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文檔簡(jiǎn)介
ICS33.060.20
CCSM33
YD
中華人民共和國(guó)通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
YD/T3907.4-20XX
基于BB84協(xié)議的量子密鑰分發(fā)(QKD)
用關(guān)鍵器件和模塊第4部分:誘騙態(tài)調(diào)
制模塊
KeycomponentsandmodulesforQuantumKeyDistribution(QKD)basedon
BB84protocol—Part4:Decoy-statemodulator
(報(bào)批稿)
20XX-XX-XX發(fā)布20XX-XX-XX實(shí)施
中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部發(fā)布
YD/T3907.4—20XX
前言
本文件按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起
草。
本文件是YD/T3907《基于BB84協(xié)議的量子密鑰分發(fā)(QKD)用關(guān)鍵器件和模塊》的第4部分。
YD/T3907已經(jīng)發(fā)布了以下部分:
——第1部分:光源;
——第2部分:?jiǎn)喂庾犹綔y(cè)器;
——第3部分:量子隨機(jī)數(shù)發(fā)生器;
——第4部分:誘騙態(tài)調(diào)制模塊。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。
本文件由中國(guó)通信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)提出并歸口。
本文件起草單位:中國(guó)信息通信研究院、武漢光谷信息光電子創(chuàng)新中心有限公司、科大國(guó)盾量子技
術(shù)股份有限公司、浙江九州量子信息技術(shù)股份有限公司、北京中創(chuàng)為量子通信技術(shù)股份有限公司、廣東
國(guó)騰量子科技有限公司、濟(jì)南量子技術(shù)研究院、中國(guó)信息通信科技集團(tuán)有限公司、安徽問天量子科技股
份有限公司、國(guó)開啟科量子技術(shù)(北京)有限公司、安徽繼遠(yuǎn)軟件有限公司、山東量子科學(xué)技術(shù)研究院
有限公司、山東國(guó)迅量子芯科技有限公司、北京中科國(guó)光量子科技有限公司。
本文件主要起草人:張萌、華昕、王敬、李東東、肖希、湯艷琳、黃大俊、韓雁鑫、趙梅生、王東、
陳建、郭邦紅、周飛、黃敦鋒、王其兵、葉志遠(yuǎn)、馬昆。
III
YD/T3907.4-20XX
引言
隨著我國(guó)量子保密通信技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用,光源、單光子探測(cè)器、量子隨機(jī)數(shù)發(fā)生器和誘騙態(tài)調(diào)制
模塊等作為基于BB84協(xié)議的量子密鑰分發(fā)(QKD)系統(tǒng)中使用的關(guān)鍵器件和模塊,迫切需要開展技術(shù)
與器件標(biāo)準(zhǔn)化研究,提升器件產(chǎn)品工程化與產(chǎn)業(yè)化水平。
YD/T3907《基于BB84協(xié)議的量子密鑰分發(fā)(QKD)用關(guān)鍵器件和模塊》旨在規(guī)定基于BB84協(xié)
議的量子密鑰分發(fā)(QKD)系統(tǒng)中使用的關(guān)鍵器件和模塊需要遵循的技術(shù)參數(shù)、測(cè)試方法、可靠性試
驗(yàn)、檢驗(yàn)規(guī)則等要求,依照系統(tǒng)主要功能模塊劃分,標(biāo)準(zhǔn)目前擬由六個(gè)部分構(gòu)成。
——第1部分:光源。規(guī)定光源的技術(shù)參數(shù)、測(cè)試方法、可靠性試驗(yàn)、檢驗(yàn)規(guī)則等要求。
——第2部分:?jiǎn)喂庾犹綔y(cè)器。規(guī)定單光子探測(cè)器的技術(shù)參數(shù)、測(cè)試方法、可靠性試驗(yàn)、檢驗(yàn)規(guī)則
等要求。
——第3部分:量子隨機(jī)數(shù)發(fā)生器。規(guī)定量子隨機(jī)數(shù)發(fā)生器的功能模塊、接口和測(cè)試方法等要求。
——第4部分:誘騙態(tài)調(diào)制模塊。規(guī)定誘騙態(tài)調(diào)制模塊的技術(shù)參數(shù)、測(cè)試方法、可靠性試驗(yàn)、檢驗(yàn)
規(guī)則等要求。
——第5部分:量子態(tài)編碼模塊。規(guī)定量子態(tài)編碼模塊的技術(shù)參數(shù)、測(cè)試方法、可靠性試驗(yàn)、檢驗(yàn)
規(guī)則等要求。
——第6部分:量子態(tài)解碼模塊。規(guī)定量子態(tài)解碼模塊的技術(shù)參數(shù)、測(cè)試方法、可靠性試驗(yàn)、檢驗(yàn)
規(guī)則等要求。
隨著技術(shù)與產(chǎn)業(yè)發(fā)展,未來可能包含更多部分。
IV
YD/T3907.4—20XX
基于BB84協(xié)議的量子密鑰分發(fā)(QKD)用關(guān)鍵器件和模塊第4部
分:誘騙態(tài)調(diào)制模塊
1范圍
本文件界定了量子密鑰分發(fā)(QKD)用誘騙態(tài)調(diào)制模塊的術(shù)語(yǔ)和定義,規(guī)定了誘騙態(tài)調(diào)制模塊的
光電特性、外形尺寸、環(huán)保符合性等技術(shù)要求,描述了相應(yīng)的試驗(yàn)方法,規(guī)定了檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、
運(yùn)輸、貯存等內(nèi)容。
本文件適用于量子密鑰分發(fā)(QKD)用誘騙態(tài)調(diào)制模塊的設(shè)計(jì)、開發(fā)、生產(chǎn)及測(cè)試等。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志
GB/T2828.1計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第1部份:按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃
GB/T9771.3—2020通信用單模光纖第3部分:波長(zhǎng)段擴(kuò)展的非色散位移單模光纖特性
GB/T21548—2021光通信用高速直接調(diào)制半導(dǎo)體激光器的測(cè)量方法
GB/T26572—2011電子電氣產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的限量要求
GB/T33768—2017通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T39560電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測(cè)定
SJ/T11364—2014電子信息產(chǎn)品污染控制標(biāo)識(shí)要求
YD/T2904.1—2015集成可調(diào)諧激光器組件第1部分:蝶形封裝組件
YD/T3432—2018通信用偏振保持光纖特性
YD/T3835.1—2021量子密鑰分發(fā)(QKD)系統(tǒng)測(cè)試方法第1部分:基于誘騙態(tài)BB84協(xié)議的QKD系
統(tǒng)
YD/T3907.1—2022基于BB84協(xié)議的量子密鑰分發(fā)(QKD)用關(guān)鍵器件和模塊第1部分:光源
3術(shù)語(yǔ)和定義
下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。
3.1
誘騙態(tài)decoystate
合法用戶有意地在量子信號(hào)序列中,隨機(jī)地插入其他不同強(qiáng)度的信號(hào)來測(cè)試信道,這些被隨機(jī)插入
的信號(hào)稱為誘騙態(tài)。
[來源:GB/TXXXXX—XXXX量子通信術(shù)語(yǔ)和定義,4.21.12]
1
YD/T3907.4-20XX
3.2
信號(hào)態(tài)signalstate
量子密鑰分發(fā)中,用于生成安全密鑰的光信號(hào)態(tài)。
3.3
真空態(tài)vacuumstate
量子密鑰分發(fā)中,包含光子數(shù)為零的光信號(hào)態(tài)。
3.4
誘騙態(tài)調(diào)制模塊decoy-statemodulator
對(duì)脈沖光源輸出信號(hào)進(jìn)行調(diào)制用于產(chǎn)生信號(hào)態(tài)、誘騙態(tài)和真空態(tài)的調(diào)制模塊。
3.5
真空態(tài)消光比extinctionratioofvacuumstate
信號(hào)態(tài)光功率Pμ和真空態(tài)光功率P0的比值,以ERvac表示,單位為分貝(dB),定義見公式(1)。
ERvac=PμP0…………(1)
/
3.610lg()
信號(hào)態(tài)強(qiáng)度漲落fluctuationofsignal-stateintensity
量子密鑰發(fā)送端持續(xù)發(fā)送信號(hào)態(tài),輸出的光強(qiáng)度變化量。
3.7
誘騙態(tài)強(qiáng)度漲落fluctuationofdecoy-stateintensity
量子密鑰發(fā)送端持續(xù)發(fā)送誘騙態(tài),輸出的光強(qiáng)度變化量。
3.8
插入損耗insertionloss
輸出端口的輸出光功率與輸入端口的輸入光功率之比,以IL表示,單位為分貝(dB),定義見公
式(2)。
IL=-10lg(Pout/Pin)…………(2)
式中:
Pin——輸入到輸入端口的光功率,單位為毫瓦(mW);
Pout——從輸入端口接收到的光功率,單位為毫瓦(mW)。
3.9
光回波損耗opticalreturnloss
反射光功率與入射光功率之比的對(duì)數(shù),以O(shè)RL表示,單位為分貝(dB),定義見公式(3)。
ORL=-10lg(Pre/Pin)…………(3)
式中:
2
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Pre——后向反射光功率,單位為毫瓦(mW);
Pin——輸入光功率,單位為毫瓦(mW)。
[來源:YD/T3907.1—2022,3.7]
3.10
-3dB模擬帶寬-3dBanalogbandwidth
射頻調(diào)制下輸出光功率相對(duì)初始測(cè)量值下降3dB時(shí)所對(duì)應(yīng)的調(diào)制頻率即為-3dB模擬帶寬。
3.11
直流偏置半波電壓half-wavevoltageofdirectcurrentbias
直流電壓源輸入直流偏置端口,輸出的光波發(fā)生一個(gè)π相移所需的電壓。
3.12
射頻半波電壓half-wavevoltageofradiofrequency
射頻信號(hào)源的電壓注入RF射頻端口,輸出的光波發(fā)生一個(gè)π相移所需的電壓。
3.13
電回波損耗electricalreturnloss
反射電功率與入射電功率之比的對(duì)數(shù),以S11表示,單位為分貝(dB),定義見公式(4)。
S11=10lg(Pre/Pin)…………(4)
式中:
Pre——后向反射電功率,單位為毫瓦(mW);
Pin——輸入電功率,單位為毫瓦(mW)。
4縮略語(yǔ)
下列縮略語(yǔ)適用于本文件。
ER:消光比(ExtinctionRatio)
IL:插入損耗(InsertionLoss)
ORL:光回波損耗(OpticalReturnLoss)
QKD:量子密鑰分發(fā)(QuantumKeyDistribution)
RH:相對(duì)濕度(RelativeHumidity)
5技術(shù)要求
5.1光纖要求
誘騙態(tài)調(diào)制模塊的光纖應(yīng)符合表1的要求。
3
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表1光纖要求
類光纖要求
型
輸保偏光纖,應(yīng)
入符合YD/T
光3432—2018
纖要求
輸如果輸出光
出纖為標(biāo)準(zhǔn)單
光模光纖,應(yīng)符
纖合GB/T
9771.3—2020
要求
如果輸出光
纖為保偏光
纖,應(yīng)符合
YD/T3432—
2018要求
5.2光電特性要求
誘騙態(tài)調(diào)制模塊的光電特性應(yīng)符合表2的要求。
表2光電特性
參數(shù)符號(hào)最小值典型值最大值單位
工作波長(zhǎng)λ78015502000nm
真空態(tài)消光比ERvac18————dB
偏振消光比————20——dB
信號(hào)態(tài)脈沖產(chǎn)生概率pμ設(shè)計(jì)值/1.2設(shè)計(jì)值設(shè)計(jì)值*1.2——
誘騙態(tài)脈沖產(chǎn)生概率pν設(shè)計(jì)值/1.2設(shè)計(jì)值設(shè)計(jì)值*1.2——
真空態(tài)脈沖產(chǎn)生概率p0設(shè)計(jì)值/1.2設(shè)計(jì)值設(shè)計(jì)值*1.2——
信號(hào)態(tài)和誘騙態(tài)脈沖幅度比例——設(shè)計(jì)值/1.2設(shè)計(jì)值設(shè)計(jì)值*1.2——
信號(hào)態(tài)和誘騙態(tài)強(qiáng)度漲落——設(shè)計(jì)值/1.2設(shè)計(jì)值設(shè)計(jì)值*1.2——
插入損耗IL————7dB
光回波損耗ORL——45——dB
-3dB模擬帶寬S212.5————GHz
a
直流偏置半波電壓VBias,pi————7V
射頻半波電壓VRF,pi————7V
電回波損耗S11——-12-10dB
a
直流偏置輸入阻抗ZRF——1M——Ω
射頻輸入阻抗ZBias——50——Ω
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參數(shù)符號(hào)最小值典型值最大值單位
a該參數(shù)僅適用于需要直流偏置的誘騙態(tài)調(diào)制模塊。
5.3極限工作條件
誘騙態(tài)調(diào)制模塊的極限工作條件見表3。
表3極限工作條件
參數(shù)名稱符號(hào)最小值最大值單位
工作管殼溫度TH-5+70℃
儲(chǔ)存溫度Ts-40+85℃
相對(duì)濕度RH590%
輸入光功率Pin——20dBm
表3極限工作條件(續(xù))
參數(shù)名稱符號(hào)最小值最大值單位
射頻端輸入功率Pin,RF——25dBm
直流偏置端加載電壓Vbias-15+15V
靜電放電VESD——500V
5.4推薦工作條件
誘騙態(tài)調(diào)制模塊的推薦工作條件見表4。
表4推薦工作條件
參數(shù)名稱符號(hào)最小值典型值最大值單位
工作管殼溫度TH-5+25+50℃
工作相對(duì)濕度RH54585%
5.5外形尺寸及引出端排列
誘騙態(tài)調(diào)制模塊外形尺寸及引出端排列可參見附錄A。
5.6外觀要求
誘騙態(tài)調(diào)制模塊的外觀應(yīng)平滑、潔凈、無(wú)油漬、無(wú)傷痕及裂紋,整個(gè)器件牢固,尾纖無(wú)松動(dòng),與連
接器插拔平順。標(biāo)志清晰牢固,標(biāo)志內(nèi)容符合9.1的要求;標(biāo)志貼放位置符合GB/T191中相關(guān)要求。
5.7環(huán)保符合性
誘騙態(tài)調(diào)制模塊的組成材料按照GB/T26572-2011的規(guī)定進(jìn)行分類,限用物質(zhì)含量按照GB/T39560
(所有部分)規(guī)定的方法進(jìn)行試驗(yàn)。檢測(cè)單元盡可能拆分成均質(zhì)材料,各均質(zhì)材料中限用物質(zhì)的含量應(yīng)
符合表5中的限值要求。
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表5誘騙態(tài)調(diào)制模塊中各均質(zhì)材料限用物質(zhì)的含量限值
限用物質(zhì)種類限用物質(zhì)名稱含量限制
鉛≤0.1%
汞≤0.1%
重金屬
鎘≤0.01%
六價(jià)鉻≤0.1%
多溴聯(lián)苯≤0.1%
有機(jī)溴代物
多溴二苯醚≤0.1%
鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯≤0.1%
鄰苯二甲酸甲苯基丁酯≤0.1%
鄰苯二甲酸酯
鄰苯二甲酸二丁基酯≤0.1%
鄰苯二甲酸二異丁酯≤0.1%
注:表格中含量限值為材料中所含該物質(zhì)的最大質(zhì)量占總重量的百分比。
6參數(shù)測(cè)試
6.1測(cè)試環(huán)境要求
測(cè)試環(huán)境要求如下:
——溫度:15℃~35℃;
——相對(duì)濕度:45%~75%;
——大氣壓力:86kPa~106kPa。
當(dāng)不能在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行測(cè)試時(shí),應(yīng)在測(cè)試報(bào)告上寫明測(cè)試環(huán)境條件。
6.2測(cè)試儀器要求
測(cè)試所用的儀器儀表應(yīng)在規(guī)定的有效校準(zhǔn)期內(nèi),如無(wú)特殊說明,其精度應(yīng)高于所測(cè)參數(shù)精度至少一
個(gè)數(shù)量級(jí)。
6.3插入損耗
6.3.1測(cè)量配置
測(cè)量配置見圖1。
圖1誘騙態(tài)調(diào)制模塊插入損耗測(cè)量框圖
6.3.2測(cè)量步驟
測(cè)量步驟如下:
a)按圖1中測(cè)量配置連接測(cè)試系統(tǒng);
6
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b)設(shè)置激光源功率,讀取誘騙態(tài)調(diào)制模塊的輸入功率Pin;
c)在不加調(diào)制信號(hào)的情況下,調(diào)節(jié)直流偏壓使輸出光強(qiáng)度最大,此時(shí)輸出功率記為Pout,計(jì)算誘
騙態(tài)調(diào)制模塊插入損耗:IL=-10lg(Pout/Pin)。
注:對(duì)于不需要偏置電壓的調(diào)制模塊,無(wú)需偏置電壓控制。
6.4電回波損耗
6.4.1測(cè)量配置
測(cè)量配置見圖2。
圖2誘騙態(tài)調(diào)制模塊電回波損耗測(cè)量框圖
6.4.2測(cè)量步驟
測(cè)量步驟如下:
a)按圖2中測(cè)量配置連接測(cè)試系統(tǒng);
b)校準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,讀取S11參數(shù)的值,即為電回波損耗。
6.5直流偏置半波電壓
6.5.1測(cè)量配置
測(cè)量配置見圖1。
6.5.2測(cè)量步驟
測(cè)量步驟如下:
a)按圖1中測(cè)量配置連接測(cè)試系統(tǒng);
b)在不加調(diào)制信號(hào)的情況下,測(cè)量直流偏壓與輸出光強(qiáng)度變化,得到傳輸函數(shù)曲線。
c)從傳輸函數(shù)曲線上確定相鄰的極大值點(diǎn)和極小值點(diǎn),分別得到對(duì)應(yīng)的直流電壓值V1,V2。兩電
壓值差的絕對(duì)值即為誘騙態(tài)調(diào)制模塊的直流偏置半波電壓VBias,pi。
6.6射頻半波電壓
6.6.1測(cè)量配置
測(cè)量配置見圖3。
圖3誘騙態(tài)調(diào)制模塊射頻半波電壓測(cè)量框圖
6.6.2測(cè)量步驟
測(cè)量步驟如下:
a)按圖3中測(cè)量配置連接測(cè)試系統(tǒng);
b)將直流偏置電壓和交流調(diào)制信號(hào)同時(shí)加載到誘騙態(tài)調(diào)制模塊上,調(diào)節(jié)直流電壓,當(dāng)輸出光強(qiáng)度
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被調(diào)節(jié)到極大值或極小值時(shí),在雙蹤示波器上觀察到輸出的調(diào)制信號(hào)出現(xiàn)倍頻失真。
c)相鄰兩次倍頻失真所對(duì)應(yīng)的直流電壓的差值,即為誘騙態(tài)調(diào)制模塊的射頻半波電壓VRF,pi。
6.7信號(hào)態(tài)和誘騙態(tài)脈沖幅度比例
按YD/T3835.1—2021中6.1.4節(jié)的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
6.8信號(hào)態(tài)和誘騙態(tài)強(qiáng)度漲落
按YD/T3835.1—2021中6.1.4節(jié)的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
6.9真空態(tài)消光比
按YD/T3835.1—2021中6.1.4節(jié)的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
6.10偏振消光比
按YD/T2904.1—2015中6.3.9的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
6.11信號(hào)態(tài)、誘騙態(tài)和真空態(tài)脈沖的產(chǎn)生概率
按YD/T3835.1—2021中6.1.5節(jié)的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
6.12光回波損耗
按GB/T21548—2021中5.4.8節(jié)的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
6.13-3dB模擬帶寬
按GB/T21548—2021中5.4.3節(jié)的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
7可靠性試驗(yàn)
7.1可靠性試驗(yàn)環(huán)境要求
可靠性試驗(yàn)環(huán)境要求同6.1。
7.2可靠性試驗(yàn)要求
可靠性試驗(yàn)要求見表6。
表6可靠性試驗(yàn)要求
抽樣要求
試驗(yàn)
試驗(yàn)項(xiàng)目引用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件LTPDaSSaCa
類別
(%)
不要求蒸汽老化,焊槽法,浸入時(shí)間:5s
可焊性bGB/T33768-2017,5.4.620110
溫度:255℃±5℃
物理特
ESD閾值GB/T33768-2017,5.4.3標(biāo)準(zhǔn)人體放電模型,正向、負(fù)向各進(jìn)行3次放電。-60
性試驗(yàn)
試驗(yàn)條件A1。試驗(yàn)加壓:310kPa;
細(xì)檢漏GB/T33768-2017,5.4.220110
加壓時(shí)間:2h;漏率<1×10-6Pa×m3/s
機(jī)械完機(jī)械沖擊GB/T33768-2017,5.2.1試驗(yàn)條件A。加速度:500g,脈沖持續(xù)時(shí)間:1.0ms,20110
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整性試沖擊次數(shù):5次/軸向,方向:X1、X2、Y1、Y2、
驗(yàn)Z1、Z2
試驗(yàn)條件A。頻率:20Hz~2000Hz,加速度:20g,
變頻振動(dòng)GB/T33768-2017,5.2.2掃頻速率:4min/循環(huán),循環(huán)次數(shù):4循環(huán)/軸向,20110
方向:X、Y、Z
ΔT=100℃0℃~100℃
熱沖擊GB/T33768-2017,5.2.320110
循環(huán)次數(shù):15次
內(nèi)部水汽烘烤溫度:100℃±5℃,烘烤時(shí)間:12h~24h,
GB/T33768-2017,5.4.120110
含量bc指標(biāo)要求:<5000ppm
涂覆層或緊套、松套光纖:負(fù)載:4.9N,扭轉(zhuǎn)角
度:90°~0°~-90°~0°,循環(huán)次數(shù):10次,扭折
光纖扭轉(zhuǎn)GB/T33768-2017,5.2.4點(diǎn)離器件:3cm20110
增強(qiáng)型光纖:負(fù)載:9.8N,扭轉(zhuǎn)角度:90°~0°~
-90°~0°,循環(huán)次數(shù):10次,扭折點(diǎn)離器件:3cm
表6可靠性試驗(yàn)要求(續(xù))
抽樣要求
試驗(yàn)
試驗(yàn)項(xiàng)目引用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件LTPDaSSaCa
類別
(%)
涂覆層或緊套光纖:拉力2.45N,90°,
光纖距離光纖保護(hù)套22cm~28cm
GB/T33768-2017,5.2.520110
側(cè)拉力松套或增強(qiáng)型光纖:拉力4.9N,90°,
機(jī)械完距離光纖保護(hù)套22cm~28cm
整性試
涂覆層或緊套光纖:拉力4.9N,保持時(shí)間:1min,
驗(yàn)
光纖光纖尾端起10cm處
GB/T33768-2017,5.2.620110
保持力松套或增強(qiáng)型光纖:拉力9.8N,保持時(shí)間:1min,
距光纖尾端10cm處
高溫儲(chǔ)存GB/T33768-2017,5.3.1溫度85℃,時(shí)間2000h20110
低溫儲(chǔ)存GB/T33768-2017,5.3.2溫度-40℃,時(shí)間72h20110
非工作
溫度范圍–40℃~+85℃,溫度變化速率≥
環(huán)境試
溫度循環(huán)GB/T33768-2017,5.3.310℃/min,極限溫度下的停留時(shí)間>15min,循環(huán)20110
驗(yàn)
次數(shù):500次。
恒定濕熱GB/T33768-2017,5.3.4溫度85℃,相對(duì)濕度85%,時(shí)間500h20110
aLTPD—批內(nèi)允許不合格品率,SS—最少樣品數(shù),C—允許失效數(shù);
b不要求參數(shù)測(cè)試,可用參數(shù)不合格的產(chǎn)品進(jìn)行;
c僅適用于氣密性封裝的產(chǎn)品。
7.3失效判據(jù)
各項(xiàng)試驗(yàn)完成后,在相同測(cè)試條件下,出現(xiàn)下列故障中的任意一種情況即判定為不合格:
——外殼破裂或有裂紋,內(nèi)部元器件發(fā)生脫落;
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——不滿足表2的要求;
——響應(yīng)度變化量大于20%。
壽命(高溫)試驗(yàn)完成后,在相同測(cè)試條件下,出現(xiàn)下列故障中的任意一種情況即判定為不合格:
——外殼破裂或有裂紋,內(nèi)部元器件發(fā)生脫落;
——不滿足表2的要求。
8檢驗(yàn)規(guī)則
8.1檢驗(yàn)分類
誘騙態(tài)調(diào)制模塊的檢驗(yàn)分為出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)。出廠檢驗(yàn)分為常規(guī)檢驗(yàn)和抽樣檢驗(yàn)。
8.2出廠檢驗(yàn)
8.2.1常規(guī)檢驗(yàn)
常規(guī)檢驗(yàn)應(yīng)百分之百進(jìn)行,檢驗(yàn)項(xiàng)目如下:
a)外觀:目測(cè),符合第5.6節(jié)要求
b)性能檢測(cè):按第6章測(cè)試方法,對(duì)表2中的性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,其結(jié)果符合表2要求。
c)溫度循環(huán)
——實(shí)驗(yàn)條件:非工作狀態(tài),極限溫度-40℃、+85℃,溫度變化速率大于或等于10℃/min,極限
溫度下的停留時(shí)間不小于10min,循環(huán)次數(shù)20次;
——恢復(fù):在正常大氣條件下恢復(fù)1h后,按第6章規(guī)定的測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試;
——失效判據(jù):測(cè)試溫度循環(huán)后,不滿足表2要求。
8.2.2抽樣檢驗(yàn)
從批量生產(chǎn)中生產(chǎn)的同批或若干批產(chǎn)品中,按GB/T2828.1規(guī)定,取一般檢查水平Ⅱ,接收質(zhì)量限
(AQL)和檢驗(yàn)項(xiàng)目如下:
a)外觀:
——AQL取1.5;
——檢驗(yàn)方法:目測(cè),符合第5.6節(jié)要求。
b)外形尺寸:用滿足精度要求的量度工具測(cè)量,應(yīng)符合產(chǎn)品設(shè)計(jì)的要求;
c)性能檢測(cè):
——AQL取0.4;
——檢驗(yàn)方法:按第6章規(guī)定的方法進(jìn)行測(cè)試,檢驗(yàn)項(xiàng)目同8.2.1b),其結(jié)果符合表2的規(guī)定。
8.3型式檢驗(yàn)
8.3.1檢驗(yàn)條件
誘騙態(tài)調(diào)制模塊有下列情況之一時(shí),應(yīng)進(jìn)行型式檢驗(yàn):
a)產(chǎn)品定型時(shí)或已定型產(chǎn)品轉(zhuǎn)場(chǎng)時(shí);
b)正式生產(chǎn)后,如結(jié)構(gòu)、材料、工藝有較大改變,可能影響產(chǎn)品性能時(shí);
c)產(chǎn)品長(zhǎng)期停產(chǎn)12個(gè)月后,恢復(fù)生產(chǎn)時(shí);
d)出廠檢驗(yàn)結(jié)果與定型時(shí)的型式檢驗(yàn)有較大差別時(shí);
e)正常生產(chǎn)24個(gè)月后;
f)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督機(jī)構(gòu)提出進(jìn)行型式檢驗(yàn)要求時(shí)。
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8.3.2檢驗(yàn)要求
在進(jìn)行型式檢驗(yàn)前,按第6章規(guī)定,對(duì)樣品的性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,并記錄測(cè)試結(jié)果。
8.3.3檢驗(yàn)項(xiàng)目及抽樣方案
型式檢驗(yàn)的檢驗(yàn)項(xiàng)目及抽樣方案見表6。
8.3.4樣品的使用規(guī)則
樣品的使用規(guī)則如下:
a)凡經(jīng)受了型式檢驗(yàn)的樣品,一律不能作為合格品交付使用;
b)在不影響檢驗(yàn)和試驗(yàn)結(jié)果的條件下,一組樣品可用于其他分組的檢驗(yàn)和試驗(yàn)。
8.3.5產(chǎn)品不合格的判定
各項(xiàng)試驗(yàn)完成后,不合格判定按第7.3節(jié)規(guī)定執(zhí)行,若其中任何一項(xiàng)試驗(yàn)不符合要求時(shí),則判該批
不合格。
8.3.6不合格批的重新提交
當(dāng)提交型式檢驗(yàn)的任一檢驗(yàn)批不符合表6中規(guī)定的任一分組要求時(shí),應(yīng)根據(jù)不合格原因,采取糾正
措施后,對(duì)不合格的檢驗(yàn)分組重新提交檢驗(yàn)。重新檢驗(yàn)應(yīng)采用加嚴(yán)抽樣方案。若重新檢驗(yàn)仍有失效,則
該批拒收。如通過檢驗(yàn),判為合格。但重新檢驗(yàn)不得超過2次,并應(yīng)清楚標(biāo)明為重新檢驗(yàn)批。
8.3.7檢驗(yàn)批的構(gòu)成
提交檢驗(yàn)的批,可由一個(gè)生產(chǎn)批構(gòu)成,或由符合下述條件的幾個(gè)生產(chǎn)批構(gòu)成:
——這些生產(chǎn)批是在相同材料、工藝、設(shè)備等條件下制造出來的;
——若干個(gè)生產(chǎn)批構(gòu)成一個(gè)檢驗(yàn)批的時(shí)間不超過1個(gè)月。
9標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存
9.1標(biāo)志
9.1.1標(biāo)志內(nèi)容
每個(gè)產(chǎn)品應(yīng)標(biāo)明產(chǎn)品型號(hào)、規(guī)格、編號(hào)、批的識(shí)別代碼及安全等標(biāo)志。
9.1.2標(biāo)志要求
進(jìn)行全部試驗(yàn)后,標(biāo)志應(yīng)保持清晰。標(biāo)志損傷了的產(chǎn)品應(yīng)重新打印標(biāo)志,以保證發(fā)貨之前標(biāo)志的清
晰。
9.1.3污染控制標(biāo)志
產(chǎn)品的污染控制標(biāo)志應(yīng)按SJ/T11364-2014第5章規(guī)定,在包裝盒或產(chǎn)品上打印上電子信息產(chǎn)品污染
控制標(biāo)志。
9.2包裝
產(chǎn)品應(yīng)有良好的包裝及防靜電措施,避免在運(yùn)輸過程中受到損壞。包裝盒上應(yīng)標(biāo)有產(chǎn)品名稱、型號(hào)
和規(guī)格、生產(chǎn)廠家、產(chǎn)品執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號(hào)、防靜電標(biāo)識(shí)、激光防護(hù)標(biāo)志等。
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包裝盒內(nèi)應(yīng)有產(chǎn)品說明書。說明書內(nèi)容包括:產(chǎn)品名稱、型號(hào),簡(jiǎn)要工作原理和主要技術(shù)指標(biāo),極
限工作條件,安裝尺寸和管腳排列,使用注意事項(xiàng)等。
9.3運(yùn)輸
包裝好的產(chǎn)品可用常用的交通工具運(yùn)輸,運(yùn)輸中避免雨、雪的直接淋襲,烈日曝曬和猛烈撞擊。
9.4貯存
產(chǎn)品應(yīng)貯存在環(huán)境溫度為-10℃~+40℃、相對(duì)濕度不大于80%且無(wú)腐蝕性氣體、液體的倉(cāng)庫(kù)里。貯
存期超過12個(gè)月產(chǎn)品,出庫(kù)前應(yīng)按第6章規(guī)定方法進(jìn)行參數(shù)測(cè)試,測(cè)試結(jié)果符合表2要求方可出庫(kù)。
12
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附錄A
(資料性)
誘騙態(tài)調(diào)制模塊外形尺寸及引出端排列
A.1誘騙態(tài)調(diào)制模塊外形尺寸
誘騙態(tài)調(diào)制模塊外形尺寸如圖A.1所示。
單位為毫米
圖A.1誘騙態(tài)調(diào)制模塊外形尺寸
A.2引出端排列
誘騙態(tài)調(diào)制模塊引出端排列見圖A.2,模塊管腳定義見表A.1。
圖A.2誘騙態(tài)調(diào)制模塊引出端排列
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表A.1誘騙態(tài)調(diào)制模塊管腳定義
編號(hào)名稱描述
1Vbias,+直流偏置正極
2Vbias,-直流偏置負(fù)極
3NC懸空
4NC懸空
5RF射頻接口
_________________________________
14
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目次
1范圍................................................................................1
2規(guī)范性引用文件......................................................................1
3術(shù)語(yǔ)和定義..........................................................................1
4縮略語(yǔ)..............................................................................3
5技術(shù)要求............................................................................3
5.1光纖要求........................................................................3
5.2光電特性要求....................................................................4
5.3極限工作條件....................................................................5
5.4推薦工作條件....................................................................5
5.5外形尺寸及引出端排列............................................................5
5.6外觀要求........................................................................5
5.7環(huán)保符合性......................................................................5
6參數(shù)測(cè)試............................................................................6
6.1測(cè)試環(huán)境要求....................................................................6
6.2測(cè)試儀器要求....................................................................6
6.3插入損耗........................................................................6
6.4電回波損耗......................................................................7
6.5直流偏置半波電壓................................................................7
6.6射頻半波電壓....................................................................7
6.7信號(hào)態(tài)和誘騙態(tài)脈沖幅度比例......................................................8
6.8信號(hào)態(tài)和誘騙態(tài)強(qiáng)度漲落..........................................................8
6.9真空態(tài)消光比....................................................................8
6.10偏振消光比.....................................................................8
6.11信號(hào)態(tài)、誘騙態(tài)和真空態(tài)脈沖的產(chǎn)生概率...........................................8
6.12光回波損耗.....................................................................8
6.13-3dB模擬帶寬...................................................................8
7可靠性試驗(yàn)..........................................................................8
7.1可靠性試驗(yàn)環(huán)境要求..............................................................8
7.2可靠性試驗(yàn)要求..................................................................8
7.3失效判據(jù)........................................................................9
8檢驗(yàn)規(guī)則...........................................................................10
8.1檢驗(yàn)分類.......................................................................10
8.2出廠檢驗(yàn).......................................................................10
8.3型式檢驗(yàn).......................................................................10
9標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存.............................................................11
9.1標(biāo)志...........................................................................11
9.2包裝...........................................................................11
I
YD/T3907.4-20XX
9.3運(yùn)輸...........................................................................12
9.4貯存.............................................
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