TR-518系列ICT訓(xùn)練.ppt

TR 518系列ICT訓(xùn)練in2hrs Author AlanHeEditor WinchlChengJan 10 2001 德律泰電子 蘇州 有限公司TRIELECTRONICS SHENZHEN CO LTD tw ICT的概念 1 何謂ICT ICT即在線測試儀 InCircuitTester 是一大堆高級(jí)電表的組合 電表能測到 ICT就能測到 電表測不到 ICT可能也測不到 2 ICT能測些什么 Open Short R L C及PN結(jié) 含二極管 三極管 Zener IC 3 ICT與電表有何差異 ICT可對(duì)旁路元件進(jìn)行隔離 Guarding 而電表不可以 所以電表測不到 ICT可能測得到 4 ICT與ATE有何差異 ICT只做靜態(tài)測試 而ATE可做動(dòng)態(tài)測試 即ICT對(duì)被測機(jī)板不通電 不加Vcc GND 而ATE則通電 ICT量測原理 1 量測R 單個(gè)R mode0 1 利用Vx IsRx 歐姆定律 則Rx Vx Is 信號(hào)源Is取恒流 0 1uA 5mA 量回Vx即可算出Rx值 R C mode2 信號(hào)源Vs取恒壓 0 2V 量回Ix 則Rx Vs Ix 0 2V Ix 算出Rx值 R L mode3 4 5 信號(hào)源取交流電壓源Vs 籍相位法輔助 Y Cos YRx 1 Rx 并 Y I x Vs故 Rx 1 Y Cos 2 量測C L 單個(gè)C L Mode0 1 2 3 信號(hào)源取恒定交流壓源VsVs Ix Zc 1 2 fCx 求得 Cx Ix 2 fVsVs Ix Zl 2 fLx 求得 Lx Vs 2 fIx C R或L R 籍相位法輔助 Y Sin Ycx 即 Cx Sin Cx求得 Cx Cx Sin Cx Ix 2 fVs Y Sin Ycx 即Sin Cx 1 Cx求得 Lx Lx Sin Lx Vs 2 fIx 3 量測PN結(jié) D Q IC 信號(hào)源0 10V 3mAor30mA可程式電壓源 量PN結(jié)導(dǎo)通電壓4 量測Open Short 即以阻抗判定 先對(duì)待測板上所有Pin點(diǎn)進(jìn)行學(xué)習(xí) R55 判為Open 5 Guarding 隔離 的實(shí)現(xiàn) 當(dāng)Rx有旁路 R1 時(shí) Ix Is I1 Is 故 Vx Is Rx此時(shí)取A點(diǎn)電位Va 送至C點(diǎn) 令Vc Va 則 I1 Va Vc R1 0 Is Ix從而 Vx Is Rx 程式的編寫 1 在T 測試 下 設(shè)定P 測試參數(shù) 2 在E 編輯 下 編寫程式 步驟零件名實(shí)際值位置高點(diǎn)低點(diǎn)隔點(diǎn)12345刪略量測值標(biāo)準(zhǔn)值上限 下限 延遲信號(hào)類別重測中停補(bǔ)償值偏差 1R347KA12110100000047K101000000002C22100nD2752000000100n303000000003L122uB218700000022u303000000004D50 7VC116190000000 7V20200000000 1 進(jìn)入L 學(xué)習(xí) 做ShortGroup學(xué)習(xí) 若有IC 還需做ICClampingDiode學(xué)習(xí) 2 在主畫面下測試 檢驗(yàn)程式及開始Debug 程式的Debug 編寫好的程式在實(shí)測時(shí) 因測試信號(hào)的選擇 或被測元件線路影響 有些Step會(huì)Fail 即量測值超出 限 必須經(jīng)過Debug R 在E 編輯 下 ALT X查串聯(lián)元件 ALT P查并聯(lián)元件 據(jù)此選好 信號(hào) Mode 和串聯(lián)最少元件的Hi P Lo P 并ALT F7選擇GuardingPin R C Mode2及Dly加大 參考 T 5RC R D orIC Q Mode1R R Std V取并聯(lián)阻值R L Mode3 4 5 根據(jù)Zl 2 fL 故L一定時(shí) 若f越高 則Zl越大 則對(duì)R影響越小 C 在 編緝 下一般根據(jù)電容值大小 選擇相應(yīng)的Mode 如小電容 pF級(jí) 可選高頻信號(hào) Mode2 3 大電容 nF級(jí) 可選低頻信號(hào) Mode0 1 然后ALT F7選擇隔離 3uF以上大電容 可以Mode4 8直流測試 C C Std V取并聯(lián)容值C R Mode5 6 7 由Zc 1 2 fC 故C一定時(shí) f越高 Zc越小 則R的影響越小 C L Mode5 6 7 并且f越高效果越好 L F8測試 選擇Mode0 1 2中測試值最接近Std V 然后Offset修正至準(zhǔn)確 L R Mode5 6 7 PN結(jié) F7自動(dòng)調(diào)整 一般PN正向0 7V Si 反向 2V以上 D C Mode1及加Delay D D 正向 除正向?qū)y試 還須測反向截止 2V以上 以免D反插時(shí)誤判 Zener Nat V選不低于Zener崩潰電壓 若仍無法測出崩潰電壓 可選Mode1 30mA 另外10 48Vzener管 可以HV模式測試 Q be bc之PN結(jié)電壓兩步測試可判斷Q之類型 PNPorNPN Hi P一樣 NPN Lo P一樣 PNP 并可Debugce飽和電壓 0 2V以下 注意Act V為be偏置電壓 越大Q越易進(jìn)入飽和 但須做ce反向判斷 須為截止0 2V以上 否則應(yīng)調(diào)小Act V 不良報(bào)表的閱讀 以H0代有上限值 標(biāo)準(zhǔn)值 L0代表下限值 L1表示 量測值介于L0與L0 H0 L0 10 之間L2表示 量測值介于L1與L0 H0 L0 20 之間VL表示 量測值低于L2H1表示 量測值介于H0與H0 H0 L0 10 之間H2表示 量測值介于H1與H0 H0 L0 20 之間VH表示 量測值高于H2 不良記錄 OpenFail 48 4548 表示48點(diǎn)與短路組 4548 斷開 可能是探針未接觸到PCB焊盤 或板上有斷路 ShortFail 20 23 表示20點(diǎn)與23點(diǎn)短路 R 5 可能是板上有錫渣造成Short 裝錯(cuò)零件造成Short 零件腳過長造成Short等 ComponentFail 1R3M V 52 06K Dev 10 7 Act V 47KStd V 47KLoc A1 Hi P 21L0 P 101 LM 10 LM 10 表示 R3偏差 10 7 可能為零件變值 或接觸不良 若偏差 999 9 或很大 可能為缺件 錯(cuò)件超出標(biāo)準(zhǔn)值所在量程上限 如47K在30K 300K量程內(nèi) 若偏差0 00 或很小 可能為短路 錯(cuò)件超出其標(biāo)準(zhǔn)值所在量程下限 ICT誤判分析 1 ICT無法測試部分 記憶體IC EPROM SRAM DRAM 并聯(lián)大10倍以上大電容的小電容 并聯(lián)小20倍以上小電阻的大電阻 單端點(diǎn)之線路斷線 D L D無法量測 IC之功能測試 2 PCB之測點(diǎn)或過孔綠油未打開 或PCB吃錫不好 3 壓床壓入量不足 探針壓入量應(yīng)以1 2 2 3為佳 4 經(jīng)過免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良 5 PCB板定位柱松動(dòng) 造成探針觸位偏離焊盤 6 治具探針不良損壞 7 零件廠牌變化 可放寬 IC可重新Learning 8 治具未Debug好 再進(jìn)行Debug 9 ICT本身故障 硬體檢測 11 開關(guān)板 診斷 D 切換電路板 B 系統(tǒng)自我診斷 S 切換電路板診