材料科學(xué)研究方法知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋青島理工大學(xué)

材料科學(xué)研究方法知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋青島理工大學(xué)第一章單元測試

材料的性能（力學(xué)性能和物理性能）是由其

內(nèi)部的微觀組織結(jié)構(gòu)決定的。不同材料固然具有不用性能，同種成分的材料具有不同結(jié)構(gòu)時，也具有不同的性能。

A:對B:錯

答案:對材料的四面體：合成/制備；性質(zhì)；結(jié)構(gòu)/成分；使用性能

A:錯B:對

答案:對材料的組織形貌是指不同層次材料的相分布、形狀、大小、數(shù)量等各種晶粒的組合特征?？煞譃楸砻嫘蚊埠蛢?nèi)部組織形貌兩種。

A:錯B:對

答案:對材料的組織形貌分析借助各種顯微

技術(shù)探索材料的微觀結(jié)構(gòu)。主要包括（）等。

A:掃描隧道顯微B:透射電子顯微C:光學(xué)顯微D:掃描電子顯微

答案:掃描隧道顯微；透射電子顯微；光學(xué)顯微；掃描電子顯微主要的晶體物相分析方法有X射線衍射(XRD)、電子衍射(ED)、及中子衍射(ND)，其共同的原理是利用電磁波或運(yùn)動電子束、中子束等與材料內(nèi)部規(guī)則排列的原子作用產(chǎn)生相干散射，獲得材料內(nèi)部原子排列的信息，從而重組出物質(zhì)的結(jié)構(gòu)。

A:錯B:對

答案:對在化學(xué)成分相同的情況下，晶體結(jié)構(gòu)不同或局部點(diǎn)陣常數(shù)的改變不會引起材料性能的變化。

A:對B:錯

答案:錯在材料的結(jié)構(gòu)測定中，X射線衍射分析仍是最主要的方法。

A:錯B:對

答案:對中子受物質(zhì)中原子核散射，所以輕重原子對中子的散射能力差別比較小，中子衍射有利于測定輕原子的位置。

A:錯B:對

答案:對成分譜分析用于材料的化學(xué)成分分析，包括主要化學(xué)成分及少量雜質(zhì)元素，主要基于其它物理性質(zhì)或電化學(xué)性質(zhì)與材料的特征關(guān)系而建立。成分譜種類很多，有（）等

A:熱譜B:色譜C:光譜D:原子吸收光譜、質(zhì)譜

答案:熱譜；色譜；光譜；原子吸收光譜、質(zhì)譜近二三十年，材料測試手段呈現(xiàn)出如下的發(fā)展趨勢：

A:測試設(shè)備大型化、精密化和高科技化B:制樣手段個性化C:多種手段聯(lián)合使用D:從靜態(tài)研究材料結(jié)構(gòu)性能向動態(tài)研究材料形成過程發(fā)展

答案:測試設(shè)備大型化、精密化和高科技化；制樣手段個性化；多種手段聯(lián)合使用；從靜態(tài)研究材料結(jié)構(gòu)性能向動態(tài)研究材料形成過程發(fā)展

第二章單元測試

X射線在穿透物質(zhì)后衰減，除主要部分是由于真吸收消耗于光電效應(yīng)和熱效應(yīng)外，還有一部分是偏離原來的方向，即發(fā)生了（）。

A:熒光輻射B:透射C:散射D:俄歇效應(yīng)

答案:散射特征X射線譜：當(dāng)入射波增大到與陽極靶相適應(yīng)的強(qiáng)度時，會在連續(xù)譜上出現(xiàn)一系列強(qiáng)度高、范圍窄的線狀譜線，這些譜線都是與特定的物質(zhì)有嚴(yán)格恒定的關(guān)系，因此稱為特征X射線譜。

A:對B:錯

答案:對結(jié)構(gòu)因數(shù)：結(jié)構(gòu)因數(shù)是表征單細(xì)胞對衍射強(qiáng)度的影響，只與原子的種類，在晶胞中的位置有關(guān)，而與晶胞大小和形狀無關(guān)。

A:錯B:對

答案:對在入射電子束作用下被轟擊出來并離開樣品表面的核外電子叫做（）

A:俄歇電子B:X光子C:二次電子D:背散射電子

答案:二次電子當(dāng)一個K層電子被激發(fā)而形成空位時，一個M層電子填補(bǔ)K空位，產(chǎn)生的特征X射線稱（）射線。

A:KαB:MαC:MβD:Kβ

答案:Kβ如果(hkl)的晶面間距是d，則(nhnknl)的晶面間距為

A:dB:d/nC:ndD:dn

答案:d/n布拉格方程式：散射線發(fā)生相干衍射，也可以稱為晶面反射所必需滿足的條件。方程式為2dsinθ=nλ.

A:錯B:對

答案:對俄歇電子產(chǎn)額隨原子序數(shù)的增加而()。

A:無規(guī)律B:不變C:增加D:減小

答案:減小晶體是由原子在三維空間中規(guī)則排列而成的。在研究晶體結(jié)構(gòu)時，一般只抽象出其重復(fù)規(guī)律。這種抽象的圖形即為晶面指數(shù)。

A:錯B:對

答案:錯X射線學(xué)分為三大分支：X射線透射學(xué)、X射線衍射學(xué)和X射線光譜學(xué)。

A:對B:錯

答案:對

第三章單元測試

只在平行于光的傳播方向的平面內(nèi)的某一方向振動稱為偏振光。

A:錯B:對

答案:錯介質(zhì)的折射率與光在介質(zhì)中的傳播速度成反比。

A:對B:錯

答案:對折射率色散:同一介質(zhì)的折射率因為所用波長的不同而不同；對于同一介質(zhì)，波長與折射率成反比。

A:錯B:對

答案:對一束自然光穿過各向異性的晶體時分成兩束偏振光的現(xiàn)象，稱為雙折射現(xiàn)象。

A:對B:錯

答案:對光率體是表示光波在晶體中傳播時，光波振動方向與相應(yīng)折射率值之間關(guān)系的一種光學(xué)立體圖形（光性指示體）

A:錯B:對

答案:對對于同一放大倍數(shù)的物鏡，其數(shù)值孔徑越小，分辨率越高

A:錯B:對

答案:錯顯微鏡總放大倍數(shù)=

目鏡放大倍數(shù)×物鏡放大倍數(shù)

A:錯B:對

答案:對晶體在正交偏光鏡下呈現(xiàn)黑暗的現(xiàn)象，稱為消光現(xiàn)象。

A:錯B:對

答案:對目鏡是顯微鏡最重要的光學(xué)元件，顯微鏡的分辨能力及成像質(zhì)量主要取決于其性能。

A:錯B:對

答案:錯可見光的波長在390-760nm之間，最佳情況下，光學(xué)玻璃透鏡分辨本領(lǐng)的理論極限可達(dá)200nm。

A:對B:錯

答案:對

第四章單元測試

二次電子數(shù)量和原子序數(shù)有明顯的關(guān)系，但對微區(qū)表面的幾何形狀十分敏感。

A:對B:錯

答案:錯影響掃描電鏡分辨率的因素是（）。

A:其它選項都正確B:檢測信號類型C:電子束的束斑大小D:檢測部位的原子序數(shù)

答案:其它選項都正確掃描電鏡的分辨率：是通過測定圖像中兩個顆粒(或區(qū)域)間的最小距離來確定的。

A:錯B:對

答案:對當(dāng)入射電子束作光柵掃描時，若電子束在樣品表面掃描的幅度為As，相應(yīng)地在熒光屏上陰極射線同步掃描的幅度為Ac，掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)為Ac和As的比值

A:對B:錯

答案:對透射電鏡的主要性能指標(biāo)有分辨本領(lǐng)、放大倍數(shù)和加速電壓。

A:對B:錯

答案:對透射電鏡的分辨率既受衍射效應(yīng)影響，也受透鏡的像差影響。

A:錯B:對

答案:對明場像是質(zhì)厚襯度，暗場像是衍襯襯度。

A:錯B:對

答案:錯透射電子顯微鏡配置選區(qū)電子衍射裝置，使得薄膜樣品的結(jié)構(gòu)分析與形貌觀察有機(jī)結(jié)合，是X射線衍射無法比擬的優(yōu)點(diǎn)。

A:錯B:對

答案:對電子探針顯微分析對樣品的損傷程度為()

A:無損傷B:損傷嚴(yán)重C:損傷輕D:損傷適中。

答案:無損傷掃描隧道顯微鏡的橫向分辨率可達(dá)

A:0.1nmB:0.3~0.5nmC:1~3nmD:6-10nm

答案:0.1nm

第五章單元測試

熱分析的幾大支柱（）。

A:熱重分析（TG）B:熱機(jī)械分析（TMA與DMA）C:差熱分析（DTA）D:示差掃描量熱分析（DSC）

答案:熱重分析（TG）；熱機(jī)械分析（TMA與DMA）；差熱分析（DTA）；示差掃描量熱分析（DSC）熱電效應(yīng)：兩種不同材料的金屬絲組成回路，結(jié)點(diǎn)處溫度T和T0不相同時，可把熱能轉(zhuǎn)換成電能。

A:對B:錯

答案:對差熱分析原理：將溫差熱電偶的一個熱端插在被測試樣中，另一個熱端插在參比物中，試樣和參比物同時升溫，測定升溫過程中兩者溫度差，得到溫度差隨溫度變化關(guān)系曲線。

A:錯B:對

答案:對根據(jù)測量方法不同，DTA分為：功率補(bǔ)償型差示掃描量熱法和熱流型差示掃描量熱法。

A:對B:錯

答案:錯是在程序溫度(升／降／恒溫及其組合)過程中，由熱天平連續(xù)測量樣品重量的變化并將數(shù)據(jù)傳遞到計算機(jī)中對時間／溫度進(jìn)行作圖，即得到熱重曲線。

A:錯B:對

答案:對微商熱重分析又稱導(dǎo)數(shù)熱重分析(Derivativethermogravimetry，簡稱DTG)，它是記錄熱重曲線對溫度或時間的一階導(dǎo)數(shù)的一種技術(shù)。

A:錯B:對

答案:對熱重曲線的基線漂移是指試樣沒有變化而記錄曲線卻指示出有質(zhì)量變化的現(xiàn)象，它造成試樣失重或增重的假象。

A:對B:錯

答案:對熱重分析時氣相產(chǎn)物的逸出必然要通過試樣與外界空間的交界面，深而大的坩堝或者試樣充填過于緊密都會妨礙氣相產(chǎn)物的外逸，因此反應(yīng)受氣體擴(kuò)散速度的制約，結(jié)果使熱重曲線向低溫側(cè)偏移。

A:對B:錯

答案:錯熱機(jī)械分析法：在程序控制溫度下測量物質(zhì)的力學(xué)性質(zhì)隨溫度(或時間)變化的關(guān)系。

A:錯B:對

答案:對線膨脹系數(shù)α為溫度升高1℃時，沿試樣某一方向上的相對伸長(或收縮)量為△t。

A:對B:錯

答案:錯

第六章單元測試

紅外光譜目前多數(shù)用在鑒別樣品作定性分析，定量分析不僅需要標(biāo)樣，同時也難精確，更主要的是，由于大多數(shù)帶的位置集中于指紋區(qū)使得譜帶重疊現(xiàn)象頻繁，解疊困難。

A:錯B:對

答案:對遠(yuǎn)紅外區(qū)：用來研究O-H、N-H及C-H鍵的倍頻吸收。

A:錯B:對

答案:錯物質(zhì)吸收電磁輻射產(chǎn)生紅外光譜應(yīng)滿足兩個條件：一是輻射光子的能量與振動躍遷所需能量相等；二是輻射與物質(zhì)之間有偶合作用。

A:對B:錯

答案:對紅外光譜與物質(zhì)結(jié)構(gòu)有關(guān)，不同分子吸收紅外線選擇性不同，故可用紅外光譜法檢驗基團(tuán)，鑒定化合物及定量測定。

A:錯B:對

答案:對O2能產(chǎn)生紅外吸收。

A:錯B:對

答案:錯紅外光譜的強(qiáng)度與分子振動時偶極矩變化的平方成正比。

A:對B:錯

答案:對當(dāng)弱的倍頻峰位于某強(qiáng)的基頻峰附近時，它們的吸收峰強(qiáng)度常常隨之增加，或發(fā)生譜峰分裂。這種振動耦合稱為費(fèi)米共振。

A:錯B:對

答案:對斯托克斯線或反斯托克斯線與入射光頻率之差為化學(xué)位移。

A:錯B:對

答案:錯拉曼位移的大小與入射光的頻率無關(guān)，只與分子的能級結(jié)構(gòu)有關(guān)。

A:對B:錯

答案:對拉曼活性取決于振動中極化度是否變化，只有極化度有變化的振動才是拉曼活性的。

A:錯B:對

答案:對核磁共振波譜是物質(zhì)與電磁波相互作用而產(chǎn)生的，屬于吸收光譜（波譜）范疇。

A:錯B:對

答案:對所有的原子核均能產(chǎn)生核磁共振

A:錯B:對

答案:錯核自旋磁場與外磁場相互作用產(chǎn)生進(jìn)動稱為簡諧振動。

A:對B:錯

答案:錯自旋偶合不影響化學(xué)位移，但會使吸收峰發(fā)生裂分，使譜線增多。

A:錯B:對

答案:對

第七章單元測試

壓汞和氣體吸附法所測定的孔是開口孔，閉口孔因流體不能滲入，不在測試范圍內(nèi)。

A:對B:錯

答案:對總孔隙率高的混凝土，滲透性一定高。

A:錯B:對

答案:錯使用壓汞儀測定水泥基材料的孔隙結(jié)構(gòu)，需要建立試驗數(shù)據(jù)與孔結(jié)構(gòu)之間的相關(guān)關(guān)系，因而首先要對水泥基材料的孔隙系統(tǒng)進(jìn)行必要的假設(shè)——孔結(jié)構(gòu)柱狀毛細(xì)管系統(tǒng)假定，即認(rèn)為材料中的孔隙是相互連通的具有一定半徑的圓柱狀孔隙。

A:對B:錯

答案:對中值孔徑指的是在孔隙網(wǎng)絡(luò)中數(shù)量最多的孔的孔徑，也就是在水泥石或固體材料中出現(xiàn)幾率最大的孔隙。

A:錯B:對

答案:錯壓力通過液壓油傳遞給汞，升壓方式有連續(xù)掃描加壓和步進(jìn)掃描加壓兩種方式

A:對B:錯

答案:對低壓系統(tǒng)主要用來注汞和測量（）的結(jié)構(gòu)。

A:微孔B:大孔C:中孔D:小孔

答案:大孔綜合考慮實驗結(jié)果可靠性和成本，壓汞試驗建議樣品數(shù)量取為（）個

A:2B:3C:6D:1

答案:3貫通孔和和墨水瓶效應(yīng)的連通孔，可以通過第一次進(jìn)汞曲線和第一次退汞曲線得到。第二次進(jìn)汞時，有效孔