燃氣輪機精密鑄造透平葉片射線檢測技術(shù)規(guī)范

3燃氣輪機精密鑄造透平葉片射線檢測技術(shù)規(guī)范本文件規(guī)定了燃氣輪機精密鑄造透平葉片制造過程中射線檢測必須滿足的相關(guān)技術(shù)條件和管理要求。本文件規(guī)定的射線檢測方法和質(zhì)量驗收準(zhǔn)則要求適用于制造階段燃氣輪機透平葉片的檢測，在役檢修階段的透平葉片射線檢測可參照本文件執(zhí)行。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T5677鑄件射線照相檢測GB/T9445無損檢測人員資格鑒定與認證GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測GB/T19802無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求GB/T23901.1無損檢測射線照相底片像質(zhì)第1部分：線形像質(zhì)計像質(zhì)指數(shù)的測定GB/T25758.2無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第2部分：針孔照相機射線照相方法GB/T20129無損用電子直線加速器GB/T19348無損檢測工業(yè)射線照相膠片GB18871電離輻射防護及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)ASTME747射線照相用線型像質(zhì)指示器的設(shè)計、制造和材料分類的實施細則ASTME1742射線檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范ASTME192射線檢測參考底片ASTME446射線檢測參考底片ASTME1165用針孔成像法測量工業(yè)X射線管焦點的標(biāo)準(zhǔn)方法3術(shù)語、定義和符號43.1術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件，其它術(shù)語參考GB/T12604.2相關(guān)描述。金屬液充型后，在金屬液的交接處融合不好，而且在鑄件中產(chǎn)生穿透的或不穿透的縫隙。3.1.2氣孔（鑄造）Gasholes（casting）產(chǎn)生于鑄件內(nèi)部、表面或近表面，呈大小不等的圓形、長型及不規(guī)則形的光滑孔洞。通常為液態(tài)金屬凝固或冷卻過程中因氣體溶解度下降，析出的氣體來不及逸出而產(chǎn)生。3.1.3裂紋Crack裂紋是指材料局部開裂形成的缺陷。3.1.4夾雜Inclusions鑄件內(nèi)部或表面不規(guī)則形狀或異物，可以是金屬雜質(zhì)、鑄型砂或其他雜質(zhì)的混合物鑲嵌到鑄件金屬中。3.1.5縮孔Shrinkagecavity由于金屬液收縮和凝固收縮所縮減的體積得不到補充，在鑄件最后凝固的部位形成的宏觀孔洞。3.1.6縮松Shrinkageporosity鑄件最后凝固的區(qū)域沒有得到液態(tài)金屬或合金的補縮形成分散和細小的孔洞。3.1.7澆不足Misrun金屬液未能充滿鑄型型腔而形成不完整的鑄件。3.1.8殘余型芯Residualcore葉片內(nèi)腔中未去除完的陶瓷型芯。3.1.9氣孔（焊接）Gasholes（welding）焊接時熔池中的氣體未在金屬凝固前逸出，殘存于焊縫之中所形成的空穴。焊接過程中，殘存在焊縫中的溶渣。3.1.11未熔合IncompleteFusion焊縫金屬與母材金屬，或焊縫金屬之間未熔化結(jié)合在一起的缺陷。3.1.12邊蝕效應(yīng)Edgeerosioneffect散射線影響射線底片影像邊界的現(xiàn)象。3.1.13透照厚度Penetratedthickness射線照射方向上材料的公稱厚度。多層透照時，透照厚度為射線通過的各層材料公稱厚度之和。3.1.14有效透照部位采用膠片射線檢測技術(shù)對復(fù)雜葉片實施檢測時，具備良好的透照成像條件，成像效果好，5能夠獲得滿意圖像質(zhì)量要求的部位，稱為有效透照部位。3.1.15參考透照部位采用膠片射線檢測技術(shù)對復(fù)雜葉片實施檢測時，因射線檢測技術(shù)固有特點和葉片固有結(jié)構(gòu)限制，受邊蝕效應(yīng)、投影疊加等因素的影響，不具備良好透照成像條件，成像效果差，不能夠獲得滿意圖像質(zhì)量要求的部位，稱為參考透照部位。3.1.16有效評定區(qū)底片評定時，有效透照部位對應(yīng)的底片投影區(qū)域，稱為有效評定區(qū)。3.1.17參考評定區(qū)底片評定時，參考透照部位對應(yīng)的底片投影區(qū)域，稱為參考評定區(qū)。3.2符號下列符號適用于本文件。F：焦距，沿射線束中心測定的射線源與膠片之間的距離Ug：幾何不清晰度d：射線源尺寸，采用制造方提供的公稱尺寸或選用合適的標(biāo)準(zhǔn)測試出的有效焦點尺寸T：材料公稱厚度W：透照厚度b：射線源側(cè)工件表面至膠片的距離4檢測人員資格凡從事射線檢測的操作人員和評定人員應(yīng)經(jīng)過培訓(xùn)，應(yīng)按照GB/T9445或其它國家、行業(yè)認可的相關(guān)等效標(biāo)準(zhǔn)要求進行培訓(xùn)和考核，并取得相應(yīng)考核機構(gòu)頒發(fā)的射線檢測資格證書，方可從事與資格證書等級相適應(yīng)的工作。5表面要求鑄件表面應(yīng)經(jīng)過外觀檢驗合格。如果存在妨礙檢測和影響底片上缺陷影像辨識的表面多余物、凹坑等應(yīng)進行處理。6檢測時機應(yīng)在最后可能產(chǎn)生缺陷工序后，實施最終檢測。宜在熱處理后或認為最有利于缺陷檢出的時機進行。除非在其它技術(shù)文件中有特殊規(guī)定。7檢測部位應(yīng)對葉片鑄件全體積實施檢測，或者按照技術(shù)文件規(guī)定的檢測部位執(zhí)行。68檢測設(shè)備和器材8.1.1能量選擇應(yīng)選用X射線源進行檢測，X射線能量的選擇必須達到本文件對黑度和像質(zhì)計靈敏度的要求。對于鎳基合金等材料X射線源能量推薦選擇表1參數(shù)。能量選擇時，在滿足底片影像質(zhì)量情況下，盡可能選擇較低射線能量；對于厚度差異大的變截面區(qū)域，可適當(dāng)提高射線能量。表1X射線設(shè)備能量等級與透照厚度范圍透照厚度范圍（mm）X射線能量（上限）≤10≤210keV>10~25>210keV~380keV>25~50>380keV~490keV>50~100>490keV~4MeV8.1.2焦點選擇為保證射線檢測靈敏度，射線源有效焦點尺寸不宜過大，宜不大于5.5×5.5mm。使用前確認焦點尺寸，焦點尺寸可采用制造方提供的公稱值，或者按ASTME1165、GB/T25758.2或GB/T20129標(biāo)準(zhǔn)要求測試出的有效焦點尺寸。8.2膠片應(yīng)依據(jù)射線源能量水平、零件厚度、零件形狀和影像質(zhì)量選擇射線膠片。工業(yè)用的感光材料（以下簡稱膠片）按照GB/T19348.1《無損檢測工業(yè)射線照相膠片》第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類，分為6類：C1、C2、C3、C4，C5，C6。根據(jù)檢測區(qū)域厚度范圍和質(zhì)量要求，單膠片透照時應(yīng)選擇等于或優(yōu)于C5類膠片，其中排氣邊透照應(yīng)選擇等于或優(yōu)于C4類膠片；雙膠片透照時應(yīng)選擇等于或優(yōu)于C4+C5或C5類雙膠片，底片質(zhì)量應(yīng)符合本規(guī)范黑度和靈敏度的要求。膠片制造商應(yīng)提供規(guī)定的全部數(shù)據(jù)的合格證書以及Ks劑量值和膠片處理方法（手工或自動，化學(xué)試劑的類型，顯影時間和顯影溫度同時還應(yīng)提供膠片使用、保存以及使用限制（如有必要）所需的所有技術(shù)資料。未使用的膠片，其保存應(yīng)符合膠片制造商推薦的溫度和濕度要求，避免任何電離輻射、可見光照射，并在有效期內(nèi)使用。7膠片灰霧度應(yīng)不超過0.3。應(yīng)從購進膠片中按批抽樣，采用與實際檢測相同的暗室處理條件處理，然后進行灰霧度測量。經(jīng)過測量合格的膠片如果6個月還沒有使用完，應(yīng)再次測量，以核查膠片儲存是否符合要求。8.3增感屏射線檢測應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏，增感屏應(yīng)平整、無劃傷、無污物。金屬增感屏類型和厚度應(yīng)按表2進行選擇。表2金屬增感屏的類型和厚度射線種類金屬增感屏的類型和厚度/mm不用屏或用鉛屏（前后）≤0.03X射線（＞100kV～150kV）鉛屏（前后）≤0.15X射線（＞150kV～250kV）鉛屏（前后）0.02～0.15X射線（＞250kV～500kV）前鉛屏0.02～0.20后鉛屏0.02～0.20X射線（1MeV～4MeV）鋼或銅屏（前后）0.25～0.70，鉛屏（前后）0.5～28.4膠片暗袋膠片暗袋或暗盒不應(yīng)透光，所用材料不應(yīng)影響底片質(zhì)量和檢測靈敏度。膠片暗袋或暗盒應(yīng)定期檢查有無漏光，如果發(fā)現(xiàn)膠片暗袋或暗盒漏光，應(yīng)作修理或廢棄。8.5濾波板、背散射防護板與遮蔽物當(dāng)?shù)湍苌⑸渚€引起對比度降低而不能達到合同、采購圖紙或技術(shù)規(guī)范對射線檢測質(zhì)量要求時，可使用濾波板。背散射防護板一般由一層或幾層鉛板或鉛橡皮組成，其厚度應(yīng)≥4mm。薄鉛板和鉛箔、塑料或其它低密度非金屬吸收材料均可用做散射遮蔽物，以使散射線或影像邊蝕效應(yīng)的影響最小化。工件邊沿遮擋防護時，應(yīng)避免操作不當(dāng)產(chǎn)生底片影像邊蝕效應(yīng)。8.6像質(zhì)計8.6.1像質(zhì)計的類別像質(zhì)計選用與被檢工件材質(zhì)相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制作。Ni基高溫合金葉片應(yīng)選用Ni或Fe材料的像質(zhì)計。8.6.2像質(zhì)計的選用8應(yīng)選用線型像質(zhì)計。表3和表4分別列出了ASTME747和GB/T23901.1標(biāo)準(zhǔn)中線型像質(zhì)計組別、線徑和線號信息。其它國際或國內(nèi)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等同線徑的像質(zhì)計亦可選用。表4質(zhì)計的徑和線GB/T表3線型像質(zhì)計的組別、線徑和線號（按ASTME747）組別：A組組別：B組線號線號0.0810.2560.1020.3370.1330.4180.1640.5190.2050.640.2560.81組別：C組組別：D組線號線號0.812.543.204.065.082.036.352.548.13組別：W1-W7組別：W6-W12線號線號3.20W1W62.50W20.80W72.00W30.63W8W40.50W9W50.40W10W60.32W110.80W70.25W12組別：W10-W16組別：W13-W19線號線號0.40W100.20W130.32W110.16W140.25W120.125W150.20W130.10W160.16W140.080W170.125W150.063W180.10W160.050W19線型像號（按8.7標(biāo)記8.7.1透照部位的標(biāo)記由識別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的金屬鉛（或其它適宜的重金屬）制作的數(shù)字、拼音字母和符號等構(gòu)成。底片上的標(biāo)記應(yīng)能清晰顯示且不對底9片的評定帶來影響，標(biāo)記的材料和厚度應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度來選擇，應(yīng)能保證標(biāo)記影像不模糊，也不至于產(chǎn)生眩光。8.7.2識別標(biāo)記一般包括工件編號、部位編號和透照日期，返修后的透照還應(yīng)放置相應(yīng)返修標(biāo)記R1（返修一次）、R2（返修第二次以此類推。允許采用預(yù)曝光方式獲得相關(guān)識別標(biāo)記，但應(yīng)采取有效措施保證底片上的預(yù)曝光識別標(biāo)記能可靠追蹤到工件的相應(yīng)被檢區(qū)域且非識別標(biāo)記區(qū)域被有效屏蔽，不被曝光。8.7.3定位標(biāo)記用于識別工件被檢部位與底片影像的對應(yīng)位置，定位標(biāo)記的影像應(yīng)出現(xiàn)在底片上，且不影響對底片的評定，并能證實整個透照區(qū)完全被覆蓋。在工件上應(yīng)標(biāo)劃出定位標(biāo)記的位置，在射線檢測過程中，應(yīng)保留該標(biāo)劃痕跡。如果整個工件采用一張膠片進行射線檢測，或依據(jù)工件的形狀特征在底片的影像可區(qū)分位置的情況，則可不需要定位標(biāo)記。8.8黑度計及標(biāo)準(zhǔn)密度片8.8.1按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T5677《鑄件射線照相檢測》規(guī)定：黑度計可測的最大黑度應(yīng)不小于4.5，測量值的誤差應(yīng)不超過±0.05。8.8.2標(biāo)準(zhǔn)密度片應(yīng)至少有8個一定間隔的黑度基準(zhǔn)，且能覆蓋0.3~4.5黑度范圍。8.9觀片燈觀片燈應(yīng)有足夠強的可變光源，以提供不同的亮度。按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T19802《無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求》規(guī)定：觀片燈亮度的要求，取決于射線照相底片的黑度。透過射線照相底片的亮度，應(yīng)不小于：——30cd/m2（底片黑度≤2.5時表5列出了不同底片黑度時觀片燈亮度應(yīng)達到的最小值。觀片燈應(yīng)配備必要的遮光板，用來遮擋來自底片邊緣或底片低黑度區(qū)域的光線，防止干擾底片評定。表5觀片燈亮度最小值要求底片黑度最小亮度值cd/m23003000100003.0100003.53000041000004.5300000當(dāng)觀片燈修理或替換或換燈泡時都應(yīng)重新測定此值。8.10顯影液和定影液顯影液和定影液宜采用膠片廠家生產(chǎn)或推薦的沖洗配方或藥劑，在按GB/T19348.2附錄A經(jīng)比較試驗證明的條件下，也可以使用其它廠家的配方或藥劑。顯影液和定影液應(yīng)在有效期內(nèi)使用。9校驗9.1標(biāo)準(zhǔn)密度片標(biāo)準(zhǔn)密度片每兩年內(nèi)應(yīng)至少進行一次校驗。9.2黑度計黑度計應(yīng)按照ASTME1742《射線檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范》規(guī)定程序進行校驗，至少每3個月用標(biāo)準(zhǔn)密度片進行一次校驗（見附錄A黑度計校驗方法每次校驗后應(yīng)填寫校驗記錄。每次使用前或維修時（更換燈泡或光圈黑度計均應(yīng)進行校驗，可不做校驗記錄。9.3觀片燈觀片室里的光照度應(yīng)暗而柔和，背景照明光不應(yīng)妨礙射線底片的評定。在觀片燈關(guān)閉的條件下，觀片燈表面的環(huán)境光亮度不應(yīng)超過30lux，每年至少核查一次。觀片燈每3個月校驗一次，每次維修（更換燈泡）時均應(yīng)進行校驗。10檢測技術(shù)本文件的相關(guān)規(guī)定優(yōu)先遵照執(zhí)行，未注明部分借鑒國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通用要求。焦距應(yīng)滿足幾何不清晰度（Ug）的要求。允許的幾何不清晰度最大值見表6。幾何不清晰度（Ug）的定義為：Ug=d*b/（F-b）公式中單位為mm。表6允許的幾何不清晰度最大值材料厚度T（mm）幾何不清晰度Ug（mm）<50.80.2050.8~101.60.50>101.60.7510.2透照方式應(yīng)當(dāng)優(yōu)先采用單壁透照技術(shù)，當(dāng)單壁透照技術(shù)無法實施時，允許采用雙壁或多壁透照技術(shù)。為了能充分發(fā)現(xiàn)精密鑄造工藝可能出現(xiàn)的缺陷類型，應(yīng)選擇適宜的透照方向，并進行足夠次數(shù)的曝光。透照布置時宜從較薄方向?qū)嵤z測。檢測有效透照部位時，膠片布置可覆蓋參考透照部位，在一張底片上投影成像。透照方式應(yīng)最大程度減小透照盲區(qū)。對于典型結(jié)構(gòu)的動葉、靜葉推薦透照方式如下，如果能夠保證有效檢測葉片鑄件全體積，也可采用其它適宜的透照方式。透照時，膠片盡可能貼近被檢部位，保證影像質(zhì)量。檢測有效透照區(qū)時，底片布置覆蓋參考透照區(qū)，保證參考透照區(qū)得到透照。參考透照部位需滿足黑度要求，靈敏度以工藝試驗確定，并在工藝卡中明確。參考透照部位宜在相對較好成像區(qū)域放置像質(zhì)計（如具備放置的空間條件按該區(qū)域的厚度選擇像質(zhì)計。10.2.1不帶冠動葉片檢測部位應(yīng)包括葉根、平臺、葉身部位。葉身、葉根為有效透照區(qū)，平臺、葉根過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)為參考透照區(qū)?？刹捎脝伪趩斡巴刚辗绞?，透照葉身時射線束垂直于葉頂孔軸線透照，用以判斷葉頂孔是否堵塞。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時完成透照。不帶冠動葉片透照示意圖參見圖1、圖2。圖1不帶冠動葉葉根、平臺透照示意圖圖2不帶冠動葉葉身透照示意圖10.2.2帶冠動葉片檢測部位應(yīng)包括葉根、平臺、葉身、圍帶及氣封齒部位。葉身、葉根為有效透照區(qū)，平臺、葉根過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、圍帶及氣封齒為參考透照區(qū)。葉根、平臺、葉身部位可采用單壁單影透照方式。圍帶、氣封齒透照時射線束盡可能與圍帶所在平面平行，葉片選擇合適的擺放位置以保證獲得最大的檢測范圍，從葉片背面或腹面透照1次。帶冠動葉片透照示意圖參見圖3、圖4、圖5。圖3帶冠動葉葉根、平臺透照示意圖圖4帶冠動葉葉身透照示意圖圖5帶冠動葉圍帶、氣封齒透照示意圖10.2.3單體靜葉片檢測部位包括葉身、內(nèi)平臺、外平臺及掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺、外平臺、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺過渡區(qū)、外平臺過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。葉身部位可采用單壁單影透照方式，掛鉤可采用雙壁重疊透照方式。內(nèi)、外平臺透照時，射線束可垂直內(nèi)平臺、外平臺，分別從內(nèi)平臺、外平臺兩個方向雙壁透照。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時完成透照。單體靜葉片透照示意圖參見圖6、圖7、圖8。圖6單體靜葉掛鉤及葉身透照示意圖圖7單體靜葉外平臺透照示意圖圖8單體靜葉內(nèi)平臺透照示意圖10.2.4兩連體掛鉤對稱靜葉片的檢測部位包括葉身、內(nèi)、外平臺及掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺、外平臺、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺過渡區(qū)、外平臺過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。兩連體的葉身部位分別從葉片的內(nèi)弧、背弧兩個方向，宜采用單壁單影方式透照；掛鉤可采用雙壁重疊透照方式；內(nèi)、外平臺透照時，射線束可垂直內(nèi)、外平臺采用雙壁透照。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時完成透照。兩連體掛鉤對稱靜葉片透照示意圖參見圖9、圖10、圖11、圖12。11圖9兩連體掛鉤對稱靜葉葉身透照示意圖圖10兩連體掛鉤對稱靜葉掛鉤透照示意圖圖11兩連體掛鉤對稱靜葉內(nèi)平臺透照示意圖圖12兩連體掛鉤對稱靜葉外平臺透照示意圖10.2.5兩連體掛鉤不對稱靜葉片檢測部位包括葉身、內(nèi)、外平臺及掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺、外平臺、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺過渡區(qū)、外平臺過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。兩連體的葉身部位分別從葉片的內(nèi)弧、背弧兩個方向，采用單壁單影方式透照；掛鉤可采用單壁單影透照方式；內(nèi)、外平臺透照時，采用單壁單影透照并選擇合適的透照角度，以保證獲得最大的檢測范圍。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時完成透照。雙連體掛鉤不對稱靜葉片透照示意圖參見圖13、圖14、圖15。圖13兩連體掛鉤不對稱靜葉葉身透照示意圖圖14兩連體掛鉤不對稱靜葉掛鉤透照示意圖圖15兩連體掛鉤不對稱靜葉外平臺透照示意圖10.2.6多連體靜葉片檢測部位包括葉身、內(nèi)、外平臺部位、掛鉤部位。葉身、內(nèi)平臺、外平臺、掛鉤為有效透照區(qū)，內(nèi)平臺過渡區(qū)、外平臺過渡區(qū)、葉身過渡區(qū)、掛鉤過渡區(qū)為參考透照區(qū)。多連體的葉身部位分別從葉片的內(nèi)弧、背弧兩個方向，可采用單壁單影方式透照；內(nèi)、外平臺透照時，可采用單壁單影透照并選擇合適的透照角度，以保證獲得最大的檢測范圍；整體采用全景曝光，兼顧掛鉤部位。參考透照區(qū)可與有效透照區(qū)同時完成透照。四連體靜葉片透照示意圖參見圖16、圖17、圖18。圖16葉身透照示意圖圖17內(nèi)平臺透照示意圖圖18全景透照示意圖10.2.7可采用適當(dāng)?shù)墓ぞ吖ぱb、提升檢測效率。多個葉片射線檢測時，可使用專用透照工裝，滿足射線檢測工藝參數(shù)情況下同時進行多個葉片射線檢測，透照示意圖參見圖19。圖19多個葉片透照示意圖10.3像質(zhì)計的使用像質(zhì)計宜置于射線源側(cè)。像質(zhì)計放置在工件透照區(qū)域厚度最薄區(qū)域。像質(zhì)計不能放置在射線源側(cè)時可放置在膠片側(cè)，在膠片上放置鉛字“F”標(biāo)記，并在檢測報告中注明。10.4像質(zhì)計靈敏度射線照相應(yīng)當(dāng)顯示線型像質(zhì)計影像和所規(guī)定的線徑，它們是影像質(zhì)量的重要指標(biāo)。像質(zhì)計靈敏度按工件最薄厚度進行選擇。單壁透照且像質(zhì)計置于源側(cè)時，像質(zhì)計靈敏度應(yīng)符合表7或表8所示的規(guī)定值；單壁透照置于膠片側(cè)時應(yīng)進行對比試驗，確定出膠片側(cè)像質(zhì)指數(shù)。采用雙壁或多壁透照時像質(zhì)計置于膠片側(cè)、源側(cè)時，像質(zhì)計靈敏度應(yīng)符合表9或表10所示的規(guī)定值。表7線型像質(zhì)計的選用（按GB/T23901.1）線號（線徑mm）公稱厚度t/mmW17(0.08)≤2.0W16(0.1)>2.0~3.5W15(0.125)>3.5~5.0W14(0.16)>5.0~7.0W13(0.2)>7.0~10W12(0.25)>10~15W11(0.32)>15~25W10(0.4)>25~32W9(0.5)>32~40W8(0.63)>40~55W7(0.8)>55~85W6(1)>85~150W5(1.25)>150~200表8線型像質(zhì)計的選用（按ASTME747）線號（線徑mm）公稱厚度t/mm1(0.08)≤2.02(0.1)>2.0~3.53(0.13)>3.5~5.04(0.16)>5.0~7.05(0.20)>7.0~106(0.25)>10~157(0.33)>15~258(0.41)>25~329(0.51)>32~4010(0.64)>40~5511(0.81)>55~8512(1.02)>85~15013(1.27)>150~200表9線型像質(zhì)計的選用（按GB/T23901.1）線號（線徑mm）透照厚度w/mm膠片側(cè)源側(cè)W17(0.08)>1.2~2.0>1.2~2.0W16(0.1)>2.0~3.5>2.0~3.5W15(0.125)>3.5~5.0>3.5~5.0W14(0.16)>5.0~7.0>5.0~10W13(0.2)>7.0~12W12(0.25)>15~22W11(0.32)>18~30>22~38W10(0.4)>30~40>38~48W9(0.5)>40~50>48~60W8(0.63)>50~60>60~85W7(0.8)>60~85>85~125W6(1)>85~120>125~225W5(1.25)>120~220>225~375表10線型像質(zhì)計的選用（按ASTME747）線號（線徑mm）透照厚度w/mm膠片側(cè)源側(cè)1(0.08)>1.2~2.0>1.2~2.02(0.1)>2.0~3.5>2.0~3.5>3.5~5.0>3.5~5.04(0.16)>5.0~7.0>5.0~105(0.20)>7.0~126(0.25)>15~227(0.33)>18~30>22~388(0.41)>30~40>38~489(0.51)>40~50>48~6010(0.64)>50~60>60~8511(0.81)>60~85>85~12512(1.02)>85~120>125~22513(1.27)>120~220>225~37510.5定位標(biāo)記的放置定位標(biāo)記應(yīng)放在工件上，而不能放在曝光暗袋或暗盒上。標(biāo)記的位置應(yīng)標(biāo)識在布片示意圖上，使射線底片上顯示的被檢區(qū)域能夠在工件上精確地定出位置。10.6曝光量的選擇曝光量的選擇可參考X射線設(shè)備曝光曲線確定，底片成像質(zhì)量應(yīng)達到相關(guān)技術(shù)文件對黑度和像質(zhì)計靈敏度的要求。10.7背散射線防護為了檢測背散射線，可將一個高度不小于12.7mm和厚度不小于1.5mm的鉛字“B”貼到每個膠片暗袋的背面。若“B”字的淡色影像出現(xiàn)在照相底片較黑的背景上，即表示背散射線防護不夠充分，該底片不合格。若“B”字的黑影像出現(xiàn)在較淡的背景上，則不能成為拒收的理由。10.8底片評定區(qū)的黑度對于底片評定區(qū)黑度，單片觀察時，黑度應(yīng)至少為1.5；雙片曝光并作疊片觀察時，重疊底片的黑度至少為2.0，疊合底片中的每一張底片的黑度至少為1.0。無論是單片觀察或是疊合觀察，最大黑度不超過4.5。10.9底片質(zhì)量要求射線照相底片，不應(yīng)有機械、化學(xué)或其它的污損等對被透照工件的有關(guān)區(qū)域產(chǎn)生遮蔽或混淆任何缺陷的影像，包括但不限于以下情況：a)灰霧；b)處理時產(chǎn)生的缺陷，如條紋、水跡或化學(xué)污斑等；c)劃痕、指紋、摺皺、臟物、靜電痕跡、黑點或撕裂等；d)由于增感屏與膠片接觸不良而造成的影像細節(jié)不清；e)由于增感