夠強(qiáng)的可變光源，以提供不同的亮度。按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T19802《無損檢測(cè)工業(yè)射線照相觀片燈最低要求》規(guī)定：觀片燈亮度的要求，取決于射線照相底片的黑度。透過射線照相底片的亮度，應(yīng)不小于：——30cd/m2（底片黑度≤2.5時(shí)表5列出了不同底片黑度時(shí)觀片燈亮度應(yīng)達(dá)到的最小值。觀片燈應(yīng)配備必要的遮光板，用來遮擋來自底片邊緣或底片低黑度區(qū)域的光線，防止干擾底片評(píng)定。表5觀片燈亮度最小值要求底片黑度最小亮度值cd/m23003000100003.0100003.53000041000004.5300000當(dāng)觀片燈修理或替換或換燈泡時(shí)都應(yīng)重新測(cè)定此值。8.10顯影液和定影液顯影液和定影液宜采用膠片廠家生產(chǎn)或推薦的沖洗配方或藥劑，在按GB/T19348.2附錄A經(jīng)比較試驗(yàn)證明的條件下，也可以使用其它廠家的配方或藥劑。顯影液和定影液應(yīng)在有效期內(nèi)使用。9校驗(yàn)9.1標(biāo)準(zhǔn)密度片標(biāo)準(zhǔn)密度片每?jī)赡陜?nèi)應(yīng)至少進(jìn)行一次校驗(yàn)。9.2黑度計(jì)黑度計(jì)應(yīng)按照ASTME1742《射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范》規(guī)定程序進(jìn)行校驗(yàn)，至少每3個(gè)月用標(biāo)準(zhǔn)密度片進(jìn)行一次校驗(yàn)（見附錄A黑度計(jì)校驗(yàn)方法每次校驗(yàn)后應(yīng)填寫校驗(yàn)記錄。每次使用前或維修時(shí)（更換燈泡或光圈黑度計(jì)均應(yīng)進(jìn)行校驗(yàn)，可不做校驗(yàn)記錄。9.3觀片燈觀片室里的光照度應(yīng)暗而柔和，背景照明光不應(yīng)妨礙射線底片的評(píng)定。在觀片燈關(guān)閉的條件下，觀片燈表面的環(huán)境光亮度不應(yīng)超過30lux，每年至少核查一次。觀片燈每3個(gè)月校驗(yàn)一次，每次維修（更換燈泡）時(shí)均應(yīng)進(jìn)行校驗(yàn)。10檢測(cè)技術(shù)本文件的相關(guān)規(guī)定優(yōu)先遵照?qǐng)?zhí)行，未注明部分借鑒國(guó)家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通用要求。焦距應(yīng)滿足幾何不清晰度（Ug）的要求。允許的幾何不清晰度最大值見表6。幾何不清晰度（Ug）的定義為：Ug=d*b/（F-b）公式中單位為mm。表6允許的幾何不清晰度最大值材料厚度T（mm）幾何不清晰度Ug（mm）<50.80.2050.8~101.60.50>101.60.7510.2透照方式應(yīng)當(dāng)優(yōu)先采用單壁透照技術(shù)，當(dāng)單壁透照技術(shù)無法實(shí)施時(shí)，允許采用雙壁或多壁透照技術(shù)。為了能充分發(fā)現(xiàn)精密鑄造工藝可能出現(xiàn)的缺陷類型，應(yīng)選擇適宜的透照方向，并進(jìn)行足夠次數(shù)的曝光。透照布置時(shí)宜從較薄方向?qū)嵤z測(cè)。檢測(cè)有效透照部位時(shí)，膠片布置可覆蓋參考透照部位，在一張底片上投影成像。透照方式應(yīng)最大程度減小透照盲區(qū)。對(duì)于典型結(jié)構(gòu)的動(dòng)葉、靜葉推薦透照方式如下，如果能夠保證有效檢測(cè)葉片鑄件全體積，也可采用其它適宜的透照方式。透照時(shí)，膠片盡可能貼近被檢部位，保證影像質(zhì)量。檢測(cè)有效透照區(qū)時(shí)，底片布置覆蓋參考透照區(qū)，保證參考透照區(qū)得到透照。參考透照部位需滿足黑度要求，靈敏度以工藝試驗(yàn)確定，并在工藝卡中明確。參考透照部位宜在相對(duì)較好成像區(qū)域放置像質(zhì)計(jì)（如具備放置的空間條件按該區(qū)域的厚度選擇像質(zhì)計(jì)。10.2.1不帶冠動(dòng)葉片檢測(cè)部位應(yīng)包括葉根、平臺(tái)、葉身部位。葉身、葉根為有效透照區(qū)，平臺(tái)、葉根過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)為參考透照區(qū)。可采用單壁單影透照方式，透照葉身時(shí)射線束垂直于葉頂孔軸線透照，用以判斷葉頂孔是否堵塞。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時(shí)完成透照。不帶冠動(dòng)葉片透照示意圖參見圖1、圖2。圖1不帶冠動(dòng)葉葉根、平臺(tái)透照示意圖圖2不帶冠動(dòng)葉葉身透照示意圖10.2.2帶冠動(dòng)葉片檢測(cè)部位應(yīng)包括葉根、平臺(tái)、葉身、圍帶及氣封齒部位。葉身、葉根為有效透照區(qū)，平臺(tái)、葉根過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、圍帶及氣封齒為參考透照區(qū)。葉根、平臺(tái)、葉身部位可采用單壁單影透照方式。圍帶、氣封齒透照時(shí)射線束盡可能與圍帶所在平面平行，葉片選擇合適的擺放位置以保證獲得最大的檢測(cè)范圍，從葉片背面或腹面透照1次。帶冠動(dòng)葉片透照示意圖參見圖3、圖4、圖5。圖3帶冠動(dòng)葉葉根、平臺(tái)透照示意圖圖4帶冠動(dòng)葉葉身透照示意圖圖5帶冠動(dòng)葉圍帶、氣封齒透照示意圖10.2.3單體靜葉片檢測(cè)部位包括葉身、內(nèi)平臺(tái)、外平臺(tái)及掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺(tái)、外平臺(tái)、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺(tái)過渡區(qū)、外平臺(tái)過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。葉身部位可采用單壁單影透照方式，掛鉤可采用雙壁重疊透照方式。內(nèi)、外平臺(tái)透照時(shí)，射線束可垂直內(nèi)平臺(tái)、外平臺(tái)，分別從內(nèi)平臺(tái)、外平臺(tái)兩個(gè)方向雙壁透照。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時(shí)完成透照。單體靜葉片透照示意圖參見圖6、圖7、圖8。圖6單體靜葉掛鉤及葉身透照示意圖圖7單體靜葉外平臺(tái)透照示意圖圖8單體靜葉內(nèi)平臺(tái)透照示意圖10.2.4兩連體掛鉤對(duì)稱靜葉片的檢測(cè)部位包括葉身、內(nèi)、外平臺(tái)及掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺(tái)、外平臺(tái)、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺(tái)過渡區(qū)、外平臺(tái)過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。兩連體的葉身部位分別從葉片的內(nèi)弧、背弧兩個(gè)方向，宜采用單壁單影方式透照；掛鉤可采用雙壁重疊透照方式；內(nèi)、外平臺(tái)透照時(shí)，射線束可垂直內(nèi)、外平臺(tái)采用雙壁透照。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時(shí)完成透照。兩連體掛鉤對(duì)稱靜葉片透照示意圖參見圖9、圖10、圖11、圖12。11圖9兩連體掛鉤對(duì)稱靜葉葉身透照示意圖圖10兩連體掛鉤對(duì)稱靜葉掛鉤透照示意圖圖11兩連體掛鉤對(duì)稱靜葉內(nèi)平臺(tái)透照示意圖圖12兩連體掛鉤對(duì)稱靜葉外平臺(tái)透照示意圖10.2.5兩連體掛鉤不對(duì)稱靜葉片檢測(cè)部位包括葉身、內(nèi)、外平臺(tái)及掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺(tái)、外平臺(tái)、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺(tái)過渡區(qū)、外平臺(tái)過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。兩連體的葉身部位分別從葉片的內(nèi)弧、背弧兩個(gè)方向，采用單壁單影方式透照；掛鉤可采用單壁單影透照方式；內(nèi)、外平臺(tái)透照時(shí)，采用單壁單影透照并選擇合適的透照角度，以保證獲得最大的檢測(cè)范圍。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時(shí)完成透照。雙連體掛鉤不對(duì)稱靜葉片透照示意圖參見圖13、圖14、圖15。圖13兩連體掛鉤不對(duì)稱靜葉葉身透照示意圖圖14兩連體掛鉤不對(duì)稱靜葉掛鉤透照示意圖圖15兩連體掛鉤不對(duì)稱靜葉外平臺(tái)透照示意圖10.2.6多連體靜葉片檢測(cè)部位包括葉身、內(nèi)、外平臺(tái)部位、掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺(tái)、外平臺(tái)、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺(tái)過渡區(qū)、外平臺(tái)過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。多連體的葉身部位分別從葉片的內(nèi)弧、背弧兩個(gè)方向，可采用單壁單影方式透照；內(nèi)、外平臺(tái)透照時(shí)，可采用單壁單影透照并選擇合適的透照角度，以保證獲得最大的檢測(cè)范圍；整體采用全景曝光，兼顧掛鉤部位。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時(shí)完成透照。四連體靜葉片透照示意圖參見圖16、圖17、圖18。圖16葉身透照示意圖圖17內(nèi)平臺(tái)透照示意圖圖18全景透照示意圖10.2.7可采用適當(dāng)?shù)墓ぞ吖ぱb、提升檢測(cè)效率。多個(gè)葉片射線檢測(cè)時(shí)，可使用專用透照工裝，滿足射線檢測(cè)工藝參數(shù)情況下同時(shí)進(jìn)行多個(gè)葉片射線檢測(cè)，透照示意圖參見圖19。圖19多個(gè)葉片透照示意圖10.3像質(zhì)計(jì)的使用像質(zhì)計(jì)宜置于射線源側(cè)。像質(zhì)計(jì)放置在工件透照區(qū)域厚度最薄區(qū)域。像質(zhì)計(jì)不能放置在射線源側(cè)時(shí)可放置在膠片側(cè)，在膠片上放置鉛字“F”標(biāo)記，并在檢測(cè)報(bào)告中注明。10.4像質(zhì)計(jì)靈敏度射線照相應(yīng)當(dāng)顯示線型像質(zhì)計(jì)影像和所規(guī)定的線徑，它們是影像質(zhì)量的重要指標(biāo)。像質(zhì)計(jì)靈敏度按工件最薄厚度進(jìn)行選擇。單壁透照且像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)，像質(zhì)計(jì)靈敏度應(yīng)符合表7或表8所示的規(guī)定值；單壁透照置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，確定出膠片側(cè)像質(zhì)指數(shù)。采用雙壁或多壁透照時(shí)像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)、源側(cè)時(shí)，像質(zhì)計(jì)靈敏度應(yīng)符合表9或表10所示的規(guī)定值。表7線型像質(zhì)計(jì)的選用（按GB/T23901.1）線號(hào)（線徑mm）公稱厚度t/mmW17(0.08)≤2.0W16(0.1)>2.0~3.5W15(0.125)>3.5~5.0W14(0.16)>5.0~7.0W13(0.2)>7.0~10W12(0.25)>10~15W11(0.32)>15~25W10(0.4)>25~32W9(0.5)>32~40W8(0.63)>40~55W7(0.8)>55~85W6(1)>85~150W5(1.25)>150~200表8線型像質(zhì)計(jì)的選用（按ASTME747）線號(hào)（線徑mm）公稱厚度t/mm1(0.08)≤2.02(0.1)>2.0~3.53(0.13)>3.5~5.04(0.16)>5.0~7.05(0.20)>7.0~106(0.25)>10~157(0.33)>15~258(0.41)>25~329(0.51)>32~4010(0.64)>40~5511(0.81)>55~8512(1.02)>85~15013(1.27)>150~200表9線型像質(zhì)計(jì)的選用（按GB/T23901.1）線號(hào)（線徑mm）透照厚度w/mm膠片側(cè)源側(cè)W17(0.08)>1.2~2.0>1.2~2.0W16(0.1)>2.0~3.5>2.0~3.5W15(0.125)>3.5~5.0>3.5~5.0W14(0.16)>5.0~7.0>5.0~10W13(0.2)>7.0~12W12(0.25)>15~22W11(0.32)>18~30>22~38W10(0.4)>30~40>38~48W9(0.5)>40~50>48~60W8(0.63)>50~60>60~85W7(0.8)>60~85>85~125W6(1)>85~120>125~225W5(1.25)>120~220>225~375表10線型像質(zhì)計(jì)的選用（按ASTME747）線號(hào)（線徑mm）透照厚度w/mm膠片側(cè)源側(cè)1(0.08)>1.2~2.0>1.2~2.02(0.1)>2.0~3.5>2.0~3.5>3.5~5.0>3.5~5.04(0.16)>5.0~7.0>5.0~105(0.20)>7.0~126(0.25)>15~227(0.33)>18~30>22~388(0.41)>30~40>38~489(0.51)>40~50>48~6010(0.64)>50~60>60~8511(0.81)>60~85>85~12512(1.02)>85~120>125~22513(1.27)>120~220>225~37510.5定位標(biāo)記的放置定位標(biāo)記應(yīng)放在工件上，而不能放在曝光暗袋或暗盒上。標(biāo)記的位置應(yīng)標(biāo)識(shí)在布片示意圖上，使射線底片上顯示的被檢區(qū)域能夠在工件上精確地定出位置。10.6曝光量的選擇曝光量的選擇可參考X射線設(shè)備曝光曲線確定，底片成像質(zhì)量應(yīng)達(dá)到相關(guān)技術(shù)文件對(duì)黑度和像質(zhì)計(jì)靈敏度的要求。10.7背散射線防護(hù)為了檢測(cè)背散射線，可將一個(gè)高度不小于12.7mm和厚度不小于1.5mm的鉛字“B”貼到每個(gè)膠片暗袋的背面。若“B”字的淡色影像出現(xiàn)在照相底片較黑的背景上，即表示背散射線防護(hù)不夠充分，該底片不合格。若“B”字的黑影像出現(xiàn)在較淡的背景上，則不能成為拒收的理由。10.8底片評(píng)定區(qū)的黑度對(duì)于底片評(píng)定區(qū)黑度，單片觀察時(shí)，黑度應(yīng)至少為1.5；雙片曝光并作疊片觀察時(shí)，重疊底片的黑度至少為2.0，疊合底片中的每一張底片的黑度至少為1.0。無論是單片觀察或是疊合觀察，最大黑度不超過4.5。10.9底片質(zhì)量要求射線照相底片，不應(yīng)有機(jī)械、化學(xué)或其它的污損等對(duì)被透照工件的有關(guān)區(qū)域產(chǎn)生遮蔽或混淆任何缺陷的影像，包括但不限于以下情況：a)灰霧；b)處理時(shí)產(chǎn)生的缺陷，如條紋、水跡或化學(xué)污斑等；c)劃痕、指紋、摺皺、臟物、靜電痕跡、黑點(diǎn)或撕裂等；d)由于增感屏與膠片接觸不良而造成的影像細(xì)節(jié)不清；e)由于增感