云桂鐵路培訓檢測技術(shù)3

材料微觀分析測試技術(shù)科研和新產(chǎn)品開發(fā)一產(chǎn)品鑒定、事故分析和仲裁透射式電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡透射電鏡--分辨率2?3A掃描電鏡--分辨率30?100（1

A=10-10

m=10-8

cm=10-4

pm=1Q-i（一）電子顯微鏡分析電子顯微鏡技術(shù)是材料形貌學研究的主要手段，主要有兩類電子顯微鏡:Amn1.電子光學基礎(chǔ)分辨率：指兩個可以分辨的物體間的最小距離光學顯微鏡以可見光為光源，由于可見光波長大于300-700nm,且具有波動性，所以限制了光學顯微鏡的分辨率，也就是說對分辨率的限制不是來自于顯微鏡本身的部件，而是由所采用的光源所決定。在微米數(shù)量級以下細節(jié)，放大倍數(shù)無限大也無法分辨。要提高顯微鏡的分辨率必須尋找短波長的光源。這便出現(xiàn)了用電子束作光源的電子顯微鏡新的光源——短波電子輻射源基于德布羅理論:所有微觀離子（電子、中子、離子）的性質(zhì)與可見光相同。這就使電子束具有成為新光源的可能性::::::::又:電子波長人=1.226/VV~nm（V加速電壓）如:V加速到100千伏，A=0.37nm2.簡介電子顯微鏡透射電鏡結(jié)構(gòu)與光學顯微鏡相似掃描電鏡結(jié)構(gòu)與電視攝影顯象相似透射電鏡①燈絲；②柵極；③陽極；④槍傾斜；⑤槍平移；⑥一級聚光鏡；⑦二級聚光鏡；⑧聚光鏡光欄；⑨光傾斜；⑩光平移；?試樣臺；?物鏡；?物鏡光欄；?選區(qū)光欄；?中間鏡；?投影鏡；?熒光屏。電子槍掃描信號發(fā)生器聚光鏡掃描線圈物鏡樣品主機放大器掃描電鏡N圖1掃描電子顯微鏡的工作原理C-S-H凝膠體和C4AH13晶體鈣礬石形貌氫氧化鈣形貌C-S-H凝膠體與骨料界面石霄形貌透射電子顯微鏡分辨率:0.14nm?？梢灾苯硬杉瘓D像信息，并實現(xiàn)遠程觀察。TJ紡紗合金粉煤灰1micron（二）紅外線光譜分析紅外線25mn-*,中紅外/x射線硬太射線及y射線y射線10|icH頮串y(HZ)|10>lio11卜“10ls2.5m'0.77yinX_^近紅外可見光--紫外線___真空紫外能量波長HeV)>l(A)(短波|遠紅外'霪達波遠紅外線lot-JDio4

[廠lcmhlio7Ilio->1nimmllio11Uio-^Jiio?---1卜，JI1k-Jri*-in*rUio1屢廣Jilo---1r---■|r、叫|u>|l°iA|L卜k/1|io---1i.11.紅外光譜技術(shù)簡介紅外光譜（NIR）分析技術(shù)是近年來分析化學領(lǐng)域迅猛發(fā)展的高新分析技術(shù)。紅外光譜分析是將光譜測量技術(shù)、計算機技術(shù)、化學計量學技術(shù)與基礎(chǔ)測試技術(shù)有機結(jié)合的技術(shù)。與常規(guī)分析技術(shù)不同,紅外光譜是一種間接分析技術(shù),必須通過建立校正模型（標定模型）來實現(xiàn)對未知樣品的定性或定量分析。具體的分析過程主要包括以下幾個步驟：1、選擇有代表性的樣品并測量其近紅外光譜；2.采用標準或認可的參考方法測定所關(guān)心的組分或性質(zhì)數(shù)據(jù)；3.將測量的光譜和基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，用適當?shù)幕瘜W計量方法建立校正模型;4.未知樣品組分或性質(zhì)的測定。包括：近紅外光譜儀、化學計量學軟件和應用模型三部分。三者的有機結(jié)合才能滿足快速分析的技術(shù)要求，是缺一不可的。用于測定樣品在程序控制溫度下產(chǎn)生的質(zhì)量變化及分解過程所生成氣體產(chǎn)物的化學成份。rnr丄丄k

丄vvvai^L7r1003500遡25002000ISOD_500W^venunibciycnio5o986SU31ESEJ1OKnIX熒光能量色散光譜儀D/max-RBX射線衍射儀可進行從室溫至1500°C的動態(tài)高溫X射線衍分析?？捎糜跓o機和有機小分子的固體化合物物相的定性、定量及結(jié)構(gòu)分析,納米材料的粒度表征。X射線衍射